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K 7109-1986
2 2 2 ( y11 yr0k ) 2
ST y11 y12 yr0k
k
Se ST S
e
Ve 0
2
結果を附属書2表2の分散分析表にまとめる。
附属書2表2 分散分析表
要因 f S V
戀 1 S 戀 V 戀
e kr0−2 Se Ve
計 kr0−1 ST
手順4 誤差分散に対する信号の効果の大きさからSN比を求める。
例 : プラスチック用低測定力マイクロメータを用いて,標準(ブロックゲージ)を計測した場合につ
いて検討した。
手順1 標準の水準の選定を行う。
寸法測定の標準としてブロックゲージを選び,その水準は附属書2表3のとおりである。
附属書2表3 標準の寸法の表示値
単位
水準 M1 M2 M3
寸法 5 000 15 000 25 000
手順2 実験を行う。
誤差因子として測定の反復を選び,実験を行った結果は附属書2表4のとおりである。
附属書2表4 測定結果
単位
標準 Ml M2 M3
反復
R1 5 001 15 003 25 008
R2 5 005 15 007 25 002
計 10 006 30 010 50 010
手順3 分散分析を行う。
M 5( 000 15 000 25 000/) 315 000.00
r 2[( 10 000 2 ]
10 000) 2 400 000 000.00
( 10 000 10 006 10 000 50 010) 2
S
400 000 000.00
400 080 004
90 026 2
ST 5 0012 5 0052 25 002 2 400 080 039.00
6
Se 400 080 039.00400 080 004.0035.00
分散分析を行った結果は,附属書2表5のとおりである。
――――― [JIS K 7109 pdf 11] ―――――
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K 7109-1986
附属書2表5 分散分析表
要因 f S V
戀 1 400 080 004.00400 080 004.00
e 4 35.00 8.75
計 5 400 080 039.00
手順4 誤差分散に対する信号の効果の大きさからSN比を求める。
1
(S Ve)
r
Ve
1
(400 080 004.875)
400 000 000
.875
.0113 7
5. 測定方法の選択と改善 同一測定対象について2種類以上の測定方法がある場合には,次の手順で測
定方法を選定する。
手順1 計測の誤差を明らかにする。
(1) 制御因子とその水準を明らかにする。
(2) 信号因子及び誤差因子とその水準を定める。
(3) N比を求めるための実験及び測定を行う。
(4) 分散分析を行い,SN比を求める。
(5) N比を特性値とした分散分析を行う。
(6) 制御因子の水準別に計測の誤差を求める。
手順2 計測の誤差の経済性評価を行う。
(1) 比例定数kを求める。
(2) 計測の誤差による損失Lを求める。
(3) 計測にかかわる総損失L (T) を求める。
(4) 計測にかかわる1年間の損失を比較し,損失の最も小さい計測方法を求める。
例 : プラスチック部品の寸法測定器として普通のマイクロメータとプラスチック用マイクロメータが
ある。どちらを採用するか決定したい場合。
手順1 計測の誤差を明らかにする。
(1) 制御因子の水準の決定。
A1 : 普通のマイクロメータ
A2 : プラスチック用マイクロメータ
(2) 信号因子と誤差因子の水準の決定。
信号因子と誤差因子の水準を附属書2表6に示した。この場合,信号因子の間
隔h=130 ( ‰
――――― [JIS K 7109 pdf 12] ―――――
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K 7109-1986
附属書2表6 信号因子と誤差因子の水準
水準 1 2 3
因子
信号因子 M (mm) 19.930 20.060 20.190
誤 測定者 B 1 2 3
差 反復 R 1 2 −
因
子
(3) 実験結果 附属書2表6に従った実験を行った結果は,附属書2表7のとおりである。
附属書2表7 実験結果
単位
制御因子 A1 A2
信号
M1 M2 M3 M1 M2 M3
因子
測定者 反復
B1 R1 19 937 20 074 20 188 19 941 20 072 20 201
R2 19 927 20 062 20 185 19 953 20 071 20 203
B2 R1 19 935 20 069 20 204 19 943 20 078 20 203
R2 19 928 20 059 20 193 19 948 20 073 20 200
B3 R1 19 944 20 073 20 207 19 946 20 074 20 204
R2 19 930 20 065 20 195 19 941 20 071 20 202
計 119 601 120 402 121 172 119 672 120 439 121 213
(4) 分散分析を行いSN比を求める。信号因子がおおよその値であるから,回帰からの残差Mres
はSeに含めない。
(a) 1 : 普通のマイクロメータのSN比
3611752
ST 19 937 219 927 2 201952
18
206 465.67
119 6012 120 4022 1211722 3611752
SM
6 18
205 696.78
( 119 601130 121172 130) 2
S
202 800.00
205 670.08
SMres SM S 205 696.78 205 670.08
26.70
Se ST SM 206 465.67 205 696.78
768.89
Se
Ve 15 51.26
r r0 2h2 6 2 1302 202 800.00
SN比
――――― [JIS K 7109 pdf 13] ―――――
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K 7109-1986
1 1
(S Ve) 51.26)
( 205 670.08
r 202 800
Ve 51.26
.0019 8
(dB) 10 log 17.03 (dB)
(b) 2:プラスチック用マイクロメータのSN比
M 20 060.00
r 202 800.00
3613242
ST 19 9412 19 9532 20 2022
18
198 046.50
19 6722 120 4392 1212132 361324 2
SM
6 18
197 891.40
( 119 672 130 121 313 130) 2
S
202 800.00
197 890.10
SMres SM S 197 8914.197 8901.
.130
Se ST SM 198 0465.197 8914.
155.10
Se
Ve 15 10.33
SN比
1
(197890.10 10.33)
202800
10.33
.00945
(dB) 10 log 10.24(dB)
分散分析を行った結果は,附属書2表8のとおりである。
附属書2表8 分散分析表
要因 f A1 A2
S V S V
戀 1 205 670.08 205 670.08 197 890.10 197 890.10
Mres 1 26.70 26.70 1.30 1.30
e 15 768.89 51.26 155.10 10.33
計 17 206 465.67 198 046.50
(5) N比の比較を行う。
A1のSN比 0.019 8=−17.03 (dB)
A2のSN比 0.094 5=−10.24 (dB)
以上よりA2のほうがSN比が高い。
手順2 計測の誤差の経済性評価を行う。
(1) 比例定数kを求める。
――――― [JIS K 7109 pdf 14] ―――――
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K 7109-1986
品物を不合格又は手直しした場合の費用 10
k
(寸法許容差) 2 40 2
.0006 25
(2) 計測の誤差による損失を求める。
A1のマイクロメータL1=k 0.006 25×51.26
=0.320(円/個)
A2のマイクロメータL2=k 0.006 25×10.33
=0.065(円/個)
(3) 計測にかかわる総損失を求める。
ここでは1日の測定時間を41時間とした。
計測コスト=賃金×1日の測定時間×1年間の日数
=3 000×41(時間)×250=187 500(円)
計測器のコスト A1: 10 000円(1年間当たり : 購入価格の21とした)
A2: 15 000円(1年間当たり : 購入価格の21とした)
1年間の生産個数 135万個
総損失L (T) 1=10 000+187 500+0.320×1 350 000
=629 500(円/年)
L (T) 2=15 000+187 500+0.065×1 350 000
=290 250(円/年)
(4) 計測にかかわる総損失を比較し,小さいほうを採用する。
L (T) 1−L (T) 2=339250(円/年)
1年間当たりプラスチック用マイクロメータ (A2) のほうが約34万円損失が少ない。
6. 総合した誤差の決定 最適な計測方法を選定したら,実物の成形品の計測を行う。このとき,標準を
使って計測器を校正したときの誤差,実物成形品を計測した誤差を加えたものが最終的に総合した誤差と
なる。
例 : プラスチック用マイクロメータの総合した誤差を求める。
各手順で求めた誤差を総合する。
21 1 1
4
1 2
1 1
4
.0113 7 .0094 5
8.8 (m)
ここに, 標準を測定した場合のSN比
実際の品物を測定した場合のSN比
標準の誤差(ここでは小さいので考慮に入れない。)
プラスチック用マイクロメータの最終的な総合誤差は,約±9
――――― [JIS K 7109 pdf 15] ―――――
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JIS K 7102:1981の国際規格 ICS 分類一覧
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