JIS B 0090-7:2012 光学素子及び光学システム用の製図手法―第7部:表面欠陥

JIS B 0090-7:2012 規格概要

この規格 B0090-7は、JIS B 0090の規格群は,製造及び検査に用いる製図における光学素子及び光学システムに対する設計上及び機能上の要求事項の表示方法について規定。

JISB0090-7 規格全文情報

規格番号
JIS B0090-7 
規格名称
光学素子及び光学システム用の製図手法―第7部 : 表面欠陥
規格名称英語訳
Preparation of drawings for optical elements and systems -- Part 7:Surface imperfections
制定年月日
2001年3月20日
最新改正日
2017年10月20日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

ISO 10110-7:2008(MOD)
国際規格分類

ICS

01.100.20, 37.020
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
2001-03-20 制定日, 2006-03-25 確認日, 2010-10-01 確認日, 2012-10-22 改正日, 2017-10-20 確認
ページ
JIS B 0090-7:2012 PDF [10]
                                                                                 B 0090-7 : 2012

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 用語及び定義・・・・[2]
  •  4 図面内の表示・・・・[2]
  •  4.1 一般・・・・[2]
  •  4.2 光学素子及び光学的組立品のための影響面積法・・・・[3]
  •  4.3 表示の位置・・・・[5]
  •  附属書JA(規定)段階数及び細分割したときの倍数因子の選択値・・・・[6]
  •  附属書JB(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[7]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS B 0090-7 pdf 1] ―――――

B 0090-7 : 2012

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,日本光学工業協会
(JOIA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべき
との申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS B 0090-7:2001は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
JIS B 0090の規格群には,次に示す部編成がある。
JIS B 0090-1 第1部 : 通則
JIS B 0090-2 第2部 : 材料欠陥−応力複屈折
JIS B 0090-3 第3部 : 材料欠陥−泡及び異物
JIS B 0090-4 第4部 : 材料欠陥−不均一性及び脈理
JIS B 0090-5 第5部 : 表面形状公差
JIS B 0090-6 第6部 : 偏心公差
JIS B 0090-7 第7部 : 表面欠陥
JIS B 0090-8 第8部 : 面の肌
JIS B 0090-9 第9部 : 表面処理及びコーティング
JIS B 0090-10 第10部 : 光学素子及び接合部品のデータ表示表
JIS B 0090-11 第11部 : 公差表示のないデータ
JIS B 0090-12 第12部 : 非球面
JIS B 0090-14 第14部 : 波面形状公差
JIS B 0090-17 第17部 : レーザ放射による損傷しきい値

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS B 0090-7 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
B 0090-7 : 2012

光学素子及び光学システム用の製図手法−第7部 : 表面欠陥

Preparation of drawings for optical elements and systems- Part 7: Surface imperfections

序文

  この規格は,2008年に第2版として発行されたISO 10110-7を基とし,技術的内容を変更して作成した
日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JBに示す。

1 適用範囲

  JIS B 0090の規格群は,製造及び検査に用いる製図における光学素子及び光学システムに対する設計上
及び機能上の要求事項の表示方法について規定している。
この規格は,個々の光学素子及び光学的組立品の有効範囲内にある表面欠陥を指示する表示方法につい
て規定する。
表面欠陥の許容水準は,外観的(美的)な影響だけでなく,画像及び照明の品質,光学素子の耐久性な
どの機能的な影響を考慮に入れて,決定することに注意しなければならない。
この規格は,コーティングの有無にかかわらず,仕上げされた光学素子の透過面及び反射面のいずれに
も適用する。また,光学的組立品にも適用する。許容できる表面欠陥は,部品又は光学的組立品のどの領
域に存在するかに応じて規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
ISO 10110-7:2008,Optics and photonics−Preparation of drawings for optical elements and systems−
Part 7: Surface imperfection tolerances(MOD)
なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS B 0090-1 光学素子及びシステム用の製図手法−第1部 : 通則
注記 対応国際規格 : ISO 10110-1,Optics and photonics−Preparation of drawings for optical elements
and systems−Part 1: General(IDT)
ISO 14997,Optics and photonics−Test methods for surface imperfections of optical elements

――――― [JIS B 0090-7 pdf 3] ―――――

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B 0090-7 : 2012

3 用語及び定義

  この規格に用いる主な用語及び定義は,次による。
表面欠陥の分類については,図1を参照。
3.1
局所的な表面欠陥(localized surface imperfections)
製造過程,製造後又は使用時に不適切な取扱いをしたことによって,光学表面,光学素子及び光学的組
立品の有効範囲内に発生した局所的な表面欠陥。
注記1 局所的な欠陥の例には,スクラッチ(scratches,鋭いきず),ぶつ(pits),きらきず(sleeks,
見る方向によってきらきら光るきず),擦りきず(scuffs,複数の,方向がそろった浅いきず)
がある。また,その例にはコーティング欠陥も含み,これらの用語の定義についてはISO
9211-1を参照。表面欠陥は,表面上及び表層に存在する。ISO 9802の用語を参照。光学的組
立品の接着層に含まれる泡,異物なども含む。
注記2 光学的組立品では,その中のいずれの面にも表面欠陥が発生する可能性がある。
ISO 14997の方法で観察できる表面欠陥
局所的な表面欠陥 縁の欠け 長いスクラッチ
スクラッチ ぶつ きらきず 擦りきず コーティング欠陥 泡・異物
図1−表面欠陥の分類
3.2
長いスクラッチ(long scratches)
長さが2 mm以上ある細い表面欠陥。
注記 長いスクラッチはその長さのために,同じ幅でより短いスクラッチよりも,光学性能に影響す
る傾向にある。
3.3
縁の欠け(edge chips)
光学素子の周縁部の局所的な欠陥。
注記 縁の欠けは,それが光学的な有効範囲外にある場合でも,光学素子の密封性を妨げ,散乱光の
原因となり,又はその箇所からひび割れが広がり,光学系の性能に有害な影響を与える可能性
がある。

4 図面内の表示

4.1 一般

  表面欠陥は,コード番号及び段階数で表示する。表面欠陥のコード番号は,5/である。また,光学的組
立品における表面欠陥のコード番号は,15/である。

――――― [JIS B 0090-7 pdf 4] ―――――

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B 0090-7 : 2012

4.2 光学素子及び光学的組立品のための影響面積法

4.2.1  表面欠陥
4.2.1.1 一般
表面の有効範囲内で許容できる局所的な表面欠陥の数及び寸法の図面表示は,
5/N×A
とする。また,光学的組立品における局所的な表面欠陥に対しての図面表示は,
15/N×A
とする。N×Aの形の表示において,Nは,最大許容寸法の局所的な表面欠陥が許される数であり,Aは,
最大許容欠陥の表面積の平方根(単位はmm)と等しい段階数である。Aの選択値は,表JA.1の第1列に
示す。
4.2.1.2 コーティング欠陥
必要な場合には,コーティング欠陥の許容水準は,局所的な表面欠陥とは分けて規定することができる。
表面の有効範囲内で許容できるコーティング欠陥の表示は,
CN'×A'
とする。
ここに, C : コーティング欠陥
N' : 最大許容欠陥の許容数
A' : 4.2.1.1で規定した段階数
である。
コーティング欠陥を含む表面欠陥の表示は,局所的な表面欠陥の表示に続けてセミコロンを挿入して,
5 又は 15/N×A;CN'×A'
とする。
コーティング欠陥を分けない表示の場合は,許容できる表面欠陥の表示は,
5 又は 15/N×A
の中に含む。
4.2.1.3 長いスクラッチ
表面の有効範囲内にある許容可能な長いスクラッチ(2 mm以上)の表示は,
LN''×A''
とする。
ここに, L : 長いスクラッチ
N'' : 許容される長いスクラッチの数
A'' : 段階数であり,スクラッチの最大許容幅(単位はmm)
である。
コーティング欠陥及び長いスクラッチを含む表面欠陥の表示は,局所的な表面欠陥(規定している場合
にはコーティング欠陥)の表示に続けてセミコロンを挿入して,
5 又は 15/N×A;CN'×A';LN''×A''
とする。
長いスクラッチ及びコーティング欠陥を分けない表示の場合は,許容される表面欠陥の表示は,
5 又は 15/N×A
の中に含む。

――――― [JIS B 0090-7 pdf 5] ―――――

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JIS B 0090-7:2012の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO 10110-7:2008(MOD)

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JIS B 0090-7:2012の関連規格と引用規格一覧