この規格ページの目次
24
C 6821 : 1999
− マンドレル径
− 試験環境
− nsの推定値標準誤差 (SEE)
− マンドレルに巻かれた光ファイバ長
− 巻付け力
− 各試験セットの初期試料数及び試験セット数
− 一連のマンドレル径のマンドレル数(巻数)
− ns計算法
図17 巻付けによる静的疲労係数の測定概略図
15. 側面顕微鏡法による光ファイバカールの測定法 (IEC 60793-1-B8A)
15.1 目的 この試験は,被覆されていない光ファイバの曲率半径又はカールを,側面顕微鏡法によって
測定するものである。光ファイバのカールは,非調心アライメント融着スプライサ又は調心アライメント
融着スプライサを使用するとき,光ファイバのスプライス損失を極力少なくするための重要なパラメータ
として識別されている。手順は,支持されていない光ファイバ端部を光ファイバ軸の周りに回転させると
生じる偏位量を決定することによって被覆されていない光ファイバの曲率半径を測定する。光ファイバの
最大偏位と光ファイバ取付具から測定点までのオーバハング距離を知ることによって,光ファイバの曲率
半径を簡単な円形モデルから計算できる。
なお,このモデルの誘導式を附属書Cに示す。
この手順はデータ収集と計算によって求めるものである。方法Aでは,通常, 定される光
ファイバ偏位(曲がり) ファイバを回転させると生じる偏位(曲がり)の最大値と最小値の差の1/2
として決定される。方法Bでは,偏位は回転増分を均一にして測定し,そのデータを正弦関数に適合させ
る。この場合, 楫 のピーク間の振幅の1/2として計算される。
15.2 装置 上記手法の代表的な試験装置の概略図を,図18,図19,及び図20に示す。
15.2.1 光ファイバ取付具 光ファイバを一定の軸に取り付けて,光ファイバが360°回転できるようにす
る適切な取付具を使用する。取付具は真空チャックのようなV状の固定保持器や光ファイバフェルールで
もよい。フェルールを使用する場合,偏位測定の可変性を最小限にするため,内径が光ファイバ径に十分
に近くなるように注意する。
15.2.2 回転保持器 保持器は,光ファイバ端部をつかみ,試料を360°回転させる正確な方法を提供する
のに使用する。この装置は手動でも,ステッパモータのような回転装置でも駆動できる。
15.2.3 偏位測定装置 光ファイバを360°回転させたとき,その偏位を測定する装置を用意する。このよ
うな装置は顕微鏡,レーザマイクロメータなどの光学測定器である。顕微鏡を使用する場合,目盛付き接
眼レンズや像解析システムなど,光ファイバ偏位を正確に測定できる手段を設ける。
――――― [JIS C 6821 pdf 26] ―――――
25
C 6821 : 1999
15.2.4 ビデオカメラ及びモニタ ビデオカメラ及びモニタを使用して手動又は自動操作の測定観察シス
テム系を向上させることもできる。
15.2.5 試験手順 目盛りの位置をより正確にするため,ビデオアナライザを使用することもできる。
15.2.6 コンピュータ コンピュータシステムを使用して測定制御,データ収集,計算を行うこともできる。
15.3 試験試料 試験試料は,長さが装置設計に適したケーブル化されていない光ファイバとする。試料
の被覆は必要なオーバハング距離を採って光ファイバ取付具に取り付けられるように十分に一端からはが
す。
15.4 試験手順 被覆のない光ファイバ端を光ファイバ取付具に取り付け,光ファイバ端が取付具を超え
て適切なオーバハング距離まで伸ばせるようにする。代表的なオーバハング距離としては,1020mmが
用いられる。試料の他端を回転装置に接続する。
15.4.1 方法Aの手順 試料を偏位が最大又は最小となるまで回転し,偏位値 (D0) を記録する。試料を,
約180°回転した位置になるまで回転し,偏位値 (D1) を記録する。
15.4.2 方法Bの手順 試料の偏位をその初期位置 (D0) と角度位置 ( ‰ 録する。試料を360°にわ
たって回転し,等しい角増分ごとに停止し,角増分D1···nとその角増分 位値を記録する。通
常,10°15°の角増分を使用する。
15.5 計算
15.5.1 方法Aの手順 光ファイバ偏位 ( ‰ 次の式から算出する。
D0 D1
f (17)
2
ここで, D0とD1は,一般に 述される最小偏位値と最大偏位値であ
る。
15.5.2 方法Bの手順 係数A0とA1は位置データD0···nと角度データ 湟 湫 に合わせる
ことによって決定する。
Y=A0+A1×sin (18)
A1= (19)
15.5.3 両方法に共通する計算 試料によって測定される光ファイバ偏位はオーバハング距離Xによって
左右されるため,円形モデルを使って光ファイバカールを曲率半径として算出することが便利である。
2 2
f
R (20)
2 f
ここに, R : 曲率半径
X : オーバハング距離
替 光ファイバ偏位
15.6 結果
15.6.1 次のデータを報告する。
− 試験日
− 試料識別
− 光ファイバ曲率半径
15.6.2 次のデータは,要求があれば,入手できるものとする。
− 使用試験方法
− 使用装置の説明
− 校正データ
――――― [JIS C 6821 pdf 27] ―――――
26
C 6821 : 1999
図18 顕微鏡による光ファイバカール量の測定概略図
図19 レーザマイクロメータによる光ファイバカール量の測定概略図
――――― [JIS C 6821 pdf 28] ―――――
27
C 6821 : 1999
図20 真空チャックの代わりにフェルールを用いる光ファイバカール量の測定概略図
16. レーザ光散乱による光ファイバカールの測定法 (IEC 60793-1-B8B)
16.1 目的 この試験は,レーザ光散乱によって光ファイバ内の潜在的な曲率(カール)を測定するもの
である。このパラメータは,同時複数の光ファイバ接続及びコネクタ技術に関連があることが立証済であ
る。
16.2 装置 試験装置の概略図を図21に示す。
16.2.1 光源 分割He-Neレーザ光を,光源として使用する。
16.2.2 検出器 CCDラインセンサなどのイメージセンサを,検出器として使用する。
16.3 試験試料 試料保持器は,光ファイバが固定軸において360°回転できる回転取付器に固定する。被
覆されていない光ファイバを,規定のオーバハング長さが垂直に伸びるように試料保持器で保持する。
16.4 手順
16.4.1 校正 システムの校正係数は,非カールの光ファイバで決定する。
16.4.2 測定 試料を回転させながらラインセンサによって,反射光距離を読み取る。最大反射光距離を
地 録する。光ファイバカールの曲率半径は,次の式から算出する。
2L
r (21)
S
1
Z
ここに, r : 曲率半径
L : 光ファイバからラインセンサまでの距離
光ファイバからの反射光の広がり
光ファイバへの入射光の間隔
16.5 結果 次のデータを報告する。
− 試験日
− 試料識別
− 光ファイバカール
次のデータは,要求があれば入手できるものとする。
――――― [JIS C 6821 pdf 29] ―――――
28
C 6821 : 1999
− 装置の説明
− 校正データ
図21 レーザ光散乱による光ファイバカールの測定概略図
17. 引張試験方法
17.1 装置 引張試験装置は,JIS B 7721に規定の試験機とする。
17.2 手順
a) 準備 試料長は,把持部の間隔が500mm以上取れる長さとし,両端を適切な樹脂で固める。その際,
把持部で光ファイバ心線,抗張力体及びシース(外被)が互いにずれないように均一に固定し,かつ,
試験終了後,光ファイバの光学的な導通状態を確認できるようにする。
b) 試験 引張試験は,個別規格に規定がない限り,表2の試験条件によって行う。
なお,規定の張力に到達するまでの引張速度は,100mm/minとする。
c) 最終測定 試験後の光ファイバコードの,光学的な導通状態の確認を行う。
なお,光ファイバコードの把持部で断線しているときは,その試験を無効とし再試験する。
表2 引張試験条件
光ファイバ心線数 張力 N 印加時間 min
単心 80 5
2心 160
17.3 個別規格に規定する事項
a) 張力
b) 印加時間
18. 圧壊試験方法
――――― [JIS C 6821 pdf 30] ―――――
次のページ PDF 31
JIS C 6821:1999の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60793-1-3:1995(MOD)
JIS C 6821:1999の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.01 : 光ファイバシステム一般