この規格ページの目次
24
C 8281-2-1 : 2019
表103−定格電流とコンデンサ容量との関係
定格電流 コンデンサ容量
A
1以下 12
1を超え 2以下 24
2を超え 3以下 35
3を超え 4以下 48
4を超え 5以下 58
5を超え 6以下 70
6を超え 7以下 77
7を超え 8以下 96
8を超え 9以下 105
9を超え 10以下 140
10を超え 16以下 140
注記 回路パラメータは,最も実用的に使う代表的
なランプ負荷を示すように選んだ。
適否は,次の試験によって判定する。
試験には新しい試験品を使用する。
試験電圧の許容差は,±5 %とする。回路の詳細及び切換スイッチSの操作方法は,18.1の説明による。
操作回数は,次による。
定格電流が10 A以下の電子スイッチの場合は,30回/分で10 000回操作とする。
定格電流が10 Aを超え16 A以下の電子スイッチの場合は,15回/分で5 000回操作とする。
端子に影響することなく温度上昇測定ができるよう,試験品は,長さ1±0.1 mのケーブルで試験回路に
接続する。
スイッチを支持する金属枠がある場合,その上にスイッチを取り付ける。スイッチの可触金属部品があ
る場合,試験中に溶断しないワイヤヒューズを通し接地する。ヒューズ素子は,直径0.1 mmで長さ50 mm
以上の銅線で構成する。
この試験中,試験装置がスイッチ機構の平常動作及び操作部の自由な動きに影響しないようにスイッチ
を操作する。
0 0
%,“切”状態の期間は75−5
強制的な作動をせず,“入”状態の期間は合計のサイクルの25+5 %とする。
19.103 電子スイッチに組み込んだ半導体スイッチング装置及び/又は電子式調整ユニットについては,
次の試験を行う。
注記 電子式調整ユニットの例は,時間調節,明るさ調節又は感度調節に使う制御装置である。
電子スイッチには,定格電圧の1.1倍で,一定温度に達するまで定格負荷をかける。
スイッチの状態を10回変更する。設定値がある場合には,検出面又は検出ユニットによって,全範囲に
わたって最小から最大に,次に最小に戻す操作を10回繰り返す。
さらに,適用できる場合には,電子式拡張ユニット(子器)によって,スイッチの状態を10回変更する。
設定値がある場合には,全範囲にわたって最小から最大に,次に最小に戻す操作を10回繰り返す。
19.104 電子スイッチに組み込んだ機械式制御ユニットは,次の試験を行う。
電子スイッチに定格負荷を定格電圧で接続し,その後,電圧を定格電圧の1.1倍に増加する。制御ユニ
ットによって設定を全範囲にわたって最小から最大に,次に最小に戻す操作を10 000回繰り返す。操作速
度は,毎分1015回とする。
――――― [JIS C 8281-2-1 pdf 26] ―――――
25
C 8281-2-1 : 2019
機械式制御ユニットとは,押しボタンスイッチ,ポテンショメータなどであり,手動で操作することを
要求する。
通常の使用状態で使用者が操作できない部分には,適用しない。
19.105 製造業者が最小負荷又は最小電流を指定する電子スイッチに対しては,定格電圧を0.9倍にした
状態で,最小負荷又は最小電流による次の追加試験を行う。
スイッチの状態を10回変更する。設定がある場合には,全範囲にわたって最小から最大に,次に最小に
戻す操作を10回繰り返す。
さらに,適用可能な場合には,電子式拡張ユニット(子器)によって,スイッチの状態を10回変更する。
設定がある場合には,全範囲にわたって最小から最大に,次に最小に戻す操作を10回繰り返す。
19.106 電子RCSには,JIS C 8281-2-2の19.101を適用する。
電子TDSには,JIS C 8281-2-3の19.101を適用する。
19.107 電子TDSには,JIS C 8281-2-3の19.102を適用する。
19.108 電子TDSには,JIS C 8281-2-3の19.103を適用する。
19.109 制御装置内蔵形ランプ用を意図した電子スイッチに組み込む接点機構は,情報としてだけ示す供
給電源に関連した要求事項を除き19.102によって試験を行う。
注記1 突入電流及びI2tに対する要求値を得るため,計算は次のパラメータを基礎にしている。
− 力率cosφ=0.9(遅れ)における電源の固有短絡電流3 000 A(実効値)
− 試験回路の2心ケーブルを模擬した0.25 Ωに等しい抵抗器R3及び20 μHに等しいインダクタンスL
適否は,試験で供給電源へ接続した電子スイッチを経由して図103の負荷Bに接続して判定する。その
最大ピーク値及び突入電流の最大I2tは,表108による。
注記2 負荷Aでの試験は,適用しない。
SBLランプ用の定格電力が250 W以下の電子スイッチは,30回/分で40 000回操作とする。
SBLランプ用の定格電力が250 Wを超える電子スイッチは,15回/分で40 000回操作とする。
注記3 R1は,コンデンサのESR(equivalent series resistance)値を含むランプ回路の直列抵抗値の合
計である。
負荷BのR1及びCの値は,スイッチ接点が位相角90±5°で閉路したとき,表108のIpeak及びI2tの値
(±5 %)を達成するように選定する。R2の値は,定格電力(±5 %)を達成するように選定する。
――――― [JIS C 8281-2-1 pdf 27] ―――――
26
C 8281-2-1 : 2019
表108−配電方式によるIpeak及びI2tに対する値
Ipeak I2t Ipeak I2t
A A2s A A2s
定格電力 配電システム 配電システム 配電システム 配電システム
(W) 220/380 220/380 120/208 120/208
230/400 230/400 127/220 127/220
240/415 240/415
15 22 0.08 69 0.56
30 41 0.3 109 1.9
60 73 1.2 162 5.9
100 108 2.8 200 11.5
150 142 5.5 231 18.5
200 170 9 248 24.5
250 192 13 255 30
300 209 16.5 260 35
350 223 20.5 262 39
400 235 24.5 263 43
表にない値に対する試験値は,補間法によって決定する。
注記 日本で一般的な100/200の配電方式でのIpeak及びI2tの値は検討中であるが,当面の間,配電システムが
“120/208”の欄の値と同等とみなす。
表109−回路パラメータの計算値
定格電力 R1(Ω) C(μF) R1(Ω) C(μF)
(W) 230 V 230 V 120 V 120 V
15 13 20 1.36 70
30 6.5 40 0.65 140
60 3.25 80 0.28 280
100 1.9 125 0.17 445
150 1.25 180 0.11 640
200 0.95 240 0.10 830
250 0.8 310 0.10 1000
300 0.7 355 0.11 1250
350 0.64 420 0.13 1500
400 0.59 480 0.135 1660
表109の値は情報としてだけ示す。回路は,Ipeak及びI2tの値が表108を達成するように調整する。
20 機械的強度
機械的強度は,JIS C 8281-1:2011の箇条20による。
21 耐熱性
耐熱性は,JIS C 8281-1:2011の箇条21よる。
22 ねじ,通電部及び接続部
ねじ,通電部及び接続部は,JIS C 8281-1:2011の箇条22による。
――――― [JIS C 8281-2-1 pdf 28] ―――――
27
C 8281-2-1 : 2019
23 沿面距離,空間距離及びシーリングコンパウンドを通しての絶縁距離
沿面距離,空間距離及びシーリングコンパウンドを通しての絶縁距離は,JIS C 8281-1:2011の箇条23
によるほか,次による。
JIS C 8281-1:2011の表20の前に,次を追加する。
表20の項目1,2,6及び7の値は,外部導体用端子には適用するが,十分な遮断容量をもつ直接接続し
たヒューズ,その他の電流制限装置によって,箇条101を満足するように保護した電子スイッチの他の充
電部には適用しない。ヒューズを直接接続していない,又はその他の電流制限装置がない場合,電子スイ
ッチは,表20に適合しなければならない。
注記1 直接接続するヒューズ,その他の電流制限装置は,電子スイッチの保護を主な機能として回
路に挿入した装置である。
注記2 直接接続するヒューズ及び/又はその他の電流制限装置は,電子スイッチと一体になってい
なくてもよい。
JIS C 8281-1:2011の表20のそれぞれの欄に,次を追加する。
絶縁距離の詳細 mm
沿面距離
101 交流又は直流で生じる50 V以下の公称電圧で,かつ,JIS C 61558-2-6に従った安全絶縁変圧器
又は同等の有効性をもつ方法で主電源から電気的に分離した電源からの供給によって,回路に発
生する電圧が加わる沿面距離A), B)は,次による。
− プリント配線材料上−汚損度1 0.025
− プリント配線材料上−汚損度2 0.04
− その他の絶縁材料上−材料グループIの絶縁材料を横断して 0.6
− その他の絶縁材料上−材料グループIIの絶縁材料を横断して 0.85
− その他の絶縁材料上−材料グループIIIの絶縁材料を横断して 1.2
空間距離
102 交流又は直流で生じる50 V以下の公称電圧で,かつ,JIS C 61558-2-6に従った安全絶縁変圧器
又は同等の有効性をもつ方法で主電源から電気的に分離した電源からの供給によって,回路に発
生する電圧が加わる空間距離A)は,次による。
− 汚損度1 0.1
− 汚損度2 0.2
注記101 空間距離の値は,次の条件を用いたときのJIS C 60664-1の表F.2の値に基づいている。
− 交流又は直流50 Vの充電線の対地間電圧,過電圧カテゴリIII及びケースA(不平等電界)として,
JIS C 60664-1の表F.1に由来する800 Vの定格インパルス電圧
− 汚損度1及び2
沿面距離の値は,JIS C 60664-1の表F.4に基づいており,表F.3aの電力供給系統の公称電圧50 Vの場
合に対応した表F.4に集約した実効値50 Vの区分による。
注記102 公称電圧の定義については,IEC 60050-601(IEV 601-01-21)を参照。
注記103 項目101及び項目102は,電子RCS及び電子TDSだけに適用する。
――――― [JIS C 8281-2-1 pdf 29] ―――――
28
C 8281-2-1 : 2019
注A) この規格においては,次を適用する(JIS C 60664-1から引用)。
− ミクロ環境 : 沿面距離の規定値の決定に特に影響を及ぼす絶縁物の近傍の環境(JIS C 60664-1の3.12.2)。
− 汚損度 : ミクロ環境の予測できる汚損の特徴を示す数値(JIS C 60664-1)。
− 汚損度1 : どのような汚損も発生しないか又は乾燥状態で非導電牲の汚損だけを発生する。この汚損は,
どのような影響も及ぼさない。
プリント配線基板が,結露の発生,及び導電性,吸湿性又は溶性塵埃の堆積物から保護している場合には,
RCSのプリント配線板に対して汚損度1の使用を認める。これは通常,プリント配線板及び/又は回路をコ
ーティングし,そのコーティングがJIS C 60664-3の規定に適合し,更に封止している場合,又は保護コーテ
ィングによって,プリント配線板アセンブリ全体を密閉している場合にだけ実現可能となる。
− 汚損度2 : 非導電性の汚損だけは発生するが,結露によって一時的に導電性を引き起こすことが予測でき
る(JIS C 60664-1参照)。
プリント配線板及び/又は回路をコーティングし,そのコーティングがJIS C 60664-3の規定に適合してい
る場合,RCSのプリント配線板に対して汚損度2の使用を認める。
この規格では,絶縁材料をそのPTI値によって,四つのグループに分類している。
− 材料グループI 600≦PTI
− 材料グループII 400≦PTI<600
− 材料グループIIIa 175≦PTI<400
− 材料グループIIIb 100≦PTI<175
材料グループIIIには,材料グループIIIa及び材料グループIIIbを含む。
材料は,JIS C 2134の方法に従って溶液Aを用いて測定したそのPTIが,当該グループで指定した低い方
の値以上であることを基準として,上記の四つのグループのいずれかに該当しなければならない。
B) プリント配線板の沿面距離の値は,汚損度1及び2について示している。その他の絶縁材料については,汚
損度2の沿面距離の値だけを許容する。
JIS C 8281-1:2011の23.2の後に,次を追加する。
23.101 SELVへの接続に適する制御回路をもつ電子スイッチで,スイッチング回路にSELVよりも高い
電圧を供給するものは,制御回路とスイッチング回路との間の空間距離及び沿面距離が5.5 mm以上でな
ければならない。
7.103に従って分類する電子RCS及び電子TDSの場合,SELVと主電源との間の空間距離及び沿面距離
については,JIS C 8281-2-2及びJIS C 8281-2-3の関連する要求事項を適用する。
23.102 エナメル線のエナメルの厚さがJIS C 3215-0-1のグレード1以上である場合,制御コイルの電線
と異極充電部及び露出した導電部との間の空間距離は,エナメルがないときの値の2/3まで減少させても
よい。
24 絶縁材料の耐過熱性,耐火性及び耐トラッキング性
絶縁材料の耐過熱性,耐火性及び耐トラッキング性は,JIS C 8281-1:2011の箇条24による。
25 耐腐食性
耐腐食性は,JIS C 8281-1:2011の箇条25による。
26 電磁環境両立性(EMC)
電磁環境両立性(EMC)は,JIS C 8281-1:2011の箇条26を,次に置き換える。
電子スイッチは,使用を意図する電磁環境の下で正しく動作するように設計しなければならない。この
要求は,交流低電圧の公共電源システムへの接続を意図する電子スイッチに特に適用し,IEC 61000-2-2
による両立性レベルで規定する電源システムにおける通常の妨害を考慮しなければならない。
――――― [JIS C 8281-2-1 pdf 30] ―――――
次のページ PDF 31
JIS C 8281-2-1:2019の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60669-2-1:2002(MOD)
- IEC 60669-2-1:2002/Amendment 1:2008(MOD)
- IEC 60669-2-1:2002/Amendment 2:2015(MOD)
JIS C 8281-2-1:2019の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 8281-2-1:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0922:2002
- 電気機械器具の外郭による人体及び内部機器の保護―検査プローブ
- JISC2134:2007
- 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
- JISC2134:2021
- 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
- JISC6575:1975
- 電子機器用筒形ヒューズ
- JISC8281-2-2:2012
- 家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備用スイッチ―第2-2部:電磁遠隔制御式スイッチ(RCS)の個別要求事項
- JISC8281-2-3:2012
- 家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備用スイッチ―第2-3部:遅延スイッチ(TDS)の個別要求事項
- JISC8462:1999
- 家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備アクセサリのエンクロージャに関する一般要求事項