JIS C 8147-2-3:2011 ランプ制御装置―第２－３部：交流及び直流電源用蛍光灯電子安定器の個別要求事項 | ページ 4

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                                 c) 限度値(1 000 ms10 000 ms)
                図2−高周波点灯蛍光ランプにおける容量性漏えい電流の限度(続き)

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C 8147-2-3 : 2011
                                          附属書A
                                          (規定)
       導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験
  JIS C 8147-1の附属書A(導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験)による。
                                          附属書B
                                          (規定)
                 熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項
  JIS C 8147-1の附属書B(熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項)の要求事項は適用しない。
                                          附属書C
                                          (規定)
              過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項
  JIS C 8147-1の附属書C(過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項)による。
                                          附属書D
                                          (規定)
                 熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法
  JIS C 8147-1の附属書D(熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法)による。
                                          附属書E
                                          (規定)
                       tw試験での4 500以外の定数Sの使用
  JIS C 8147-1の附属書E(tw試験での4 500以外の定数Sの使用)の要求事項は適用しない。

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                                          附属書F
                                          (規定)
                                          風防容器
  JIS C 8147-1の附属書F(風防容器)の要求事項は適用しない。
                                          附属書G
                                          (規定)
                             パルス電圧の値の由来の説明
  JIS C 8147-1の附属書G(パルス電圧の値の由来の説明)の要求事項は適用しない。
                                          附属書H
                                          (規定)
                                             試験
  JIS C 8147-1の附属書H(試験)による。ただし,H.9(試験用安定器)及びH.10(試験用ランプ)は,
次の内容に置き換えて適用する。
a)   .9 JIS C 8120の附属書B(試験用安定器)を適用する。
b)   .10 JIS C 8120の附属書C(試験用ランプの条件)を適用する。

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C 8147-2-3 : 2011
                                          附属書I
                                          (規定)
                                高周波漏えい電流の測定
  電子安定器は,次のように容量性高周波数漏えい電流の試験をする。
  安定器は,図I.1に示すように,2本の通常のランプを用い,片側だけを回路に接続して試験する(交差
した一対のランプ)。この方法は接地に対する最も大きい漏えい電流を流す。
  2本のランプのうち,最も大きい漏えい電流が流れる方のガラス管に幅75 mmの金属はく(箔)を巻き
付け,2 kΩの無誘導抵抗器及び試験回路に適した測定装置に接続する。
  試験は,その他の金属表面から外部の影響を受けないように,ランプを木製テーブル上に置いた高さ75
mmの2個の木製ブロック上に支持して行わなければならない。
  漏えい電流[すなわち,金属はく(箔)から2 kΩ±0.05 kΩの抵抗を介して接地に流れる高周波電流]
は,次の模擬動作状態で測定する。
− 入力電圧を印加した状態で,通常のランプの片側を1対のランプソケットに挿入する。
− 最も厳しい条件にするために(すなわち,生じ得る最大の漏えい電流を確実に測定するために),ソケ
    ットの四つの接点と口金ピンとでできる全ての組合せについて試験を行うことが望ましいが,回路的
    に等価である組合せが複数ある場合は,一通りの組合せの測定でもよい。
      図I.1 a) に示す試験装置の構成では,1-aと1-b,2-aと2-b,3-cと3-d及び4-cと4-dとの組合せは
    回路的に等価と考えられるので,ソケットと口金ピンとの組合せは次の2通りを実施すればよい。
             1-a         3-c
             2-b         4-d
− 複数灯用安定器では,各ランプからの漏えい電流を別々に測定する。
− 一連の安定器を試験する場合には,電力の大小に関係なくそれぞれの形式の安定器ごとに,試験しな
    ければならない。
− それぞれ規定した動作状態で,測定した容量性漏えい電流は,図2に規定した限度を超えてはならな
    い。
    注記 漏えい電流の限度値は,IEC 60479の規格群に基づいている。
                                a) 直管蛍光ランプ用試験装置の構成
                              図I.1−各種のランプ用試験装置の構成

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                      b) 片口金(FHP,FDL,FHT)蛍光ランプ用試験装置の構成
                                c) 環形蛍光ランプ用試験装置の構成
                          図I.1−各種のランプ用試験装置の構成(続き)

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