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C 6444-1991
付図4 P形外形寸法
注(4) 1のシャフトの長さ及び形状は,表4及び付図6による。
備考1. 記入寸法以外については付図1による。ただし,回転止め及び端子番号は省略してもよい。
2. ナット及び座金を添付する。ただし,取付けねじを使用しない場合のナット及び座金は,受渡当事者間の
協定による。
3. 端子及び取付け端子は,端子検査具に入ること。
なお,端子検査具は厚さ約1.6mmの金属とする。
4. 基準面と端子の間隔は,規定の寸法に適合すること。
5. 金属材料には,さび止め処理が施してあること。
――――― [JIS C 6444 pdf 26] ―――――
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C 6444-1991
付図5 L形の外形寸法
注(4) 1のシャフトの長さ及び形状は,表4及び付図6による。
(5) シャフト止め座金のある場合には,座金の厚さを含まない。
(12) V12及びRV16の場合は,端子番号の表示は,省略してもよい。
備考1. 記入寸法以外については付図1による。
2. 金属材料には,さび止め処理が施してあること。
――――― [JIS C 6444 pdf 27] ―――――
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C 6444-1991
付図6 シャフトの形状
シャフトの各部寸法
単位 mm
シャフトの径 d W1 W2 l2
0
2 2 −0.1 − − −
0
3 3 −0.1 2±0.1 1±0.1 1.0±0.2
0 0
3.2 3 −0.1 2 −0.2 1±0.1 1.2±0.2
0 0
6 6 −0.1 4.5 −0.2 1±0.1 1.6±0.2
0
8 8 −0.1 − − −
F形削り落とし部分の長さ
単位 mm
長さの記号 l1寸法
20 8以上
25 10以上
30 15以上
備考 S形で,シャフト先端に着色を要する場合は,しゅう動接点の方向を赤い色で示す。
――――― [JIS C 6444 pdf 28] ―――――
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C 6444-1991
附属書1 品質保証の手順
1. 適用範囲 この附属書は,製造業者が製造した抵抗器について認証を受け,認証後の品質保証検査及
び定期的認証維持試験を実施することによって,品質を保証する手順について規定する。
2. 認証試験 認証試験は,製造業者が製造した抵抗器について認証を受けるため,規格に適合している
かどうかを実証するために認証機関及び(又は)製造業者が行う試験で,次の構成による。
(1) 品質認証試験 附属書2の規定による。
(2) 故障率認証試験(故障率を適用する場合) 附属書3の規定による。
3. 品質保証検査 品質保証検査は,認証を受けた後に製造業者が製造した抵抗器について規格の品質を
満たしていることを保証するために行う検査で,附属書4の規定による。
4. 定期的認証維持試験 定期的認証維持試験は,認証試験によって実証された抵抗器の品質が維持され
ているかどうかを定期的に確認するために,認証機関及び(又は)製造業者が行う試験で,附属書5の規
定による。
――――― [JIS C 6444 pdf 29] ―――――
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C 6444-1991
附属書2 品質認証試験
1. 試験項目 試験項目は,附属書2表3又は附属書2表4による。
2. 試料 試験に用いる試料は,次による。
(1) 試料は,JIS C 5260の品質保証プログラムによって規定の製造仕様書,製造条件及び管理条件を通じ
て製造されたものでなければならない。
(2) 試料は,試験開始前3か月以内に製造されたものでなければならない。
(3) 試料は,同一製造ロットから無作為に抜き取る。
(4) 抵抗値許容差は,認証を受けようとする抵抗器のうち最も精度の高い許容差のものとする。
(5) 試料は,大きさ,特性,形状別に附属書2表1又は附属書2表2による。
附属書2表1 試料及び数量(等級Cに適用)
ロット スイッチ 公称全抵抗値 抵抗変化特性(4)
試料数 試料の群分け個数
区分 (附属書2表3参照)
1 なし 最低抵抗値(1) 0B 30 2,3,4,5,6,7群
2 最高抵抗値(2) 30 に各5個
3 100k 圀 3) 15A又は15C 15 2,3,4群に各5個
4 付き(5) 100k 圀 0B 10 2,7群に各5個
計 − − − 85 −
注(1) 認証を受けようとする最低抵抗値。
(2) 認証を受けようとする最高抵抗値。
(3) 特性UCの場合は10k 地
(4) ロット区分3は,抵抗変化特性15A及び(又は)15Cのものの認証を受けない
場合0Bのものを試料とし,抵抗変化特性15A及び(又は)15Cのものの認証
を受ける場合は15A又は15Cのいずれかを試料とする。
(5) スイッチ付きの認証を受けない場合は,スイッチなしの試料を提出する。
附属書2表2 試料及び数量(等級Eに適用)
ロット 公称全抵抗値 抵抗変化特性(6)試料数(7) 試料の群分け個数
区分 (附属書2表4参照)
1 最低抵抗値(1) 0B 25 2,4,5,6,7群に各4個
2 最高抵抗値(2) 25 3群に各5個
3 100k 圀 25 (3a群に各3個)
4 100k 圀 10A又は15A 25 (3b群に各2個)
計 − − 100 −
注(1) 認証を受けようとする最低抵抗値。
(2) 認証を受けようとする最高抵抗値。
(6) 抵抗変化特性10A及び(又は)15Aの認証を受ける場合は,ロット区分4の
試料数を提出する。
(7) 試料数の計は,すべての範囲の認証を受ける場合の数量である。
3. 認証の範囲 認証の範囲は,認証試験に合格した抵抗器と,大きさ,特性及び形状が同一であって次
の範囲のものとする。
(1) 全抵抗値 認証試験に合格したもの及び合格した2種類の抵抗値(品質認証試験に提出した最低及び
最高抵抗値)の間の抵抗値とする。ただし,2種類の抵抗値が附属書2表1又は附属書2表2のロッ
――――― [JIS C 6444 pdf 30] ―――――
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JIS C 6444:1991の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-5:1992(NEQ)
JIS C 6444:1991の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 6444:1991の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5260:1996
- 電子機器用可変抵抗器通則
- JISC5261:1993
- 電子機器用可変抵抗器の試験方法
- JISC5602:1986
- 電子機器用受動部品用語
- JISZ9015:1980
- 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)