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C 8147-2-9 : 2011
社の製品に適用する試験を宣言しなければならない。
15.1 20 pFの負荷コンデンサを接続した,5.1による6個の安定器をイグナイタとともに動作させ,イン
パルス電圧を測定する。その後,イグナイタを外し,インパルス電圧が印加される部分の耐電圧を次のよ
うに試験する。
安定器は,負荷コンデンサ及びランプを接続しないで,同機種の別のイグナイタで定格入力電圧の1.1
倍の電圧で30日間動作させる。30日間の試験中にイグナイタが破損した場合は,30日間の試験期間が完
了するまで,破損するごとにイグナイタを交換する。
パルス停止装置付イグナイタにだけ用いることを表示した安定器[7.2 b) 2) 参照]は,同じ試験を行う
が,1回の遮断時間を2分間以上とし,250回のオン・オフ試験を行う。
この試験の後,接地導体を除き個々の端子を互いに接続し,箇条12による耐電圧試験を行う。試験中,
スパーク又はフラッシオーバが発生してはならない。その後,最初のイグナイタと20 pFの負荷コンデン
サとを接続し,インパルス電圧を再度測定する。最初の値との差は,10 %を超えてはならない。
15.2 5.1による6個の安定器のうち,3個は,箇条11及び箇条12に規定する耐湿試験及び耐電圧試験を
行う。
残りの3個の安定器は,試験の前処理として,安定器に表示された巻線の定格最高使用温度twに達する
まで恒温槽で加熱する。ただし,安定器の外部表面の定格最高温度tcを宣言している場合は,正常点灯の
温度安定状態で外部表面がtcで安定するまで加熱する。また,定格最高周囲温度taを表示している場合は,
taで正常点灯し,巻線温度が安定状態になるまで加熱する。
これらの予備試験の直後に,6個全ての安定器は,高電圧インパルス試験に耐えなければならない。
可変抵抗器,バウンス時間を除いた遮断時間が3 ms15 msの回路遮断器(例えば,H16 又はVR312/412
のような真空スイッチ)及び安定器を直流電源に接続し,電流を調節して安定器に電圧パルスを誘導する
よう回路遮断器を操作する。
安定器に表示されたピーク電圧に達するまで,電流をゆっくりと上昇させる。
電圧パルスの測定は,安定器端子で直接行い,附属書I及び図I.1による。
注記1 遮断時間が非常に短い電子式回路遮断器を用いる場合は,非常に高い誘導パルス電圧の発生
に注意する。
始動電圧に達したとき,直流電流の値を記録する。次に,安定器をこの電流で1時間動作させる。そし
て,この時間中,3秒間の電流遮断を,毎分10回行う。
試験の直後に,6個の安定器は,箇条11及び箇条12に規定する耐湿試験及び耐電圧試験に耐えなけれ
ばならない。
注記2 リアクタ形でない安定器へのこの試験の適用は,検討中である。
16 故障状態
故障状態は,JIS C 8147-1の箇条14(故障状態)の要求事項は適用しない。
17 構造
構造は,JIS C 8147-1の箇条15(構造)による。
18 沿面距離及び空間距離
沿面距離及び空間距離は,JIS C 8147-1の箇条16(沿面距離及び空間距離)によるほか,次による。
――――― [JIS C 8147-2-9 pdf 11] ―――――
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C 8147-2-9 : 2011
鉄心露出形安定器の場合,JIS C 3215-0-1の13.(絶縁破壊)のグレード1又はグレード2の試験電圧に
耐えるエナメル又は同様な材料の絶縁被覆の巻線を用いる場合,エナメル線で巻かれた異なる巻線間,又
はエナメル線とカバー,鉄心などとの間の絶縁距離は,JIS C 8147-1の表3[正弦波交流電圧(50/60 Hz)
の場合の最小距離]及び表4(非正弦波パルス電圧の場合の最小距離)に規定する値よりも1 mm少ない
値を最小距離としてもよい。ただし,この要件は,沿面距離及び空間距離が,エナメル被覆層に加えて2 mm
以上である場合にだけ適用する。
19 ねじ,通電部及び接続部
ねじ,通電部及び接続部は,JIS C 8147-1の箇条17(ねじ,通電部及び接続部)による。
20 耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性
耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性は,JIS C 8147-1の箇条18(耐熱性,耐火性及び耐トラッキング
性)による。
21 耐食性
耐食性は,JIS C 8147-1の箇条19(耐食性)による。
22 無負荷出力電圧
無負荷出力電圧は,JIS C 8147-1の箇条20(無負荷出力電圧)による。
――――― [JIS C 8147-2-9 pdf 12] ―――――
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C 8147-2-9 : 2011
附属書A
(規定)
導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験
JIS C 8147-1の附属書A(導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験)による。
附属書B
(規定)
熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項
JIS C 8147-1の附属書B(熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項)によるほか,次による。
形式試験のために特別に用意される試料は,安定器製造業者が供給する。
附属書C
(規定)
過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項
JIS C 8147-1の附属書C(過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項)の要求事項は適用し
ない。
附属書D
(規定)
熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法
JIS C 8147-1の附属書D(熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法)による。
附属書E
(規定)
tw試験での4 500以外の定数Sの使用
JIS C 8147-1の附属書E(tw試験での4 500以外の定数Sの使用)による。
――――― [JIS C 8147-2-9 pdf 13] ―――――
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C 8147-2-9 : 2011
附属書F
(規定)
風防容器
JIS C 8147-1の附属書F(風防容器)による。
附属書G
(規定)
パルス電圧の値の由来の説明
JIS C 8147-1の附属書G(パルス電圧の値の由来の説明)の要求事項は適用しない。
附属書H
(規定)
試験
JIS C 8147-1の附属書H(試験)によるほか,次による。
JIS C 8119の附属書A(試験用安定器),附属書B(試験用ランプ),附属書C(試験の一般的要求事項)
及び附属書D(高圧ナトリウムランプにおける安定器出力特性及びランプ電流波形の測定法の説明)の要
求事項を適用する。
――――― [JIS C 8147-2-9 pdf 14] ―――――
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C 8147-2-9 : 2011
附属書I
(規定)
バリスタの選択方法
I.1 一般
電圧パルス測定中の電圧変動を避けるために,直列に接続した複数のバリスタを,試験する安定器と並
列に接続する。
印加するエネルギーが小さいため,最も小さなタイプのバリスタでも十分目的を達成できる。
安定器に蓄えたエネルギーの一部が,スイッチで発生するスパークによって放出するため,安定器内部
で発生する電圧は,そのインダクタンス,直流電流及び静電容量C2だけでなく,真空スイッチの品質にも
関係する。
したがって,回路に用いるスイッチとともにバリスタを選択する必要がある。
バリスタには許容差があるため,複数のバリスタを直列にすると誤差を加算したり打ち消したりするた
め,試験する安定器の各タイプごとに個々に選択する必要がある。
I.2 バリスタの選択
最初に,C2両端の電圧が,予定する試験電圧よりも約15 %20 %高くなるように,安定器の電流を調
節する。
次に,直列に接続したバリスタによって,電圧を目標値まで下げる。
試験電圧の大部分を分担するために,2個又は3個の高電圧バリスタを,残りの試験電圧を分担するた
めに,1個又は2個の低電圧バリスタを用いることを推奨する。次に,安定器の電流を変化させて,試験
電圧の微調整を行う。
1個のバリスタの電圧の概略値は,関連するバリスタのデータシートの電圧電流特性から選ぶことがで
きる(例えば,I=10 mAにおける電圧値)。
――――― [JIS C 8147-2-9 pdf 15] ―――――
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JIS C 8147-2-9:2011の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61347-2-9:2009(MOD)
JIS C 8147-2-9:2011の国際規格 ICS 分類一覧
- 29 : 電気工学 > 29.140 : 電灯及び関連設備 > 29.140.99 : 電灯に関するその他の規格
JIS C 8147-2-9:2011の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC3215-0-1:2014
- 巻線共通規格―第0-1部:一般特性―エナメル銅線
- JISC4908:2007
- 電気機器用コンデンサ
- JISC7604:2006
- 高圧水銀ランプ―性能規定
- JISC7610:1991
- 低圧ナトリウムランプ
- JISC7621:2011
- 高圧ナトリウムランプ―性能仕様
- JISC7623:2019
- メタルハライドランプ―性能仕様
- JISC8105-1:2017
- 照明器具―第1部:安全性要求事項通則
- JISC8119:2008
- 放電灯安定器(蛍光灯を除く)―性能要求事項
- JISC8147-1:2017
- ランプ制御装置―第1部:通則及び安全性要求事項
- JISC8147-2-1:2011
- ランプ制御装置―第2-1部:始動装置の個別要求事項(グロースタータを除く)