JIS C 62197-1:2020 電子機器用コネクタ―品質要求事項―第１部：品目別通則

                                                               C 62197-1 : 2020 (IEC 62197-1 : 2006)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 一般・・・・[1]
•  1.1 適用範囲・・・・[1]
•  1.2 一般的に考慮する事項・・・・[1]
•  1.3 引用規格・・・・[2]
•  1.4 性能特性・・・・[3]
•  2 技術情報・・・・[3]
•  2.1 用語及び定義・・・・[3]
•  2.2 水準の体系・・・・[4]
•  2.3 統計的工程管理[SPC(Statistical Process Contol)]・・・・[4]
•  2.4 出荷不適合値のppm評価・・・・[5]
•  2.5 工程能力・・・・[5]
•  2.6 CP及びCPKの定義・・・・[6]
•  2.7 CPKと不適合(不良)品数との関係・・・・[7]
•  2.8 CP及びCPKの代表的な最小値・・・・[7]
•  2.9 統計的工程管理の実施・・・・[8]
•  3 品質評価手順・・・・[8]
•  3.1 品質評価の定義・・・・[8]
•  3.2 品質認証(QA,Qualification Approval)・・・・[9]
•  3.3 能力認証(CA,Capability Approval)・・・・[9]
•  3.4 技術認証(TA,Technology Approval)・・・・[9]
•  4 試験及び試験計画・・・・[10]
•  4.1 一般事項・・・・[10]
•  4.2 試験計画・・・・[10]
•  附属書A(参考)工程の測定指標に関する詳細情報及び実践的数値・・・・[11]
•  附属書B(規定)品質評価手順・・・・[13]

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――――― [JIS C 62197-1 pdf 1] ―――――

C 62197-1 : 2020 (IEC 62197-1 : 2006)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本産業規格を制定すべきとの申出
があり,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本産業規格である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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                                       日本産業規格                             JIS
                                                                         C 62197-1 : 2020
                                                                          (IEC 62197-1 : 2006)

電子機器用コネクタ−品質要求事項−第1部 : 品目別通則

Connectors for electronic equipment-Quality assessment requirements- Part 1: Generic specification

序文

  この規格は,2006年に第1版として発行されたIEC 62197-1を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 一般

1.1 適用範囲

  この規格は,電子及び電気機器用コネクタの品質評価手順に用いる統一の試験要求事項について規定す
る。ただし,高周波同軸コネクタには適用しない。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 62197-1:2006,Connectors for electronic equipment−Quality assessment requirements−Part 1:
              Generic specification(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

1.2 一般的に考慮する事項

  この規格は,コネクタの検査に関する用語,定義,記号,試験方法及び情報を含むか,又はこれらに対
する引用を示す。
  該当する場合は,IEC Guide 102:1996[Electronic components−Specification structures for quality assessment
(Qualification approval and capability approval)]を参照して,関連する規格とともにこの規格を用いる。
  この規格と個別品質規格との間に相違がある場合,個別品質規格を優先する。
1.2.1  品種別品質通則
  品種別品質通則は,この規格の体系としては適切ではなく,存在していない。品種別品質通則に代えて,
B.2,B.3及びB.4に規定する品質評価手順を適用する。
  適用する場合,品質評価手順には,その品種に適用可能な全ての試験方法及び試験手順,並びに厳しさ
及び特性の推奨値を含んでいなければならない。
  該当する場合,品質評価の内容は,この規格及び個別製品規格による。
  この規格と個別品質規格との間に相違がある場合,個別品質規格を優先する。
1.2.2  ブランク個別品質規格(適用する場合)
  ブランク個別品質規格には,用いる様式及び規定する事項を記載して,適切な個別品質規格の作成指針

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C 62197-1 : 2020 (IEC 62197-1 : 2006)
を示さなければならない。
  ブランク個別品質規格の内容は,この規格に基づき,当該コネクタファミリのパラメータ及びコネクタ
タイプの品質を評価するために必要かつ十分であり,管理のために完全かつ十分と考えられる技術基準の
選択肢を記載する。
1.2.3  個別品質規格(適用する場合)
  個別品質規格は,該当するコネクタ又はコネクタの範囲の品質認証のパラメータを完全に記載するため
に必要な全ての情報を直接規定するか,又は他の規格を引用する。
  個別品質規格の内容は,この規格に基づき,当該コネクタファミリのパラメータ及びコネクタタイプの
品質を評価するために必要かつ十分であり,管理のために完全かつ十分と考えられる技術基準の選択肢を
記載する。

1.3 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5401-1:2015 電子機器用コネクタ−製品要求事項−第1部 : 品目別通則
      注記 対応国際規格 : IEC 61076-1:2006,Connectors for electronic equipment−Product requirements−
             Part 1: Generic specification(IDT)
    JIS C 5402(規格群) 電子機器用コネクタ−試験及び測定
      注記 対応国際規格 : IEC 60512 (all parts),Connectors for electronic equipment−Tests and
             measurements
    JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気・電子−第1部 : 通則及び指針
      注記1 対応国際規格 : IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1: General and guidance(IDT)
      注記2 この規格の対応国際規格での引用は1988年版であるが,既に,2013年版が発行されてい
              るため,この対応国際規格に対応した最新のJISを採用した。
    JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
        取検査方式
      注記 対応国際規格 : ISO 2859-1,Sampling procedures for inspection by attributes−Part 1: Sampling
             schemes indexed by acceptance quality limit (AQL)   or lot-by-lot inspection
    IEC 60050-581:1978,International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Part 581: Electromechanical
        components for electronic equipment
    IEC QC 001002-2:2004,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Rules of
        Procedure−Part 2: Documentation
      注記 IEC QC 001002-2は,既に廃止されている。IEC QC 001002-2に記載のRules of Procedureは,
             IECオンラインサービス(http://www.iec.ch/index.htm)で参照できる。
    IEC QC 001002-3:2005,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Rules of
        Procedure−Part 3: Approval procedures
      注記 IEC QC 001002-3は,既に廃止されている。IEC QC 001002-3に記載のRules of Procedureは,
             IECオンラインサービス(http://certificate.iecq.org/)で参照できる。
    IEC QC 210000:1995,Technology Approval Schedules−Requirements under the IECQ Quality Assessment
        System for Electronic Components

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                                                               C 62197-1 : 2020 (IEC 62197-1 : 2006)
      注記 IEC QC 210000は,既に廃止されている。IEC QC 210000に記載のRules of Procedureは,IEC
             オンラインサービス(http://certificate.iecq.org/)で参照できる。

1.4 性能特性

  動作環境などの性能特性の詳細は,JIS C 5401-1の1.4(性能特性)による。
− 特性 電気的特性及び機械的特性の詳細は,JIS C 5401-1の1.4.3(電気的特性)及び1.4.4(機械的特
    性)による。
− 互換性 互換性の詳細は,JIS C 5401-1の1.4.5(互換性)による。

2 技術情報

2.1 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,IEC 60050-581によるほか,次による。
2.1.1
工程(process)
  製品又はサービスに施されたアウトプットを実現するために相互に作用する人,装置,材料,方法及び
環境の組合せ。
    注記 工程の運営管理に用いる重要な手段は,統計的工程管理である。
2.1.2
特性(characteritic)
  計量値又は計数値データを収集可能な工程又はそのアウトプットの顕著な特徴。
    注記1 工程特性は,例えば,温度又はサイクル時間である。
    注記2 重要な特性が目標値から大きく外れないように,工程への措置を講じる必要がある。
2.1.3
目標値(target values)
  工程の最も生産的な操業に起因し,監視される特性値。
2.1.4
管理図(control chart)
  工程の特性から集めた統計量のプロット値,中心線及び1本又は2本の管理限界線で構成する図式表示。
    注記 二つの基本的な利用法は,工程が統計的管理の下で運用していることを判定するとき及び統計
          的管理の維持に役立つことを判断するときである。
2.1.5
範囲(range)
  特性の最大値と最小値との差。
    注記 この用語は,測定値の母集団内のばらつきの尺度である。
2.1.6
工程能力指数(process capability indices)
  規格限界値と工程能力との関係を表す尺度。
    注記1 工程能力指数は,初期(CM及びCMK),生産前(PP及びPPK)及び量産段階(CP及びCPK)
            がある。
    注記2 この規格では,CP及びCPKの工程能力指数だけを考慮する。

――――― [JIS C 62197-1 pdf 5] ―――――

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