JIS B 8310:1985 ポンプの騒音レベル測定方法 | ページ 6

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B 8310-1985
                      参考図I.8 ISO 3746による直方体表面上の測定点の位置
    備考 この図の番号は,ISO 3744又はISO 3746の番号とは合っていない。
II. ISO DP 3747 : Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Survey method using a
reference sound source(抄訳)
  (ISO DP 3747 : 音響−騒音源の音響パワーレベル測定方法−基準音源使用の簡易級方法)
    備考 箇条番号及び図,表の番号は原ISO規格の番号と合わせたものとなっており,その頭にII.を付
          けてある。
II.0.1 関連規格 (省略)
II.0.2 概要 (省略)
II.0.3 序文 この方法は,供試音源の測定を行う場所で,特性の知られた基準音源を用いて音圧レベル測
定を行うことによって測定場所の影響による補正値を求め,これを供試音源の測定値に適用して,測定場
所の影響を差し引いた音圧レベルを求め,この結果から音響パワーレベルを算出するものである。
II.1 適用範囲
II.1.2.2 音源の大きさ 最大寸法が15m以下のものに適用
II.2 参考文献
II.3 用語の意味
                                       定常の広帯域騒音を出す音源で十分な音響パワーレベルを有
II.3.1 基準音源 (reference sound source)
し,半自由音場で高精度で校正されたもの (ISO 6926) 。
II.4 測定環境

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II.4.2 暗騒音に対する基準 定常暗騒音のA特性騒音レベルは,測定する騒音源及び基準音源のA特性
騒音レベルのいずれよりも3dB以上小さくなくてはならない。
II.5 測定器
II.5.3 基準音源 ISO 6926の全規程に合うものであること。
II.6 供試品の据付けと運転
II.6.2 基準音源 供試音源は移動できないことが多いので,この規格では基準音源を供試音源の上又は横
に並置する方法を含んでいる。
II.7 測定表面上の音圧レベル
II.7.1 仮定音源表面と測定表面(参考図II.1II.10) 仮定音源表面 (reference surface) −音源を囲む最
小寸法の仮想直方体(1面又はそれ以上の反射面に接する)
  測定表面 (measurement surface) −面積Sの仮想表面で音源と仮定音源表面を含み,一つ又はそれ以上の
反射面で終わる。仮定音源表面との間隔dは一般には1mとし,1m未満にはしない。
II.7.2 マイクロホン位置
II.7.2.1 概要 (省略)
II.7.2.2 マイクロホン位置の数
II.7.2.2.1 1反射面の場合 最小5(4基準測定点+1上部測定点)大形音源の場合(水平寸法1.0mを超過
するもの)には測定表面の頂部の角の部分で4測定点を追加(参考図II.6)。
II.7.2.2.2 1以上の反射面の場合
II.7.2.2.2.1 4面(2反射面) 各自由表面の中心に1,各面の頂点に各1(参考図II.7)
II.7.2.2.2.2 3面(3反射面) 各自由表面の中心に1,各面の頂点に1(参考図II.8)
II.7.2.2.2.3 2面(4反射面) 各自由表面の中心に1,2自由表面の交線の中心に1(参考図II.9)
II.7.2.2.2.4 1面(5反射面) (参考図II.10)
II.7.2.2.2.5 0面(6反射面) (参考図II.10)
II.7.3 基準音源 (RSS) の位置
II.7.3.1 供試機械の頂部,仮定音源表面の高さl3が1.5 dを超えないときは,優先的にここを選定。
II.7.3.1.1 仮定音源表面の寸法l1,l2のいずれもが2 dを超えないときはRSSは仮定音源表面の上面1か所
だけとする(参考図II.11)。
II.7.3.1.2 幅l2は2 dを超えないが長さl1が2 dより大きい場合は,RSSの位置は少なくとも2か所とする。
仮定音源表面の上面のl1方向の中心線上にRSSの位置を等間隔に配置し,その間隔が2 d以上にはならな
いようにする(参考図II.13)。
II.7.3.1.3 幅l2,長さl1が2 dを超えるときは,RSSの位置は少なくとも4か所とする。これは仮定音源表
面の上面の端近くの2線上に配置し,相互に2 d以上は離れないようにする(参考図II.14)。
II.7.3.2 供試機械の側面 供試機械の上に設置できない場合だけに適用。仮定音源表面の高さl3が1.5 d
以上の場合だけに適用。
II.7.3.2.1 RSSの地面からの高さは,H=0.5 (l3+d) (参考図II.12)
II.7.3.2.2 RSSの位置は最少4か所とし,仮定音源表面の各側面の中央とする。
II.7.3.2.3 長さl1又は幅l2が3 dを超える場合,RSSの位置は少なくとも2か所とする。これらの位置は
3 dを超える側面で上述の高さの直線上に規則的に(例えばl/4,3l/4など)配置する。
II.7.3.2.4 供試機械のマイクロホンを設置しない側面についてはRSSの位置は1か所とする。

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II.7.4 測定法 供試機械運転中に各マイクロホン位置でA特性音圧レベルの測定を行う。また,供試機械
停止中及びRSSがそれぞれ定位置で動作しているときのA特性音圧レベルも測定する。RSSと供試音源
のスペクトルが類似していない場合(附属書II.A参照),各オクターブハンドの音圧レベルも測定する。
  次のデータを入手する。
  (a) 供試音源が運転中の各マイクロホン位置における音圧レベル : Lpi (ST)
        (iはマイクロホン位置を示す。)
  (b) 各マイクロホン位置における暗騒音 : Lpi (B)
  (c) 各RSS位置でのRSS発生音を各マイクロホン位置で測定した音圧レベル : Lpij (RSS) (供試機械は停
      止中)
        (jはRSS位置を示す。)
II.7.5 暗騒音に対する補正 (省略)
II.7.6 環境補正値 (environmental correction)   i
  (a)   SS位置が1か所の場合
                                   Lpr
                         K=Lp (RSS)
                                           n
                                        1     0.1Lpil (RSS)
                         Lp (RSS) =10 log1010
                                        n i=1
                                  Lpil (RSS) :  II.7.4にII.7.5の補正を行ったもの
                                        S
                         Lpr=Lwr 10 log10 (dB)
                                        S0
                                     S :  測定表面の面積
                        So=1 (m2)
                                    Lwr :  RSSの校正したPWL
  (b)   SS位置が1か所を超える場合
                        Ki= Lpi (RSS)
                                    Lpr
                                 Lpi (RSS)  :  あるマイクロホン位置iでの全RSS位置からの平均音
                                            圧
                                           m
                                        1        L
                                               1.0 pij (RSS)
                         Lpi (RSS)=10 log10 10
                                        m j=1
                                 Lpij (RSS)  :  II.7.4にII.7.5の補正を行ったもの
II.8 音響パワーレベルの計算
II.8.1 測定表面上での平均音圧レベルの計算
                                        N
                                     1      1.0 LpAi
                         LpA=10 log10    10
                                     N i=1
                                   L : 
                                    pA
                                      測定表面上での平均A特性音圧レベル
                                   LpAi :  i番目の測定点におけるA特性音圧レベル
                                     N :  測定位置の全数

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II.8.2 環境補正した表面音圧レベルの計算
                         LpAf= LpA K
                                  LpAf  :  表面音圧レベル
                                     K :  反射音の影響による測定表面上での平均環境補正値
  Kは,次によって計算する。
                               N
                            1
                         K=     Ki
                            N i=1
II.8.3 音響パワーレベルの計算 供試機械のA特性音響パワーレベルLwAは,次によって計算する。
                                           S
                         LwA =LpAf 10 log10
                                           S0
II.9 記録資料 (省略)
II.10 報告資料 (省略)
付録II.A スペクトル形状の相似性の決定法
                                  参考図II.1II.5に用いる記号

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    参考図II.1 5面からなる測定表面の代表例          参考図II.2 4面からなる測定表面の代表例

――――― [JIS B 8310 pdf 30] ―――――

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