JIS C 7551-2:2011 白熱電球類の安全仕様―第２部：一般照明用白熱電球と互換性のあるハロゲン電球 | ページ 2

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C 7551-2 : 2011

4.9 寿命末期の安全性

  JIS C 7551-1の4.9(寿命終了時の安全性)による。ただし,強制破損試験によって寿命末期の安全性を
確認する場合には,附属書Aに規定する方法で試験を行う。
    注記 定格電圧100 V未満の電球には,附属書Aに規定する強制破損試験が適している。

4.10 互換性

  JIS C 7551-1の4.10(互換性)による。

4.11 紫外放射

  ハロゲン電球の単位光束当たりの有害紫外放射束は,2 mW/klmを超えてはならない。反射形ハロゲン
電球の場合は,2 mW/(m2・klx)を超えてはならない。測定方法は,JIS Z 8812の5.(有害放射照度の測定方
法)による。

4.12 照明器具設計のための参考情報

  JIS C 7551-1の附属書K(照明器具設計のための参考情報)による。ただし,JIS C 7551-1のK.2(最高
口金温度)及びK.6(水に対する保護)は,それぞれこの規格のC.1及びC.2に置き換える。

5 検査

5.1 形式検査(設計検査,定期検査)

  形式検査は,同一試験品を箇条4,JIS C 7551-1の附属書A(各種の試験方法),附属書B[包装容器へ
の図記号(ピクトグラム)],附属書C(口金接着強さの試験方法),附属書D(強制破損試験)(又はこの
規格の附属書A)及び附属書E(点灯破損試験の手順)に規定する方法で,次の項目について行い,箇条
4に適合しなければならない。
a) 表示
  1) 表示の読みやすさ
  2) 表示の耐久性
  3) 必要な表示の有無
b) 感電に対する保護
c) 口金温度上昇
d) 口金接着強さ
  1) 口金接着強さ(未使用の電球)
  2) 口金接着強さ(加熱処理を行った電球)
e) 絶縁抵抗
f)  充電部の露出及びサイドはんだの高さ
  1) 充電部の露出
  2) サイドはんだの高さ
g) 口金の沿面距離
h) 寿命終了時の安全性
i)  互換性
j)  紫外放射

――――― [JIS C 7551-2 pdf 6] ―――――

                                                                                              5
                                                                                  C 7551-2 : 2011
                                          附属書A
                                          (規定)
                                       強制破損試験
A.1 試験回路及び装置
  JIS C 7551-1の附属書Dによる。ただし,フィラメントを断線させるためのパルス発生器の代わりに,
適切な出力のレーザを用いる。
    注記 レーザとしては,例えば,ネオジムガラス・レーザがある。
A.2 試験方法
  試験するハロゲン電球をソケットに入れ,安全カバーをかぶせる。カバーの小さな孔からレーザビーム
でフィラメントを狙う。
  まず,定格電圧でハロゲン電球を点灯し,温度が十分安定した後レーザパルスを当てる。
  フィラメントの断線が起こらなかった場合,レーザの出力を上げてもう一度試験する。フィラメントの
断線が起こるまでこれを続ける。
    注記 ハロゲン電球のガラス球表面仕上げ,又は外管の構造に邪魔されてビームの焦点が合わない場
          合は,特別に試験品を用意してもよい。
A.3 検査及び評価
  試験の後,個々の電球について,次のことを確認しなければならない。
a) ガラス球に異常がある。
b) ガラス球が口金から外れている。
c) 差込み形口金(B形)の場合,口金の金属シェル部と接点間とで短絡している。
  電球にこれらの不具合があれば,不適合とする。

――――― [JIS C 7551-2 pdf 7] ―――――

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C 7551-2 : 2011
                                          附属書B
                                          (規定)
                                包装容器への表示図記号
  図記号の高さは5 mm以上とし,文字を用いる場合,文字の高さは2 mm以上とする。
  外管が破損したハロゲン電球の使用を禁止する警告を表す図記号は,図B.1による。
              注記1 口金及びガラス球の絵は,口金及びガラス球の形状によって変えてもよい。
              注記2 見やすくするために×印の大きさ及び太さを変えてもよい。
                                         図B.1−図記号

――――― [JIS C 7551-2 pdf 8] ―――――

                                                                                              7
                                                                                  C 7551-2 : 2011
                                          附属書C
                                          (参考)
                            照明器具設計のための参考情報
C.1 最高口金温度
  照明器具は,電球の口金温度が規定の最高口金温度を超えないように,設計するのが望ましい。また,
JIS C 7551-1の表1(連続する12か月間に生産された電球の定格消費電力及び口金別の平均口金温度上昇
の上限値)に規定する平均口金温度上昇の上限値についても,十分な考慮を払わなければならない。電球
に使用する材料がその耐熱温度を超えないようにするため,電球は,表1A及びJIS C 7551-1の表4(最高
口金温度)に規定する最高口金温度を超えない状態とするのが望ましい。
C.2 水に対する保護
  この規格が対象とする全ての電球は,水に対する保護,例えば,水滴,水しぶきなどに対しては,IPX1
(JIS C 0920参照)又はそれ以上の照明器具によって保護するのが望ましい。
    注記 IP番号のXは,省略された数字であることを示すが,両方の適切な数字は,照明器具に表示さ
          れる。

――――― [JIS C 7551-2 pdf 9] ―――――

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C 7551-2 : 2011
                                          附属書D
                                          (参考)
                                          参考文献
  JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
  CIE S 009/E:2002,Photobiological safety of lamps and lamp systems

――――― [JIS C 7551-2 pdf 10] ―――――

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