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X 6272-1992
6.1.1 測定環境 測定環境は,規定がない限り,カートリッジの近傍で測定し,次のとおりとする。
温度 23±2℃
相対湿度 4555%
大気圧 60106kPa
空気清浄度 クラス100000(附属書M参照)
カートリッジの中又はディスク上に結露が生じてはならない。カートリッジは,測定前に,48時間以上
測定環境に放置する。ディスク表面は,ディスク製造者の条件によって清浄にしておくことを推奨する。
6.1.2 使用環境 使用環境は,カートリッジの近傍で測定し,次のとおりとする。測定環境を満足したカ
ートリッジは,使用環境でデータの互換性を保証しなくてはならない。
温度 550℃
相対湿度 385%
絶対湿度 130g/m3
大気圧 60106kPa
最大温度変化率 10℃/h
最大相対湿度変化率 10%/h
空気清浄度 オフィス環境(附属書Q参照)
最大磁界強度(光ビーム照射時) 32 000A/m
最大磁界強度(光ビーム非照射 48 000A/m
時)
カートリッジの中又はディスク上に結露が生じてはならない。カートリッジは,使用環境条件を外れて
保管した場合,使用前に2時間以上使用環境に放置する(附属書L参照)。
6.1.3 保存環境 保存環境は,次のとおりとする。
温度 −10+50℃
相対湿度 390%
絶対湿度 130g/m3
大気圧 60106kPa
最大温度変化率 15℃/h
最大相対湿度変化 10%/h
率
空気清浄度 オフィス環境(附属書Q参照)
最大磁界強度 48 000A/m
カートリッジの中又はディスク上に結露を生じてはならない。
6.1.4 輸送条件 この規格では規定しないが,附属書Pに従うことを推奨する。
6.2 温度衝撃 カートリッジは,駆動装置に着脱するとき,20℃の温度衝撃に耐えなければならない。
6.3 安全性 カートリッジ及びその構成部分は,IEC 950の要求を満足しなければならない。
6.4 燃焼性 カートリッジは,IEC 950に規定のHBと同等以上の材料とする。
7. 基準駆動装置
基準駆動装置は,ここで規定する記録特性,再生特性及び消去特性を測定するために
用いる駆動装置で,ここでは,これらの特性を測定するために必要となる基準駆動装置の特性について規
定する。
――――― [JIS X 6272 pdf 6] ―――――
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X 6272-1992
7.1 光学系 記録特性,再生特性及び消去特性を測定するために用いる基準駆動装置の光学系の基本構
成は,図1に示すとおりとする。図1の光学系構成と同じ作動をする限り,基準駆動装置に用いる部品及
び部品の配置は問わない。ディスクの入射面からの反射光は,測定の精度に影響を与えないように光学系
の構成を配慮しなくてはならない。
ディスクの偏光変化が存在しないとき,偏光ビームスプリッタJは,検出器K1の信号と検出器K2の信
号が等しくなるようにする。この場合の偏光方向をニュートラル偏光方向という。位相補償器Iは,光学
系をニュートラル偏光方向とそれと直角方向の偏光との間の位相の遅れを2.5°以下に調整しなければな
らない。この位相補償器の位置は,中立位置という。
位相補償器は,狭帯域信号対雑音比の測定のために用いる(24.2参照)。
ビームスプリッタJは,100以上のP-S強度反射比をもたなければならない。
ビームスプリッタEのFからHへのニュートラル偏光方向の反射率Rpの公称値は0.30とする。ニュー
トラル偏光方向と直角方向の偏光の反射率Rsの公称値は0.95とする。Rsの実際の値は,0.90以上とする。
反射率がRp'及びRs'となるビームスプリッタをもつ駆動装置で光磁気信号のアンバランスを測定した場
合,測定値は,次の係数を乗じて補正をしなければならない。
Rs Rp
Rp Rs
チャネル1の出力は,K1とK2の光検出器の電流値の和とし,エンボスマークの再生に用いる。
チャネル2の出力は,2個の光検出器の電流値の差とし,光磁気効果によるユーザ記録マークの再生に
用いる。
図1 基準駆動装置の光学系
――――― [JIS X 6272 pdf 7] ―――――
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X 6272-1992
7.2 光ビーム 光ビームは,次の特性をもつ。
(a) 波長 ( 780 15
10 nm
82515
10 nm
(b) 波長 ( ‰ 椰 ンズの 780nmのとき,
開口数 (NA) の比
.1475 .0035 m
NA
825nmのとき,
.1560 .0040 m
NA
1 D
(c) レンズの開口 (D) と eで
2 ≦0.1
W
の光ビーム直径 (W) の比
2
(d) 波面収差(記録層にて) ≦
180
(e) 偏光方向 トラックに対して平行
(f) 消光比 ≦0.01
消光比は,検光子を180度以上回転させたとき,測定される光強度の最大値と最小値の比とする。
(g) 光パワー,パルス幅及び磁界については,18.2.2,22.2.2,22.3,22.4,26.2.2による(附属書S参照)。
7.3 再生チャネル 2個の再生チャネルは,記録層のマークからの信号の再生に用いる。チャネル1はマ
ークの光ビームの回折現象によってエンボスマークの再生に用い,チャネル2はマークの光磁気効果によ
る光ビームの偏光回転によってユーザ記録マークの再生に用いる。チャネル1及びチャネル2の光検出器
の後の再生信号増幅器は,100kHz11.6MHzで±1dBの平たんな応答性とする。
7.4 トラッキング 基準駆動装置のトラッキングチャネルは,光ビームの軸方向及び半径方向のサーボ
制御するためにトラッキングエラー信号を検出する。軸方向のトラッキングエラー信号を作る方法は,規
定しない。
半径方向のトラッキングエラー信号は,トラッキングチャネルの2分割検出器によって検出する。2分
割検出器の分割線方向は,検出器上のトラック像と平行になるように配置する。光ビームの焦点のトラッ
ク溝に対する追随の精度については,18.2.4による。
7.5 ディスクの回転 駆動軸は10.4で規定するように,ディスクの回転軸に位置する。ディスクの回転
周波数は,30.0±0.3Hzとする。回転方向は,対物レンズからみて反時計回りとする。
第2章 機械的特性及び物理的特性
8. ケースの寸法,機械的特性及び物理的特性
8.1 ケースの概要 ケースの外観及び各部の名称は,図2のとおりとする。
A面及びB面には,ヘッドアクセス窓を設ける。A面側は,光ヘッドアクセス用とし,B面側は,磁界
を与える磁気ヘッドアクセス用とする。その窓部は,シャッタで覆われ,カートリッジを駆動装置に差し
入れたときにシャッタが開き,取り出したときにシャッタが閉じる構造とする。ケースには,誤挿入防止
機構,書込み禁止機構及び自動交換用グリッパ機構を設ける。
――――― [JIS X 6272 pdf 8] ―――――
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図2 ケース
8.2 ケースの基準 ケースの基準は,三つの直交する基準面X,Y及びZとする。基準面Zは,ケース
A面上に設けた4か所 (S1S4) からなる平面とする。三つの基準面は,位置決め穴の中心で直交し,基準
面Xは,位置決め穴及びアライメント穴の中心を結ぶ線上からなる(附属書N参照)。
8.3 ケースの寸法 ケースの寸法は,測定環境条件で測定する。
8.3.1 外形寸法(図3参照) ケースの長さ (L1) は,次による。
L1=94.0±0.3mm
ケースの基準面Xからの距離 (L2,L3) は,次による。
L2=76.0±0.2mm
L3=18.0±0.2mm
ケースの幅 (L4) は,次による。
04.0
L4 900. mm
――――― [JIS X 6272 pdf 9] ―――――
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X 6272-1992
ケースの基準面Yからの距離 (L5,L6) は,次による。
L5=85.0±0.3mm
L6=5.0±0.1mm
上面の角部の半径 (R1) は,次による。
R1=1.5±0.2mm
下面の二つの角部のそれぞれの半径 (R2) は,次による。
R2=2.0±0.2mm
ケースの左右の端部から拡張ゾーンまでの距離 (L7) は,次による。
L7≧8.6mm
ケースの厚さ (L8) は,次による。
L8=6.0±0.2mm
ケースの8か所の稜面の半径 (R3) は,次による。
2.00
R3 3.0 mm
8.3.2 位置決め穴(図3参照) 位置決め穴の中心は,基準面X,Y及びZの交点とし,その直径 (D1) は,
次による。
006
D1 .360.0 mm
穴の深さ (L9) は,次による。
L9≧1.5mm
位置決め穴は,基準面Zからの距離 (L10) とし,貫通してはならない。
L10≧4.0mm
その直径は,D1以上とする。
位置決め穴の角部は,半径 (R4) で丸め,その値は,次による。
R4≦0.5mm
8.3.3 アライメント穴(図3参照) アライメント穴の中心は,基準面X上とし,基準面Yから次の距
離 (L11) は,次による。
L11=80.0±0.2mm
アライメント穴の形状は,長方形とし,その寸法 (L12,L13) は,次による。
006
L12 .360.0 mm
2.00
L13 4.4 mm
アライメント穴の深さは,位置決め穴の深さの規定 (L9,L10) による。
アライメント穴の角部は,半径 (R4) で丸める。
――――― [JIS X 6272 pdf 10] ―――――
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JIS X 6272:1992の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 10090:1992(MOD)