JIS C 1010-31:2019 測定用，制御用及び試験室用電気機器の安全性―第３１部：電気的試験及び測定のための手持形及び手で操作するプローブアセンブリに対する安全要求事項 | ページ 15

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C 1010-31 : 2019
                                          附属書E
                                          (参考)
                                      4  mmコネクタ
E.1   一般
  コネクタがかん合しているように見えても,導電性部分同士が接触していない場合は,機器に表示され
る値を操作者が信じてしまい,ハザードが生じ得る。
  この附属書では,4 mmコネクタをプローブアセンブリで用いる場合及びプローブアセンブリが接続で
きる機器で用いる場合の,安全目的のための推奨寸法を示す。この4 mmコネクタは,“バナナコネクタ”
又は“バナナプラグ”と呼ばれることが多い。
E.2   寸法
  図E.1の寸法は,1 000 Vまでの測定カテゴリII,III又はIVを定格とする4 mmコネクタを満たしてい
る。
  この寸法は,コネクタが完全にかん合した状態,かん合していない状態及び部分的にかん合した状態に
おいて6.4.2の空隙を満たし,完全にかん合した状態のコネクタの導電性部分同士が接触することを確実
にする。
    注記 この附属書では,挿抜力及び接触抵抗値は,考慮していない。

――――― [JIS C 1010-31 pdf 71] ―――――

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     A=3.90 mm±0.05 mm (圧縮時)     M=4.00 mm+0.05 mm
     B≧6.6 mm                          G≦6.4 mm
     C≦7.9 mm                          K≧8.1 mm
     2.6 mm≦E≦6 mm                    4 mm≦H≦6 mm
     F≦12 mm                           L≧20 mm
     1は,おすコネクタである。
     2は,めすコネクタである。
     Xは最良の接触が得られる位置である。
     E及びHの最小値は,プラスチック部分の寸法による。空間距離は2.6 mm以上でなければならない。
                                図E.1−4 mmコネクタの推奨寸法

――――― [JIS C 1010-31 pdf 72] ―――――

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                                          附属書F
                                          (規定)
                                       測定カテゴリ
F.1   一般
  この規格では,F.2に規定する測定カテゴリを用いる。測定カテゴリは,JIS C 1010-1及びJIS C 60664-1
による過電圧カテゴリ,又はJIS C 60364-4-44による耐インパルスカテゴリ(過電圧カテゴリ)とは異な
る。
    注記1 JIS C 60664-1及びJIS C 60364-4-44のカテゴリは,低電圧主電源供給システム内で用いられ
            る構成部材及び機器の絶縁協調を達成するために作成されている。
    注記2 測定カテゴリは,低電圧主電源供給システムにおける測定場所に基づいている。
F.2   測定カテゴリ
F.2.1  測定カテゴリII
  測定カテゴリIIは,低電圧主電源供給システムの使用点(コンセント及び類似の箇所)に直接接続する
試験及び測定回路に適用する(表F.1及び図F.1参照)。
    例 家電製品,携帯器具及び類似の機器の主電源回路での測定,並びに固定設備に設けられたコンセ
        ントの消費者側だけでの測定。
F.2.2  測定カテゴリIII
  測定カテゴリIIIは,建造物の低電圧主電源供給システムの配電部分に接続する試験及び測定回路に適用
する(表F.1及び図F.1参照)。
  大きな短絡電流から生じるハザードに起因するリスクを回避するために,追加の絶縁及び他の装備を必
要とする。
    例 固定設備での配電盤(二次側メータを含む。),光発電パネル,回路遮断器,配線,付帯するケー
        ブル,バスバー,接続ボックス,スイッチ及びコンセントでの測定,並びに産業用機器及び固定
        設備に永続的に接続する据付けのモータのようなある種の他の機器での測定。
    注記 固定設備の一部である機器に対し,その設備のヒューズ又は回路遮断器は,短絡電流に対して
          適切な保護を提供するとみなすことができる。
F.2.3  測定カテゴリIV
  測定カテゴリIVは,建造物の低電圧主電源供給システムの供給源に接続する試験及び測定回路に適用
する(表F.1及び図F.1参照)。
  高エネルギーレベルによる大きな短絡電流が生じるため,この場所で行う測定は,極めて危険である。
あらゆる短絡の危険を回避するために,細心の予防措置を講じる必要がある。
    例 建造物設備内の主電源ヒューズ又は回路遮断器の前に設置されたデバイスにおける測定。
F.2.4  測定カテゴリの定格のないプローブアセンブリ
  多くの試験及び測定回路は,主電源に直接接続するようにはなっていない。この場合,測定回路には非
常に低いエネルギーへの使用を意図しているが,それ以外の測定回路は,大きい短絡電流又は高い開放電
圧のために,非常に大容量の有効エネルギーを受ける可能性もある。測定回路に対して,規定された標準
的な過渡レベルはない。絶縁要求事項及び短絡電流要求事項を決めるために,測定回路における動作電圧,

――――― [JIS C 1010-31 pdf 73] ―――――

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ループインピーダンス,一時的過電圧及び過渡過電圧を分析する必要がある。
    例 熱電対測定回路,高周波測定回路,自動車テスタ,装置を主電源に接続する前に低電圧主電源供
        給システムの特性を測定するために用いるテスタ類。
                  O  : 主電源に直接接続しない他の回路
                  CAT II   : 測定カテゴリII
                  CAT III  : 測定カテゴリIII
                  CAT IV   : 測定カテゴリIV
                          図F.1−測定カテゴリの場所を特定するための例
                                   表F.1−測定カテゴリの特性
         測定カテゴリ      短絡電流a)(代表値)               建造物設備の場所
                                   kA
              II                 10未満           低電圧主電源供給システムの主電源コンセント
                                                  及び類似の箇所に接続する回路
             III                 50未満           建造物の低電圧主電源供給システムの配電部分
              IV                 50以上           建造物の低電圧主電源供給システムの供給源
       注a) ループインピーダンス(設置インピーダンス)の値には,試験リードの抵抗及び測定機器内部の
            インピーダンスを考慮しない。短絡電流は,設備の特性によって変化する。

――――― [JIS C 1010-31 pdf 74] ―――――

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C 1010-31 : 2019
                                          附属書G
                                          (参考)
                                   定義した用語の索引
用語                                                                                      定義
沿面距離(creepage distance)  3.5.11
汚染(pollution)  3.5.5
汚染度(pollution degree)  3.5.6
汚染度1(pollution degree 1)  3.5.7
汚染度2(pollution degree 2)       3.5.8
汚染度3(pollution degree 3)       3.5.9
外装(enclosure)  3.1.2
形式試験(type test)  3.3.1
危険な活電(hazardous live)  3.4.2
基礎絶縁(basic insulation)  3.5.1
強化絶縁(reinforced insulation)  3.5.4
空間距離(clearance)  3.5.10
空隙(spacing)  3.5.12
工具(tool)  3.1.6
合理的に予見可能な誤使用(reasonably foreseeable misuse)      3.4.12
コネクタ(connector)  3.1.5
湿った場所(wet location)      3.4.10
スタック可能なコネクタ(stackable connector)  3.1.9
正常状態(normal condition)  3.4.6
正常な使用(normal use)  3.4.5
責任団体(responsible body)  3.4.9
接触可能(accessible)  3.4.1
操作者(operator)  3.4.8
測定カテゴリ(measurement category)  3.4.11
単一故障状態(single fault condition)  3.4.7
端子(terminal)  3.1.1
定格(rating)  3.2.2

•  定格(条件又は値)[rated(condition or value)]・・・・3.2.[1]

動作電圧(working voltage)  3.2.3
二重絶縁(double insulation)  3.5.3
ハザード(hazard)  3.4.3
ばね機構のクリップ(spring-loaded clip)       3.1.8
プローブチップ(probe tip)  3.1.4
プローブワイヤ(probe wire)  3.1.7

――――― [JIS C 1010-31 pdf 75] ―――――

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