JIS C 6861:1999 全プラスチックマルチモード光ファイバ機械特性試験方法 | ページ 2

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                                 図4 繰返し曲げ試験装置の構成
b) 手順
  1) 準備 試料の両端末は,光コネクタ又は光ファイバ素線及びシース(外被)を一体にして把持でき
      る方法で処理する。試験前後で,光ファイバの損失変化が測定できるようにする。損失変化の測定
      は,JIS C 6863の5.に規定の方法,又は光パワーの連続測定によることとする。
  2) 試験 繰返し曲げ試験は,個別規格に規定がない限り,表3の試験条件によって行う。試料を図4
      に示すような装置に取り付け,荷重を加えながら,垂直方向に対して両側に90°の角度で曲げる。
      曲げのサイクルは,垂直状態からまず右方向へ曲げ,垂直方向に戻し,続いて左方向へ曲げ,さら
      に垂直方向に戻して1サイクルとする。曲げの速度は,約2秒で1サイクルとする。
        なお,光ファイバコードの断面が円形状でない場合は,短径方向に曲げる。
  3) 最終測定 試験後の光ファイバコードの,損失の測定及び外観試験を行う。
        なお,光ファイバの把持部で断線しているときは,その試験を無効とし,再試験する。
                                    表3 繰返し曲げ試験条件
                  光ファイバの心線数おもりの質量 kg   曲げ半径 mm   サイクル数
                        単心               0.5             15          1 000
                        2心                1.0
c) 個別規格に規定する事項
  1) おもりの質量
  2) 曲げ半径
  3) サイクル数
  4) 試験後の損失増加
7.4.2  コード曲げ試験方法
a) 装置 コード曲げ試験装置の例を次に示す。図5のように試料をらせん状に密着して巻き付けること
    のできる円筒から構成する。

――――― [JIS C 6861 pdf 6] ―――――

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C 6861 : 1999
                                 図5 コード曲げ試験装置の構造
b) 手順
  1) 準備 試料の両端末は,光コネクタ又は光ファイバ素線及びシースを一体にして把持できる方法で
      処理する。試験前後で,光ファイバの損失変化が測定できるようにする。損失変化の測定は,JIS C
      6863の5.に規定の方法,又は光パワーの連続測定によることとする。
  2) 試験 コード曲げ試験は,個別規格に規定がない限り,表4の試験条件によって行う。試料をゆっ
      くりと一様な速さで円筒周囲に巻き付け,その後解きほどく。これを1サイクルとする。巻き付け
      るときの張力は,試料を円筒に巻き付けるために十分な力とする。
        なお,光ファイバコードの断面が円形状でない場合は,短径方向に曲げる。
  3) 最終測定 試験後の光ファイバコードの,損失の測定及び外観試験を行う。
        なお,光ファイバの把持部で断線しているときは,その試験を無効とし,再試験する。
                                    表4 コード曲げ試験条件
                            円筒の直径 mm   巻付け数 回   サイクル数
                                  50             6            10
c) 個別規格に規定する事項
  1) 円筒の直径
  2) 巻付け数
  3) サイクル数
  4) 試験後の損失増加
7.5   コードねじり試験方法
7.5.1  装置 コードねじり試験装置の例を図6及び図7に示す。図6及び図7のように固定クランプ,試
料にねじれを与える回転クランプ,及び試験中一定の引張荷重を試料にかけるためのおもりから構成する。

――――― [JIS C 6861 pdf 7] ―――――

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       図6 コード試験装置の構造(横形)                図7 コード試験装置の構造(縦形)
7.5.2  手順
a) 準備 試料の両端末は,光コネクタ又は光ファイバ素線及びシースを一体にして把持できる方法で処
    理する。試験前後で,光ファイバの損失変化が測定できるようにする。損失変化の測定は,JIS C 6863
    の5.に規定の方法,又は光パワーの連続測定によることとする。
b) 試験 コードねじり試験は,個別規格に規定がない限り,表5の試験条件によって行う。試料をシー
    スが動かないように固定クランプに固定し,他端を回転クランプに固定する。回転クランプを180°
    だけ時計方向に回転させる。次に,スタート位置まで戻し,同じ角度だけ反時計方向に回転させる。
    さらにスタート位置まで戻して,1サイクルとする。
c) 最終測定 試験後の光ファイバコードの,損失の測定及び外観試験を行う。
      なお,光ファイバの把持部で断線しているときは,その試験を無効とし,再試験する。
                                   表5 コードねじり試験条件
                             試料長 mm    おもりの質量 kg サイクル数
                                250             0.5           20
7.5.3  個別規格に規定する事項
  1) 試料長
  2) おもりの質量
  3) サイクル数
  4) 試験後の損失増加

――――― [JIS C 6861 pdf 8] ―――――

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C 6861 : 1999
                         光ファイバ標準化委員会 構成表(平成10年度)
                                   氏名                           所属
     (委員長)              川 瀬 正 明       日本電信電話株式会社
                             五十嵐 嘉 彦      株式会社フジクラ
                             石 田 之 則       日本工業大学
                             岩 崎 匡 利       株式会社協和エクシオ
                             植 山 範 行       日本ルーセント・テクノロジー株式会社
                             生 方 裕 史       三菱電線工業株式会社
                             江 上 浩 二       コーニングインターナショナル株式会社
                             大 島 良 夫       東日本旅客鉄道株式会社
                             大 橋 省 吾       昭和電線電纜株式会社
                             小 田 英 輔       社団法人日本電線工業会
                             木 下 和 孝       東京電力株式会社
                             佐々木     豊     茨城大学
                             高 橋     聡      三菱レイヨン株式会社
                             戸木田     茂     株式会社マイクロオプト
                             波 平 宜 敬       株式会社KDD研究所
                             橋 爪 邦 隆       通商産業省工業技術院標準部
                             宮 崎 康 秀       シーコアインターナショナルコーポレーション
                             山 崎 秀 夫       日立電線株式会社
                             山 村 修 蔵       財団法人日本規格協会
                             脇 田     徹      古河電気工業株式会社
                             和 田 英 男       防衛庁
                             増 田 岳 夫       財団法人光産業技術振興協会
     (オブザーバ)          田 村 正 之       社団法人日本化学工業協会
     (事務局)              堀 切 賢 治       財団法人光産業技術振興協会