JIS C 8281-2-1:2019 家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備用スイッチ―第2-1部:電子スイッチの個別要求事項 | ページ 5

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出してはならない。
適否は,目視検査によって判定する。
注記4 JIS C 8281-1:2011の21.3の試験のために,通電部分及び接地回路の部品に接触してはいるが,
それらを正しい位置に保持するためには必要でない絶縁材料でできた外側部分の温度上昇値
も決定する。
注記5 接点の過度の酸化は,すり合わせ動作又は銀接点若しくは銀めっき接点を用いることによっ
て防止できる。
注記6 直径3 mmの蜜ろうペレット(溶融点65 ℃)を溶融粒子として用いてもよい。
注記7 複数の電子スイッチの組合せの場合には,試験はそれぞれの電子スイッチごとに,別々に行
う。
102.2,102.3及び102.4.1の試験において,電子スイッチ内の構成部品周囲の参照温度は,試験中に部品
上で測定した最大温度上昇値に25 ℃を加算したものとする。
表102−許容温度上昇値
(この表は,JIS C 6065の表3を基にしている。)
単位 K
電子スイッチの部分 許容温度上昇値
箇条17 箇条101
外部部品
金属部 つまみ,ハンドル,感知面など 40 75
外郭a) 50 75
非金属部 つまみ,ハンドル,感知面などb) 60 75
外郭a), b) 70 75
c) c)
絶縁材料製の外郭の内部
巻線d)
クラスAのもの 75 115
クラスEのもの 90 130
クラスBのもの 95 140
クラスFのもの 115 155
クラスHのもの 140 175
クラス200のもの 160 195
クラス220のもの 180 215
クラス250のもの 210 245
積層鉄心 巻線の種類による。
電源ケーブル及び配線ケーブル
普通の塩化ビニル絶縁h)
− 機械的ストレスがない場合 70 110
− 機械的ストレスがある場合 55 110
天然ゴム絶縁 55 110
その他の絶縁物d), g) ただし,熱可塑性材料を除く。
非含浸紙 65 80
非含浸ボール紙 70 90
含浸した綿,絹,紙及び繊維,ユリア(尿素)樹脂 80 100
フェノール−ホルムアルデヒド樹脂接着積層板,セルロース充フェノール−ホルムア95 120
ルデヒド成形品
無機充材入りフェノール−ホルムアルデヒド成形品 105 140
エポキシ樹脂接着積層板 130 160

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表102−許容温度上昇(続き)
単位 K
電子スイッチの部分 許容温度上昇値
箇条17 箇条101
天然ゴム 55 110
f)
熱可塑性材料e)
取付状態でケーブルの絶縁体と接触する端子及び部品 55 110
温度上昇値は,周囲温度25 ℃に基づく。測定は通常状態で行う。
注a) 5 cm2以下で,通常の使用状態で接触するおそれがない部分に対して,通常動作状態で75 Kまでの温度上昇
を認める。
b) この部分の温度上昇が,関連する絶縁階級の絶縁物に対する許容値よりも高い場合には,それを認めるか否
かについては,絶縁物の材質による。
c) 絶縁材料の外郭の内部に対する許容温度上昇は,関連材料に対して示す温度上昇とする。
d) この規格の目的に対しては,許容温度上昇はJIS C 4003の推奨に基づく(上記の材料は,実例としてだけ示
す。)。JIS C 4003に規定する材料以外の材料を使用する場合の最高温度は,問題がないと認めた温度を超え
てはならない。
e) 天然ゴム及び合成ゴムは,熱可塑性材料とみなさない。
f) 様々な種類があるため,熱可塑性材料は,許容温度上昇値を定めることができない。検討中の間,次を適用
する。
1) 材料の軟化温度は,JIS K 7206に規定する条件を次のように修正し,個別の試験品で測定する。
− 侵入量は,0.1 mmとする。
− 10 Nの押圧は,ダイアルゲージをゼロに設定するか,又はその最初のゲージ値を記録する前に加える。
2) 温度上昇を決定するための許容限度温度は,次による。
− 通常動作状態においては,1)で得る軟化温度よりも10 ℃低い温度。
− 故障状態においては,軟化温度。
g) 関連するJIS又はIEC規格によって別途規定する部品には,この表を適用しない。
h) 耐熱性塩化ビニルで絶縁した電線及びケーブルの温度上昇限界値を引き上げることは,検討中である。

18 開閉容量

  開閉容量は,JIS C 8281-1:2011の箇条18よるほか,次による。
JIS C 8281-1:2011の18.1の前の七つの段落を,次に置き換える。
電子スイッチは,適切な開閉容量をもたなければならない。
注記1 JIS C 8281-1:2011の中で使用する用語“スイッチ”は,用語“接点機構”に適宜読み替える。
注記2 リレーを用いた電子スイッチの場合,リレーは,通常の使用状態で,適切な負荷を用いて規
定する操作速度で操作する。
この試験は,機械的に又は電気機械的に作動する接点機構をもつ電子スイッチについてだけ実施する。
接点機構は,適切な開閉容量をもたなければならない。
試験は,機械的な接点機構をもつ3個の個別の試験品で行う。
適否は,次の試験によって判定する。
− 蛍光灯負荷用電子スイッチは,18.1の試験
− モータ速度制御回路用電子スイッチは,18.1及び18.101に規定する試験
− 特別低電圧(ELV)白熱灯用の鉄芯変圧器の電圧制御用電子スイッチは,18.1及び18.2並びに18.102
に規定する試験
− 特別低電圧(ELV)白熱灯用の電子ステップダウンコンバータの電圧制御用電子スイッチは,18.2に

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規定する試験
− その他の負荷を制御する電子スイッチに対しては,18.1及び18.2に規定する試験
− 制御装置内蔵形ランプ制御用電子スイッチは,18.1に規定する試験
注記3 電子スイッチの繰返し動作が,その用途(例えば,受動赤外線,遅延電子スイッチ)によっ
て制限を受ける場合,試験中の操作速度は,製造業者が指定してもよい。
試験は,原理を図12に示す装置で,通常動作を模擬するように配置して行う。
接続は,図13に示すとおりとする。
電子スイッチは,箇条17の試験用の導体を取り付ける。
電子RCSには,JIS C 8281-2-2の箇条18を適用する。
JIS C 8281-1:2011の18.1の第2段落(操作回数及び速度に関する規定)の後に,次を追加する。
電子スイッチの繰返し動作が,その用途(例えば,温度,光センサ)によって制限を受ける場合,電子
スイッチの操作速度は,可能な限り最短サイクル時間に設定する。スイッチは,各サイクルの終わりから
2±0.5 s以内に再起動する。
電子TDSには,次の条件においてJIS C 8281-2-3の18.1の第2段落(操作回数及び操作速度に関する規
定)を適用する。
電子TDSの繰返し動作が,その用途(例えば,温度,光センサ)によって制限を受ける場合,電子TDS
の操作速度は,可能な限り最短サイクル時間に設定する。スイッチは,各サイクルの終わりから2±0.5 s
以内に再起動する。
他の全ての電子TDSには,次の一様な速度で200回の操作をする。
− 定格電流が10 A以下の場合は,30回/分の操作
− 定格電流が10 Aを超え25 A未満の場合は,15回/分の操作
− 定格が25 Aの場合は,7.5回/分の操作
JIS C 8281-1:2011の18.2の後に,次を追加する。
18.101 接点機構は,定格電圧及び18.1に規定する操作速度で,次の方法によって各々50サイクルの動
作試験を行う。
− 9In(cosφ=0.8±0.05)の電流が流れるようにした回路を接点機構によって閉路する。この電流は,各
閉路の50100 ms後に外部スイッチによって遮断する。
− 6In(cosφ=0.6±0.05)の電流が流れるようにした回路を外部スイッチによって閉路し,各閉路の300
500 ms後に接点機構によって開路する。
注記1 Inは,電子スイッチの定格電流である。
注記2 電子スイッチが定格電流の代わりに定格負荷をもつとき,Inは,モータ負荷の力率(cosφ)
が0.6であると仮定して計算する。
試験中に,持続するアークが発生してはならない。
試験後,試験品は,その後の使用を損なう損傷があってはならない。
18.102 特別低電圧(ELV)白熱灯(例えば,ハロゲンランプ)用の鉄心変圧器の電圧制御用電子スイッ
チについては,次の試験を行う。
この試験は,3個の試験品に対して実施する。
接点機構は,定格電圧及び18.1に規定する操作速度で,各々50回の閉路動作を行う。

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試験回路は,スイッチの閉路状態を模擬するため,電源周波数の1/2サイクルの間,電子スイッチの定
格電流の10倍の試験電流に調整する。
試験中に,持続するアークが発生してはならない。
試験後,試験品は,その後の使用を損なう損傷があってはならない。
注記 無負荷状態の変圧器で操作することができる電子スイッチの試験方法は,検討中である。

19 平常動作

  平常動作は,JIS C 8281-1:2011の箇条19を,次に置き換える。
電子スイッチは,過度の破損,その他の有害な影響なしに,通常の使用状態で起こる機械的,電気的及
び熱的応力に耐えなければならない。
適否は,19.10119.105及び19.109の試験によって判定する。その間,電子スイッチは,定格電圧及び
箇条17に規定する負荷で試験する。ただし,特に規定がない場合に限る。
自動機能を組み込んだ電子スイッチの場合,19.101,19.102,19.104及び19.109の試験の動作回数は対
応する各細分箇条で指定した回数とする。対応する各細分箇条に示す回数よりも多い回数を製造業者が指
定する場合は,指定する値に従って試験を行う。
注記1 19.102及び19.109の試験の相関関係は,検討中。
スイッチのその後の操作を妨げない場合,接点の張り付きは,溶着とはみなさない。
機械的にスイッチへ打撃を与えない値の力をアクチェータに加えて分離できる場合,接点の張り付きは,
許容する。
常に,ゼロクロス±20°の位相角で接点機構の接点を閉じる電子回路を搭載する電子スイッチは,電子
回路と共に試験する。
注記2 この試験の目的において,製造業者は,自動操作を模擬した特別な回路をもつ試験品を準備
してもよい。
電子RCSには,JIS C 8281-2-2の19.1を適用する。
電子TDSには,JIS C 8281-2-3の19.1を適用する。
注記3 電子スイッチの繰返し動作が,その用途(例えば,受動赤外線,遅延電子スイッチ)によっ
て制限を受ける場合,試験中の操作速度は,製造業者が指定してもよい。
試験中に,試験品は正しく機能しなければならない。
試験後,試験品は,次に耐えなければならない。
− 箇条16に規定する4 000 Vの試験電圧は,1 000 V減少し,その他の試験電圧は,500 V減少した耐電
圧試験。ただし,19.102で試験した試験品に対しては,耐電圧試験を実施しない。
− 箇条17に規定する温度上昇試験
試験後,試験品は,次のようなことがあってはならない。
− その後の使用を損なう摩耗
− 操作部の位置を表示しているとき,操作部の位置と可動接点の位置との間の不一致
− 電子スイッチが更に動作できない又は箇条10の要求事項に適合しないほどの外郭,絶縁用内張又は隔
壁の劣化
− 電気的又は機械的な接続の緩み
− シーリングコンパウンドの漏れ
− 様式番号2のスイッチの可動接点の相対的な位置のずれ

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注記4 15.3による湿気処理は,この項目の耐電圧試験の前には繰り返さない。
注記5 試験中,試験品に注油しない。
19.101 ステップダウンコンバータの有無にかかわらず,白熱灯回路用電子スイッチに組み込んだ接点機
構(主回路の開閉を直接行う機械式接点機構)は,次の試験を実施する。
試験は,完全な接点機構をもつ3個の個別の試験品について行う。
回路の詳細及び(図13に示す試験回路の)切換スイッチSの操作方法は,特に規定がない限り,18.1
による。
操作回数は,40 000回とする。
操作速度は,18.1による。
左右の方向に回転操作するロータリスイッチの場合,操作部は,全操作回数の半分を一方向に回転させ,
残りの半分を逆方向に回転させる。
一つの部分で実施している間は,他の部分は“切”状態とする。さらに,適用できる場合は,14.3の試
験を続けて行う。
モータ速度制御回路用電子スイッチに組み込んだ接点機構(主回路の開閉を行う。)は,白熱灯回路用電
子スイッチと同様に試験する。このとき接点機構は,6×In(cosφ=0.65±0.05)の電流が流れる回路状態
で閉路し,In(cosφ=0.65±0.05)の電流が流れる回路状態で開路する。回復電圧Usの定格動作電圧Ue
に対する比率は,1.00(±10 %)とする。
19.102 制御装置非内蔵形ランプ(例 : 蛍光灯,CFL,LED)用電子スイッチに組み込んだ接点機構は,
次の条件で図103の負荷Aの試験回路で確認する。
注記 負荷Bによる試験は適用しない。
力率cosφ=0.9±0.05(遅れ)における電源の固有短絡電流(実効値)は,3 000 Aと4 000 Aとの間と
する。Fは,公称直径0.1 mmで長さ50 mm以上の銅線ヒューズである。
R1は,電流を100 Aに制限する抵抗器である。
2心ケーブルは,負荷への試験回路において0.25 Ωに等しい抵抗R3が得られる適切な長さにする。ケー
ブルの断面積は,定格電流が10 A以下のスイッチを試験する場合,1.5 mm2とし,定格電流が10 Aを超え
16 A以下のスイッチを試験する場合,2.5 mm2とする。
負荷は,次のように構成する。
− 表103に規定する容量になるように並べたコンデンサC1は,断面積2.5 mm2の可能な限り短い導体を
用いて接続する。
− インダクタL1及び抵抗器R2は,力率0.9±0.05(遅れ)で試験品を通る試験電流値がIn(+5,−0 %)
になるよう調整する。

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JIS C 8281-2-1:2019の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60669-2-1:2002(MOD)
  • IEC 60669-2-1:2002/Amendment 1:2008(MOD)
  • IEC 60669-2-1:2002/Amendment 2:2015(MOD)

JIS C 8281-2-1:2019の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 8281-2-1:2019の関連規格と引用規格一覧