JIS H 7314:2013 超電導―給電装置―超電導機器へ給電する電流リードの特性試験に関する一般要求事項 | ページ 5

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                                          附属書D
                                          (参考)
                    高温超電導構成要素の試験項目及び試験方法
D.1 範囲
  この基準は,電流リード全体の試験項目及び方法に共通する特徴について記載している。高温超電導電
流リードの製作では,製造業者が電流リードにおける高温超電導構成要素だけを製造し,その他の製造業
者又は使用者がこれらを完全な電流リードに組み立てることが想定される。ここでは,超電導電流リード
の最も重要な部分である,高温超電導構成要素の試験項目及び方法について特に注目しなければならない
点を挙げる。
D.2 高温超電導構成要素の特性試験の項目
  表D.1に示される高温超電導構成要素の特性試験の項目は,使用者が,高温超電導構成要素が電流リー
ドの高温超電導部に対して規定された要件を満たしているかどうかを確認し,試験項目が超電導電流リー
ドの実行段階に見合っているかどうかを判断できるものであることが望ましい。
                           表D.1−高温超電導構成要素の特性試験の項目
                                                               特性試験の実行段階
          特性試験区分             試験項目
                                                         R&D a)    カタログ b)  受入 c)
                         構造検査試験(6.1.1)                         ○          ○
     1   機械的特性
                         応力/ひずみ効果試験(D.4.1)     ○
     2   熱的特性        非通電熱侵入試験(6.2.1)         ○
     3   電気的特性      定格通電試験(6.3.1)             ○          ○
     4   安全限界特性    クエンチ試験(6.5.2)             ○
    注a) “R&D”は,電流リードシステムの基礎研究又は,試作のための試験段階を意味する。
      b) “カタログ”は,電流リードに関して行われた試作又は量産のための試験段階を意味する。
      c) “受入”は,電流リード設置場所での受入検査段階を意味する。
D.3 一般的な試験方法
  各特性試験の方法は,箇条6を参照してもよい。電流リードの超電導部として高温超電導構成要素が使
用される条件と同等である場合は,冷却条件,電気絶縁,機械的支持などを簡略化することができる。
D.4 規定された試験方法
D.4.1 目的−応力/ひずみ効果試験
  この試験では,室温及び低温での高温超電導構成要素の機械的及び熱的な応力/ひずみ効果を確認しな
ければならない。
D.4.2 方法
  高温超電導構成要素における室温及び低温での機械的応力/ひずみのレベルをシミュレーションし,機
械的応力/ひずみを超電導体の弾性限界より下の最大レベルまで印加しなければならない。高温超電導構
成要素として銀合金シースBi系超電導体を使用している場合,超電導体のひずみが0.2 %以下の条件下で,
実験データに基づいて弾性限界の1.1倍までの室温での引張試験を繰り返した後に,電気的特性が保証さ

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H 7314 : 2013
れている必要がある。
    注記1 安全限界に応じて最大負荷を規定することが望ましい。一般に,最大負荷は,仕様レベルの
            1.1倍である。
    注記2 試験は,電磁負荷と熱負荷との間の条件を区別することで電流リードの使用条件に応じて規
            定された回数を繰り返して行うことが望ましい。
    注記3 対応国際規格の注記3は,要求事項であるので,本文に移行することとした。
D.4.3 結果
  試験結果は,仕様及び照合し,報告しなければならない。
参考文献 [1] WILSON,MN,Superconducting Magnets. Oxford University Press, Oxford,1983,pp. 256-272
          [2] LOCK,JM.,Cryogenics,1969,vol. 9,pp. 438-442
          [3] BALLARINO,A,Current Leads for the LHC Magnet System,IEEE Transactions on Applied
              Superconductivity,2002,vol. 12,pp. 1275-1280
          [4] BALLARINO,A.,HTS current leads for the LHC magnet powering system,Physica C,2002,
              372-376,pp. 1413-1418
          [5] JIS H 7305:2010 超電導−臨界電流の試験方法−銀シースビスマス2212及びビスマス
              2223酸化物超電導線の直流臨界電流
                 注記 対応国際規格 : IEC 61788-3:2006,Superconductivity−Part 3: Critical current
                      measurement−DC critical current of Ag- and/or Ag alloy-sheathed Bi-2212 and Bi-2223
                      oxide superconductors(IDT)
          [6] JIS H 7309:2012 超電導−臨界温度試験方法−複合超電導導体の抵抗法による臨界温度
                 注記 対応国際規格 : IEC 61788-10:2006,Superconductivity−Part 10: Critical temperature
                      measurement−Critical temperature of composite superconductors by a resistance method
                      (IDT)

――――― [JIS H 7314 pdf 22] ―――――

                                                                 附属書JA
                                                                  (参考)
                                                    JISと対応国際規格との対比表
                                                                           IEC 61788-14:2010 Superconductivity−Part 14: Superconducting power devices−
     JIS H 7314:2013 超電導−給電装置−超電導機器へ給電する電流リードの特性試験
     に関する一般要求事項                                                  General requirements for characteristic tests of current leads designed for powering
                                                                           superconducting devices
     (I)   JISの規定                (II)      (III)国際規格の規定                                                  (V)   JISと国際規格との技術的差異
                                                                           (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条ご
                                 国際規格                                  との評価及びその内容                 の理由及び今後の対策
                                 番号
     箇条番号        内容                  箇条番号          内容          箇条ごと       技術的差異の内容
     及び題名                                                              の評価
     6特性試   電流リードに関す            6        JISと同じ              変更      JISでは,特性試験区分を第1 次回IEC改正時に変更を提案する。
     験の方法  る特性試験の方法                                                      階層の細分箇条,試験項目を第
               について規定                                                          2階層の細分箇条と記載するこ
                                                                                     とに変更し,表1の内容と整合
                                                                                     させた。技術的差異はない。
               6.1.1.2 方法                6.1.2    JISとほぼ同じ          変更      目視での検査の判定基準を明 次回IEC改正時に変更を提案する。
                                                                                     確にした。
                                                                           追加      室温及び低温での構造検査試 次回IEC改正時に追加を提案する。
                                                                                     験をどの段階で行うかを明確
                                                                                     にした。
               6.1.2.1 目的                6.2.1    JISとほぼ同じ          変更                                 次回IEC改正時に変更を提案する。
                                                                                     “低温”を,“動作温度”に変
                                                                                     更した。
               6.1.2.2 方法                6.2.2    JISとほぼ同じ          変更                                 次回IEC改正時に変更を提案する。
                                                                                     “低温”を,“動作温度”に変
                                                                                     更した。
     7 報告    報告項目について            7        JISとほぼ同じ          削除      “− the findings acquired 次回IEC改正時に削除を提案する。
               規定                                                                  through them”を削除した。
     JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 61788-14:2010,MOD
                                                                                                                                              H7 314 : 2013
                                                                                                                                                  2

――――― [JIS H 7314 pdf 23] ―――――

                                                                                                                                              H7
                                                                                                                                                  2
     注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
          − 削除·················· 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
                                                                                                                                                 314
          − 追加·················· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
                                                                                                                                                     : 2
          − 変更·················· 国際規格の規定内容を変更している。
                                                                                                                                                       01
     注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
                                                                                                                                                         3
          − MOD··············· 国際規格を修正している。