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JIS C 5402:1992 廃止 規格情報
この規格の廃止理由、切替規格
JIS C 5402:1992 廃止 移動先 規格概要
この規格 C5402は、電子機器に用いられるコネクタ及び付属品の試験方法について規定。
- 規格 番号
- JIS C5402
- 規格 名称
- 電子機器用コネクタ試験方法
- 規格 名称 英語訳
- Method for test of connectors for use in electronic equipment
- 制定 年月日
- 1972-10-01
- 廃止 年月日
- 2019-03-20
- 引用 JIS 規格
- JISC5402-1,JISC5402-1-1,JISC5402-1-2,JISC5402-10-4,JISC5402-11-1,JISC5402-11-10,JISC5402-11-11,JISC5402-11-12,JISC5402-11-3,JISC5402-11-4,JISC5402-11-6,JISC5402-11-9,JISC5402-13-1,JISC5402-13-2,JISC5402-13-5,JISC5402-15-1,JISC5402-15-2,JISC5402-15-3,JISC5402-15-4,JISC5402-15-5,JISC5402-15-6,JISC5402-16-1,JISC5402-16-2,JISC5402-16-3,JISC5402-16-4,JISC5402-16-5,JISC5402-16-6,JISC5402-16-7,JISC5402-16-8,JISC5402-16-9,JISC5402-17-1,JISC5402-17-2,JISC5402-17-4,JISC5402-2-1,JISC5402-2-2,JISC5402-2-3,JISC5402-2-5,JISC5402-2-6,JISC5402-3-1,JISC5402-4-1,JISC5402-4-2,JISC5402-5-1,JISC5402-5-2,JISC5402-6-2,JISC5402-6-3,JISC5402-6-4,JISC60068-1,JISC60068-2-17,JISC60068-2-20,JISK8101,JISK8839,JISZ3282
- 対応国際 規格 ISO
- IEC 60169-1:1987(MOD), IEC 60512-1:1984(MOD), IEC 60512-2:1985(MOD), IEC 60512-3:1976(MOD), IEC 60512-4:1976(MOD), IEC 60512-5:1977(MOD), IEC 60512-6:1984(MOD), IEC 60512-7:1988(MOD), IEC 60512-8:1984(MOD), IEC 60512-9:1977(MOD)
- 国際規格 分類 ICS
- 31.220.10
- 改訂 履歴
- 1972-10-01 制定日, 1975-11-01 改正日, 1978-12-01 確認日, 1984-01-01 確認日, 1988-09-01 改正日, 1992-11-01 改正日, 1999-06-20 確認日, 2004-03-20 確認日, 2009-10-01 確認日, 2014-06-20 改正 2019-03-20 廃止日
- 公示の種類
- 廃止
- 廃止の理由
- 切替規格
- 移行先(移動先)
- JIS C 5402-23-4:2006 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第23-4部 : スクリーニング及びフィルタリング試験―試験23d : 時間領域での伝送線路の反射
- JISハンドブック
- 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
JIS C 5402:1992の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5402-1:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1部:一般
- JISC5402-1-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-1部:一般試験―試験1a:外観
- JISC5402-1-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-2部:一般試験―試験1b:寸法及び質量
- JISC5402-10-4:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第10-4部:インパクト試験(可動形部品),静的負荷試験(固定形部品),耐久試験及び過負荷試験―試験10d:電気的過負荷(コネクタ)
- JISC5402-11-1:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-1部:耐候性試験―試験11a:一連耐候性
- JISC5402-11-10:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-10部:耐候性試験―試験11j:低温
- JISC5402-11-11:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-11部:耐候性試験―試験11k:減圧
- JISC5402-11-12:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-12部:耐候性試験―試験11m:温湿度サイクル
- JISC5402-11-3:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-3部:耐候性試験―試験11c:高温高湿(定常)
- JISC5402-11-4:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-4部:耐候性試験―試験11d:温度急変
- JISC5402-11-6:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-6部:耐候性試験―試験11f:腐食,塩水噴霧
- JISC5402-11-9:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-9部:耐候性試験―試験11i:高温
- JISC5402-13-1:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第13-1部:機械的動作試験―試験13a:結合力及び離脱力
- JISC5402-13-2:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第13-2部:機械的動作試験―試験13b:挿入力及び引抜力
- JISC5402-13-5:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第13-5部:機械的動作試験―試験13e:極性及びキーイング
- JISC5402-15-1:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-1部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15a:インサート内のコンタクト保持
- JISC5402-15-2:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-2部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15b:ハウジング内のインサート保持(軸方向)
- JISC5402-15-3:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-3部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15c:ハウジング内のインサート保持(ねじれ方向)
- JISC5402-15-4:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-4部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15d:コンタクトの挿入,解放及び引抜力
- JISC5402-15-5:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-5部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15e:インサート内のコンタクト保持,ケーブルの回転(nutation)
- JISC5402-15-6:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-6部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15f:コネクタカップリング機構の効果
- JISC5402-16-1:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-1部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16a:プローブダメージ
- JISC5402-16-2:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-2部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16b:リストリクテッドエントリ
- JISC5402-16-3:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-3部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16c:コンタクト曲げ強度
- JISC5402-16-4:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-4部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16d:引張強度(圧着接続)
- JISC5402-16-5:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-5部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16e:ゲージ保持力(弾性コンタクト)
- JISC5402-16-6:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-6部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16f:ターミネーション強度
- JISC5402-16-7:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-7部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16g:圧着後のコンタクトの変形測定
- JISC5402-16-8:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-8部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16h:インシュレーショングリップの有効性(圧着接続)
- JISC5402-16-9:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-9部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16i:接地コンタクトスプリングの保持力
- JISC5402-17-1:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-1部:ケーブルクランプ試験―試験17a:ケーブルクランプ強度
- JISC5402-17-2:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-2部:ケーブルクランプ試験―試験17b:ケーブルクランプ強度(ケーブルの回転)
- JISC5402-17-4:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-4部:ケーブルクランプ試験―試験17d:ケーブルクランプ強度(ケーブルのねじり)
- JISC5402-2-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第2-1部:導通及び接触抵抗試験―試験2a:接触抵抗―ミリボルトレベル法
- JISC5402-2-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第2-2部:導通及び接触抵抗試験―試験2b:接触抵抗―規定電流法
- JISC5402-2-3:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第2-3部:導通及び接触抵抗試験―試験2c:接触抵抗の変動
- JISC5402-2-5:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第2-5部:導通及び接触抵抗試験―試験2e:コンタクトディスターバンス
- JISC5402-2-6:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第2-6部:導通及び接触抵抗試験―試験2f:ハウジング(シェル)の導通性
- JISC5402-3-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第3-1部:絶縁試験―試験3a:絶縁抵抗
- JISC5402-4-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第4-1部:電圧ストレス試験―試験4a:耐電圧
- JISC5402-4-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第4-2部:電圧ストレス試験―試験4b:部分放電
- JISC5402-5-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第5-1部:電流容量試験―試験5a:温度上昇
- JISC5402-5-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第5-2部:電流容量試験―試験5b:電流・温度の軽減
- JISC5402-6-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第6-2部:動的ストレス試験―試験6b:バンプ
- JISC5402-6-3:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第6-3部:動的ストレス試験―試験6c:衝撃
- JISC5402-6-4:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第6-4部:動的ストレス試験―試験6d:正弦波振動
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC60068-2-17:2001
- 環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISK8101:2006
- エタノール(99.5)(試薬)
- JISK8839:2007
- 2-プロパノール(試薬)
- JISZ3282:2017
- はんだ―化学成分及び形状
JIS C 5402:1992の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60169-1:1987(MOD)
- IEC 60512-1:1984(MOD)
- IEC 60512-2:1985(MOD)
- IEC 60512-3:1976(MOD)
- IEC 60512-4:1976(MOD)
- IEC 60512-5:1977(MOD)
- IEC 60512-6:1984(MOD)
- IEC 60512-7:1988(MOD)
- IEC 60512-8:1984(MOD)
- IEC 60512-9:1977(MOD)
JIS C 5402:1992の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ