JIS C 6823:2010 光ファイバ損失試験方法 | ページ 10

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C 6823 : 2010
                                          附属書L
                                          (規定)
                        曲げ損失試験 : 方法B−1/4円曲げ法
L.1 装置
  装置は,それぞれに一つ以上のガイド溝をもつ一つ以上の板及び損失試験装置からなる。光ファイバが
接触すると測定結果に影響を与えてしまうので,被測定光ファイバを設置する板は,上下に積み重ねたと
きに板上の被測定光ファイバと接触しないように設計する。それぞれのガイド溝は図L.1に示すように,
円の1/4の部分(すなわち90°)を構成している。曲げ半径r,すなわち1/4円の半径は,個別規格で定め
る。それぞれのガイド溝の幅は,0.4 mm以上で,光ファイバの直径以上とする。伝送パワーによる光損失
モニタ法(附属書E参照)又はカットバック法(附属書A参照)のどちらかを使用し,各光ファイバの適
切な入射条件に注意して,規定波長(例えば,650 nm,850 nm又は1 300 nm)ごとの曲げ損失を測定する。
                                  図L.1−板上の1/4円ガイド溝
L.2 手順
  被測定光ファイバは,注意深くガイド溝に設置しなければならない。入射端から最初に曲げを与える部
分の先端までの距離を1 mとする。曲げを与える部分の先端から次の曲げを与える部分の先端まで,すな
わち,各曲げ部分の間隔をsとする。最後に曲げを与える部分の終端から光検出器までの距離を1 mとす
る(図L.2参照)。
  被測定光ファイバ長は,式(L.1)によって求める。
                         L  (n  )1 s  2  (L.1)
                            3
                         s      R  2  R   (L.2)
                            2
                      ここに,     L :  被測定光ファイバ長 (m)
                                   n :  1/4円曲げ回数
                                   s :  各曲げ部分の間隔 (m)
                                   R :  ガイド溝に設置していない部分の光ファイバの曲げ半径 (m)

――――― [JIS C 6823 pdf 46] ―――――

                                                                                             43
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                          図L.2−重ね合わせ板を使用した複数回曲げ構成
  様々な曲げ半径に設定した溝をもつ板を重ね合わせて同時に使用することによって,様々な半径の複数
回の曲げによる曲げ損失を測定することができる(図L.2参照)。他に規定がない限り,試験の設定値は次
のように定める。
− 曲げ半径 : r=25 mm
− 曲げ回数 : n=10
− ガイド溝に設置していない部分の光ファイバの曲げ半径 : R≧150 mm
− 波長 : 650 nm,850 nm又は1 300 nm
  これらの設定値で各曲げ間の距離が 1 m以上のとき,試料の長さは11 m以上となる。
  曲げによって与えられた光ファイバ損失は,伝送パワーによる光損失モニタ法(附属書E参照)又はカ
ットバック法(附属書A参照)のいずれかの方法を用いて測定する。被測定光ファイバの光源側にクラッ
ドモード除去器を使用する。適切なクラッドモード除去器は,直径30 mmのマンドレルに被測定光ファイ
バを3回巻くことで実現する。次の手順に従って試験を行う。
a) 適切な長さに光ファイバを切断し,曲げ直径が300 mm以上のボビンに巻くか又は平らな面に設置す
    る。
b) 伝送光パワーを測定する。
c) 光ファイバを試験装置(図L.1及び図L.2参照)に設置する。
d) 伝送光パワーを測定する。

――――― [JIS C 6823 pdf 47] ―――――

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C 6823 : 2010
      注記 設定値n=10の条件で多重の曲げを測定する場合に,特定の曲げで発生するモード拡散は,
            どれだけの曲げがそれ以前に起こっているかに依存している。例えば,第1番目の曲げは2
            番目の曲げの入射条件に影響を与え,2番目の曲げは3番目の曲げの入射条件に影響を与え
            る。したがって,ある曲げが与える損失は,他の曲げが与える損失と異なるかもしれない。
            特に最初の曲げ状態はそれ以降の曲げに最も大きな影響を与える。そのため,多重の曲げに
            よって損失が発生する場合は,“dB/曲げ回数”(全曲げ損失を曲げ回数で割った値)の単位
            で示すことができない。そのため,損失を与える曲げに関する仕様では,“dB/曲げ数”の
            単位では表さない。

――――― [JIS C 6823 pdf 48] ―――――

                                                                                                                                          45
                                                                                                                                C 6823 : 2010
                                                                                                                                             C6
                                                                                                                                                3
                                                                  附属書JA
                                                                                                                                                823
                                                                   (参考)
                                                                                                                                                    : 20
                                                     JISと対応国際規格との対比表
                                                                                                                                                       10
     JIS C 6823 : 2010 光ファイバ損失試験方法                               IEC 60793-1-1 : 2008,Optical fibres−Part 1-1 : Measurement methods and test
                                                                            procedures−General and guidance
                                                                            IEC 60793-1-40 : 2001,Optical fibres−Part 1-40 : Measurement methods and test
                                                                            procedures−Attenuation
                                                                            IEC 60793-1-46 : 2001,Optical fibres−Part 1-46 : Measurement methods and test
                                                                            procedures−Monitoring of changes in optical transmittance
                                                                            IEC 60793-1-47 : 2006,Optical fibres−Part 1-47 : Measurement methods and test
                                                                            procedures−Macrobending loss
                                                                            IEC/TR 62221 : 2001,Optical fibres−Measurement methods−Microbending
                                                                            sensitivity
     (I)   JISの規定            (II)           (III)国際規格の規定                                                 (V)   JISと国際規格との技術的差
                                                                            (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条
                             国際規格番号                                   ごとの評価及びその内容              異の理由及び今後の対策
     箇条番号       内容                    箇条番号           内容         箇条ごと       技術的差異の内容
     及び名称                                                               の評価
     1 適用範囲  光ファイバ  IEC 60793-1-40 1          JISとほぼ同じ        変更      五つの対応国際規格を一つの規格使用者の利便性向上のため一
                 の損失を含  IEC 60793-1-46                                           JISとした。               本化した。
                 む光ファイ  IEC 60793-1-47                                                                     実質的な差異はない。
                 バの特性に  IEC/TR 62221
                 ついて規定
     3 用語及び              IEC 60793-1-40 3          JISとほぼ同じ        追加      必要な用語を追加した。    実質的な差異はない。
     定義
     4 光ファイ              IEC 60793-1-1  8          JISとほぼ同じ        変更      JIS体系に従った形名を使用 JISでは従来からの整合性を整え
     バの種類                                                                         している。                るため,日本において普及した名
                                                                                      参考としてIEC記号を追加し 称を用いている。
                                                                                      た。
                                                                                                                                             C6
     5 試験状態              IEC 60793-1-1  5          JISとほぼ同じ        変更                                現場測定の条件を考慮している。
                                                                                      JIS C 60068-1を引用し,標準
                                                                                                                                                82
                                                                                      大気条件を変更した。      実質的な差異はない。
                                                                                                                                                  3 : 2010
                                                                                                                                                3

――――― [JIS C 6823 pdf 49] ―――――

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    C 6823 : 2010
                                                                                                                                             C6
                                                                                                                                                3
                                                                                                                                                82
     (I)   JISの規定            (II)           (III)国際規格の規定                                                 (V)   JISと国際規格との技術的差
                                                                            (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条
                                                                                                                                                  3 : 2
                             国際規格番号                                   ごとの評価及びその内容              異の理由及び今後の対策
                                                                                                                                                      010
     箇条番号       内容                    箇条番号           内容         箇条ごと       技術的差異の内容
     及び名称                                                               の評価
     6 損失関連              −             −         −                   追加      光ファイバの損失に関連する規格使用者の利便性向上のため,
     特性試験                                                                         特性試験の選択方法を追加  試験項目,方法及び対象光ファイ
                                                                                                                バの関係を規定している。
                                                                                                                実質的な差異はない。
     7 損失試験              IEC 60793-1-40 1,3,511                         一致
     方法
     8 光導通試              −             −         −                   追加      光ファイバの光導通験方法をJISでは従来から使用されている
     験方法                                                                           追加                      試験項目及び方法を採用してい
                                                                                                                る。
                                                                                                                実質的な差異はない。
     9 光損失変              IEC 60793-1-46 1,39                            一致
     動試験方法
     10 マイク               IEC/TR 62221   1,3                             一致
     ロベンド損
     失試験方法
     11 曲げ損               IEC 60793-1-47 1,3,68                          一致
     失試験方法
     附属書A                 −             −         −                   追加      IEC規格にはなく,JISだけにJISでは従来から使用されている
     A.2.3                                                                            あるPGIも該当するため追加 記号を採用している。
                                                                                                                実質的な差異はない。
     附属書B                 IEC 60793-1-40 Annex B                         一致
     D                                      D
     附属書E及               IEC 60793-1-46 Annex A                         一致
     びF                                    B
     附属書GJ                IEC/TR 62221   3                               一致
                                                                                                                                             C6
     附属書K及               IEC 60793-1-47 4,5                             一致
                                                                                                                                                8
     びL
                                                                                                                                                 23 : 2010
                                                                                                                                                3

――――― [JIS C 6823 pdf 50] ―――――

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