JIS B 0090-8:2013 光学素子及び光学システム用の製図手法―第８部：表面性状（粗さ及びうねり）

                                                                                 B 0090-8 : 2013

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 表面性状の表示方法・・・・[5]
•  4.1 一般・・・・[5]
•  4.2 つや消し面・・・・[6]
•  4.3 光学的平滑面・・・・[6]
•  5 製図における表記・・・・[7]
•  5.1 一般・・・・[7]
•  5.2 つや消し面の表記・・・・[7]
•  5.3 光学的平滑面の表記・・・・[8]
•  5.4 位置・・・・[10]
•  附属書A(参考)微小欠陥による光学的平滑面の規定・・・・[11]
•  附属書B(参考)表面性状と散乱特性との関係・・・・[12]
•  附属書C(参考)表面性状に関する要求事項の図示例・・・・[14]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[18]

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B 0090-8 : 2013

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,日本光学工業協会
(JOIA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべき
との申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS B 0090-8:2001は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS B 0090の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS B 0090-1 第1部 : 通則
    JIS B 0090-2 第2部 : 材料欠陥−応力複屈折
    JIS B 0090-3 第3部 : 材料欠陥−泡及び異物
    JIS B 0090-4 第4部 : 材料欠陥−不均一性及び脈理
    JIS B 0090-5 第5部 : 表面形状公差
    JIS B 0090-6 第6部 : 偏心公差
    JIS B 0090-7 第7部 : 表面欠陥
    JIS B 0090-8 第8部 : 表面性状(粗さ及びうねり)
    JIS B 0090-9 第9部 : 表面処理及びコーティング
    JIS B 0090-10 第10部 : 光学素子及び接合部品のデータ表示表
    JIS B 0090-11 第11部 : 公差表示のないデータ
    JIS B 0090-12 第12部 : 非球面
    JIS B 0090-14 第14部 : 波面形状公差
    JIS B 0090-17 第17部 : レーザ放射による損傷しきい値

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           B 0090-8 : 2013

光学素子及び光学システム用の製図手法−第8部 : 表面性状(粗さ及びうねり)

Preparation of drawings for optical elements and systems- Part 8: Surface texture; roughness and waviness

序文

  この規格は,2010年に第2版として発行されたISO 10110-8を基に,技術的内容及び構成を変更して作
成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  JIS B 0090の規格群は,製造及び検査に用いる製図における光学素子及び光学システムに対する設計上
及び機能上の要求事項の表示方法について規定している。
  この規格は,次の事項を規定する。
a) 光学素子の表面性状を指示する表示方法 表面性状は,統計手法によって実質的に表現できる表面の
    輪郭特性である。表面性状は,短波長成分である粗さと長波長成分であるうねりとに分けられる。
b) 主として研磨された光学面の仕様の表示方法
c) 測定表面から表面形状を差引くトレンド除去後の残差表面の特徴付けの方法及びその表示方法
  なお,表面形状を管理する規格はJIS B 0090-5及びJIS B 0090-12であり,この規格では規定しない。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 10110-8:2010,Optics and photonics−Preparation of drawings for optical elements and systems−
              Part 8: Surface texture; roughness and waviness(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0031 製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状の図示方法
      注記 対応国際規格 : ISO 1302,Geometrical Product Specifications (GPS)−Indication of surface texture
             in technical product documentation(IDT)
    JIS B 0090-1 光学素子及びシステム用の製図手法−第1部 : 通則

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B 0090-8 : 2013

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS B 0031によるほか,次による。
3.1
表面性状(surface texture)
  統計手法によって実質的に表現できる光学表面の輪郭特性。
    注記1 局所的な表面欠陥は,JIS B 0090-7で取り扱う。
    注記2 この規格は,輪郭特性である表面性状を扱うが,面領域の表面性状を測定できる装置が普及
            し,GPS規格群の整備も進んでいるため,一部,面領域の表面性状に関する記述も含む。
3.2
つや消し面(matt surface)
  表面性状の高さ変化が,光の波長よりもあまり小さくない光学面。
    注記1 つや消し面の表面性状の高さ変化は,通常,光の波長の1/10程度である。
    注記2 つや消し面は,通常,ガラス又は他の誘電体材料を研削又はエッチングすることによって作
            る。
3.3
光学的平滑面,鏡面(optically smooth surface)
  表面性状の高さ変化が,光の波長よりもかなり小さい光学面。
    注記1 光学的平滑面の表面性状の高さ変化は,通常,光の波長の1/100程度と小さいため,散乱光
            の量は少ない。
    注記2 光学的平滑面は,通常,研磨又は成型で作る。
3.4
微小欠陥(microdefect)
  光学的平滑面に存在する,断面曲線の平均線からのかい(乖)離が平滑面全体の標準偏差の2倍以上の
凹凸。
    注記 微小欠陥は,研磨中の誤った取り扱い及び汚れによる場合もあるが,通常は,不十分な研磨の
          後に残る穴(ぶつ,pits)である。広角度散乱の原因になるため,微小欠陥には注意する。微小
          欠陥は,表面上にほぼ一様に分布し,表面性状に関係する表面全体の特性であるため,JIS B
          0090-7で取り扱う表面欠陥とはみなさない。
3.5
基準線(reference profile)
  触針式粗さ測定機の触針が,基準案内に沿って運動するときの軌跡(JIS B 0651参照)。
3.6
測定断面曲線(total profile)
  縦軸及び横軸からなる座標系において,基準線を基にして得られたデジタル形式の測定曲線(JIS B 0651
参照)。
3.7
輪郭曲線フィルタ(profile filter)
  輪郭曲線を長波長成分と短波長成分とに分離するフィルタ(JIS B 0601参照)。図1参照。
    注記 粗さ曲線,うねり曲線及び断面形状を測定するために,触針式粗さ測定機では,3.83.10に示
          す3種類のフィルタを用いる(図1参照)。これらは全て,JIS B 0632に規定された振幅伝達特

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                                                                                 B 0090-8 : 2013
          性をもつが,カットオフ値が異なる。
3.8
λs輪郭曲線フィルタ(λs profile filter)
  粗さ成分とそれより短い波長成分との境界を定義するフィルタ(JIS B 0601参照)。図1参照。
3.9
λc輪郭曲線フィルタ(λc profile filter)
  粗さ成分とうねり成分との境界を定義するフィルタ(JIS B 0601参照)。図1参照。
3.10
λf輪郭曲線フィルタ(λf profile filter)
  うねり成分とそれより長い波長成分との境界を定義するフィルタ(JIS B 0601参照)。図1参照。
3.11
断面曲線(primary profile)
  測定断面曲線にカットオフ値λsの低域フィルタを適用して得られる曲線(JIS B 0651参照)。
    注記 呼び形状,サジッタ偏差及び回転非対称な表面形状偏差は,断面曲線に含まれないように,フ
          ィルタを適用する前に除去する。
3.12
粗さ曲線(roughness profile)
  カットオフ値λcの高域フィルタによって,断面曲線から長波長成分を遮断して得た輪郭曲線(JIS B 0601
参照)。図1参照。
3.13
うねり曲線(waviness profile)
  断面曲線にカットオフ値λf及びλcの輪郭曲線フィルタを順次かけることによって得られる輪郭曲線。λf
輪郭曲線フィルタによって長波長成分を遮断し,λc輪郭曲線フィルタによって短波長成分を遮断する(JIS
B 0601参照)。図1参照。
    注記 表面形状偏差のうち,回転対称なイレギュラリティの成分を除去することに相当する。表面形
          状偏差についてはJIS B 0090-5参照。
                               粗さ曲線                     うねり曲線
                    λs                           λc                          λf
                             図1−粗さ曲線及びうねり曲線の伝達特性

――――― [JIS B 0090-8 pdf 5] ―――――

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