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B 6210-2 : 2010
M1(続き)
番号 検査事項 許容値 測定値 測定器 測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
a1及びa2 :
円筒穴a1,a2及び円筒 穴ゲージ及 3.1,3.22,4.1,4.2,5.3,5.442,5.5,
外面b1の真円度* d≦125 : 0.007 5 びマイクロ 5.512.42,5.611.3,6.6及び6.7
(ISO 1101の18.3参 d>125 : 0.01 メータ又は
照) b1 : 適切な不確 検査を開始する前に,工作物定盤
1
− 主軸の繰出しに D≦300 : 0.01 かさの測定 上に取り付ける取付台下面が平らで
よる加工 300− コラム運動によ 直径が300増すごと ハウジングの中心線と直角であるこ
る加工 に0.005加える。 とを確かめる。
円筒穴a1及びa2の円 d≦125 : 0.01
2 筒度*(ISO 1101の d>125 : 0.015 加工の指示
18.4参照) 1) 二つの円筒穴a1及びa2の中ぐり
円筒穴a1と円筒外面 0.025 テストバー 並びに仕上げ削り。
3 b1との同心度(ISO 及び変位計 これらの穴は,中ぐり主軸を軸
1101の18.13参照) 方向に繰り出すことによって加
円筒外面b1,b2と円筒
コラムのW軸方向 工する。
穴a1,a2の基準軸との
運動300について 2) 円筒外面b1の旋削。
4
同軸度(ISO 1101の 0.04 面板に短い工具を取り付け,コ
18.13参照) ラム(W軸)の送りによって加工
加工面の平面度 直径D=300につい 直定規及び する。
5 (ISO 1101の18.2参 て 0.015 ブロックゲ 3) コラム又はラムを300送って円
照) ージ 筒外面b2を旋削する。工具は,
加工面cと円筒穴a1 直径D=300につい テストバー 適当な長さの支持台又は工具ホ
及びa2の基準軸との て 0.025 及び変位計 ルダを用いて面板に取り付ける。
6 直角度(ISO 1101の 又は水準器 4) 面削りスライドの自動送り又は
18.10参照) 及び特殊支 フライス削りによる面cの加工。
持台
注* 真円度及び円筒度の公差の定義は,ISO 1101を参照。規定した許容値は,半径に対する値であって,直径で
表現する場合は2倍する。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 36] ―――――
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B 6210-2 : 2010
検査事項 M2
フライス削り
a) コラムサドルのX軸自動送り,主軸頭のY軸方向自動送り及びコラムのW軸方向手動送りによる帯
状面A,C及びDのフライス削り。
b) コラムサドルのX軸自動送り,主軸頭のY軸方向手動送りによって,少なくとも約510 mmオーバ
ラップさせて2回行う面Bのフライス削り。
工作物の形状,寸法及び取付け(例)
L≦1 000については l=h=150
L>1 000については l=h=200
L(工作物の長さ又は二つの工作物の相対する面間の距離)=21×(コラムサドル又はコラムのX軸方向移動量)
注記 工作物材料 : 鋳鉄
図中の番号1及び2は,次の検査事項番号を示す。
番号 検査事項 許容値 測定値 測定器 測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
各ブロックの面Bの平面 0.02 定盤,変位 3.1,3.22,4.1,4.2,5.321,5.325及び5.5
度 計,又は三次
1
元座標測定 工作物は,検査を開始する前に,面Eが
機 平らになっていることを確かめる。
帯状面A,C及びDを含 測定長さ 直角定規及 工作物は,長さLが工作物定盤の中心の両
2 む面の相互の直角度並 100につい びブロック 端で均等になるようにコラムサドル又はコ
びに面Bに対する直角度 て0.02 ゲージ ラムのX軸方向運動と平行に取り付ける。
二つのブロックの高さH 0.03 ハイトゲー 運転しないすべての運動部品は,切削中は
3
ジ 締め付ける。
切削条件及び工具
a) 主軸端に適当な長さの工具アーバを取り付け,側エンドミルを使用。
b) 同じ工具による平面フライス削り
工具は,工具アーバに付けて研削し,主軸に取り付けたときの許容値は,次による。
1) 直径差(ISO 1101参照) ≦0.01
2) 振れ ≦0.02
3) 端面の振れ ≦0.03
――――― [JIS B 6210-2 pdf 37] ―――――
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B 6210-2 : 2010
9 数値制御による位置決め精度検査
この検査は,直進及び旋回軸の位置決めを数値制御で行う中ぐりフライス盤だけに適用する。
この検査を行うときには,特に環境条件,機械の暖機運転,測定方法,評価方法及び結果の表示方法は,
JIS B 6190-2による。
検査事項 P1
数値制御によるコラムサドル又はコラム運動(X軸)の位置決め精度
測定方法図
1 レーザ光源
2 干渉計
3 反射鏡
測定長さ L 測定値
許容値 500L≦500
1 000 2000
軸の両方向位置決めの正確さ* A 0.014 0.020 0.022
軸の一方向位置決めの繰返し性*R↑又はR↓ 0.007 0.009 0.011
軸の両方向位置決めの繰返し性 R 0.011 0.014 0.017
軸の平均反転値 B 0.005 0.006 0.008
軸の両方向位置決めの系統偏差* E 0.008 0.011 0.013
軸の平均両方向位置決め偏差* M 0.003 0.005 0.006
注* 機械の受渡検査の基本評価項目
測定器
レーザ干渉測長器又はリニアスケール
測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条
箇条2,4.3.2及び4.3.3
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは,移動軸と平行に置く。
一般に位置決めは,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
測定開始点の位置は,記録する。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 38] ―――――
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B 6210-2 : 2010
検査事項 P2
数値制御による主軸頭運動(Y軸)の位置決め精度
測定方法図
1 レーザ光源
2 干渉計
3 反射鏡
測定長さ L 測定値
許容値 500L≦500
1 000 2000
軸の両方向位置決めの正確さ* A 0.014 0.020 0.022
軸の一方向位置決めの繰返し性* R↑又はR↓ 0.007 0.009 0.011
軸の両方向位置決めの繰返し性 R 0.011 0.014 0.017
軸の平均反転値 B 0.005 0.006 0.008
軸の両方向位置決めの系統偏差* E 0.008 0.011 0.013
軸の平均両方向位置決め偏差* M 0.003 0.005 0.006
注* 機械の受渡検査の基本評価項目
測定器
レーザ干渉測長器又はリニアスケール
測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条
箇条2,4.3.2及び4.3.3
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは,移動軸と平行に置く。
一般に位置決めは,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
測定開始点の位置は,記録する。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 39] ―――――
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B 6210-2 : 2010
検査事項 P3
数値制御によるコラム運動(W軸)の位置決め精度
測定方法図
1 レーザ光源
2 干渉計
3 反射鏡
測定長さ L 測定値
許容値 500L≦500
1 000 2000
軸の両方向位置決めの正確さ* A 0.014 0.014 0.020
軸の一方向位置決めの繰返し性*R↑又はR↓ 0.007 0.007 0.009
軸の両方向位置決めの繰返し性 R 0.011 0.011 0.014
軸の平均反転値 B 0.005 0.005 0.006
軸の両方向位置決めの系統偏差* E 0.007 0.007 0.011
軸の平均両方向位置決め偏差* M 0.002 0.002 0.005
注* 機械の受渡検査の基本評価項目
測定器
レーザ干渉測長器又はリニアスケール
測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条
箇条2,4.3.2及び4.3.3
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは,移動軸と平行に置く。
一般に位置決めは,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
測定開始点の位置は,記録する。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 40] ―――――
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- 25 : 生産工学 > 25.080 : 工作機械 > 25.080.20 : 中ぐり盤及びフライス盤
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