JIS C 2134:2021 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法

                                                                                   C 2134 : 2021

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 測定原理・・・・[3]
•  5 試験片・・・・[3]
•  6 試験片の状態調節・・・・[4]
•  6.1 環境条件・・・・[4]
•  6.2 試験片の表面状態・・・・[5]
•  7 測定装置・・・・[5]
•  7.1 電極・・・・[5]
•  7.2 測定回路・・・・[7]
•  7.3 測定溶液・・・・[8]
•  7.4 滴下装置・・・・[8]
•  7.5 試験片支持台・・・・[9]
•  7.6 電極装置の取付け・・・・[9]
•  7.7 状態調節槽・・・・[9]
•  8 測定手順・・・・[9]
•  8.1 一般的事項・・・・[9]
•  8.2 測定準備・・・・[10]
•  8.3 実施手順・・・・[10]
•  9 浸食の測定・・・・[10]
•  10 PTIテスト・・・・[11]
•  10.1 手順・・・・[11]
•  10.2 報告書・・・・[11]
•  11 比較トラッキング指数(CTI)の測定・・・・[12]
•  11.1 一般的事項・・・・[12]
•  11.2 スクリーニングテスト・・・・[12]
•  11.3 50滴における最高耐電圧の測定・・・・[12]
•  11.4 100滴測定における耐電圧値の測定・・・・[13]
•  11.5 報告書・・・・[14]
•  附属書A(参考)個別製品規格で考慮すべき要因・・・・[15]
•  附属書B(参考)測定溶液B・・・・[16]
•  附属書C(参考)電極材料の選択・・・・[17]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[18]

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           C 2134 : 2021

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人
電気学会(IEEJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本産業規格を改
正すべきとの申出があり,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本産業規格であ
る。これによって,JIS C 2134:2007は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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                                      日本産業規格                            JIS
                                                                              C 2134 : 2021

固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法

Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid insulating materials

序文

  この規格は,2020年に第5版として発行されたIEC 60112を基とし,技術的内容を変更して作成した日
本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,固体絶縁材料の保証トラッキング指数及び比較トラッキング指数を測定するため,機器の
一部から採取した試験片及び板状の試験片に対して交流電圧を用いて行う測定方法について規定する。
  この規格は,浸食の測定が必要な場合のために,浸食の測定方法についても規定する。
    注記1 保証トラッキング指数は,材料及び加工部品の品質管理手段としてはもちろん,製品受入れ
            の場合の基準としても用いる。比較トラッキング指数は,主として材料の基本的な特性の評
            価及び比較に用いる。
  この測定方法は,材料の表面状態を評価すると同様に,材料の組成についても評価する。材料の組成及
び表面の状態は評価の結果に直接影響するため,測定結果を材料の選別に用いる場合には配慮が必要であ
る。
  電気機器を設計するとき,この規格の測定結果を,安全沿面距離を評価するために用いるのは不適切で
ある。
    注記2 これは次の規格を満たしている。
              JIS C 60664-1 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部 : 基本原則,要求事項及び試験
    注記3 この測定は,高湿度環境下で使われる可能性のある機器に用いられる材料を,耐トラッキン
            グ性が比較的低い材料と中程度又は良好な材料とに区別する。
              屋外で用いる材料の性能評価には,この規格で規定するよりも高い電圧と大きな試験片と
            を用いて,長時間のより厳しい条件による測定方法の規格が用意されている[JIS C 2136(耐
            トラッキング性/傾斜平板法)参照]。傾斜平板法など他の測定方法で得られる材料の順位は,
            この規格で規定している滴下測定で得られる結果の順位とは異なる場合がある。
    注記4 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 60112:2020,Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of
                solid insulating materials(MOD)

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C 2134 : 2021
              なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
            ことを示す。
  安全試験方法に焦点を当てたこの規格は,IEC Guide 104及びISO/IEC Guide 51に記載されている原則
に従って製品規格に用いることを意図している。
  この規格は,可能な限り,製品規格に用いられることを意図している。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0601 製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状 : 輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラメ
        ータ
      注記 対応国際規格 : ISO 4287,Geometrical Product Specifications (GPS)−Surface texture: Profile
             method−Terms, definitions and surface texture parameters
    ISO 3696:1987,Water for analytical laboratory use−Specification and test methods
      注記 対応国際規格では参考文献にしているが規定の引用と判断し,引用規格に記載した。

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
トラッキング(tracking)
  固体絶縁材料の表面,内部又はその両方に発生する,電界と電解質汚染との複合作用によって,導電路
が次第に形成されること。
3.2
トラッキング破壊(tracking failure)
  導通部間のトラッキングによる絶縁破壊。
    注記 この測定では,トラッキング破壊は,試験片の表面,内部又はその両方を電流が流れて過電流
          継電器が作動することを指す。
3.3
電気的浸食(electrical erosion)
  放電による絶縁材料の損耗。
3.4
気中アーク(air arc)
  試験片表面上の電極間アーク。
3.5
比較トラッキング指数,CTI(comparative tracking index)
  5個の試験片が,50滴滴下の測定期間にトラッキング破壊及び持続炎を発生することなく耐える最高電
圧の値をボルトで表示した数値。同時に100滴滴下測定時の材料挙動に関する説明(100滴測定に耐える
最高電圧の値)も含む(11.4参照)。
    注記1 この値よりも低い電圧でのトラッキング破壊及び持続炎を発生する試験片は,この規格の試

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            験に合格しているとは認められていない。
    注記2 CTIに関する基準として,電気的浸食の程度に関する報告が必要なこともある。
    注記3 非持続炎は,測定中に発生してもトラッキング破壊を生じない限り許容されるが,ほかによ
            り重要と考えられる要素がなければ,炎を全く発生しない材料の方がよい(附属書A参照)。
    注記4 (この記載はPTIの内容であると判断し,3.7の注記2に移動した。)
3.6
持続炎(persistent flame)
  2秒以上燃焼する炎。
3.7
保証トラッキング指数,PTI(proof tracking index)
  5個の試験片が,50滴滴下の測定期間中にトラッキング破壊及び持続炎を発生することなく耐える保証
電圧をボルトで表示した数値。
    注記1 非持続炎は,測定中に発生してもトラッキング破壊を生じない限り許容されるが,ほかによ
            り重要と考えられる要素がなければ,炎を全く発生しない材料の方がよい(附属書A参照)。
    注記2 ある種の材料は,高い測定電圧に耐える一方で,より低い測定電圧で破壊することがある。
3.8
脱イオン水(de-ionized water)
  ISO 3696:1987のグレード3に規定する分析実験用純水又は同等の純度をもつ純水を用いる。
    注記1 この純水の電気伝導度は,5.0 μS/cm7.5 μS/cmである。

4 測定原理

  試験片の上面をほぼ水平に支持し,二つの電極間に電界を印加する。電極間の表面に,過電流継電器が
作動するか,持続炎が発生するか,又は測定期間が終了するまで電解液を継続して滴下する。
  個々の測定は,短時間(1時間以内)に,試験片の表面上4 mm離した白金電極間に30秒間隔で1滴が
約20 mgの電解液を滴下し,50滴又は100滴に達するまで行う。
  測定中,電極間に100 V600 Vの交流電圧を印加する。
  測定中,試験片が浸食され又は軟化して,電極が試験片に沈み込んでもよい。
  測定中,試験片を貫通して孔があいた場合は,孔の深さ(試験片の厚さ)も共に報告する。再測定は,
更に厚い試験片で行ってもよいが,試験片の厚さの上限は10 mmとする。
    注記 トラッキングによって破壊を生じるまでに要する滴下数は,通常,印加電圧が低下するに従っ
          て増加し,電圧の臨界値(例えば,CTI)を下回るとトラッキングは発生しなくなる。ある種
          の材料では,トラッキングが臨界値以上の高い電圧で起こらないこともある。

5 試験片

  試験片は,測定中に液滴が試験片の縁から流れ出さない程度に十分余裕がある面積が試験片の表面に確
保されている場合は,ほぼ平らな面を使用してもよい。
    注記1 試験片の縁から電解液が流れ出すことがないように,通常,20 mm×20 mm以上の平らな表
            面が用いられる。電解液の流出がない場合には,これより小さい寸法の試験片,例えば,ISO
            3167に規定されているような15 mm×15 mmの多目的試験片を用いる場合がある。
    注記2 一般的には,測定ごとに別の試験片を用いる。同じ試験片上で複数回の測定を行う場合には,

――――― [JIS C 2134 pdf 5] ―――――

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