JIS C 1513-2:2021 電気音響―オクターブバンド及び１／Ｎオクターブバンドフィルタ（分析器）―第２部：型式評価試験

                                                   C 1513-2 : 2021 (IEC 61260-2 : 2016+AMD1 : 2017)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  4 試験のための供試品・・・・[3]
•  5 表記及び取扱説明書・・・・[3]
•  6 備える必要がある機能及び一般要求事項・・・・[3]
•  6.1 一般事項・・・・[3]
•  6.2 試験機器・・・・[5]
•  7 基準環境条件における試験・・・・[5]
•  7.1 一般事項・・・・[5]
•  7.2 相対減衰量,実効帯域幅偏差及び出力信号の和・・・・[6]
•  7.3 直線動作範囲,測定範囲,レベルレンジ調整器及び過負荷指示・・・・[7]
•  7.4 時不変動作・・・・[8]
•  7.5 電源の点検・・・・[9]
•  8 静電気放電及び電磁両立性の要求・・・・[9]
•  8.1 一般事項・・・・[9]
•  8.2 静電気放電の影響・・・・[9]
•  8.3 商用電源周波数磁界及び無線周波電磁界による影響・・・・[10]
•  8.4 無線周波エミッション及び商用電源への妨害・・・・[12]
•  9 周囲温度及び相対湿度に対する感度・・・・[12]
•  10 型式評価試験報告書・・・・[13]
•  附属書A(参考)正弦波掃引試験に関する不確かさ・・・・[14]
•  附属書B(参考)指数掃引を用いた時不変動作の試験例・・・・[17]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 1513-2 pdf 1] ―――――

           C 1513-2 : 2021 (IEC 61260-2 : 2016+AMD1 : 2017)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第14条第1項の規定に基づき,認定産業標準作成機関である一般財団法人
日本規格協会(JSA)から,産業標準の案を添えて日本産業規格を制定すべきとの申出があり,経済産業
大臣が制定した日本産業規格である。これによって,JIS C 1513:2002及びJIS C 1514:2002は廃止され,
この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実用新案権に関わる確認に
ついて,責任はもたない。
  JIS C 1513規格群[電気音響−オクターブバンド及び1/Nオクターブバンドフィルタ(分析器)]は,
次に示す部で構成する。
    JIS C 1513-1 第1部 : 仕様
    JIS C 1513-2 第2部 : 型式評価試験
    JIS C 1513-3 第3部 : 定期試験

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 1513-2 pdf 2] ―――――

                                      日本産業規格                            JIS
                                                                           C 1513-2 : 2021
                                                          (IEC 61260-2 : 2016+AMD1 : 2017)

電気音響−オクターブバンド及び1/Nオクターブバンドフィルタ(分析器)−第2部 : 型式評価試験

Electroacoustics-Octave-band and 1/N (fractional) -octave-band filters- Part 2: Pattern evaluation tests

序文

  この規格は,2016年に第1版として発行されたIEC 61260-2及び2017年に発行されたAmendment 1を
基とし,技術的内容及び構成を変更することなく作成した日本産業規格である。ただし,追補(amendment)
については,編集し,一体とした。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

1.1 この規格は,オクターブバンドフィルタ及び1/Nオクターブバンドフィルタについて,JIS C 1513-
1:2020で規定する全ての要求事項への適合性を検証するために適用する試験の詳細について規定する。
1.2  試験及び試験方法は,クラス1及びクラス2のオクターブバンド並びに1/Nオクターブバンドフィ
ルタに適用する。この規格の目的は,全ての試験機関が一致した方法を用いて,型式評価試験を行うこと
である。
  注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
        IEC 61260-2:2016,Electroacoustics−Octave-band and fractional-octave-band filters−Part 2: Pattern
            evaluation tests+Amendment 1:2017(IDT)
          なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こと
        を示す。

2 引用規格

  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,その一部又は全部がこの規格の要求事項
を構成している。これらの引用規格のうち,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その
後の改正版(追補を含む。)は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)
を適用する。
    JIS C 1509-1:2017 電気音響−サウンドレベルメータ(騒音計)−第1部 : 仕様
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 61672-1,Electroacoustics−Sound level meters−Part 1:
             Specifications

――――― [JIS C 1513-2 pdf 3] ―――――

           2
C 1513-2 : 2021 (IEC 61260-2 : 2016+AMD1 : 2017)
    JIS C 1513-1:2020 電気音響−オクターブバンド及び1/Nオクターブバンドフィルタ(分析器)−第
        1部 : 仕様
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 61260-1:2014,Electroacoustics−Octave-band and
             fractional-octave-band filters−Part 1: Specifications
    JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 61000-4-2:2008,Electromagnetic compatibility (EMC)−
             Part 4-2: Testing and measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test
    JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ
        試験
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 61000-4-3:2006,Electromagnetic compatibility (EMC)−
            Part 4-3: Testing and measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field
             immunity test
    JIS C 61000-4-6:2017 電磁両立性−第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する
        伝導妨害に対するイミュニティ
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 61000-4-6:2013,Electromagnetic compatibility (EMC)−
             Part 4-6: Testing and measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-
             frequency fields
    JIS C 61000-4-20:2014 電磁両立性−第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管の
        エミッション及びイミュニティ試験
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 61000-4-20:2010,Electromagnetic compatibility (EMC)−
             Part 4-20: Testing and measurement techniques−Emission and immunity testing in transverse
             electromagnetic (TEM)   aveguides
    JIS C 61000-6-1:2019 電磁両立性−第6-1部 : 共通規格−住宅,商業及び軽工業環境におけるイミュ
        ニティ規格
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 61000-6-1,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-
             1: Generic standards−Immunity standard for residential, commercial and light-industrial environments
    JIS C 61000-6-2:2019 電磁両立性−第6-2部 : 共通規格−工業環境におけるイミュニティ規格
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 61000-6-2:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−
            Part 6-2: Generic standards−Immunity for industrial environments
    IEC 61000-6-3:2006+AMD1:2010,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-3: Generic standards−
        Emission standard for residential, commercial and light-industrial environments
    ISO/IEC Guide 98-3:2008,Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
        measurement (GUM:1995)
    ISO/IEC Guide 98-4:2012,Uncertainty of measurement−Part 4: Role of measurement uncertainty in
        conformity assessment
    ISO/IEC Guide 99,International vocabulary of metrology−Basic and general concepts and associated terms
        (VIM)
    CISPR 16-1-1:2010,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
        1-1: Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Measuring apparatus
    CISPR 16-1-2:2014+AMD1:2017,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
        methods−Part 1-2: Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Coupling devices for conducted
        disturbance measurements
    CISPR 16-2-1:2008+AMD1:2010,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and

――――― [JIS C 1513-2 pdf 4] ―――――

                                                                                             3
                                                   C 1513-2 : 2021 (IEC 61260-2 : 2016+AMD1 : 2017)
        methods−Part 2-1: Methods of measurement of disturbances and immunity−Conducted disturbance
        measurements
    CISPR 16-2-3:2016,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
        2-3: Methods of measurement of disturbances and immunity−Radiated disturbance measurements
    CISPR 32:2015+AMD1:2019,Electromagnetic compatibility of multimedia equipment−Emission
        requirements
      注記 対応国際規格では,CISPR 22:2008を引用しているが,既に廃止されているため,この規格
             では,CISPR 32:2015+AMD1:2019を引用している。

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 1513-1:2020,JIS C 61000-4-2:2012,JIS C 61000-4-3: 2012,
JIS C 61000-6-1:2019,JIS C 61000-6-2:2019,IEC 61000-6-3:2006+AMD1:2010,ISO/IEC Guide 98-3:2008,
ISO/IEC Guide 98-4:2012,及びISO/IEC Guide 99による。

4 試験のための供試品

4.1 型式評価試験は,同一型式の3台以上のバンドパスフィルタを供試品とする。試験機関は,試験の
ためにそのうちの2台の供試品を選択する。その2台の供試品の1台について,この規格の手順に従い全
ての試験を行う。試験機関は,型式評価を行うために,第2の供試品についても,全ての試験が必要か,
又は限定した試験だけで十分かを判断する。
4.2 製造業者は,取扱説明書及び通常動作モードで不可欠な要素として取扱説明書に記載する全ての附
属品をフィルタとともに準備する。
4.3 製造業者が,フィルタの典型的な動作モードのため,ケーブルによって接続する機器を準備する場
合,その機器及びケーブルも提供する。

5 表記及び取扱説明書

5.1  フィルタにJIS C 1513-1:2020による表記があることを確認する。
5.2 JIS C 1513-1:2020に規定するフィルタが備える機能の全てについての情報を取扱説明書に記載して
あることを確認する。
5.3 フィルタが5.1及び5.2に適合していない場合,そのフィルタは,JIS C 1513-1:2020には適合してい
ないため,型式評価試験は行わない。
5.4 試験の後,受容限度値を超えていないこと,及び全ての情報を取扱説明書に適切に記載しているこ
とを確認する。

6 備える必要がある機能及び一般要求事項

6.1 一般事項

6.1.1 バンドパスフィルタは,JIS C 1513-1:2020に要求する機能を備える場合,この規格による試験を省

――――― [JIS C 1513-2 pdf 5] ―――――

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