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X 6272-1992
図12 ラベル領域
8.4 機械的特性 ここで規定する機械的特性は,使用環境条件ですべての条件を満足しなければならな
い。
8.4.1 材料 ケースは,この規定を満足するものであれば,材料を問わない。
8.4.2 質量 光ディスクを除いたケースの質量は,50gを超えてはならない。
8.4.3 端部のひずみ カートリッジは,附属書Aに規定の端部のひずみ試験を満足しなければならない。
8.4.4 可とう性 カートリッジは,附属書Bに規定の可とう性試験を満足しなければならない。
8.4.5 シャッタ開閉力 シャッタを開くのに必要な力は,1.5N以下とする。
9. ディスクの寸法,機械的特性及び物理的特性
9.1 ディスクの概要 ディスクは,その一面にハブを取り付け,他面に記録層がある円盤状の基板から
なる。記録層は,保護層によって環境の影響から保護する。基板のフォーマット領域は,基板を通して記
録層に光ビームを集光できるように透明とする。円形のハブは,記録層の反対側の中心に取り付ける。ハ
ブは,駆動軸と係合し,ディスクの半径方向の位置合わせ及びハブの吸着力を発生する。
――――― [JIS X 6272 pdf 21] ―――――
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X 6272-1992
9.2 ディスクの基準軸及び基準面(図13参照) 基準面Pは,駆動軸に垂直な平面とする。ハブの諸寸
法は,基準面Pを基準とする。基準軸Aは,ハブの中心を通り,基準面Pに垂直な軸とする。
図13 ハブの寸法及びクランプゾーン
05.0
9.3 ディスクの寸法 ディスクの寸法は,測定環境条件で測定する。ディスクの直径は, 860. mmと
する。厚さは,面振れを含めず,ハブがない状態で1.4mmを超えてはならない。ハブが付いていないディ
スクの中心穴の直径 (D4) は,6.0mm以上とする。
9.3.1 ハブの寸法(図13参照) ハブの中心穴の直径 (D5),外径 (D6),ディスク面からの高さ (h1),デ
ィスク面からの磁性面の位置 (h2),基準面から中心穴上部までの高さ (h3) 及び中心穴の高さ (h4) は,次
のとおりとする。
.00012
D5 .4004 mm
02.0
D6 150. mm
02.0
h1 2.1 mm
015
h2 2.1.0 mm
h3≧0.8mm
h4≧0.15mm
中心穴の内部の角には,45°で0.2±0.1mmの面取り (c1) を付けるか又は半径R15=0.2±0.1mmの曲率
とする。ハブの外部の角には,45°で0.4±0.1mmの面取り (c2) を付けるか又は半径R16=0.4±0.1mmの
曲率とする。ディスクをクランプするための磁性体の外径 (D9) 及び内径 (D10) は,次のとおりとする。
D9≧13.0mm
――――― [JIS X 6272 pdf 22] ―――――
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X 6272-1992
D10≦6.0mm
9.3.2 クランプゾーン及びハブの吸着力(図13参照) クランプゾーンの外径 (D7) 及び内径 (D8) は,
次のとおりとする。
D7≧21.0mm
D8≦16.0mm
ハブの吸着力は,附属書Kによって測定したとき,3.04.5Nとする。
9.4 機械的特性 ここで規定する機械的特性は,使用環境条件で満足しなければならない。
9.4.1 ディスクの材料 ディスクの材料は,この規格の条件を満足するならば材質を問わない。
9.4.2 ディスクの質量 ディスクの質量は,24.0g以下とする。
9.4.3 慣性モーメント ディスクの慣性モーメントは,0.020g・m2以下とする。
9.4.4 動釣合い ディスクの動釣合いは,0.006g・m以下とする。
9.4.5 軸方向の振れ ディスクの軸方向の振れは,記録層の軸方向の変位で規定する。振れは,基板の厚
みや屈折率のばらつき及び基準面Pからの入射面のずれによって生じる。基準面Pに対する記録層の公称
位置は,基板の公称厚さによる。フォーマット領域での基準面Pに垂直な方向の記録層の公称位置からの
ずれは,30Hzまでのどの回転周波数に対しても±0.22mm以下とする。
9.4.6 軸方向の加速度 附属書Cに示すディスクの軸方向の最大許容エラー量 (emax) は,回転周波数30
±0.3Hzで回転しているとき,基準サーボでサーボがかかった状態で±1.0 下とする。このとき,モ
ータの定常的な外乱は,無視する。この測定は,次の伝達関数 (Hs) をもつサーボ系又は30Hz100kHz
の帯域で,| 1+Hs | が示す値の±20%以内の値をもつ | 1+H | のサーボ系による。このとき,ディスクの
面振れによる軸方向の加速度は,10m/s2以下とする。
3i
2 1
1 0 0
Hs i
3 i i
1
3 0
ここに, 2
0
870 Hz
2
i 1
9.4.7 半径方向の振れ フォーマット領域でのトラックの半径方向の振れは,基準軸Aに対するトラッ
クの偏心とし,屈折率の変動によって生じる偏心の効果も含む。半径方向の最大及び最小の振れ幅は,回
転周波数30.0±0.3Hzで回転しているとき,50 下とする。
9.4.8 半径方向の加速度 附属書Cに示すディスクの半径方向の最大許容エラー量 (emax) は,回転周波
数30.0±0.3Hzで回転しているとき,基準サーボでサーボがかかった状態で±0.15 下とする。このと
き,モータの定常的な外乱は無視する。この測定は,次の伝達関数 (Hs) のサーボ系又は30Hz100kHz
の帯域で,| 1+Hs | が示す値の20%以内の値をもつ | 1+H | のサーボ系による。ディスクの半径方向の加
速度は,3m/s2以下とする。
3i
2 1
1 0 0
Hs i
3 i i
1
3 0
ここに, 2
――――― [JIS X 6272 pdf 23] ―――――
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0
1230 Hz
2
i 1
9.4.9 チルト ディスクのチルトは,入射面上の1mm径の面積で平均した入射面の垂線と基準面Pの垂
線との角度とし,フォーマット領域で5mrad以下とする。
9.5 光学的特性
9.5.1 屈折率 フォーマット領域での基板の屈折率は,1.461.60とする。
9.5.2 厚さ 基板の厚さ (t) の公称値は,フォーマット領域で使用する基板の屈折率から次の式によって
算出した値とし,その許容値は±0.050mmとする。
n3 n2 .0265
t mm .0509
n2 1 n2 .0593
ここに, n : 屈折率
9.5.3 複屈折 基板の複屈折の効果は,23.2に示す基準駆動装置のチャネル2の信号のアンバランスに含
める。
9.5.4 反射率 7.2に規定の波長での書換形ディスク及び低反射率全面エンボス形ディスクの反射率 (R)
は,0.140.29とする。高反射率全面エンボス形ディスクの反射率 (R) は,0.5以上とする(附属書R参
照)。
反射率 (R) の公称値は,附属書Fに示す制御データのバイト3及びバイト19によって規定する。
実際の反射率の値 (Rm) は,基準駆動装置の集束ビームと波長で測定する。その測定は,グルーブがな
い未記録部分,例えば,15.2.1に示す最内周のグルーブがないイニシャルゾーン又は13.7に示す各セクタ
のODFとする。反射率 (Rm) は,公称値に対して±12%とする(附属書R参照)。
10. カートリッジ及び駆動装置のインタフェース
10.1 クランプ方法 カートリッジを駆動装置に差し込むと,ケースのシャッタが開きモータ駆動軸がデ
ィスク中心穴に入る。ディスクは,ハブの中心にある磁性体及び駆動軸に装着されている磁石によって生
じるハブの吸着力で駆動軸に保持する。ディスクの半径方向の位置決めは,ハブの中心軸合わせ機能によ
る。ディスクの軸方向の位置決めは,駆動軸のターンテーブルによってディスクのクランプゾーンを支え
ることによる。
10.2 ハブの吸着力 駆動軸とハブとの吸着力は,5N以下とする。
10.3 キャプチャシリンダ(図14参照) キャプチャシリンダは,駆動軸をハブに挿入するとき,駆動軸
がハブの中心穴をとらえ得るハブ中心穴の存在空間とする。シリンダの寸法は,ケースの内部の空間での
ディスクの許容遊び量を規定する。シリンダの位置は,駆動装置のアライメント及び位置決め用のピンの
位置による。シリンダの底面は,基準面Zに平行で,Zからの距離 (L57) にあり,さらに,シリンダの上
部は,基準面Zからの距離 (L58) になければならない。シリンダの直径 (R17) 及びシリンダの中心位置の
公称値 (L29,L32) は,次のとおりとする。
L29=40.0±0.2mm
L32=27.0±0.2mm
L57≧0.7mm
L58≦2.3mm
――――― [JIS X 6272 pdf 24] ―――――
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R17≦1.4mm
10.4 使用環境条件でのディスクの位置(図14参照) ディスクが使用状態にあるとき,ディスクの基準
面Pの位置は,ケースの基準面Zから距離 (L59) とする。その回転軸は,半径 (R18) の円の中にあり,そ
の中心位置の公称値 (L29,L32) は,次による。
L29=40.0±0.2mm
L32=27.0±0.2mm
L59=2.4±0.1mm
R18≧0.1mm
使用状態で回転周波数30Hzを保つためのディスクにかかるトルクは,0.01N・m以下とする。
図14 キャプチャシリンダ及び使用環境条件でのディスクの位置
第3章 フォーマット
11. トラックの一般事項
――――― [JIS X 6272 pdf 25] ―――――
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JIS X 6272:1992の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 10090:1992(MOD)