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C 8201-5-2 : 2017 (IEC 60947-5-2 : 2012)
秒以上とする。
e) )に規定する試験は,次に基づいて行わなければならない。
− 検出体は,検出面から3 snの位置に取り付ける。
− 検出体は,検出面から1/3 snの位置に取り付ける。
E.8.9.1.2 結果
空心インダクタにIrefが流れている間,又はIrefのオン・オフ時に,出力の状態が変化してはならない。
試験後,実効動作距離は,7.2.1.3.1と一致しなければならない。
注記 検出面の直径が18 mmよりも大きい場合,オフ状態において検出体を取り除いてもよい。
1 センサ A 交流電流
2 磁束密度測定器 I 近接スイッチ
3 D 空心インダクタの内径≧100 mm
オシロスコープ(ピーク値表示用)
4 L
空心インダクタ(巻数は規定しない) 空心インダクタの長さ≧100 mm
5 交流電流計
図E.1−交流磁界に対する強度検証のための試験構成例
E.8.9.2 直流磁界に対する強度
E.8.9.2.1 検査及び試験順序(図E.2参照)
注記 他の試験構成については,別途規定してもよい。
試験は,次に従って行わなければならない。
a) 磁束密度計測のためのセンサ(1)は,鉄心(3)の内部の空間の中央に取り付けなければならない。
b) コイル(4)には,磁束密度測定器(2)の値が0.1 Tとなるまで直流電流(A)を流さなければならな
い。
電流値Irefを記録しなければならない。
c) センサ(1)を取り除き,近接スイッチ(I)は,その検出面を鉄心(3)の外周面と一致するように鉄
心(3)の内部の空間の中央に取り付けなければならない。
d) 直流電流を次の値に設定して,軸方向から接近する検出体に対して実効動作距離を測定する。
0 Iref(Irefの0倍,以下同じ)
0.2 Iref
0.4 Iref
0.6 Iref
――――― [JIS C 8201-5-2 pdf 86] ―――――
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C 8201-5-2 : 2017 (IEC 60947-5-2 : 2012)
0.8 Iref
1.0 Iref
E.8.9.2.2 結果
直流電流(A)の全ての範囲において,実効動作距離(sr)の偏差は,Iref値が0(0Iref)のときの値に対
して±30 %以内でなければならない。
1 センサ
2 磁束密度測定器
3 マグネティックインダクタ用鉄心(鉄心内径=100 mm)
4 インダクタンスコイル
5 直流電流計
A 直流電流
I 近接スイッチ
ΔS 鉄心(3)内部の隙間は,近接スイッチの直径の2倍よりも大きく,40 mm以上とする。
注記 試験のために磁界による近接スイッチの部品への影響が懸念される場合は,スイッチ
の他の部分と分離してもよい。
図E.2−直流磁界に対する強度検証のための試験構成例
――――― [JIS C 8201-5-2 pdf 87] ―――――
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C 8201-5-2 : 2017 (IEC 60947-5-2 : 2012)
附属書F
(参考)
近接スイッチの記号
近接スイッチの記号例を図F.1に示す。
注記 必要である全ての情報が表示されるならば,図記号の向き及び配置が異なってもよい。
図F.1−近接スイッチの記号例
――――― [JIS C 8201-5-2 pdf 88] ―――――
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C 8201-5-2 : 2017 (IEC 60947-5-2 : 2012)
定義した用語の索引
(あ)
埋込形近接スイッチ 2.2.9
NDフィルタ 2.1.1.8
応差(H) 2.3.5
オフ状態電流(Ir) 2.4.5.1
音響反射物質 2.2.7
(か)
開閉素子機能 2.4.1
開閉素子特性 2.4
間接動作近接スイッチ 2.1.1.7
感応物質 2.2.5
基準軸 2.2.2
吸音材 2.2.8
近接スイッチ(IEV 441-14-51) 2.1.1
近接スイッチの応答時間 2.4.1.4
近接スイッチの調整器 2.2.15
近接スイッチの動作 2.3
近接スイッチの要素 2.2
繰返し精度(R) 2.3.4
検出範囲(sd) 2.3.1.2
検出面 2.2.11
光電形近接スイッチ 2.1.1.4
光電形近接スイッチの周囲光 2.4.7
光電形近接スイッチのターンオフ時間 2.4.1.6
光電形近接スイッチのターンオン時間 2.4.1.5
光電形近接スイッチの余裕利得 2.4.6
(さ)
最小使用電流(Im) 2.4.5.2
最小動作距離 2.3.1.2.1
最大動作距離 2.3.1.2.2
実効動作距離(sr) 2.3.1.5
受光器 2.2.13
使用可能になるまでの遅れ時間(tv) 2.4.4
スナップアクション 2.4.2
静電容量形近接スイッチ 2.1.1.2
静電容量形近接スイッチの調整器 2.2.15.1
全ビーム角度 2.3.1.4
――――― [JIS C 8201-5-2 pdf 89] ―――――
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C 8201-5-2 : 2017 (IEC 60947-5-2 : 2012)
(た)
タイプR 2.1.1.4.2
縦方向接近 2.3.3
超音波形近接スイッチ 2.1.1.3
超音波形近接スイッチ又は光電形近接スイッチの調整器 2.2.15.2
直接動作近接スイッチ 2.1.1.6
定格動作距離(sn) 2.3.1.1
電流(I) 2.4.5
透過形(type T) 2.1.1.4.3
投光器 2.2.12
動作距離(s) 2.3.1
動作サイクル周波数(f) 2.4.3
動作範囲(ro) 2.3.1.8
(は)
反射形(type D) 2.1.1.4.1
半導体開閉素子 2.2.1
非埋込形近接スイッチ 2.2.10
非機械式磁気形近接スイッチ 2.1.1.5
標準検出体 2.2.3
不感帯 2.3.1.3
不感応物質 2.2.6
フリーゾーン 2.2.4
ブレーク機能 2.4.1.2
保証動作距離(sa) 2.3.1.7
(ま)
無負荷電流(Io) 2.4.5.3
メーク機能 2.4.1.1
メーク−ブレーク(切替え)機能 2.4.1.3
(や)
有効動作距離(su) 2.3.1.6
誘導形近接スイッチ 2.1.1.1
横方向接近 2.3.2
(ら)
リフレクタ 2.2.14
リフレクタ形(type R) 2.1.1.4.2
JIS C 8201-5-2:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60947-5-2:2012(IDT)
JIS C 8201-5-2:2017の国際規格 ICS 分類一覧
- 29 : 電気工学 > 29.130 : 開閉装置及び制御装置 > 29.130.20 : 低電圧開閉用及び制御装置
JIS C 8201-5-2:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称