JIS H 7314:2013 超電導―給電装置―超電導機器へ給電する電流リードの特性試験に関する一般要求事項 | ページ 4

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H 7314 : 2013
B.2.4 気体ヘリウム環境における強制冷却形常電導部及び高温超電導部から成る電流リード
  図B.4−ヘリウムガス環境における強制冷却形常電導部及び高温超電導部から成る電流リードの概要図

――――― [JIS H 7314 pdf 16] ―――――

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B.2.5 液体窒素/窒素ガス/ヘリウムガス冷却形常電導部及び自己(蒸発ヘリウムガス)冷却形高温超電
導部から成る電流リードの概要図
                   図B.5−液体窒素/窒素ガス/ヘリウムガス冷却形常電導部及び
             自己(蒸発ヘリウムガス)冷却形高温超電導部から成る電流リードの概要図

――――― [JIS H 7314 pdf 17] ―――――

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H 7314 : 2013
B.3   非ガス冷却形電流リード
B.3.1 伝導冷却形常電導部及び高温超電導部から成る電流リード
             熱ふく(輻)射
             シールド
                                      ~
                                      ~
              図B.6−伝導冷却形常電導部及び高温超電導部から成る電流リードの概要図

――――― [JIS H 7314 pdf 18] ―――――

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                                          附属書C
                                          (参考)
                             試験方法に関する補足説明図
C.1 一般事項
  この附属書の図は,試験方法に関する補足説明として記載している。定格通電試験中の温度分布,パッ
シェン気密性試験における絶縁破壊電圧の圧力依存性,及び高温超電導電流リードのクエンチ試験におけ
る電圧上昇の時間依存性の典型的な例を示している。
C.2 定格通電試験中の温度分布
                             図C.1−定格通電試験中の温度分布の略図
C.3 パッシェン気密性試験における絶縁破壊電圧の圧力依存性
               図C.2−パッシェン気密性試験における絶縁破壊電圧の圧力依存性の略図

――――― [JIS H 7314 pdf 19] ―――――

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H 7314 : 2013
C.4 クエンチ試験における電圧上昇の時間依存性
                                                                 t
注記 Δtは電圧がVdetectから Vlimit まで上昇する時間差を意味し,6.5で記載した電流リードの安全性の限界に対応し
     ている。
                     図C.3−クエンチ試験における電圧上昇の時間依存性の略図

――――― [JIS H 7314 pdf 20] ―――――

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