JIS C 5402-1-3:2002 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－３部：一般検査―試験１ｃ：電気的接触長
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日本産業規格 プラグ・ソケット装備．コネクタを 1ページ あたりに 20規格 表示中：総数 80
JIS C 5402-7-2:2019 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第７－２部：衝撃試験（可動形コネクタ）―試験７ｂ：機械的衝撃強さ
JIS C 5402-7-2:2019の規格概要 「JISC5402- [...]
JIS C 5402-12-4:2016 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１２－４部：はんだ付け試験―試験１２ｄ：はんだ耐熱性，はんだ槽法
JIS C 5402-12-4:2016の規格概要 「JISC5402 [...]
JIS C 5402-15-6:2014 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－６部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ｆ：コネクタカップリング機構の効果
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JIS C 5402-11-10:2005 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１０部：耐候性試験―試験１１ｊ：低温
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JIS C 5402-1-4:2002 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－４部：一般検査―試験１ｄ：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ）
JIS C 5402-1-4:2002の規格概要 「JISC5402- [...]
JIS C 62197-1:2020 電子機器用コネクタ―品質要求事項―第１部：品目別通則
JIS C 62197-1:2020の規格概要 「JISC62197- [...]
JIS C 5402-12-5:2016 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１２－５部：はんだ付け試験―試験１２ｅ：はんだ耐熱性，はんだこて法
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JIS C 5402-15-8:2002 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－８部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ｈ：コンタクト保持機構，工具の使用に対する耐久性
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JIS C 5402-11-11:2005 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１１部：耐候性試験―試験１１ｋ：減圧
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JIS C 5402-2-1:2005 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－１部：導通及び接触抵抗試験―試験２ａ：接触抵抗―ミリボルトレベル法
JIS C 5402-2-1:2005の規格概要 「JISC5402- [...]
JIS C 8121-2-2:2009 ランプソケット類―第２－２部：プリント回路板ベースＬＥＤモジュール用コネクタに関する安全性要求事項
JIS C 8121-2-2:2009の規格概要 「JISC8121- [...]
JIS C 5402-12-6:2002 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１２－６部：はんだ付け試験―試験１２ｆ：自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止
JIS C 5402-12-6:2002の規格概要 「JISC5402 [...]
JIS C 5402-16-1:2014 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－１部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ａ：プローブダメージ
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JIS C 5402-11-12:2005 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１２部：耐候性試験―試験１１ｍ：温湿度サイクル
JIS C 5402-11-12:2005の規格概要 「JISC540 [...]
JIS C 5402-2-2:2005 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－２部：導通及び接触抵抗試験―試験２ｂ：接触抵抗―規定電流法
JIS C 5402-2-2:2005の規格概要 「JISC5402- [...]
JIS C 8121-2-3:2015 ランプソケット類―第２－３部：直管ＬＥＤランプソケットに関する安全性要求事項
JIS C 8121-2-3:2015の規格概要 「JISC8121- [...]
JIS C 5402-13-1:2015 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１３－１部：機械的動作試験―試験１３ａ：結合力及び離脱力
JIS C 5402-13-1:2015の規格概要 「JISC5402 [...]
JIS C 5402-16-2:2012 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－２部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｂ：リストリクテッドエントリ
JIS C 5402-16-2:2012の規格概要 「JISC5402 [...]
JIS C 5402-11-13:2005 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１３部：耐候性試験―試験１１ｎ：ガスタイト・無はんだラッピング接続
JIS C 5402-11-13:2005の規格概要 「JISC540 [...]