JIS F 8065:2003 船用電気設備―第３０２部：低圧配電盤及び制御盤 | ページ 5

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A       7.10.2        電子設備を組み込む低圧盤類
A/B     8.            試験の仕様
A       8.1           試験の分類
A       8.1.1         型式試験
A       8.1.2         通常試験
A       8.1.3         低圧盤類に組み込まれる装置及び自律部品の試験
A       8.2           型式試験
A       8.2.1         温度上昇制限の検証
A       8.2.1.1       一般
A       表7           TTA及びPTTAで実施される試験と検証のリスト
A       8.2.1.2       低圧盤類配置
A       8.2.1.3       全ての装置の通電時の温度上昇試験
A       8.2.1.3.1     400 A以下の試験電流値
A       表8           試験電流に対応する銅導体の標準断面積
A       8.2.1.3.2     400 Aを超え800 A以下の試験電流値
A       8.2.1.3.3     800 Aを超え3 150 A以下の試験電流値
A       表9           試験電流に対応する銅導体の標準断面積
A       8.2.1.3.4     3 150 Aを超える試験電流値
A       8.2.1.4       同等の電力損失をもつ熱抵抗を使用した温度上昇試験
A       8.2.1.5       温度の計測
A       8.2.1.6       周囲温度
A       8.2.1.7       取得すべき試験結果
AaB     8.2.2         絶縁特性の検証
A       8.2.2.1       一般
A       8.2.2.2       絶縁材料製の外被試験
A       8.2.2.3       絶縁材料の外部操作ハンドル
A       8.2.2.4       試験電圧値と適用
A       8.2.2.4.1     本体参照
A       表10
A       8.2.2.4.2     本体参照
A       表11
A       8.2.2.5       取得すべき試験結果
A       8.2.2.6       衝撃耐電圧試験
A       8.2.2.6.1     一般条件
A       8.2.2.6.2     試験電圧
A       8.2.2.6.3     試験電圧の適用
A       8.2.2.6.4     取得すべき試験結果
A       8.2.2.7       沿面距離の検証

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AaB     8.2.3         耐短絡強度の検証
A       8.2.3.1       耐短絡強度の検証を免除された低圧盤類回路
A       8.2.3.1.1     本体参照
A       8.2.3.1.2     本体参照
A       8.2.3.1.3     本体参照
A       8.2.3.1.4     本体参照
A       8.2.3.2       耐短絡強度を検証される低圧盤類回路
A       8.2.3.2.1     試験準備
A       8.2.3.2.2     試験の実施 : 一般
A       表12
A       8.2.3.2.3     主回路の試験
A       8.2.3.2.4     短絡電流の値と持続時間
A       8.2.3.2.5     取得すべき試験結果
A       8.2.3.2.6     本体参照
A       8.2.4         保護回路の効力の検証
A       8.2.4.1       低圧盤類の露出導電部と保護回路との間の効果的接続の検証
A       8.2.4.2       試験による保護回路の短絡強度の検証
A       8.2.4.3       取得すべき試験結果
A       8.2.5         空間及び沿面距離の検証
A       8.2.6         機械式操作の検証
A       8.2.7         保護等級の検証
A       8.2.8         絶縁材料特性の検証
AaB     8.3           通常試験
A/B     8.3.1         配線の検査及び必要な場合,電気機能試験を含んだ低圧盤類の検査
B       8.3.1.101     試験要求
B       8.3.1.101.1   電気機能試験
A/B     8.3.2         絶縁耐力試験
A       8.3.2.1       一般
AaB     8.3.2.2       試験電圧の適用,持続時間及び電圧値
A       8.3.2.3       取得すべき試験結果
B       8.3.2.101     構成部品の切離し
A       8.3.3         保護回路の電気的連続性及び保護方法の確認
A/B     8.3.4         絶縁抵抗の検証
B       8.3.4.101     絶縁抵抗の計測
B       8.3.101       温度上昇限度の検証
B       8.3.102       個々の装置の試験データの使用
A       表13          衝撃,電力周波数,直流試験用絶縁耐電圧
A       表14          最小空間距離
A       表15          回路分離用設備の開放接点間の試験電圧
A       表16          最小沿面距離

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B       表102         型式試験された低圧盤類の海面高度での給電の公称電圧と試験電圧との間の対応
B       表103         TTA,PTTA及びNTTAで実施する通常試験
A       附属書A       接続に適した銅導体の最小及び最大断面積
A       附属書B       短期間電流による熱応力に関する保護導体の断面積の計算法
A       附属書C       低圧盤類の代表的な例
A       附属書D       隔壁又は仕切りによる分離形式の代表的な例
A       附属書E       製造者と使用者との間の合意を条件とする項目
A       附属書F       空間距離及び沿面距離の計測
A       附属書G       給電設備の公称電圧と装置の定格耐電圧との間の相互関係
A       表G.1         IEC 60099-1による避雷器(サージアレスタ)により過電圧保護されている場合の,
                      給電設備の公称電圧と装置の定格衝撃耐電圧との間の対応
A       表G.2         避雷器(サージアレスタ)により過電圧保護され定格電圧に対する放電開始電圧の
                      比がIEC 60099-1よりも低い場合の,給電設備の公称電圧と装置の定格衝撃耐電圧
                      との間の対応
A       附属書H       参考文献
B       附属書A A     索引