JIS C 8201-7-3:2019 低圧開閉装置及び制御装置―第７－３部：補助装置―ヒューズ端子台に対する安全要求事項 | ページ 2

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C 8201-7-3 : 2019

4 特性

4.1 管形ヒューズリンク

  ヒューズ端子台の特性の評価に用いる管形ヒューズリンクは,JIS C 6575-2による。

4.2 定格電力損失値

4.2.1  過負荷保護及び短絡保護(PV)
  過負荷保護かつ短絡保護のためのヒューズ端子台の定格電力損失値(PV)は,周囲温度23 ℃における
過負荷条件及び短絡条件下での最大許容電力損失値とする。
4.2.2  限定的な短絡保護(PVK)
  限定的な短絡保護のため(過負荷保護はなく,短絡保護に限定)のヒューズ端子台の定格電力損失値
(PVK)は,周囲温度23 ℃における限定的な短絡条件下で使用する最大許容電力損失値以下の管形ヒュー
ズリンクを組み込んだヒューズ端子台の最大許容電力損失とする(附属書B参照)。
    注記 管形ヒューズリンクの最大継続電力損失は,JIS C 6575-1による。

4.3 定格値及び限界値

4.3.1  定格電圧
  ヒューズ端子台の定格電圧は,JIS C 8201-7-1の4.3.1(定格電圧)による。
4.3.2  (空欄)
4.3.3  標準断面積
  ヒューズ端子台の標準断面積は,JIS C 8201-7-1の4.3.3(標準断面積)による。
4.3.4  定格断面積
  ヒューズ端子台の定格断面積は,JIS C 8201-7-1の4.3.4(定格断面積)による。
4.3.5  定格接続容量
  ヒューズ端子台の定格接続容量は,JIS C 8201-7-1の4.3.5(定格接続容量)によるほか,次による。
  8.4.5による温度上昇試験で指定した導体断面積は,定格接続容量の範囲に含める。
4.3.6  ワーキング電圧
  ヒューズ端子台のワーキング電圧は,JIS C 8201-1の2.5.52(ワーキング電圧)を参照。

5 製品情報

5.1 表示

  ヒューズ端子台には,容易に消えない方法で,明瞭に次の事項を表示しなければならない。
a) 容易に識別できる製造業者名又は商標
b) 製造業者から又は製造業者のカタログから関連情報を得るためにその識別ができる形式記号
c) 7.1.8による感電に対する保護を保証する必要がある場合,エネルギーの流れの方向。
      例えば,入力側から出力側へのマーク又は矢印“→”など。

5.2 追加情報

  ヒューズ端子台には,次の情報を,例えば,製造業者の形式試験成績書,カタログ,包装箱上などに明
示しなければならない。
a) この規格の規格番号(JIS C 8201-7-3)(この規格の全ての要求事項に適合する場合)
b) 定格断面積
c) 定格接続容量。ただし,次の場合に限る。
  − JIS C 8201-7-1の表2(端子台の定格断面積と定格接続容量との関係)又は表2A(端子台のJIS C 3307

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      及びJIS C 3316の定格断面積又は導体径と定格接続容量との関係)と異なる場合(同時に接続可能
      な導体の数を含む。)
  − 定格断面積0.5 mm2及び0.75 mm2の場合
d) 端子台及びヒューズキャリアの定格絶縁電圧(Ui)(適用可能な場合)
e) ワーキング電圧又はワーキング電圧範囲[主として,管形ヒューズリンク又は追加部品(例えば,表
    示灯)によって決定される。]
f)  定格インパルス耐電圧(Uimp)
    注記 定格絶縁電圧(Ui)又はワーキング電圧をヒューズ端子台に表示する場合にだけ,この値をヒ
          ューズ端子台に表示してもよい(例えば,250 V/4 kV)。
g) 製造業者が指定する管形ヒューズリンクの過負荷保護及び短絡保護に対する,次のそれぞれの場合の
    定格電力損失値(PV)及び定格電流値
  − 分離配置の場合
  − 複合配置の場合
h) 製造業者が指定する管形ヒューズリンクの限定的な短絡保護に対する,次のそれぞれの場合の定格電
    力損失値(PVK)及び定格電流値
  − 分離配置の場合
  − 複合配置の場合
i)  使用条件(箇条6の標準使用の条件と異なる場合)
j)  管形ヒューズリンクの寸法

5.3 包装への表示

  ヒューズ端子台の包装には,次の表示を記載しなければならない。
a) “過負荷保護なし”(ヒューズ端子台が,短絡保護に限定して設計されている場合)
b) “複合配置に対する過負荷保護なし”(ヒューズ端子台が,分離配置に対しては過負荷保護及び短絡保
    護に対して設計され,複合配置に対しては短絡保護だけに対して設計されている場合)
  管形ヒューズリンクの遮断容量は,取付け箇所に要求される短絡レベルに従って選ばなければならない。
    注記 JIS C 6575-2に基づく管形ヒューズリンクの遮断容量を,取付け箇所に要求される短絡レベル
          に従って選ばなければならないことを知らせるための警告は,包装及び資料に記載してもよい。

6 標準使用,取付け及び輸送条件

6.1 一般

  ヒューズ端子台の標準使用,取付け及び輸送条件は,JIS C 8201-1の箇条6(標準使用,取付け及び輸送
条件)による。ただし,周囲温度は,6.1.1による。
6.1.1  周囲温度
  ヒューズ端子台の定格電力損失値は,周囲温度を23 ℃として測定する。
  周囲温度が23 ℃でない場合,機能の観点からこの事実を考慮に入れる(附属書Bに示す軽減曲線を参
照する。)。

――――― [JIS C 8201-7-3 pdf 7] ―――――

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7 構造及び性能に関する要求事項

7.1 構造に関する要求事項

7.1.1  締付具
  締付具は,JIS C 8201-7-1の7.1.1(締付具)による。
7.1.2  取付け
  ヒューズ端子台は,レール又は取付面に確実に取り付ける手段を備えなければならない。
  試験方法及び判定基準は,8.3.2による。
    注記 レール取付けに関する情報は,JIS C 2812を参照する。
7.1.3  空間距離及び沿面距離
  ヒューズ端子台の空間距離及び沿面距離は,JIS C 8201-1の7.1.3(空間距離及び沿面距離)によるほか,
次による。
  空間距離及び沿面距離は,過電圧カテゴリーIII,汚染度3に基づいて設計しなければならない。
  空間距離及び沿面距離は,通常の使用時のように組み立てたヒューズ端子台(例えば,ヒューズキャリ
アに表A.1に規定するゲージNo.3,No.6又はNo.9が挿入された端子台ベース)で検証する。
  空間距離及び沿面距離は,次に対して考慮しなければならない。
a) 機能絶縁 : 
  − 異なった電位の充電部間の絶縁
  − 同じシリーズ,同じ寸法の隣接するヒューズ端子台の充電部間の絶縁
b) 基礎絶縁 : 
  − 充電部と固定支持体との間の絶縁
  基礎絶縁は,JIS C 8201-1の8.3.3.4(耐電圧性能)によって測定し,検証する。
7.1.4  締付具の識別及び表示
  締付具の識別及び表示は,JIS C 8201-7-1の7.1.4(締付具の識別及び表示)による。
7.1.5  (空欄)
7.1.6  定格断面積及び定格接続容量
  ヒューズ端子台の定格断面積及び定格接続容量は,JIS C 8201-7-1の7.1.6(定格断面積及び定格接続容
量)による。
7.1.7  (空欄)
7.1.8  動作条件
  ヒューズ端子台を通常の使用状態下で組み立てたり,取り付けたり又は操作したりする場合,充電部に
接触しないよう設計しなければならない。
  製造業者による指定がない限り,管形ヒューズリンクの交換中,ヒューズキャリアの充電部に指が接触
しないように,安全を確保しなければならない。
  指の接触に対する安全は,ヒューズキャリアと管形ヒューズリンクとの通電が断たれるまで,維持しな
ければならない。

7.2 性能に関する要求事項

7.2.1  動作時の機械的要求事項
  ヒューズ端子台は,操作中に生じる応力に耐えるように十分な機械的強度を備えなければならない。
  動作時の機械的要求事項は,8.3.4及び8.3.5によって検証する。

――――― [JIS C 8201-7-3 pdf 8] ―――――

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7.2.2  電気的要求事項
7.2.2.1  絶縁性能
  ヒューズ端子台の絶縁性能は,十分確保しなければならない。
  絶縁性能は,通常の使用時のようにゲージを組み込んだヒューズ端子台を用いて,8.4.3によるインパル
ス耐電圧試験及び商用周波耐電圧試験によって検証する。
7.2.2.2  接触抵抗
  接触抵抗試験は8.4.4による。特に指定がない場合,接触抵抗の平均値は10 mΩ以下とする。個々の測
定値は15 mΩ以下とする。
7.2.2.3  締付具の温度上昇
  締付具の温度上昇は,45 K以下とする。
  締付具の温度上昇は,8.4.5によって検証する。
7.2.2.4  エージング後の電気的特性(ねじなし式ヒューズ端子台だけ適用)
  ヒューズ端子台は,8.4.7による192回の温度サイクルの試験に耐えなければならない。
7.2.3  熱的要求
7.2.3.1  定格電力損失値
  ヒューズ端子台は,JIS C 6575-1に基づく定格電流における最大継続電力損失が,周囲温度23 ℃におい
てヒューズ端子台の定格電力損失値以下となる管形ヒューズリンクが使えるように,設計しなければなら
ない(附属書B参照)。
  このとき,ヒューズキャリアの動作部品の表面温度は,85 ℃以下で,かつ,製造業者が指定する絶縁材
料のIEC 60216-1に基づくRTI(相対温度指数)以下でなければならない。
  定格電力損失は,8.5.2によって検証する。
  短絡保護に限定して設計したヒューズ端子台については,8.5.2.2の試験は適用しない。
  一般的に最大温度は,IEC 60216-1による20 000時間後の電気的性質であるRTI値で定義する。
7.2.3.2  耐久性
  ヒューズ端子台は,通常使用時に発生する熱応力に十分耐えなければならない。
  耐久性は,8.5.3によって検証する。
7.2.3.3  異常過熱及び炎に対する耐性
  ヒューズ端子台の絶縁材料は,異常過熱及び炎によって影響を受けてはならない。
  異常過熱及び炎に対する耐性は,8.5.4に規定するように,JIS C 60695-11-5のニードルフレーム試験に
よって検証する。

7.3 電磁両立性(EMC)

  ヒューズ端子台の電磁両立性(EMC)は,JIS C 8201-7-1の7.3[電磁両立性(EMC)]による。

8 試験

8.1 試験の種類

  ヒューズ端子台の試験の種類は,JIS C 8201-7-1の8.1(試験の種類)による。

8.2 一般

  ヒューズ端子台の試験は,JIS C 8201-7-1の8.2(一般)によるほか,次による。
  試験は,表C.1に規定された順で実施する。

――――― [JIS C 8201-7-3 pdf 9] ―――――

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8.3 機械的特性の検証

8.3.1  一般
  ヒューズ端子台の機械的特性は,次について検証する。
− 支持体へのヒューズ端子台の取付け(8.3.2参照)
− ヒューズ端子台の締付具の機械的特性(8.3.3参照)
− ヒューズ端子台と管形ヒューズリンクとの互換性(8.3.4参照)
− 端子台ベースとヒューズキャリアとの結合の機械的強度(8.3.5参照)
8.3.2  支持体へのヒューズ端子台の取付け
  支持体へのヒューズ端子台の取付けは,JIS C 8201-7-1の8.3.2(支持体への端子台の取付け)による。
8.3.3  ヒューズ端子台の締付具の機械的特性
8.3.3.1  締付具の機械的強度試験
  ヒューズ端子台の締付具の機械的強度試験は,JIS C 8201-1の8.2.4.1(試験の共通条件)及び8.2.4.2(端
子の機械的強度の試験)によるほか,次による。
  この試験は,製造業者の指示に従って適切な支持体に通常に使用するように取り付けた5個のヒューズ
端子台のうち,中央の端子台の2個の締付具について行わなければならない。
  定格断面積の導体で接続及び取外しを5回行わなければならない。
8.3.3.2  ヒューズ端子台における導体の偶発的な緩み及び損傷に対する試験(ねん回試験)
  ヒューズ端子台における導体の偶発的な緩み及び損傷に対する試験は,JIS C 8201-7-1の8.3.3.2[端子
台における導体の偶発的な緩み及び損傷に対する試験(ねん回試験)]による。
8.3.3.3  引張試験
  ヒューズ端子台の引張試験は,JIS C 8201-7-1の8.3.3.3(引張試験)による。
8.3.3.4  定格断面積と定格接続容量との検証
  ヒューズ端子台の定格断面積と定格接続容量との検証は,JIS C 8201-7-1の8.3.3.4(定格断面積及び定
格接続容量の検証)による。
8.3.4  ヒューズ端子台と管形ヒューズリンクとの互換性
  ヒューズ端子台と管形ヒューズリンクとの互換性は,次による。
  表A.1に規定する最大ゲージNo.1,No.4又はNo.7をヒューズキャリアに10回抜差しする。
  ゲージを挿入する都度,通常操作のようにヒューズキャリアを端子台ベースに固定する。ねじ式のヒュ
ーズキャリアを使用するヒューズ端子台の場合,表1の値の2/3のトルクで固定する。
                                     表1−試験で使用する力
  ヒューズキャリアの直径(d)                               トルク              軸引張力
                                                             Nm                    N
  16 mm以下                                                   0.4               25
  16 mmを超え,25 mm以下                                      0.6               50
  ヒューズ端子台の各部に目に見える損傷又は緩みがあってはならない。また,表A.1に規定する最小ゲ
ージNo.2,No.5又はNo.8が最も不利な位置のヒューズキャリアから抜け落ちてはならない。
  最小ゲージNo.2,No.5又はNo.8をヒューズ端子台に差し込み,8.4.4によって接触抵抗値を測定する(図

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