JIS C 6828:2019 光ファイバ構造パラメータ測定器校正方法

                                                                   C 6828 : 2019 (IEC 61745 : 2017)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 一般事項及び校正準備・・・・[4]
•  4.1 光ファイバの構造パラメータ・・・・[4]
•  4.2 構造パラメータ測定器の説明・・・・[4]
•  4.3 校正標準に関する要求事項・・・・[5]
•  5 校正・・・・[7]
•  5.1 概要・・・・[7]
•  5.2 構造パラメータ測定器の校正の理論的根拠・・・・[7]
•  5.3 校正の手順・・・・[8]
•  5.4 校正の点検の手順・・・・[10]
•  5.5 空間的線形性・・・・[10]
•  5.6 コア・クラッド偏心量測定結果の校正・・・・[10]
•  5.7 非円率測定結果の校正・・・・[11]
•  6 不確かさの評価・・・・[11]
•  6.1 概要・・・・[11]
•  6.2 構造パラメータ測定器の校正における不確かさの評価・・・・[11]
•  6.3 光ファイバ測定における不確かさの評価・・・・[13]
•  6.4 クロムマスク測定における不確かさの評価・・・・[14]
•  6.5 まとめ・・・・[14]
•  7 文書化・・・・[14]
•  7.1 記録・・・・[14]
•  附属書A(規定)測定の不確かさのための数学的基礎・・・・[16]
•  附属書B(参考)校正係数の算出・・・・[18]
•  附属書C(参考)校正係数の決定の実施例・・・・[21]
•  附属書D(参考)不確かさの計算・・・・[22]
•  附属書E(参考)不確かさの決定の実施例・・・・[25]
•  附属書F(参考)実用標準の作成・・・・[27]
•  附属書G(参考)コア・クラッド偏心量測定における不確かさの評価・・・・[28]
•  附属書H(参考)非円率測定における不確かさの評価・・・・[31]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 6828 pdf 1] ―――――

C 6828 : 2019 (IEC 61745 : 2017)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人
光産業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本
産業規格を改正すべきとの申出があり,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本
産業規格である。これによって,JIS C 6828:2004は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 6828 pdf 2] ―――――

                                       日本産業規格                             JIS
                                                                              C 6828 : 2019
                                                                            (IEC 61745 : 2017)

光ファイバ構造パラメータ測定器校正方法

End-face image analysis procedure for the calibration of optical fiber geometry test sets

序文

  この規格は,2017年に第2版として発行されたIEC 61745を基に,技術的内容及び構成を変更すること
なく作成した日本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,ニアフィールド法又はグレースケール法としても知られている端面画像解析を行う構造パ
ラメータ測定器(以下,測定器という。)の校正方法について規定する。
  なお,その原理は,異なる形式の測定器にも適用することができる。
  この規格で規定する手順は,測定器を校正する目的及び校正済み測定器を用いた測定における不確かさ
を評価する目的で,校正機関,校正測定器の製造業者又は使用者が実行することができる。この規格では,
光ファイバ被覆又はケーブル測定に用いる測定器の校正については扱わない。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 61745:2017,End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test
              sets(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  この規格は引用規格をもたない。

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
認定された校正機関(accredited calibration laboratory)
  適切な国家機関の認定の下,国家規格へのトレーサビリティを保証する校正証明書を発行する校正機関。
3.2
校正用試料(artefact)
  測定器を用いて測定する試料又は測定器を校正するために用いる物体。

――――― [JIS C 6828 pdf 3] ―――――

2
C 6828 : 2019 (IEC 61745 : 2017)
3.3
校正(calibration)
  規定の条件の下,測定器が示した量の値と標準器が示すその量の標準値との関係を確立する一連の作業。
    注記1 校正の結果によって,指示値に対応する測定値の指定又は指示値に対する補正の決定が可能
            となる。
    注記2 校正によって,影響量の効果などの他の計量特性を決定できる場合もある。
    注記3 校正の結果は,校正証明書又は校正報告書の文書に記録される場合もある。
3.4
校正連鎖(calibration chain)
  国家標準から仲介標準又は実用標準を経て,測定器に至る値付けの連鎖(図1参照)。
3.5
校正の点検(calibration checking)
  校正の有効期限が経過した校正済みの測定器が,まだ規定の不確かさの限界内に留まっていることの確
認。
    注記1 測定器がこの限界から逸脱している場合には,再校正が必要になる。一方,測定器がこの限
            界内に留まっている場合には,再校正までの期限を規定の期間だけ延長することができる。
    注記2 測定器に対し,実用標準を用いて校正の点検を行ってもよい。
3.6
校正標準(calibration standard)
  参照標準に基づいて校正し,測定器の校正に用いる校正用試料。
    注記1 校正用試料は,光ファイバの場合又はガラス上のクロムマスクの場合がある。
    注記2 校正標準を正しく使用することによってトレーサビリティが保証される。
    注記3 校正標準という用語は,計測の不確かさの小さい順に,参照標準,仲介標準及び実用標準を
            含む。
3.7
合成標準不確かさ(combined standard uncertainty)
  個々の標準不確かさを幾つか合成したもの。
    注記1 この意味での,“精確さ(accuracy)”という用語の使用は,避ける。
    注記2 校正報告書及び技術データシートでは,測定器の測定における合成標準不確かさは,適切な
            信頼水準(例えば,95.5 %又は99.7 %)をもった総合拡張不確かさとして報告する。
3.8
信頼水準(confidence level)
  測定されたパラメータの真の値が,規定の範囲内にある確率の推定(拡張不確かさ)。
3.9
補正オフセット(correction offset)
  既知の物理的効果を補正するため,測定器の測定結果に加える値又は測定結果から減じる値。
3.10
包含係数,k(coverage factor)
  標準不確かさu(3.20参照)から,拡張不確かさU(3.11参照)を求めるのに用いる係数。

――――― [JIS C 6828 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                                   C 6828 : 2019 (IEC 61745 : 2017)
3.11
拡張不確かさ,U(expanded uncertainty)
  規定の信頼水準で,測定した量の真の値が収まると期待される値の範囲。
    注記1 拡張不確かさUは,標準不確かさuに包含係数kを乗じた値に等しい。
                        U   k u   (1)
    注記2 不確かさの分布が正規分布であると仮定し,多数の測定を行う場合,68.3 %,95.5 %及び
            99.7 %の信頼水準(3.8参照)は,それぞれ包含係数k=1,2及び3に対応する。
3.12
構造パラメータ測定器(geometry test set)
  光ファイバの構造パラメータを測定するために用いる装置。測定されるパラメータは,構造パラメータ
測定器の形式によって異なる。
3.13
被測定光ファイバ(infant fiber)
  校正済みの測定器によって構造が測定される光ファイバ。
3.14
構造パラメータ測定器の状態(instrument state)
  ここでは,校正中及び測定中の測定器の動作条件を記述したものを意味する。
    注記 例えば,使用する形状近似モデル,使用するデータフィルタリング方法,及び測定器のウォー
          ムアップ時間,校正実施日などの測定器に関するその他の重要な情報。
3.15
国家標準(national standard)
  国家的な決定によって認められた標準。当該量のその他の標準への値付けの基礎として国家内で適用さ
れる(ISO/IEC Guide 99の5.3を修正)。
3.16
国立標準機関(national standards laboratory)
  国家標準を維持している機関。
3.17
動作範囲(operating range)
  測定器が,規定の拡張不確かさの範囲内で機能するように設計する条件の範囲。
    注記 そのような条件には,例えば,測定する光ファイバの直径及び温度のような環境条件を含む。
3.18
参照標準(reference standard)
  測定結果の国家標準に対するトレーサビリティが確保されている校正機関で測定された校正用試料。
3.19
補正係数(scaling factor)
  補正オフセットを適用しない場合の,測定器が示した値と校正標準の既知の標準値との比率。
3.20
標準不確かさ,u(standard uncertainty)
  標準偏差で表した測定結果の不確かさ。詳細は,附属書Aによる。
    注記 ISO/IEC Guide 98-3を参照。

――――― [JIS C 6828 pdf 5] ―――――

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