JIS C 8201-5-2:2017 低圧開閉装置及び制御装置―第５－２部：制御回路機器及び開閉素子―近接スイッチ

                                                             C 8201-5-2 : 2017 (IEC 60947-5-2 : 2012)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 総則・・・・[1]
•  1.1 適用範囲及び目的・・・・[1]
•  1.2 引用規格・・・・[2]
•  2 用語及び定義・・・・[3]
•  2.1 基本定義・・・・[3]
•  2.2 近接スイッチの要素・・・・[4]
•  2.3 近接スイッチの動作・・・・[6]
•  2.4 開閉素子特性・・・・[7]
•  3 分類・・・・[11]
•  3.1 検出方式による分類・・・・[11]
•  3.2 取付けによる分類・・・・[11]
•  3.3 形状及び大きさによる分類・・・・[11]
•  3.4 開閉素子機能による分類・・・・[11]
•  3.5 出力形式による分類・・・・[11]
•  3.6 接続方法による分類・・・・[11]
•  4 特性・・・・[11]
•  4.1 特性要約・・・・[11]
•  4.2 動作条件・・・・[12]
•  4.3 近接スイッチ及び開閉素子の定格値及び限界値・・・・[13]
•  4.4 開閉素子の種別・・・・[14]
•  5 製品情報・・・・[14]
•  5.1 情報の種類・・・・[14]
•  5.2 表示・・・・[15]
•  5.3 取付け,操作及び保守要項・・・・[15]
•  6 標準使用,取付け及び輸送条件・・・・[16]
•  6.1 標準使用条件・・・・[16]
•  6.2 輸送及び保管条件・・・・[16]
•  6.3 取付け・・・・[16]
•  7 構造及び性能に関する要求事項・・・・[16]
•  7.1 構造に関する要求事項・・・・[16]
•  7.2 性能要求事項・・・・[19]
•  7.3 外形寸法・・・・[26]
•  7.4 衝撃及び振動・・・・[26]
•  8 試験・・・・[27]

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C 8201-5-2 : 2017 (IEC 60947-5-2 : 2012)

pdf 目次

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•  8.1 試験の種類・・・・[27]
•  8.2 構造に関する要求事項に対する適合性・・・・[28]
•  8.3 性能試験・・・・[28]
•  8.4 動作距離試験・・・・[36]
•  8.5 動作サイクル周波数試験・・・・[39]
•  8.6 電磁両立性(EMC)の検証・・・・[42]
•  8.7 試験結果及び試験報告書・・・・[43]
•  附属書A(参考)近接スイッチの標準寸法及び動作距離・・・・[45]
•  附属書B(規定)封止によって絶縁したクラスII近接スイッチの要求事項及び試験・・・・[71]
•  附属書C(規定)リード線引出式の近接スイッチの追加要求事項・・・・[74]
•  附属書D(規定)差込式近接スイッチ用コネクタ・・・・[76]
•  附属書E(規定)強磁界環境下での使用に適した近接スイッチの追加要求事項・・・・[81]
•  附属書F(参考)近接スイッチの記号・・・・[85]
•  定義した用語の索引・・・・[86]

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                                                             C 8201-5-2 : 2017 (IEC 60947-5-2 : 2012)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本
電気制御機器工業会(NECA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工
業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工
業規格である。これによって,JIS C 8201-5-2:2009は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 8201の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 8201-1 第1部 : 通則
    JIS C 8201-2-1 第2-1部 : 回路遮断器(配線用遮断器及びその他の遮断器)
    JIS C 8201-2-2 第2-2部 : 漏電遮断器
    JIS C 8201-3 第3部 : 開閉器,断路器,断路用開閉器及びヒューズ組みユニット
    JIS C 8201-4-1 第4-1部 : 接触器及びモータスタータ : 電気機械式接触器及びモータスタータ
    JIS C 8201-4-2 第4-2部 : 接触器及びモータスタータ : 交流半導体モータ制御器及びスタータ
    JIS C 8201-4-3 第4-3部 : 接触器及びモータスタータ : 非モータ負荷用交流半導体制御器及び接触器
    JIS C 8201-5-1 第5部 : 制御回路機器及び開閉素子−第1節 : 電気機械式制御回路機器
    JIS C 8201-5-2 第5-2部 : 制御回路機器及び開閉素子−近接スイッチ
    JIS C 8201-5-5 第5部 : 制御回路機器及び開閉素子−第5節 : 機械的ラッチング機能をもつ電気的非
        常停止機器
    JIS C 8201-5-8 第5-8部 : 制御回路機器及び開閉素子−3ポジションイネーブルスイッチ
    JIS C 8201-7-1 第7部 : 補助装置−第1節 : 銅導体用端子台
    JIS C 8201-7-2 第7-2部 : 補助装置−銅導体用保護導体端子台

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                        C 8201-5-2 : 2017
                                                                        (IEC 60947-5-2 : 2012)

低圧開閉装置及び制御装置−第5-2部 : 制御回路機器及び開閉素子−近接スイッチ

Low-voltage switchgear and controlgear- Part 5-2: Control circuit devices and switching elements-Proximity switches

序文

  この規格は,2012年に第3.1版として発行されたIEC 60947-5-2を基に,技術的内容及び構成を変更す
ることなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 総則

  この規格は個別規格であり,JIS C 8201-1及びIEC 60947-1の規定をこの規格に適用する。通則の箇条
並びに表,図及び附属書を適用する場合は,例えば,JIS C 8201-1の7.1.9.3(保護接地端子の表示及び識
別)又はJIS C 8201-1の附属書C(箱入り装置の保護等級)のように表記する。
  箇条1箇条8は,一般要求事項を規定する。様々な近接スイッチに関する個別要求事項を,附属書に
示す。

1.1 適用範囲及び目的

  この規格は,金属及び/又は非金属物体の存在を検出する誘導形及び静電容量形近接スイッチ,音響反
射物体の存在を検出する超音波形近接スイッチ,物体の存在を検出する光電形近接スイッチ,並びに磁界
によって物体の存在を検出する非機械式磁気形近接スイッチについて規定する。
  これらの近接スイッチは,半導体開閉素子を内蔵しており,交流250 V 50/60 Hz又は直流300 V以下の
回路に適用する。
  この規格は,アナログ出力付近接スイッチには適用しない。
  この規格は,次に示す事項を規定することを目的とする。
− 定義
− 分類特性
− 製品情報
− 標準使用条件,取付け及び輸送条件
− 構造及び性能要求事項
− 定格特性検証試験
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60947-5-2:2012,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-2: Control circuit devices and

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2
C 8201-5-2 : 2017 (IEC 60947-5-2 : 2012)
              switching elements−Proximity switches(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

1.2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 0365:2007 感電保護−設備及び機器の共通事項
      注記 対応国際規格 : IEC 61140:2001,Protection against electric shock−Common aspects for installation
             and equipment及びAmendment 1:2004(IDT)
    JIS C 8201-1:2007 低圧開閉装置及び制御装置−第1部 : 通則
      注記 対応国際規格 : IEC 60947-1:2007,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 1: General rules
             及びAmendment 1:2010(MOD)
    JIS C 60068-2-6:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
             (sinusoidal)(IDT)
    JIS C 60068-2-14:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14:2009,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
             temperature(IDT)
    JIS C 60068-2-27:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-27部 : 衝撃試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-27:2008,Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and
             guidance: Shock(IDT)
    JIS C 61000-3-2:2011 電磁両立性−第3-2部 : 限度値−高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電
        流が20 A以下の機器)
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-3-2:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-2: Limits−
             Limits for harmonic current emissions (equipment input current  16 A per phase),Amendment
             1:2008及びAmendment 2:2009(MOD)
    JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-2:2008,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and
             measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test(IDT)
    JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ
        試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-3:2006,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
             measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test,
             Amendment 1:2007及びAmendment 2:2010(IDT)
    JIS C 61000-4-4:2007 電磁両立性−第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/
        バーストイミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-4:2004,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and
             measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test(IDT)
    JIS C 61000-4-8:2016 電磁両立性−第4-8部 : 試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験

――――― [JIS C 8201-5-2 pdf 5] ―――――

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