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の位置Z1を読み取る。
(c) 被測定ニュートンゲージが凹面であるか凸面であるかによって,ベンチ上で架台を参照面から遠ざ
け,又は近付け,観測系によって干渉じまが再び最少となる位置(集光レンズの焦点が被測定面の
頂点に一致する位置)を求め,測距機構によってその位置Z2を読み取る。
(d) 被測定ニュートンゲージの曲率半径の絶対値Rは(b)及び(c)で求めた読取り位置Z1及びZ2の差で与
えられる(図6参照)。
8. 測定値の記録 ニュートンゲージの真球度及び曲率半径の測定値の記録には,次の事項を付記する。
(1) 製造業者名,製造番号及び製造年月日
(2) 検査員名及び検査年月日
(3) 材料及び線膨張係数
(4) 測定時の温度
(5) 真球度の測定方法(測定器の名称及び測定に用いた光の波長)
(6) 曲率半径の測定方法(測定器の名称)
(7) 常用ゲージの場合には,形状及び寸法
(8) その他,記録に残す必要がある付記事項
備考 ニュートンゲージの使用者は,校正用ゲージの測定値及び付記事項を記載した検査記録を保管
する。
9. 製品の呼び方 ニュートンゲージの呼び方は,規格の名称又は番号,種類及び呼びによる。ただし,
基本ゲージ及び常用ゲージは,校正用ゲージの呼びR0の代わりに曲率半径Rを用いる。
例1 : ニュートンゲージ 校正用ゲージR0 50
又はJIS B 7433 校正用ゲージR0 50
例2 : ニュートンゲージ 基本ゲージR 63
又はJIS B 7433 基本ゲージR 63
例3 : ニュートンゲージ 常用ゲージR 90
又はJIS B 7433 常用ゲージR 90
備考 Rが∞の常用ゲージで,形状及び寸法がJIS B 7430に適合するものでは,その製品の呼び方は
JIS B 7430による。
10. 表示
10.1 校正用ゲージ 校正用ゲージには,使用上差し支えがない箇所(側面など)に,次の事項をその順
序に表示するとともに,8.に規定する検査記録を添付する。
(1) 校正用ゲージであることを示すための識別記号 0
(2) 凸凹の区別を表すための+又は−の記号
(3) 呼びR0
例 : R0=50の校正用凸面ゲージの場合 0+50
R0=200の校正用凹面ゲージの場合 0−200
10.2 基本ゲージ 基本ゲージには,使用上差し支えがない箇所(側面など)に,次の事項を表示すると
ともに,材料及び線膨張係数,真球度及び曲率半径の測定値(測定誤差を含む。)などの記録を添付する。
――――― [JIS B 7433 pdf 11] ―――――
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(1) 曲率半径R
(2) 製造業者名又はその略号
10.3 常用ゲージ 常用ゲージには,使用上差し支えがない箇所(側面など)に,曲率半径Rを表示する。
備考 曲率半径が∞の常用ゲージで,形状及び寸法がJIS B 7430に適合するものでは,その表示は,
JIS B 7430による。
精密機械部会 光学測定機器専門委員会 構成表
氏名 所属
(委員会長) 桜 井 好 正 千葉工業大学
後 藤 充 夫 工業技術院計量書研究所
松 田 浄 史 工業技術院機械技術研究所
余 田 幸 雄 通商産業省機械情報産業局
吉 田 藤 夫 工業技術院標準部
金 木 昭 ユニオン光学株式会社技術本部
鈴 木 正 根 富士写真光機株式会社
武 田 晴 海 東京光学精機株式会社
松 居 吉 哉 キヤノン株式会社製品技術研究所
水 谷 寛 株式会社ミツトヨ研究開発本部開発研究所
桜 井 国 雄 コニカ株式会社
鈴 木 憲 章 日本写真機工業会総務部
関 根 靖 雄 社団法人日本オプトメカトロニクス協会技術部
柳 沢 剛 オリンパス光学工業株式会社生産開発技術部
(関係者) 中 條 義 道 日本光学測定機工業会
(事務局) 大 磯 義 和 工業技術院標準部機械規格課
縄 田 俊 之 工業技術院標準部機械規格課