JIS C 8281-2-1:2019 家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備用スイッチ―第２－１部：電子スイッチの個別要求事項 | ページ 7

                                                                                             29
                                                                                C 8281-2-1 : 2019
  試験は,1個の新しい試験品によって行う(表101参照)。
  製造業者は,電子スイッチの負荷に関連する全ての詳細を明らかにしなければならない。
  適否は,26.1及び26.2の試験によって判定する。
26.1 イミュニティ
  電子スイッチは,スイッチの状態(“入”又は“切”)及び/又は設定値を妨害に対して保護するように
設計しなければならない。
  スイッチの操作は連続する妨害に対して保護しなければならない(例 : JIS C 61000-4-3,JIS C 61000-4-6
及びJIS C 61000-4-8)。
  次の試験のため,電子スイッチは,適切なボックスがある場合はそこに通常の使用状態で,箇条26の関
連する細分箇条に規定がない限り,製造業者の指定に従って全ての種類の負荷を接続する。
  電子スイッチは,調光器に対する定格負荷の100 %と他の電子スイッチに対する機能負荷とを一緒に接
続する。
  電子スイッチは,箇条26の関連する細分箇条に規定するように,操作あり及び操作なしについて表104
に従って試験を行う。
  電子スイッチに接続している負荷が機械式スイッチ装置(例えば,リレー)で制御され,半導体式装置
が負荷回路に存在しない場合,試験は,抵抗負荷だけで行う。
  操作をしない試験に対し,電子スイッチは,次の状態で試験を行う。
a) “入”状態で
      状態の設定が変えられる電子スイッチ(例えば,調光器)に対し,出力電力P0(実効値)が出る導
    通角100±5°の状態で行う。
      ±10 %未満のP0の変化は,設定の変化とみなさない。
b) “切”状態で
      操作を伴う試験は,1回/秒以上の操作速度で電子スイッチの“入/切”を行う。設定を変えるこ
    とができる場合(例えば,調光器),“入/切”に代えて,例えば,最小から最大のように設定値を変
    更してもよい。
      その機能(例えば,受動赤外線,遅延電子スイッチ)によって,操作速度が制限される電子スイッ
    チの場合,試験中の操作速度は,製造業者の指定による。
                                表104−イミュニティ試験(概要)
                 外的要因              試験条件            試験方法         細分箇条
          電圧ディップ/短時間停電      表105         JIS C 61000-4-11:2008  26.1.1
          サージ                        表110         JIS C 61000-4-5:2018   26.1.2
          ファストトランジェント        表106         JIS C 61000-4-4:2015   26.1.3
          (バースト)
          静電気放電               ±4 kV 接触放電    JIS C 61000-4-2:2012   26.1.4
                                   ±8 kV 気中放電
          放射電磁界試験                3 V/m         JIS C 61000-4-3:2012   26.1.5
          無線周波数電圧             3 V(実効値)    JIS C 61000-4-6:2017   26.1.6)
          電源周波数磁界              3 A/m,50 Hz     JIS C 61000-4-8:2016  26.1.7 a)
          注a) この試験は,磁場に敏感な装置(例えば,ホール素子,ダイナミック形マイクロホン,
               その他)を含む電子スイッチだけに適用する。

――――― [JIS C 8281-2-1 pdf 31] ―――――

30
C 8281-2-1 : 2019
26.1.1 電圧ディップ及び短時間停電試験
  電子スイッチは,26.1に規定するように,JIS C 61000-4-11で規定する試験用機器で表105に従って試
験を行う。試験と次の試験との間隔を10秒間以上とし,電圧ディップ及び短時間停電の反復を3回繰り返
す。
  試験は,電子スイッチの電力供給線路の上で行う。
  試験中,電子スイッチは操作しない。
  供給電圧の急激な変動は,ゼロクロス時に発生させる。
  試験電圧発生器の出力インピーダンスは,電圧の変動中でも低くなければならない。
  試験電圧UTと変動電圧との間の変化は,急激にする。
    注記 100 %UTは,定格電圧と同じである。
  試験レベル0 %は,全供給電圧の遮断に相当する。
                            表105−電圧ディップ/短時間停電の試験値
                試験レベル    電圧ディップ/短時間停電          継続時間
                   % UT                % UT           (定格周波数によるサイクル数)
                     0                 100                         10
                    40                  60                         10
                    70                  30                         10
  試験中,電子スイッチの状態及び設定は変化してもよい。フリッカは無視する。
  試験後,電子スイッチは初期状態及び初期設定にならなければならず,かつ,意図する操作が可能でな
ければならない。
  試験後,自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは,意図する操作が可能でなければならない。
26.1.2 1.2/50           形インパルスによるサージイミュニティ試験
  電子スイッチは,スイッチの開閉及び雷による過渡現象による過電圧によって引き起こされる単極性の
サージに対する耐性について試験を行う。
  試験中,電子スイッチは操作しない。
  試験は,JIS C 61000-4-5に従って実施する。繰返し率60±5秒/回,表110による開回路試験電圧で,
位相角0°,90°,180°及び270°の各々について,2回の正極性サージ及び2回の負極性サージを繰り
返す。
  低い側の電圧での試験は要求しない。
  通常使用の取付状態で,金属製取付表面をもつ電子スイッチの場合には,電源ラインと接地との間で,
表110による試験電圧で試験を繰り返す。
                               表110−サージイミュ二テイ試験電圧
                           導体/端子         結合          試験電圧
                                                              kV
                             主電源           線間             1
                                         線と接地との間        2
  試験中,電子スイッチの状態及び設定は変化してもよい。フリッカは無視する。
  試験後,電子スイッチは初期状態及び初期設定にならなければならず,かつ,意図する操作が可能でな
ければならない。

――――― [JIS C 8281-2-1 pdf 32] ―――――

                                                                                             31
                                                                                C 8281-2-1 : 2019
  試験後,自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは,意図する操作が可能でなければならない。
26.1.3 電気的ファストトランジェント/バースト試験
  電子スイッチは,主電源供給用及び制御用の端子及び/又は終端への繰返しファストトランジェント/
バーストに対する耐性を試験する。
  試験中,電子スイッチは操作しない。
  試験は,JIS C 61000-4-4に従って,次の仕様で実施する。
  電子スイッチの主電源供給用及び制御用の端子及び/又は終端に結合する,多くのバーストによって構
成する繰返しファストトランジェントの値は,表106による。
                              表106−ファストトランジェント試験値
                                     開回路出力試験電圧±10 %
             レベル   主電源供給用の端子及び/又は終端   制御用の端子及び/又は終端
                                   kV                               kV
               2                   ±1                            ±0.5
  繰返し率は,5 kHzとする。
  試験の継続時間は,60+5
                       0 秒で,正極及び負極に反応する電子スイッチのために必要な時間以上とする。
  試験中,電子スイッチの状態及び設定は変化してもよい。フリッカは無視する。
  試験後,電子スイッチは初期状態及び初期設定にならなければならず,かつ,意図する操作が可能でな
ければならない。
  試験後,自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは,意図する操作が可能でなければならない。
26.1.4 静電気放電試験
  通常使用の取付状態で,電子スイッチは,静電気の接触放電及び気中放電に耐えなければならない。試
験は,抵抗負荷を接続して実施する。電子スイッチが白熱灯の制御を意図しない場合,製造業者の説明書
に指定する負荷を一つだけ用いて試験する。
  試験中,電子スイッチは操作しない。
  低い側の電圧での試験は要求しない。
  試験は,正極性サージ10回,負極性サージ10回を次の方法によって,JIS C 61000-4-2に従って実施す
る。
− 導電性表面及び結合板に対する接触放電
− 適用できるならば,絶縁性表面に対する気中放電
  静電気放電は,通常の使用状態で接触できる電子スイッチの表面及び点に対してだけ実施する。
  静電気放電は,製造業者が設計し,あらかじめ選定した点に適用する。また,そこに異なる材質がある
場合は,含める。
  次の試験値を適用する。
− 接触放電の試験電圧 : 4 kV
− 気中放電の試験電圧 : 8 kV
  試験中,電子スイッチの状態及び設定は変化してもよい。フリッカは無視する。
  試験後,電子スイッチは初期状態及び初期設定にならなければならず,かつ,意図する操作が可能でな
ければならない。
  遅延時間調整装置をもつ電子スイッチ(例えば,受動赤外線スイッチ)は,遅延時間が試験時間を上回

――――― [JIS C 8281-2-1 pdf 33] ―――――

32
C 8281-2-1 : 2019
るように調節する。
  接触によって操作を意図する表面に検知ユニットをもつ電子スイッチは試験後,状態及び/又は設定値
が変化してもよいが,電子スイッチは,意図する操作が可能でなければならない。
  試験後,自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは,意図する操作が可能でなければならない。
26.1.5 放射電磁界試験
  この試験は,赤外線(IR)受信装置,無線周波受信装置,受動赤外線(PIR)装置,マイクロプロセッ
サをもつ装置などを含む電子スイッチだけに適用する。
  電子スイッチは,抵抗負荷だけを接続する。
  電子スイッチは,放射電磁界試験に耐えなければならない。
  試験は,トランスミッタ,レシーバ及び双方向トランシーバの関連規格で定義する帯域を除く周波数範
囲801 000 MHz及び1 4002 000 MHz,電界強度3 V/mを適用し,JIS C 61000-4-3に従って実施する。
  電子スイッチが自動機能を含むか又は遠隔操作ができる場合,試験中,電子スイッチを操作する。
  試験中及び試験後,電子スイッチは意図する操作が可能でなければならない。フリッカは許容しない。
  試験中,試験装置の周波数変更による過渡現象によって生じるランプのちらつき及びモータの不規則な
動作は無視する。
  試験後,自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは,意図する操作が可能でなければならない。
26.1.6 無線周波数電圧試験
  この試験は,赤外線(IR)受信装置,無線周波数受信装置,受動赤外線(PIR)装置,マイクロプロセ
ッサをもつ装置などを含む電子スイッチだけに適用する。
  電子スイッチは,抵抗負荷だけを接続する。
  電子スイッチは,無線周波数電圧試験に耐えなければならない。
  試験は,無線周波数電圧3 V(実効値)の電源ライン及び制御ラインへ適用しJIS C 61000-4-6に従って
実施する。
  電子スイッチが自動機能を含むか又は遠隔操作ができる場合,試験中,電子スイッチを操作する。
  試験中及び試験後,電子スイッチは意図する操作が可能でなければならない。フリッカは許容しない。
  試験中,試験装置の周波数変更による過渡現象によって生じるランプのちらつき及びモータの不規則な
動作は無視する。
  試験後,自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは意図する操作が可能でなければならない。
26.1.7 電源周波数磁界試験
  この試験は,磁場に敏感な装置(例えば,ホール素子,電気力学によるマイクロホン,その他)を含む
電子スイッチだけに適用する。
  電子スイッチは,抵抗負荷だけを接続する。
  電子スイッチは,電源周波数磁界試験に耐えなければならない。
  試験は,磁界3 A/mで50 HzにおいてJIS C 61000-4-8に従って実施する。
  電子スイッチが自動機能を含むか又は遠隔操作ができる場合,試験中,電子スイッチを操作する。
  試験中及び試験後,電子スイッチは意図する操作が可能でなければならない。フリッカは許容しない。
  試験中,試験装置の周波数変更による過渡現象によって生じるランプのちらつき及びモータの不規則な
動作は無視する。
  試験後,自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは,意図する操作が可能でなければならない。

――――― [JIS C 8281-2-1 pdf 34] ―――――

                                                                                             33
                                                                                C 8281-2-1 : 2019
26.2 エミッション
26.2.1 低周波エミッション
  電子スイッチは,回路網に過度の妨害を引き起こさないように設計しなければならない。
  電子スイッチは,JIS C 61000-3-2及びIEC 61000-3-3に適合している場合,要求事項を満たしていると
みなす。
  この要求事項は,チャンネルが相互に独立しているマルチチャンネルをもつ調光器の場合,各チャンネ
ルに適用する。
    注記1 点弧角度を変動させるための自動制御装置(例えば,ダンスホール,ディスコなどで使用す
            る自動システム)を組み込んだもの以外の電子スイッチは,試験を実施しなくともIEC
            61000-3-3に適合しているとみなす。
    注記2 白熱灯を含む異なる種類の負荷を調光するために設計した独立形調光器は,JIS C 61000-3-2
            に対応した白熱灯用とみなす。チャンネルごと(チャンネルの制御は独立している)の定格
            電力が1 000 W以下の場合,JIS C 61000-3-2の箇条7に従った全ての異なる種類の負荷での
            試験は,必要ではない。負荷電流を半導体式スイッチングする電子スイッチは,調光器とみ
            なす。
    注記3 IEC 61000-3-3は,その適用範囲に従い,定格電圧220 V250 Vで定格電源周波数が 50 Hz
            以外の電子スイッチには適用しない。
  電気機械式駆動接点機構(例えば,リレー)をもつ電子スイッチの負荷用の端子及び/又は終端は,高
調波電流エミッションを引き起こさないため,試験を実施しなくともJIS C 61000-3-2に適合しているとみ
なす。したがって,これらの製品の主電源供給用の端子及び/又は終端だけ試験を行う。
26.2.2 無線周波数エミッション
  電子スイッチは,過度の電磁妨害を引き起こさないように設計しなければならない。
  電子スイッチは,CISPR 14又はCISPR 15の要求に適合しなければならない。電気照明器具用に使用す
る電子スイッチに対し,CISPR 15を適用する。
  CISPR 15の8.1.4.2及び8.1.4.3は,次のように修正して適用する。
  適否は,次の試験によって判定する。
a) 主端子(CISPR 15:2013の8.1.4.2)
      最初の確認又は走査として,周波数帯9 kHz30 MHzの全てで“入”状態の最高設定で行う。さら
    に,次の周波数及び最初の確認で見つけたCISPR 15の限度から6 dB下げたレベルを超える最大の妨
    害が出た周波数で,最大負荷を接続し,制御設定を最大妨害が出るよう変化させる。
      9 kHz,50 kHz,100 kHz,160 kHz,240 kHz,550 kHz,1 MHz,1.4 MHz,2 MHz,3.5 MHz,6 MHz,
    10 MHz,22 MHz及び30 MHz
b) 負荷及び/又は制御端子(CISPR 15:2013の8.1.4.3)
      最初の確認又は走査として,完全な周波数帯160 kHz30 MHzまで“入”状態の最高設定で行う。
    さらに,次の周波数及びCISPR 15の限度から6 dB下げたレベルを超える最大の妨害が出た周波数で,
    最大負荷を接続し,制御設定を最大妨害が出るよう変化させる。
      160 kHz,240 kHz,550 kHz,1 MHz,1.4 MHz,2 MHz,3.5 MHz,6 MHz,10 MHz,22 MHz及び
    30 MHz
  JIS C 8281-1:2011の箇条26の後に,次の箇条を追加する。

――――― [JIS C 8281-2-1 pdf 35] ―――――

次のページ PDF 36