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C 62246-1 : 2016 (IEC 62246-1 : 2015)
附属書I
(参考)
投入電流容量試験の回路例
この附属書は,投入電流容量の試験回路例を示すものであって,規定の一部ではない。製造業者が試験
の詳細を指定しなければならない。
I.1 閉路容量の試験回路例及び閉路容量試験のシーケンス例
最大投入電流での電気的耐久性を検証するための試験回路の例を,図I.1に,試験のシーケンスの例を
図I.2に示す。
被試験リードスイッチ
遮断接点
遮断器
トリップコイル
図I.1−閉路容量試験回路の例
t1 τ1
図I.2−閉路容量試験のシーケンスの例
試験コイルに励磁を開始した後,時間t1から,接触不良の測定を時間τ1行う。
――――― [JIS C 62246-1 pdf 56] ―――――
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C 62246-1 : 2016 (IEC 62246-1 : 2015)
附属書J
(参考)
遮断電流容量試験の回路例
この附属書は,遮断容量の試験回路例を示すものであって,規定の一部ではない。製造業者が試験の詳
細を規定しなければならない。
J.1 遮断容量の試験回路例及び遮断容量試験のシーケンス例
最大遮断電流での電気的耐久性を検証するための試験回路の例を,図J.1に,試験のシーケンスの例を
図J.2に示す。
被試験リードスイッチ
遮断接点
遮断器保持コイル
図J.1−開路容量試験回路の例
t2 τ2
図J.2−開路容量試験のシーケンスの例
試験コイルの励磁を解除した後,時間t2から開離不良の測定を時間τ2行う。
――――― [JIS C 62246-1 pdf 57] ―――――
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C 62246-1 : 2016 (IEC 62246-1 : 2015)
参考文献
JIS C 0617-7 電気用図記号−第7部 : 開閉装置,制御装置及び保護装置
注記 対応国際規格 : IEC 60617,Graphical symbols for diagrams(MOD)
JIS C 3215-1 巻線個別規格−第1部 : クラス105のポリビニルアセタール銅線
注記 対応国際規格 : IEC 60317-1,Specifications for particular types of winding wires−Part 1: Polyvinyl
acetal enamelled round copper wire, class 105(MOD)
JIS C 4540-1:2010 電磁式エレメンタリ リレー−第1部 : 一般要求事項
注記 対応国際規格 : IEC 61810-1:2008,Electromechanical elementary relays−Part 1: General
requirements(IDT)
JIS C 5600:2006 電子技術基本用語
注記 対応国際規格 : IEC 60050 (all parts),International Electrotechnical Vocabulary(MOD)
JIS C 61000-4-5:2009 電磁両立性−第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-5: 2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and
measurement techniques−Surge immunity test(IDT)
JIS E 4017:2000 鉄道車両−電気用図記号
注記 対応国際規格 : IEC 60027 (all parts),Letter symbols to be used in electrical technology(MOD)
IEC 61810-2,Electromechanical elementary relays−Part 2: Reliability
IEC 61811-1,Electromechanical telecom elementary relays of assessed quality−Part 1: Generic specification
and blank detail specification
JIS C 62246-1:2016の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62246-1:2015(IDT)
JIS C 62246-1:2016の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 62246-1:2016の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称