JIS X 6272:1992 ９０　ｍｍ書換形及び再生専用形光ディスクカートリッジ

                                                                                    X 6272-1992

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•  第1章 一般事項・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 適合性及び規定・・・・[1]
•  3. 引用規格・・・・[2]
•  4. 用語の定義・・・・[2]
•  5. カートリッジの概要・・・・[3]
•  6. 環境及び安全性・・・・[3]
•  7. 基準駆動装置・・・・[4]
•  第2章 機械的特性及び物理的特性・・・・[6]
•  8. ケースの寸法,機械的特性及び物理的特性・・・・[6]
•  9. ディスクの寸法,機械的特性及び物理的特性・・・・[19]
•  10. カートリッジ及び駆動装置のインタフェース・・・・[22]
•  第3章 フォーマット・・・・[23]
•  11. トラックの一般事項・・・・[23]
•  12. トラックフォーマット・・・・[24]
•  13. セクタフォーマット・・・・[24]
•  14. 記録符号・・・・[26]
•  15. 情報ゾーンのフォーマット・・・・[27]
•  16. データゾーンのフォーマット・・・・[29]
•  17. 書換ゾーンの欠陥管理・・・・[33]
•  第4章 エンボス特性・・・・[36]
•  18. エンボス特性の測定方法・・・・[36]
•  19. グルーブ関連信号・・・・[37]
•  20. ヘッダ信号・・・・[39]
•  21. エンボスデータフィールド信号・・・・[40]
•  第5章 記録層の特性・・・・[41]
•  22. 記録層の測定方法・・・・[41]
•  23. 光磁気特性・・・・[42]
•  24. 記録特性・・・・[43]
•  25. 消去特性・・・・[43]
•  第6章 ユーザデータの特性・・・・[44]
•  26. ユーザデータの測定方法・・・・[44]
•  27. セクタの最低保証品質・・・・[44]
•  28. データ交換の必要条件・・・・[45]
•  附属書A(規定) カートリッジのひずみ量測定方法・・・・[46]

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X 6272-1992

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•  附属書B(規定) カートリッジの可とう性測定方法・・・・[47]
•  附属書C(参考) トラックの振れ量の測定方法・・・・[49]
•  附属書D(規定) IDフィールドのCRC・・・・[52]
•  附属書E(規定) セクタのデータフィールドのフォーマット・・・・[53]
•  附属書F(規定) 制御ゾーンの内容・・・・[56]
•  附属書G(参考) 代替セクタを使用するときのガイドライン・・・・[63]
•  附属書H(規定) 性能指数の測定方法・・・・[64]
•  附属書J(参考) 再生,記録及び消去パワー・・・・[65]
•  附属書K(規定) ハブ吸着力の測定方法・・・・[66]
•  附属書L(参考) 使用環境条件の導出方法・・・・[68]
•  附属書M(規定) 空気清浄度クラス100000・・・・[71]
•  附属書N(規定) 基準面に対するカートリッジの位置・・・・[72]
•  附属書P(参考) 輸送条件・・・・[73]
•  附属書Q(参考) オフィス環境・・・・[74]
•  附属書R(規定) 信号特性が緩和できるゾーン・・・・[75]
•  附属書S(参考) 基準ディスク(記録パワー校正用)・・・・[76]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                             X 6272-1992

90mm書換形及び再生専用形光ディスクカートリッジ90mm Rewritable and read only optical disk cartridgesfor information interchange

日本工業規格(日本産業規格)としてのまえがき
この規格は,1992年に第1版として発行されたISO/IEC 10090 (Information technology-90mm optical disk
cartridges, rewritable and read only, for data interchange) を翻訳し,原国際規格の様式によって作成した日本工
業規格であるが,規格の名称を“90mm書換形及び再生専用形光ディスクカートリッジ”とし,規定内容
の一部を我が国の実情に即して変更した。
なお,この規格で点線の下線(    )を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。
                                       第1章 一般事項

1. 適用範囲

 この規格は,次の事項について規定する。
− 適用試験及び基準駆動装置の条件
− データ処理システム間の互換性を保証するための光ディスクカートリッジの機械的特性及び物理的特
    性
− 再生専用のエンボスデータ及びユーザ記録データの記録フォーマット
− エンボスデータの特性
− ユーザ記録データの光磁気特性
− データ交換のためのデータ品質
  ボリューム及びファイル構造の規格と共に,この規格は,データ処理システム間の完全な互換性を与え
るものである。互換性とは,誤りなくデータを記録,再生及び消去できる機能をいう。

2. 適合性及び規定

2.1   適合性 この規格で規定するすべてを満足するならば,その90mmの光ディスクカートリッジは,
この規格に適合とする。
  附属書Rにこの規格で規定する信号特性を満足するディスクゾーン及びこれらの仕様を緩めることがで
きるゾーンを示す。
  この規格に対応する駆動装置は,ここで規定する使用環境条件で,この規格に適合するすべての光ディ
スクカートリッジへの記録再生ができなくてはならない。
  この規格に適合する光ディスクカートリッジの特定領域だけを受け入れる駆動装置は,この規格に適合

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X 6272-1992
しないものとする。
2.2   規定及び定義
2.2.1  数値表示
− 測定した値は,対応する規定値に対して有効数字に丸めることとする。
                      01
                     .002
      すなわち, .126.0 という規定値は,1.235以上1.275未満の測定値は許容する。
− 16進数は,末尾にhを付けて表記する。
− ビットの値は,0及び1とする。
− 2進数及びビットの組合せの数値については,0及び1で表す。
− 2進数及びビットの組合せの数値については,左に最上位ビットを示す。
− 2進数の負の値は,2の補数で表す。
− 各フィールドのデータは,最上位バイト(バイト0)を最初に記録する。各バイトの中では,最上位
    ビット(8ビットバイトの7番目)を最初に記録し,この規定は,ECC回路のデータ入出力にも適用
    する。
2.2.3  略語
               AM  : アドレスマーク
               CCS  : 複合連続トラッキングサーボ方式
              CRC  : 巡回冗長検査
              DDS  : ディスク定義セクタ
              DMA  : 欠陥管理領域
               ECC  : 誤り訂正符号
               FA1  : 機能領域1
               FA2  : 機能領域2
               LSB  : 最下位バイト
              MSB  : 最上位バイト
              ODC  : 光ディスクカートリッジ
              ODF  : オフセット検出フィールド
                PA  : ポストアンブル
               PDL  : 1次欠陥管理表
               PLL  : 位相同期回路
         RLL (2,7)  : ランレングス符号
               SDL  : 2次欠陥管理表
                SM  : セクタマーク
              VFO  : VFO制御領域

3. 引用規格

 この規格の引用規格を,次に示す。
    IEC 950 : 1991 Safety of information technology equipment, including electrical business equipment

4. 用語の定義

4.1   ケース 光ディスクを保護する封入箱。
4.2   CRC データの誤り検出方法。

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                                                                                              3
                                                                                    X 6272-1992
4.3   エンボスマーク 光磁気の技法では記録内容を変更することができないマーク。
4.4   入射面 光ビームが最初に入射する光ディスクの表面。
4.5   誤り訂正符号 (ECC)    データを構成するビットの中に誤りがあったとき,それを検出できるような
規則で構成された冗長符号。
4.6   フィールド セクタの中の指定された領域。特定の種類に属するデータのために用いる。
4.7   フォーマット ディスク上の情報の配置又は並び。
4.8   グルーブ トラック位置決め用の溝のうち,入射面に近い方の溝。
4.9   インターリーブ バースト誤りによって影響を受けないように,データの単位に物理的な不連続を
与えるプロセス。
4.10 カー回転 光磁気効果による記録層からの反射光ビームの偏光面の回転。
4.11 ランド トラック位置決め用の溝のうち,入射面から遠い方の溝。
4.12 マーク 磁区,穴,へこみ,膨らみ,その他光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。マー
クは,ディスクのデータを表す。
    参考1. セクタ記述に用いるマークは,ここで定義するマークと異なる。
4.13 光ディスク 光ビームによってデータを記録できる記録層をもつ平らな回転円盤(以下,ディスク
という。)。
4.14 光ディスクカートリッジ ディスク及びそれを保護するケースからなるデバイス(以下,カートリ
ッジという。)。
4.15 偏光 光ビームの偏光方向は,光ビームの電気ベクトルの方向と一致していること。
    参考2. 偏光面は光ビームの伝搬方向と電気ベクトルを含む面と一致する。光ビームの伝搬方向から
            見て電気ベクトルの終端が時計回りで長円を示す偏光を右回転偏光という。
4.16 記録層 光ビームによってデータを記録する層。
4.17 リードソロモン符号 バースト又はバーストと強い相関をもつエラーの訂正に適しているエラー検
出符号及びエラー訂正符号。
4.18 書換形光ディスク 光ビームでデータを書き換えることができる領域をもつディスク。
4.19 セクタ アクセスできるアドレス指定の最小単位の情報トラックの部分。
4.20 基板 光ビームが透過して記録層に入射するディスク構成層。
4.21 トラック ディスク円周上のデータが記録できる360度分の経路。
4.22 ゾーン ディスクの環状領域。

5. カートリッジの概要

 カートリッジは,ディスクをケースに封入したもので,ケースにはヘッドアク
セス窓を設け,ディスク面はシャッタで覆う構造とする。シャッタは,カートリッジを駆動装置に差し入
れたとき,自動的に開く構造とする。
  ディスクは,一面だけに記録可能とする。データの記録及び消去は,光磁気効果を用いてディスクの記
録層上の磁化領域に焦点を結ぶ光ビームによって行う。
  ディスクには,ディスクの一部又は全部に製造時に形成する再生専用のエンボス領域をもつことができ
る。このデータは,あらかじめ形成したピットによって生じる光ビームの回折現象を用いて再生する。

6. 環境及び安全性

6.1   環境条件

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