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C 8714 : 2007
表2−充電手順の条件
上限充電電圧 最大充電電流 上限試験温度 下限試験温度
4.25 V 単電池製造業者指定値 45 ℃ 10 ℃
表2に掲げる値以外の上限充電電圧を新たに適用する場合,附属書Bに示す手順に従った電圧変更
に対する根拠資料を保管した上で,当該値を上限充電電圧とする。
表2に掲げる値以外の上限試験温度又は下限試験温度を新たに適用する場合,附属書Bに示す手順
に従った温度変更に対する根拠資料を保管した上で,当該値を上限試験温度又は下限試験温度とする。
ただし,表2に掲げる値を適用する場合であっても,附属書Bに示す手順に従った根拠資料を保管
する。
5.2 単電池の圧壊試験
5.2.1 要求事項
携帯電子機器を使用する日常の使用状態において想定される変形において,発火又は破裂を引き起こさ
ない。
5.2.2 試験
特に規定がない限り,5.1の条件で充電した単電池を2枚の平板間に入れて押しつぶす。圧壊装置によっ
て13±1 kNの力で加圧する。加圧力の解放は,最大の圧力が得られた後,試験開始時の電圧の3分の1
まで急激な電圧降下が得られた後又は電池高さで10 %の変形が得られた後のいずれかの状況が発生した
時点とする。円筒形又は角形単電池をその縦軸が圧壊装置の平板と平行になるように押しつぶす。角形単
電池に,その縦軸の周りに90°回転して同様の試験を施し,電池の長側面及び短側面の双方が加圧力を受
けるようにする。一つの試料は1方向だけに加圧力を受けるものとする。したがって,個々の試験におい
て,別々に試料を使用する。
5.3 単電池の外部短絡試験
5.3.1 要求事項
単電池が正極端子と負極端子との短絡によって,発火又は破裂を引き起こさない。
5.3.2 試験
特に規定がない限り,5.1の条件で充電した単電池を,周囲温度55±5 ℃の環境下に放置する。単電池
を,正極端子及び負極端子を総計80±20 mΩの外部抵抗に接続して短絡させる。単電池は24時間を経過
するか又は単電池表面の温度と周囲温度との差がその最大値の20 %以下になるまでのいずれか短い間放
置する。
5.4 単電池の外部加熱試験
5.4.1 要求事項
単電池が異常高温によって発火又は破裂を引き起こさない。
5.4.2 試験
特に規定がない限り,5.1の条件で充電した単電池を室温と同温度になるまで放置させた後,恒温槽中に
置き,恒温槽の温度を5±2 ℃/minの昇温速度で130±2 ℃まで上昇させる。その後,恒温槽の温度を130
±2 ℃で10分間保持する。
5.5 単電池の強制内部短絡試験
5.5.1 要求事項
円筒形及び角形の単電池(ただし,ポリマー電池は除く。)において故意に異物が混入された状態で,異
物を経由した内部短絡によって発火を引き起こさない。
――――― [JIS C 8714 pdf 6] ―――――
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5.5.2 試験
特に規定がない限り,5.1の条件で充電した単電池の電極体を,周囲温度20±5 ℃,かつ,露点−25 ℃
以下の環境下で解体し,電池きょう(筐)体から取り出した後,ニッケル小片(高さ0.2 mm×幅0.1 mm
で各辺1 mmのL字形)を,表3に示す配置で正極活物質と負極活物質との間に挿入する。ただし,活物
質層との対向部分に電極基材露出部が存在する場合は,当該部分での試験も実施する。挿入後は,挿入前
の電極体配置関係に戻して,電解液蒸気の透過性のない柔軟な袋(例えば,チャック付きポリエチレン製
袋)に挿入して,開口部を閉じる。解体から開口部を閉じるまで30分以内とする。単電池の電極体を,上
限試験温度又は下限試験温度に45±15分放置し,袋から取り出す。速やかに上限試験温度又は下限試験温
度において,表3に示す加圧ジグを用い,電極体のニッケル小片挿入部を中心に接触させ圧力印加を開始
する。0.1 mm/秒の速度で加圧ジグを降下させ,内部短絡による電圧の降下が観測されるまで単電池に圧力
を印加する。50 mV以上の電圧降下が観測された地点又は加圧力800 Nに到達した地点のいずれか早い場
合に加圧ジグの降下を停止する。ただし,角形単電池の場合は,加圧ジグの降下を停止する加圧力を400 N
とする。単電池の強制内部短絡試験の手順は,附属書Aによる。
表3−強制内部短絡試験の配置及びジグ
挿入位置 電極体の最外周部分の正極活物質塗布部端から20 mmで幅方向中央の正極活物質と
正極活物質と負極活物質間セパレータとの間で,L字角を巻込み方向に配置する。正極活物質塗布部より外側に
露出したアルミはく(箔)がある場合は,境界部から露出アルミはく部を削除する。
ただし,角形状単電池の場合は,最外周の正極活物質又は,負極活物質とセパレータ
との間で平面部の中心でL字角を巻込み方向に配置する。
挿入位置 最外周の露出アルミはくと負極活物質の対向面がある場合において,電極体の最外周
集電体と活物質間 部分の正極活物質塗布部端から1 mmで幅方向中央の露出アルミはくとセパレータと
の間で,L字角を巻込み方向に配置する。ただし,円筒形状の単電池でより外側に露
出したアルミはくがある場合は,境界部から露出アルミはく部を10 mm残して,削
除する。
加圧ジグ 10mm角柱で接触表面が2 mm厚のニトリルゴムで覆われたもの。ただし,角形単電
池の場合は,さらに,接触表面に5 mm角2 mm厚のアクリルをは(貼)り付ける
5.6 組電池の落下試験
5.6.1 要求事項
組電池に,想定する最大本体質量に相当する負荷に装着した状態で,落下又は衝撃が加わった場合にお
いて,組電池の内部において外部短絡を生じない,かつ,組電池内の単電池において内部短絡を生じない。
5.6.2 試験
特に規定がない限り,5.1の条件で充電した組電池を,使用を想定する携帯電子機器に応じてJIS C 6950
又はJIS C 6065に規定する落下試験の高さから,使用を想定する携帯電子機器に装着又は装着を模擬する
状態で,コンクリートの床へ組電池に最も悪影響を与えると判断される落下方向へ1回落下させる又は同
等の負荷を当該組電池に与える。当該組電池を落下する床として,コンクリートに代わり,鉄板を用いて
もよい。
注記 落下試験の高さは,JIS C 6950の4. 2.6, JIS C 6065の12.1.1又はJIS C 6065の12.1.4を参照。
5.7 組電池の外部短絡試験
5.7.1 要求事項
組電池の外部短絡試験を実施した場合に,発火又は破裂を引き起こさない。
――――― [JIS C 8714 pdf 7] ―――――
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5.7.2 試験
特に規定がない限り,5.1の条件で充電した組電池を,周囲温度20±5 ℃の環境下に放置し,正極端子
及び負極端子を総計80±20 mΩの外部抵抗に接続して短絡させる。組電池を,短絡させてから24時間を
経過するまでの間又は組電池容器の温度と周囲温度との差がその最大値の20 %以下になるまでのいずれ
か短い間,放置する。ただし,電流が停止されている場合は,電流が停止されてから1時間を経過するま
での間,放置する。
5.8 組電池の過充電保護の確認試験
5.8.1 要求事項
組電池内の単電池又は単電池を並列に接続した電池ブロックが表2の上限充電電圧を超えない。ただし,
携帯電子機器等において,上限充電電圧を超えないよう制御を行う場合はこの限りではない。
5.8.2 試験
周囲温度20±5 ℃において,次のいずれかの方法で試験を行う。
a) 組電池が単電池又は1段の電池ブロック構成の場合,充電時に単電池又は電池ブロックに印加される
電圧を測定する。
b) 組電池が,単電池又は電池ブロックを直列に2個以上接続した構造の場合,各単電池又は電池ブロッ
クの電圧を計測しながら充電を行い,同時に一つの単電池又は電池ブロックを徐々に強制的に放電さ
せ,そのほかの各単電池又は電池ブロックの電圧を測定する。
c) 組電池が,単電池又は電池ブロックを直列に2個以上接続した構造の場合,各ブロックの電圧を計測
しながら表2の上限充電電圧を超える電圧を単電池に印加し充電が停止するときの電圧を測定する。
――――― [JIS C 8714 pdf 8] ―――――
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附属書A
(規定)
強制内部短絡試験の手順
序文
この附属書は,本体に関連する事柄を説明するものである。単電池及び組電池の製造業者などが強制内
部短絡試験を実施する場合の有効な手順を規定している。
警告 これらの試験は,適切な対策を怠ると危害を及ぼすことがある。試験は,適切な資格と経験をもつ
専門家だけが,適切な保護措置を講じたうえで実施する。
A.1 試験サンプル数
試験は,リチウムイオン蓄電池の単電池を使用し,試験個数n=5とする。ただし,上限圧力に達するま
で短絡確認できなかった場合は,最大n=10まで試験個数を追加する。
A.2 試験を行うための充電手順
A.2.1 試験に使用する単電池を,製造業者が指定する充電方法によって周囲温度20±5 ℃で充電を行い,
その後0.2 ItAの定電流で製造業者が指定する放電終止電圧まで放電する。
A.2.2 単電池を,表A.1に規定する周囲温度で14時間放置する。
A.2.3 単電池を,表A.1に規定する周囲温度で,製造業者が指定する最大充電電流で上限充電電圧まで定
電流充電を行う。引き続き上限充電電圧にて定電圧充電を行い,充電電流が0.05 ItAに低下した時点で充
電を停止する。ただし,表2に掲げる上限充電電圧以外の充電電圧を採用した場合には,当該充電電圧で
充電を行うものとする。
表A.1−単電池試験の周囲温度a)
手順項目 下限試験温度での試験 上限試験温度での試験
A.2.2 10±2 ℃ 45±2 ℃
A.2.3 10±2 ℃ 45±2 ℃
A.4.1 5 ℃ 50 ℃
A.4.2.1 10±2 ℃ 45±2 ℃
A.4.3.1 10±2 ℃ 45±2 ℃
注a) 表2に示した条件及び下限試験温度を適用した場合
A.3 ニッケル小片の配置手順
この箇条の作業は周囲温度20±5 ℃,露点−25 ℃以下の環境で行う。
A.3.1 充電ずみ電池の解体
A.2の手順で充電した単電池を解体し,電極体を取り出す。
A.3.2 ニッケル小片の形状及び材質
強制内部短絡を引き起こすために用いるニッケル小片の形状を図A.1に示す。高さ0.2 mm,幅0.1 mm,
一辺1 mmのL 字形(角は約90°)で材質はニッケル[純度99 %(質量分率)以上]とする。
――――― [JIS C 8714 pdf 9] ―――――
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単位 mm
図A.1−ニッケル小片の形状
A.3.3 ニッケル小片の配置
ニッケル小片の電極体への配置場所は,次による。
a) 円筒形電池 円筒形電池のニッケル小片の配置場所を,図A.2に示す。
1) 正極活物質部−負極活物質部間[図A.2 a) に対応]
1.1) 最外周に正極アルミしん(芯)体(以下,アルミはくという。)がある場合には,アルミはくを活
物質部とアルミはくとの境界部で絶縁性のはさみでカットする。
1.2) ニッケル小片の向きは角が巻込み方向で,ニッケル小片の位置はカット部から20 mmとし,正極
活物質部とセパレータとの間にニッケル小片を配置する。
1.3) セパレータ上にニッケル小片の位置のマーキングを行う。
2) 正極アルミはく部−負極活物質部間[図A.2 b) に対応]
最外周に露出したアルミはくと負極活物質部の対向面が存在する場合に実施する。
2.1) 最外周に露出したアルミはくと負極活物質部の対向面が存在する場合には,露出したアルミはく
を活物質部とアルミはくとの境界部でアルミはくを10 mm残して絶縁性のはさみでカットする。
2.2) ニッケル小片の向きは角が巻込み方向で,ニッケル小片の位置は正極活物質部の端から1 mmのア
ルミはく上とし,アルミはくとセパレータとの間にニッケル小片を配置する。
2.3) セパレータ上にニッケル小片の位置のマーキングを行う。
単位 mm
a) 正極活物質部−負極活物質部間 b) 正極アルミはく部−負極活物質部間
図A.2−円筒形電池のニッケル小片の配置場所
b) 角形電池 角形電池の短絡防止処理を行った後にニッケル小片の配置を行う。短絡防止処理はニッケ
ル小片部分と対向するセパレータと負極との間に作業中の不意な短絡を防ぐために絶縁フィルムを挟
む。
角形電池のニッケル小片の配置場所を,図A.3に示す。
――――― [JIS C 8714 pdf 10] ―――――
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JIS C 8714:2007の国際規格 ICS 分類一覧
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JIS C 8714:2007の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC6065:2016
- オーディオ,ビデオ及び類似の電子機器―安全性要求事項
- JISC6950:2006
- 情報技術機器の安全性
- JISC8712:2015
- ポータブル機器用二次電池(密閉型小型二次電池)の安全性
- JISK6253:2006
- 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム―硬さの求め方