9
C 62813 : 2016 (IEC 62813 : 2015)
TL : 定格下限電圧到達時点(s)
T0 : 放電開始時点(s)
I : 放電電流(A)
U0 : 放電時瞬時降下電圧(V)
UL : 定格下限電圧(V)
W : キャパシタの放電電力量(J)
放電電力量をW・h(ワット時)で表す場合は,Wを3 600で除して算出する。
4.3.2 内部抵抗の算出
内部抵抗RXは,式(6)によって算出する(図2参照)。
UR U0
RX (6)
I
ここに, RX : キャパシタの内部抵抗(Ω)
UR : 定格電圧(V)
U0 : 放電時瞬時降下電圧(V)
I : 放電電流(A)
4.3.3 電圧保持率の算出
電圧保持率Aは,式(7)によって算出する(図4参照)。
Uend
A 100 (7)
R
ここに, A : キャパシタの電圧保持率(%)
Uend : TOC経過時点における,キャパシタの端子間電圧(V)
UR : 定格電圧(V)
――――― [JIS C 62813 pdf 11] ―――――
10
C 62813 : 2016 (IEC 62813 : 2015)
附属書A
(参考)
耐久性(高温連続定格電圧印加)試験
A.1 一般事項
この附属書は,3.2に規定する定格電圧を設定する根拠となる耐久性(高温連続定格電圧印加)試験につ
いて,記載する。
A.2 試験手順
A.2.1 試験条件
個別規格に規定がない場合,耐久性試験の試験条件は,次によることが望ましい。
− 試験温度 : カテゴリ上限温度
− 印加電圧 : 定格電圧
− 試験時間 : 1 000時間
A.2.2 試験手順
耐久性試験の試験手順は,次によることが望ましい。
a) 初期測定 4.2.1に規定する測定手順,並びに4.3.1及び4.3.2に規定する方法によって,静電容量及び
内部抵抗を算出する。
b) 試験 キャパシタをカテゴリ上限温度の槽に入れ,式(1)によって算出した電流で定格電圧まで充電後,
定格電圧を規定する試験時間印加する。
c) 最終測定 a)で記載する方法によって,静電容量及び内部抵抗を算出した後,初期値と比較し,変化
率を求める。
A.2.3 判定基準
受渡当事者間の協定がない場合には,規定する試験時間後の電気的特性は,次の式で求める静電容量変
化率ΔC及び内部抵抗変化率ΔRの値を満足することが望ましい。
Cf Ci
C 100 ≦20 %
Ci
ここに, ΔC : 静電容量変化率
Ci : 試験前の静電容量(F)
Cf : 試験後の静電容量(F)
Rf Ri
R 100 ≦50 %
Ri
ここに, ΔR : 内部抵抗変化率
Ri : 試験前の内部抵抗(Ω)
Rf : 試験後の内部抵抗(Ω)
――――― [JIS C 62813 pdf 12] ―――――
11
C 62813 : 2016 (IEC 62813 : 2015)
附属書B
(参考)
測定の誤差伝ぱ(播)に基づいた測定電流の算出
B.1 一般事項
この附属書は,放電電流波形によって算出する内部抵抗値の誤差が±3 %と推定できる4.2.1.2の式(1)に
規定する測定電流の算出について記載する。
B.2 測定の誤差伝ぱ(播)及び測定電流について
内部抵抗Rは,式(B.1)によって算出できる。
R
U U0
R (B.1)
I
ここに, R : 内部抵抗(Ω)
UR : 定格電圧(V)
U0 : 放電時瞬時降下電圧(V)
I : 放電電流(A)
誤差伝ぱ(播)の式から,Rの相対誤差は,式(B.2)の関係になる。
2 2 2 2
R UR U0 I
(B.2)
R (UR U0 )2 I
ここに, R : 内部抵抗(Ω)
δR : 内部抵抗の誤差(Ω)
UR : 定格電圧(V)
δUR : 充電電圧の誤差(V)
U0 : 放電時瞬時降下電圧(V)
δU0 : 放電時瞬時降下電圧の誤差(V)
I : 放電電流(A)
δI : 放電電流の誤差(A)
ここで,式(B.2)のδI/Iの項は一般に十分小さいため無視できる。各サンプリング点において,時間tiを
説明変数とし,それに対応する各電圧測定値を確率変数とする場合,最小二乗法の誤差伝ぱ(播)式によ
って式(B.3)が得られる。
2
ti
U0 U 2
(B.3)
N ti ( ti ) 2
ここに, δU0 : 放電時瞬時降下電圧の誤差(V)
δU : 各サンプリング点における電圧測定誤差(V)
N : サンプリング数
ti : 各サンプリング時間(s)
δURはδUと等しいものとした。
サンプリング間隔がΔtの場合,tiに関して式(B.4)が成り立つ。
ti T
(1 t) t (B.4)
ここに, ti : 各サンプリング時間(s)
T1 : 算出開始時点 : CNRN(s)の値の時点
Δt : サンプリング間隔(s)
i : 各サンプリング回数
――――― [JIS C 62813 pdf 13] ―――――
12
C 62813 : 2016 (IEC 62813 : 2015)
これを式(B.3)に代入して,式(B.5)になる。
2
1 3 2T1
U0 U 2 N 1 (B.5)
N N(N )1 t
ここに, δU0 : 放電時瞬時降下電圧の誤差(V)
δU : 各サンプリング点における電圧測定誤差(V)
N : サンプリング数
ti : 各サンプリング時間(s)
Δt : サンプリング間隔(s)
式(B.5)を式(B.2)に代入し,内部抵抗の相対誤差δR/Rが±3 %に収まる条件によって,式(B.6)が得られる。
式(1)は,サンプリング間隔Δtを0.1秒間,電圧の測定精度δUを1 mVとする場合,式(B.6)及び式(B.7)
を用いて得られる。
2
δU 1 3 2T1
I 1 2 N 1 (B.6)
0.03R N N(N 1) Δt
(T2 T1 )
N 1 (B.7)
t
ここに, δU : 各サンプリング点における電圧測定誤差(V)
R : 内部抵抗(Ω)
N : サンプリング数
T1 : 算出開始時点 : CNRN(s)の値の時点
T2 : 算出終了時点 : 2CNRN(s)の値の時点
Δt : サンプリング間隔(s)
――――― [JIS C 62813 pdf 14] ―――――
13
C 62813 : 2016 (IEC 62813 : 2015)
附属書C
(参考)
公称内部抵抗が不明確な場合の測定電流の設定手順
C.1 一般事項
この附属書は,公称内部抵抗が不明確なキャパシタに対する,附属書Bで記載する測定電流の設定手順
について記載する。
C.2 測定電流の設定
キャパシタの公称内部抵抗が不明確な場合,測定電流は次の手順で設定できる(図C.1参照)。
a) 予測した内部抵抗(Rest)を用いて,4.2.1によってキャパシタの端子間電圧の時間変化を測定し,4.3.2
によって内部抵抗を算出する。
b) ) によって算出した内部抵抗(Rres)を新たな予測値に用いて,a) の手順を繰り返す。
c) estとRresとの差が10 %以下になるまで,b) の手順を繰り返す。ただし,放電時瞬時降下電圧U0が定
格下限電圧UL以下になった場合は,測定電流を小さくして再度a) c) の手順を行う。Rresが負の値を
示す場合は,測定電流を大きくして再度a) c) の手順を行う。
開始
内部抵抗を予測(Rest)
Restから算出した測定電流で
内部抵抗を算出(Rres)
Rest=Rresとする。
いいえ U0>UL 及び
Rres>0
はい
いいえ
RestRres
< 0.1
Rres
はい
終了
図C.1−キャパシタの測定電流を求めるための手順のフローチャート
――――― [JIS C 62813 pdf 15] ―――――
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JIS C 62813:2016の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62813:2015(IDT)
JIS C 62813:2016の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 62813:2016の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称