この規格ページの目次
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B 0090-8 : 2013
附属書C
(参考)
表面性状に関する要求事項の図示例
参照番号 要求事項 図示例
C.1 光学的表面
− つや消し面
表面粗さ
− 一つの片側許容限界の上限値
− Rq≦2 μm
− 通過帯域 0.002 5−0.8 mm
− 筋目の方向 : 要求なし
C.2 光学的表面
− つや消し面
表面粗さ
− 一つの片側許容限界の上限値
− Rq≦2 μm
− 通過帯域の上限値 0.8 mm
− 筋目の方向 : 要求なし
C.3 光学的表面
− つや消し面
表面粗さ
− 両側許容限界
− 上限値 Rq≦2 μm
− 下限値 Rq=0.05 μm
− 通過帯域の上限値 5 mm
− 筋目の方向 : 要求なし
C.4 光学的表面
− 光学的平滑面
− 研磨等級 : 要求なし
− 表面粗さの許容値 : 要求なし
− 筋目の方向 : 要求なし
C.5 光学的表面
− 光学的平滑面
− 研磨等級 2
− 10 mm走査での微小欠陥80個未満
− 表面粗さの許容値 : 要求なし
− 筋目の方向 : 要求なし
C.6 光学的表面
− 光学的平滑面
− 研磨等級 3
− 10 mm走査での微小欠陥16個未満
表面粗さ
− 一つの片側許容限界の上限値
− Rq≦0.005 μm
− 通過帯域 0.002−1 mm
− 筋目の方向 : 要求なし
――――― [JIS B 0090-8 pdf 16] ―――――
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B 0090-8 : 2013
参照番号 要求事項 図示例
C.7 光学的表面
− 光学的平滑面
− 研磨等級 : 要求なし
表面粗さ
− 一つの片側許容限界の上限値
− Rq≦0.002 μm
− 通過帯域の上限値 1 mm
− 筋目の方向 : 要求なし
C.8 光学的表面
− 光学的平滑面
− 研磨等級 : 要求なし
表面粗さ
− 一つの片側許容限界の上限値
− Rq≦0.002 μm
− 通過帯域 0.002−1.0 mm
− 筋目の方向 : 要求なし
C.9 光学的表面
− 光学的平滑面
− 研磨等級 3
− 10 mm走査での微小欠陥16個未満
表面うねり
− 一つの片側許容限界の上限値
− Wq≦0.002 μm
− 通過帯域 0.08−2.5 mm
− 筋目の方向 : 要求なし
C.10 光学的表面
− 光学的平滑面
− 研磨等級 : 要求なし
表面パワースペクトル密度
− 一つの片側許容限界の上限値
− PSD≦1.0/f 2 (nm2×mm)
− 通過帯域 0.001−1 mm
− 筋目の方向 : 要求なし
C.11 光学的表面
− 光学的平滑面
− 研磨等級 : 要求なし
表面傾斜
− 一つの片側許容限界の上限値
− WΔq≦0.7 μrad
− 通過帯域 0.01−5 mm
− 筋目の方向 : 要求なし
C.12 光学的表面
− 光学的平滑面
− 研磨等級 : 要求なし
表面うねり
− 二つの片側許容限界の上限値
− Wq≦0.005 μm
− 通過帯域 0.01−5 mm
− 筋目は中心から放射状及び中心の周りに同心円状
――――― [JIS B 0090-8 pdf 17] ―――――
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B 0090-8 : 2013
参照番号 要求事項 図示例
C.13 光学的表面
− 光学的平滑面
− 研磨等級 4
− 10 mm走査での微小欠陥3個未満
表面粗さ
− 一つの片側許容限界の上限値
− Rq≦0.001 μm
− 標準通過帯域 0.002 5−0.08 mm
− 筋目の方向 : 要求なし
表面うねり
− 二つの片側許容限界の上限値
− Wq≦0.003 μm
− 標準通過帯域 0.08−2.5 mm
− 筋目は中心から放射状及び中心の周りに同心円状
表面傾斜
− 二つの片側許容限界の上限値
− WΔq≦1.0 μrad
− 標準通過帯域 0.08−2.5 mm
− 筋目は中心から放射状及び中心の周りに同心円状
参考文献
[1] JIS B 0601 製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状 : 輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラメ
ータ
注記 対応国際規格 : ISO 4287,Geometrical Product Specifications (GPS)−Surface texture: Profile
method−Terms, definitions and surface texture parameters(IDT)
[2] JIS B 0632 製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状 : 輪郭曲線方式−位相補償フィルタの特性
注記 対応国際規格 : ISO 11562,Geometrical Product Specifications (GPS)−Surface texture: Profile
method−Metrological characteristics of phase correct filters(IDT)
[3] JIS B 0651 製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状 : 輪郭曲線方式−触針式表面粗さ測定機の特性
注記 対応国際規格 : ISO 3274,Geometrical Product Specifications (GPS)−Surface texture: Profile
method−Nominal characteristics of contact(stylus) nstruments(IDT)
[4] ISO 25178-2,Geometrical product specifications (GPS)−Surface texture: Areal−Part 2: Terms, definitions
and surface texture parameters
[5] CHURCH, E.L., JENKINSON, H.A. and ZAVADA, J.M. Relationship between surface scattering and
microphotographic features. Opt.Eng. 1979, 18,pp. 125-36
[6] RODGERS, J.R. Slope error tolerances for optical surfaces. Presentation at OptiFab Conference, SPIE TD04-4,
May, 2007
[7] SCHORSCH, H. Zur Oberflhenqualitt von Glaspolituren und ihrer Beziehung zu den Bearbeitungszeichen
nach DIN 3140, Fachber. Oberfl. Tech. 1970, 8, pp. 151-158
[8] CROCE, P. and PROD'HOMME, L. Analyse des surfaces polies par la distribution spatiale de la lumire
diffuse. Opt. Commun. 1980, 35, pp. 20-24
――――― [JIS B 0090-8 pdf 18] ―――――
17
B 0090-8 : 2013
[9] CROCE, P. et PROD'HOMME, l. Sur les conditions d'application de la diffusion optique la caractrisation des
surfaces rugueuses. J. Opt. 1984, 15, pp. 95-104
[10] STOVER, J.C. Optical Scattering: Measurement and Analysis, McGraw-Hill, New York, 1990
[11] AIKENS, D.M., ROUSSEL, A. and BRAY, M. Derivation of preliminary specifications for transmitted
wavefront and surface roughness for large optics used in inertial confinement fusion, Proc. SPIE Monterey
SSLA conference, May 1995
[12] GOODMAN, J.W. Statistical Optics, John Wiley and Sons, Inc. New York, 1995
[13] HARVEY, J.R., KOTHA,A. Scattering effects from residual optical fabrication errors, Proc. SPIE, 1995,
2576,pp. 155-174
[14] BENNETT, J.M. and MATTSSON, L. Introduction to surface roughness and scattering. Optical Society of
America, 2nd Edition, Washington, 1999
[15] YOUNGWORTH, R.N. and STONE, B.D. Simple estimates for the effects of mid-spatial frequency surface
errors on image quality, Applied Optics. 2000, 39(13),pp. 2198-2209
[16] GALLAGHER, B. et al. An overview of power spectral density (PSD) alculations, Proc SPIE 5839-34,
2005,pp.206-216
[17] SHIBUYA, M. et al. Classification of undulated wavefront aberration in projection optics by considering its
physical effects, Optical Engineering. 2007,45(5),pp.053001-6
――――― [JIS B 0090-8 pdf 19] ―――――
18
B 0090-8 : 2013
B0
2
附属書JA
09
(参考)
0-
8 : 2
JISと対応国際規格との対比表
013
ISO 10110-8:2010 Optics and photonics−Preparation of drawings for optical
JIS B 0090-8:2013 光学素子及び光学システム用の製図手法−第8部 : 表面性状(粗
さ及びうねり) elements and systems−Part 8: Surface texture; roughness and waviness
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差異
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条
国際規格番 ごとの評価及びその内容 の理由及び今後の対策
号
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 の評価
3 用語及 用語及び定義 3 用語及び定義 変更 用語及び定義を,製品の幾何製品の幾何特性仕様(GPS)−表
び定義 追加 特性仕様(GPS)−表面性状の
面性状と用語及び定義を整合し,
規格群の定義に修正した。 利用者の利便性を改善するため。
ISO 10110-8の定期見直し時に改
正を要求する。
5 製図に 5.3.1定量的な規定 5.3.1 JISにほぼ同じ 追加 除去加工をしない場合の表記除去加工ではなく,成形によって
おける表 のない光学的平滑 を追加した。 光学的平滑面を加工する事例が増
記 面 えているため。ISO 10110-8の定期
見直し時に改正を要求する。
附属書C 表面性状に関する 附属書C JISにほぼ同じ 変更 参照番号C.11及びC.13のRΔq指定する通過帯域がうねりの領域
(参考) 要求事項の図示例 をWΔqに変更した。 であるため。ISO 10110-8の定期見
直し時に改正を要求する。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : ISO 10110-8:2010,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 追加·················· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更·················· 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD··············· 国際規格を修正している。
JIS B 0090-8:2013の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 10110-8:2010(MOD)
JIS B 0090-8:2013の国際規格 ICS 分類一覧
- 01 : 総論.用語.標準化.ドキュメンテーション > 01.100 : 工業製図 > 01.100.20 : 機械工学製図
JIS B 0090-8:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0031:2003
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―表面性状の図示方法
- JISB0090-1:2007
- 光学素子及びシステム用の製図手法―第1部:通則