JIS C 6872:2008 偏波面保存光ファイバビート長試験方法

                                                                                   C 6872 : 2008

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 標準大気条件・・・・[1]
•  5 試験方法・・・・[1]
•  5.1 一般事項・・・・[2]
•  5.2 長さ方向掃引法・・・・[2]
•  5.3 波長掃引法・・・・[4]
•  6 結果・・・・[6]
•  附属書A(参考)試験方法によるビート長の差異・・・・[7]
•  附属書B(参考)ファラデー回転子・・・・[10]

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――――― [JIS C 6872 pdf 1] ―――――

C 6872 : 2008

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)から,
工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経
済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。

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――――― [JIS C 6872 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              C 6872 : 2008

偏波面保存光ファイバビート長試験方法

Beat length measurement of polarization-maintaining optical fibers

序文

  この規格の対応国際規格は,現時点で制定されていないが,偏波面保存光ファイバビート長試験方法を
統一することによって,国内において,光通信機器及び光ファイバジャイロスコープなどの光ファイバセ
ンサに用いられる偏波面保存光ファイバの研究・実用化の促進を目的としている。

1 適用範囲

  この規格は,偏波面保存光ファイバのビート長の試験方法について規定する。
     注記 偏波面保存光ファイバの試験方法は,光ファイバジャイロスコープなどの光ファイバセンサ及
           び波長多重伝送システム用の光カップラなどに応用している。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 6820 光ファイバ通則
    JIS C 6825 シングルモード光ファイバ構造パラメータ試験方法
    JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 6820及びJIS C 6825によるほか,次による。
3.1
ビート長
  偏波面保存光ファイバにおいて二つの直交する直線偏波モードが同時に励振された場合,両偏波モード
の位相定数の差によって,合成の偏波状態が長手方向に周期的に変化するときの1周期の長さ。ビート長
が短いほど偏波面保存能力が高い。

4 標準大気条件

  JIS C 60068-1の5.3[測定及び試験のための標準大気条件(標準状態)]に規定の標準状態,温度1535 ℃,
相対湿度2575 %,気圧86106 kPaとする。ただし,標準状態で試験することが困難な場合は,判定に
疑義が生じない限り,標準状態以外で試験を行ってもよい。その場合は,試験状態を記録する。

5 試験方法

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C 6872 : 2008

5.1 一般事項

  附属書Aに示すように,長さ方向掃引法及び波長掃引法によって,測定するビート長は異なる。このた
め,ビート長測定結果に,その測定方法を明示する。ただし,受渡当事者間の協定によって省略できる。
  ビート長の試験方法を,表1に示す。
                                         表1−試験方法
                              試験方法                      詳細
                           長さ方向掃引法                    5.2
                             波長掃引法                      5.3

5.2 長さ方向掃引法

5.2.1  装置
  試験装置の概略図を図1に示す。装置の詳細は,次による。
                                         図1−試験装置
a) 光源 DFBレーザなどの線幅の狭い光源を用いる。
b) 波長板 偏光子を回転させても一定のパワーが光ファイバに入射するように,円偏波に変換するため
    に波長板を用いる。
c) 偏光子及び検光子 偏光子及び検光子は,偏波化した光が入射した場合に,任意の一定方向の直線偏
    光の偏波光を出力できるものでなければならない。
d) 光パワー検出器 光パワー検出器は,被測定光ファイバの端末から出力される光パワーをすべて受光
    できるものでなければならない。また,測定中のパワーをモニタするために,メータ又は表示器を備
    えなければならない。
e) ファラデー回転子 ファラデー回転子は,被測定光ファイバに,電磁界を印加することによって,偏
    波面を回転させる素子である。測定感度を向上させるため,外部信号によって偏波回転量を変調でき
    るものでなければならない。ファラデー回転子には一般に電磁石などが用いられる。
      注記 附属書B参照
f)  パルスステージ パルスステージは,ファラデー回転子を被測定光ファイバの長手方向に掃引できる
    構造でなければならない。移動幅及び移動間隔は,被測定光ファイバのビート長が検出可能な量でな

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                                                                                              3
                                                                                   C 6872 : 2008
    ければならない。
g) ロックインアンプ 検出感度を向上させるため,ロックインアンプを用いる。ファラデー回転子の応
    答速度に応じた変調に対応できなければならない。
h) 信号発生器 信号発生器は,ロックインアンプ及びファラデー回転子に,変調信号を供給する。
i)  パワーアンプ 信号発生器の出力信号を増幅するアンプを,必要に応じて設ける。ファラデー回転子
    が必要とするパワーを供給できなければならない。
j)  コンピュータ コンピュータは,パルスステージの制御及びロックインアンプからの出力信号の処理
    を行う。
k) 出力装置 コンピュータで処理された測定波形を出力するための装置をもたなければならない。ただ
    し,プロッタなどによって,ロックインアンプからの出力を直接出力するものであってもよい。
5.2.2  試料
  試料は,試験装置への取付けに必要最低限の長さであることが望ましい。余長が存在するときは,被測
定光ファイバにひずみが印加されないように注意しなければならない。
5.2.3  手順
  手順は,次による。
a) 準備及び調整 被測定光ファイバを偏光子及び検光子に接続するために,V溝又はベアファイバアダ
    プタを用意する。被測定光ファイバの被覆を除去し,光ファイバの軸に対して直角な方向で断面が鏡
    面となるように光ファイバを切断する。V溝などを用いて,被測定光ファイバの一端に偏光子を接続
    する。さらに,入射した光パワーをすべて受け取れるように,もう一方の端を検光子に接続し,検光
    子を光パワー検出器に接続する。
      偏光子及び検光子を回転させ,光パワー検出器の表示値が最小になるようにする。次に,ロックイ
    ンアンプから出力されるパワーが最大になるように,検光子の位置を調整する。
b) 被測定光ファイバの測定 パルスステージを駆動しファラデー回転子を移動させる。このときファラ
    デー回転子の移動量Zとロックインアンプの出力Vとの関係を記録する。図2のような関係を得るこ
    とができる。Vの半周期を与える移動量をΔZiとし,N半周期分の測定を行う。
                                        図2−測定波形例
5.2.4  計算
  ビート長Lbを,式 (1) によって求める。

――――― [JIS C 6872 pdf 5] ―――――

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