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B 6361-2 : 2017 (ISO 11090-2 : 2014)
6.3 ヘッド,クイル及び主軸
目的 G10
次のa)又はb)の運動と電極取付板の電極取付面(Platen)との平行度誤差の試験
a) 軸運動[EB(0X) Platen]
b) 軸運動[EA(0Y) Platen]
測定方法図
a) b)
許容値 測定値
a)及びb) 測定長さ500について 0.03 a)
b)
測定器
変位計
測定手順(JIS B 6190-1の3.6.5及び12.3.2.5.2参照)
変位計は,テーブル上に定置する。
変位計の測定子は,電極取付板の電極取付面に当てる。
a) 軸を測定長さだけ移動させて,数箇所で変位計の読みを記録する。読みの最大差が,平行度誤差であり,
記録する。
b) 軸方向についても,同じ方法で試験する。
――――― [JIS B 6361-2 pdf 16] ―――――
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B 6361-2 : 2017 (ISO 11090-2 : 2014)
目的 G11
主軸の振れ(半径振れ)の試験
a) テストバーの口元近くで
b) 100の距離で
測定方法図
許容値 測定値
a) 0.005 a)
b) 0.01 b)
測定器
テストバー及び変位計
測定手順(JIS B 6190-1の3.9.7及び12.5.3参照)
テストバーは,主軸にはめる。
変位計は,機械のテーブル上に取り付ける。
a) 変位計の測定子は,テストバーの口元近くに当て,主軸を回転させて変位計の読みを記録する。
b) 100 mm離れた位置で,同じ方法で試験する。
――――― [JIS B 6361-2 pdf 17] ―――――
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B 6361-2 : 2017 (ISO 11090-2 : 2014)
目的 G12
Z軸運動と主軸中心線(C)との平行度誤差の試験
a) X面内[EB(0Z) C]
b) Z面内[EA(0Z) C]
測定方法図
a) b)
許容値 測定値
a)及びb) 0.1 / 1 000(0.01 / 100) a)
b)
測定器
テストバー及び変位計
測定手順(JIS B 6190-1の3.6.4及び10.1.4.3参照)
変位計は,テーブル上に取り付ける。
a) 変位計の測定子は,ZX面内でテストバーに当て,主軸を回転させて主軸の振れの平均位置を見つける。クイ
ルをZ軸方向に移動させて,数箇所で変位計の読みを記録する。読みの軌跡の基準直線の傾きが,平行度誤
差であり,記録する。
b) Z面内についても,同じ方法で試験する。
――――― [JIS B 6361-2 pdf 18] ―――――
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B 6361-2 : 2017 (ISO 11090-2 : 2014)
7 数値制御軸の位置決め精度試験
この試験を実施するときには,特に環境条件,機械の暖機運転,測定方法,評価方法及び結果の表示方
法は,JIS B 6190-2による。
W軸運動は,ヘッド位置を調整するために使用することから,W軸の位置決め精度試験は行わない。必
要な場合は,Z軸の試験と同様に行わなければならない。
目的 P1
X軸運動の位置決め精度(EXX)の試験
測定方法図
記号
1 レーザヘッド
2 干渉計
3 反射鏡
許容値 測定長さ 測定値
≦500 ≦1 000 ≦2 000
軸の両方向位置決めの正確さ EXX, A 0.012 0.016 0.020
軸の一方向位置決めの繰返し性 EXX,R 及びEXX,R 0.005 0.008 0.010
軸の両方向位置決めの繰返し性 EXX,R 0.010 0.012 0.016
軸の反転誤差 EXX,B 0.008 0.010 0.013
XX,
軸の平均反転誤差 E B 0.004 0.005 0.006
軸の両方向位置決めの系統誤差 EXX,E 0.010 0.012 0.016
軸の平均両方向位置決め誤差 EXX,M 0.006 0.008 0.010
測定器
レーザ干渉計又はリニアスケール
測定手順(JIS B 6190-1の8.3及びJIS B 6190-2参照)
リニアスケール又はレーザ干渉計の光軸は,試験する軸と平行に置かなければならない。
位置決めは,通常,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
――――― [JIS B 6361-2 pdf 19] ―――――
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B 6361-2 : 2017 (ISO 11090-2 : 2014)
目的 P2
Y軸運動の位置決め精度(EYY)の試験
測定方法図
記号
1 レーザヘッド
2 干渉計
3 反射鏡
許容値 測定長さ 測定値
≦500 ≦1 000 ≦2 000
軸の両方向位置決めの正確さ EYY,A 0.012 0.016 0.020
軸の一方向位置決めの繰返し性 EYY,R 及びEYY,R 0.005 0.008 0.010
軸の両方向位置決めの繰返し性 EYY,R 0.010 0.012 0.016
軸の反転値誤差 EYY,B 0.008 0.010 0.013
YY,
軸の平均反転誤差 E B 0.004 0.005 0.006
軸の両方向位置決めの系統誤差 EYY,E 0.010 0.012 0.016
軸の平均両方向位置決め誤差 EYY,M 0.006 0.008 0.010
測定器
レーザ干渉計,又はリニアスケール
測定手順(JIS B 6190-1の8.3及びJIS B 6190-2参照)
リニアスケール又はレーザ干渉計の光軸は,試験する軸と平行に置かなければならない。
位置決めは,通常,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
――――― [JIS B 6361-2 pdf 20] ―――――
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JIS B 6361-2:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 11090-2:2014(IDT)
JIS B 6361-2:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS B 6361-2:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB6190-1:2016
- 工作機械試験方法通則―第1部:幾何精度試験
- JISB6190-2:2016
- 工作機械試験方法通則―第2部:数値制御による位置決め精度試験