JIS C 8147-2-9:2011 ランプ制御装置―第2-9部:放電灯安定器個別要求事項(蛍光灯安定器を除く) | ページ 4

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C 8147-2-9 : 2011
記号
1 直流電流測定用電流計
2 自己静電容量が,30 pFを超えないパルス電圧測定用の静電電圧計
構成部品
C1 : 0.66 μF
C2 : 5 000 pF
C3 : 50 pF
D1 : ダイオード ZD22
D2 : ダイオード IN4004
D3 : ダイオード(6個)BYV96E
P : 供試安定器
R1 : 可変抵抗(約100 Ω)
R2 : 可変抵抗 R2≧安定器×20
S : 真空スイッチ
Va : バリスタ(選択方法は,I.2参照)
図I.1−始動装置内蔵形ランプ用安定器の試験回路

――――― [JIS C 8147-2-9 pdf 16] ―――――

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C 8147-2-9 : 2011
附属書J
(参考)
安定器の温度に関する説明
注記 この附属書は,新しい提案をするものではなく,要求事項の現在の状況を示すものである。
安定器の温度要求事項の目的は,安定器がその意図した寿命期間において安全に機能することを立証す
ることである。
安定器の寿命は,安定器の構造に関連した巻線の絶縁性能によって決まる。
安定器の熱の作用は,次の側面によって特徴付けられる。
a) 熱耐久性
b) 安定器の温度上昇
c) 試験方法
コイルタイプの安定器について,次に説明する。
J.1 熱耐久性
まず出発点は,宣言した安定器巻線の定格最高使用温度twであり,その温度において10年間以上の連
続動作の寿命が期待できる温度を示している。巻線温度と安定器の寿命との関係は,次の式(J.1)によって
求めることができる[JIS C 8147-1の図1(巻線温度と熱耐久性試験期間との関係)参照]。
1 1
log L log L0S (J.1)
T Tw
ここに, L : 目標試験寿命(日数)。標準は30日間であるが,製造業者は相
関のある低い温度において,更に長い試験時間を要求してもよ
い。
L0 : 3 652日間(10年間)
T : 絶対温度による理論的試験温度(t+273)K
Tw : 絶対温度による定格最高使用温度(tw+273)K
S : 安定器の設計及び用いる巻線絶縁物による定数。要求がない場
合,Sは4 500とするが,製造業者は関連する試験で証明した
場合は,その他の定数を用いてもよい。
したがって,熱耐久性試験は,相関のある高い巻線温度において10年間よりも非常に短い時間で実施す
ることができる。熱耐久性試験の標準期間は30日間であるが,120日間までの長い試験期間を許容してい
る。
J.2 安定器の温度上昇
照明器具に組み込むように設計した安定器は,照明器具の規格に従って照明器具内で正常状態で動作し
たとき,指定された安定器巻線の定格最高使用温度twを超えないことを確認することが望ましい。
さらに,例えば,蛍光ランプ回路でスタータが短絡するような異常状態では,安定器に表示した関連す
る温度限度を超えていないか,照明器具で確認しなければならない。この温度限度は,安定器の熱耐久性
試験の2/3の寿命に対応する温度と規定している。この要求事項は,30日間の熱耐久性試験を適用する安
定器の温度限度及び理論的試験温度の表に基づいて得たもので,tw=90 ℃の安定器が紙で仕切った層をも
つ温度表示のない安定器の要求事項と同等であるという仮定に基づいている。

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C 8147-2-9 : 2011
これは,異常状態での温度限度が,例えば,30日間の熱耐久性試験を適用する安定器では,20日間の寿
命期間に相当する温度であることを意味している。この関係は,巻線の温度限度に対する以前からある限
度値及び熱耐久性試験の目標試験温度に基づいている。ただし,製造業者が希望する場合,自由に,より
低い温度を表示できる。
照明器具内での確認は,安定器に表示した温度限度に基づく。これは,製造業者がより低い温度で,か
つ,より長い熱耐久性試験を選んだ場合,異常状態での温度限度が,それに対応して低くなることを意味
する。
J.3 試験方法
当初,安定器の温度は,再現性を改善するために何度も改良したバッテン状照明器具(図J.1参照)を
模擬した試験フード内に安定器を置くという試験方法で確認したものであった。最新の試験方法は,安定
器を木台の上に載せたものである[JIS C 8147-1の図H.1(温度試験用試験台)参照]。しかし,実際には,
そのような試験方法で測定した安定器の温度と,特定の照明器具に組み込んだ実際の温度との間には,ほ
とんど相関関係は認められない。このような理由で,この試験方法での安定器温度の測定は廃止され,巻
線の定格最高使用温度twに基づく,より現実的な測定方法に置き換えた。
こうして,安定器の温度上昇試験は,試験の間中,宣言値twとなるよう安定器の製造業者が許容する照
明器具の最も悪い条件で確認する方法に改良している。安定器の各部品は,恒温槽内で安定器を動作させ,
表示された巻線温度に達するまで加熱して確認する。
したがって,安定器の巻線温度が超えていないことの確認は,照明器具内で行う。安定器の巻線温度は,
正常状態と異常状態との両方で測定し,表示値と比較する。
ポール,ボックスなどの,照明器具以外のきょう(筐)体に組み込むように設計した器具内用安定器は,
器具内用安定器について規定したJIS C 8147-1の図H.1の試験方法で試験する。これらの安定器は,照明
器具に組み込まないので,照明器具の規格に規定する温度限度に適合することを,この試験方法で判定す
る。
独立形安定器は,試験コーナーで試験する。試験コーナーは,二つの壁及び部屋の天井を模擬した3枚
の木製ボードで構成する(図J.2参照)。
全ての測定は,附属書Fに規定するような風防容器の中で実施する。
単位 mm
図J.1−安定器温度上昇試験用の試験フード

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単位 mm
図J.2−安定器温度上昇試験用の試験コーナー
附属書K
(規定)
二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器の追加要求事項
JIS C 8147-1の附属書I(二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器の追加要求事項)によ
る。
附属書JA
(規定)
追加の安全性要求事項
JIS C 8147-1の附属書JA(追加の安全性要求事項)による。
参考文献 JIS C 8147-2-8 ランプ制御装置−第2-8部 : 蛍光灯安定器の個別要求事項

――――― [JIS C 8147-2-9 pdf 19] ―――――

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(参考)
JISと対応国際規格との対比表
IEC 61347-2-9:2009 Lamp controlgear−Part 2-9: Particular requirements for
JIS C 8147-2-9:2011 ランプ制御装置−第2-9部 : 放電灯安定器個別要求事項(蛍光
灯安定器を除く) ballasts for discharge lamps (excluding fluorescent lamps)
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差
国際規 ごとの評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
格番号
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 番号 の評価
1 適用範 1 000 V以下の交流電源 1 1 000 V以下の交流電源。 追加 定格二次電圧が1 000 V以下を電気設備技術基準との関連で必
囲 で,定格二次電圧が 追加。 要である。
1 000 V以下。
日本工業規格(日本産業規格)に規定し 規格化されていないランプを 規格化されていないランプが規
ていないランプを点灯 点灯する安定器についての適 格化されるまでの間の適用を明
する安定器についても 用が異なる。 確にするために必要である。
適用できる。
7 表示 7.1 強制表示 7 JIS C 8147-1の7.1のk) 追加 JIS C 8147-1の7.1のk)(配線電気用品安全法との関連で必要
JIS C 8147-1の7.1のk) 及びqB) がない。 図)及びqB)(定格二次短絡電である。
及びqB) を追加。 流又は定格二次電流のいずれ
か大きい値)を追加。
7.2 該当する場合に提 7.2 JIS C 8147-1の7.1のl) 追加 JIS C 8147-1の7.1のl)(tcの箇条14(安定器の温度上昇)で該
供する情報 及びqC) がない。 当する場合必要である。
値)及びqC)(taの値)を追加。
JIS C 8147-1の7.1のl)
及びqC) を追加。
14 安定器 14.2 異常状態での温度 14 非復帰形保護装置が動作 追加 異常状態での温度上昇試験中 非復帰形保護装置が動作した場
の温度上 上昇試験中に非復帰形 した場合の規定がない。 に非復帰形保護装置が動作す 合,巻線の評価ができない。保護
C8
昇 保護装置が動作する場 装置の動作を確認するために,附
る場合,巻線の温度評価はしな
合,巻線の温度評価はし いを追加。 属書Bに規定する熱的保護機能
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ないを追加。 の試験を行うとした。
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2-9 : 2011
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――――― [JIS C 8147-2-9 pdf 20] ―――――

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JIS C 8147-2-9:2011の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 61347-2-9:2009(MOD)

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