JIS C 6832:2019 石英系マルチモード光ファイバ素線 | ページ 3

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                                       表6−伝送特性試験
                   特性                 試験方法         適用規格       関連国際規格
         損失                      カットバック法     JIS C 6823     IEC 60793-1-40
                                   挿入損失法
                                   OTDR法
         帯域a), b)                パルス法           JIS C 6824     IEC 60793-1-41
                                   周波数掃引法
         屈折率分布                RNF法              JIS C 6822     IEC 60793-1-20
         最大理論NA c), d)         RNF法              JIS C 6822     IEC 60793-1-20
         NA                        FFP法              JIS C 6825     IEC 60793-1-43
         波長分散                  位相法             JIS C 6827     IEC 60793-1-42
                                   パルス法
                                   微分位相法
         曲げ損失                          −         IEC 60793-1-47         −
         モード遅延時間差e)                −         IEC 60793-1-49         −
         注a) 帯域においては,全モード励振(OFL)又はモード遅延時間差から計算された全モード励
              振理論帯域(OMBc)を使用できる。OMBc法は波長850 nmでのSGI-50/125-A1/2/3形光フ
              ァイバにおける基準試験方法であり,波長850 nm及び953 nmでのSGI-50/125-A4形光フ
              ァイバにおける必須な試験方法である。
           b) 850 nmの帯域はSGI-50/125-A1/2/3形光ファイバの1 000 m±5 %試験片で規定する。
              SGI-50/125-A2形光ファイバは波長850±10 nm,SGI-50/125-A3/T形光ファイバは波長850
              ±2 nm及びSGI-50/125-A4形光ファイバは波長953±6 nmで測定する。
           c)   Aを波長850±10 nm,2 m±0.2 m試験片で規定し,SGI-50/125-A1b/2b/3b/4b形光ファイ
              バを除くSGI-50/125-A形光ファイバはkNA=0.05のしきい(閾)値で規定する。
           d)   Aは波長850±10 nm,100 m±5 %試験片で規定し,SGI-50/125-A1b/2b/3b/4b形光ファイ
              バにおいては,kNA=0.05のしきい(閾)値で規定する。
           e) モード遅延時間差(DMD)は,SGI-50/125-A1/2/3/4形光ファイバにおいて1 000 m±5 %試
              験片で規定する。SGI-50/125-A2形光ファイバのDMDは波長850±10 nmで測定する。
              SGI-50/125-A3及びSGI-50/125-A4形光ファイバのDMDは波長850±2 nmで測定する。さ
              らに,SGI-50/125-A4形光ファイバのDMDは波長953±6 nmで測定する。
                                       表7−機械特性試験
              特性                 試験方法              適用規格       関連国際規格
         スクリーニング  一定応力法                   JIS C 6821     IEC 60793-1-30
         (プルーフ)    一定伸びひずみ法
                         一定曲げひずみ法
         短尺光ファイバ  引張強度測定法               JIS C 6821     IEC 60793-1-31
         素線の引張強度
         被覆除去性      被覆除去力                   JIS C 6821     IEC 60793-1-32
         疲労係数                                     JIS C 6821
                         引張りによる動的疲労係数測定法              IEC 60793-1-33
                         曲げによる動的疲労係数測定法
                         引張りによる静的疲労係数測定法
                         曲げによる静的疲労係数測定法

10 環境特性

10.1 試験方法

  試験方法を,表8に示す。

――――― [JIS C 6832 pdf 11] ―――――

10
C 6832 : 2019
                                         表8−環境試験
                                   試験方法                      適用規格
                  湿熱試験                                  IEC 60793-1-50
                  乾熱試験                                  IEC 60793-1-51
                  温度サイクル試験                          IEC 60793-1-52
                  浸水試験                                  IEC 60793-1-53

10.2 試験項目

  試験項目を,表9に示す。
                                         表9−試験項目
              特性                  試験方法              適用規格      関連国際規格
         光損失変動      伝送パワーモニタ法             JIS C 6823   IEC 60793-1-46
         損失            カットバック法                 JIS C 6823   IEC 60793-1-40
                         挿入損失法
                         OTDR法
         被覆除去性      被覆除去力                     JIS C 6821   IEC 60793-1-32
         短尺光ファイバ素引張強度測定法                 JIS C 6821   IEC 60793-1-31
         線の引張強度
         疲労係数        引張りによる動的疲労係数測定法 JIS C 6821   IEC 60793-1-33
                         曲げによる動的疲労係数測定法
                         引張りによる静的疲労係数測定法
                         曲げによる静的疲労係数測定法
  これらの試験は,通常,光ファイバ素線の形式試験として,定期的に実施する。
  特別な場合を除き,環境試験の実施後から特性を測定するまでの許容時間は,個別の試験項目に規定す
る。

10.3 各項目の環境特性

  環境特性は,次による。
a) 被覆除去性 被覆除去の環境特性を,表10に示す。
      環境試験の実施後に,光ファイバ素線の特性を確認する。
                                   表10−被覆除去の環境特性
              試験方法          被覆除去力(平均) N          被覆除去力(最大) N
         湿熱試験                      1.05.0                        1.08.9
         浸水試験                      1.05.0                        1.08.9
b) 引張強度 引張強度の環境特性を,表11に示す。
      環境試験の実施後に,光ファイバ素線の特性を確認する。

――――― [JIS C 6832 pdf 12] ―――――

                                                                                             11
                                                                                   C 6832 : 2019
                                   表11−引張強度の環境特性
              試験方法         引張強度(中央値) GPa     引張強度(第15百分位数) GPa
                                  測定片長さ=0.5 m             測定片長さ=0.5 m
         湿熱試験                     3.03以上                      2.76以上
         注記 この規定は,ハーメチックコート光ファイバ素線には適用しない。
c) 疲労係数 疲労係数の環境特性を,表12に示す。
      環境試験の実施後に,光ファイバ素線の特性を確認する。
                                   表12−疲労係数の環境特性
                           試験方法                         疲労係数nd
              湿熱試験                                        18以上
              注記 この規定は,ハーメチックコート光ファイバ素線には適用しない。
d) 光損失変動 光損失変動の環境特性を,表13に示す。
      光損失は,試験途中及び試験後に測定する。
                                  表13−光損失変動の環境特性
                 試験方法               波長 nm                光損失変動 dB/km
            湿熱試験                       850                     0.20以下
                                          1 300                    0.20以下
            乾熱試験                       850                     0.20以下
                                          1 300                    0.20以下
            温度サイクル試験               850                     0.20以下
                                          1 300                    0.20以下
            浸水試験                       850                     0.20以下
                                          1 300                    0.20以下

11 供給形態及び包装

  包装は,束又はボビン巻とする。また,運搬時に損傷しないように適切に包装して保護を施さなければ
ならない。

12 製品の呼び方

  製品の呼び方は,JIS C 6820の箇条5(製品の呼び方)の規定によって,名称又は光ファイバ素線の形
名による。

13 表示

  束又はボビンに,次の事項を容易に消えない方法で表示する。色の上又は下に表示してもよい。表示は
明確に区別できる着色リング,ライン又はらせんとする。印刷又は塗装表示は,十分に付着させる。表示
は,長さ30 mm以内で簡単に識別できるものとする。
a) 名称又は光ファイバ素線の形名
b) 条長

――――― [JIS C 6832 pdf 13] ―――――

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C 6832 : 2019
c) 製造年月又はその略語
d) 製造業者名又はその略号

――――― [JIS C 6832 pdf 14] ―――――

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                                                                                   C 6832 : 2019
                                          附属書A
                                          (規定)
 モード遅延時間差(DMD),理論実効帯域(EMBc)及び全モード励振理論
                               帯域(OMBc)の要求事項
A.1 SGI-50/125-A2形マルチモード光ファイバのDMDに対する要求事項
A.1.1 概要
  DMDマスク法を用いて選別されたSGI-50/125-A2形マルチモード光ファイバは,A.1.2及びA.1.3の要
求事項を満たさなければならない。この附属書では,送信器がB.4の要求事項を満たすための最大測定半
径rinner及びrouterを規定する。
  実効帯域(EMB)に関する説明は,附属書Bを参照。
A.1.2 DMDテンプレート
  SGI-50/125-A2形マルチモード光ファイバのDMDをJIS C 6864に基づいて測定した場合,表A.1に記載
する内側マスクと外側マスクとの六つの組合せのテンプレートのいずれか一つに当てはまる。
                       表A.1−SGI-50/125-A2形におけるDMDテンプレート
    テンプレート番号         内側マスクDMD(ps/m)               外側マスクDMD(ps/m)
                             rinnerrouter : 5 μm18 μm           rinnerrouter : 0 μm23 μm
           1                        0.23以下                            0.70以下
           2                        0.24以下                            0.60以下
           3                        0.25以下                            0.50以下
           4                        0.26以下                            0.40以下
           5                        0.27以下                            0.35以下
           6                        0.33以下                            0.33以下
  rinner : 最大測定内半径
  router : 最大測定外半径
  この細分箇条で要求するDMDを,図A.1に示す。この図で,許容できるDMD(JIS C 6864に基づき測
定)を,径方向へのシングルモード走査位置に対して描画する。励振の仕様を満たす送信器からの十分な
量のボーエネルギーが,伝送システムのボーレートで規定する要求時間内に到達することを保証するため
に,内側マスクの幅と外側マスクの幅とは,トレードオフの関係にある。

――――― [JIS C 6832 pdf 15] ―――――

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