JIS C 1010-31:2019 測定用，制御用及び試験室用電気機器の安全性―第３１部：電気的試験及び測定のための手持形及び手で操作するプローブアセンブリに対する安全要求事項 | ページ 14

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                                          附属書C
                                          (規定)
                             空間距離及び沿面距離の測定
  空間距離及び沿面距離の測定法を,例1例7に示す。これらの例では,くぼみと溝との区別及び絶縁
の種類による区別はない。
  例1例7に示す寸法Xは,汚染度に応じて,表C.1による。
                                        表C.1−Xの寸法
                                   汚染度            寸法X
                                                      mm
                                     1                0.25
                                     2                1.0
                                     3                1.5
  要求する空間距離が3 mm未満の場合には,表C.1の寸法Xは,その空間距離の1/3まで短縮してもよ
い。
 例1 幅X mm未満で任意の深さの平行又は底に向け
      て狭まる側面の溝がある経路
        空間距離及び沿面距離は,図に示すように溝を
      横切って一直線に測定する。
 例2 幅X mm以上で任意の深さの平行な側面の溝が
      ある経路
        空間距離は,図に示す“見通し線”の距離とす
      る。沿面距離は,溝の輪郭線に沿った距離とする。
 例3 リブがある経路
        空間距離は,リブの頂点を通るように直線で結
      んだ,最短の空間経路とする。沿面距離は,リブ
      の輪郭線に沿った距離とする。

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C 1010-31 : 2019
 例4 片側に幅X mm未満の溝,もう一方の片側に幅X
      mm以上の溝があり,接着していない結合部があ
      る経路
        空間距離及び沿面距離は,図に示すとおりとす
      る。
 例5 接着していない結合部を通る沿面距離が,バリア
      を越える沿面距離未満である経路
        空間距離は,バリアの頂点を通るように直線で
      結んだ,最短の空間経路とする。
      沿面距離は,図に示すとおりとする。
 例6 ねじの頭部とくぼみの壁面との間隙が,考慮する
      には狭すぎる経路
        空間距離及び沿面距離は,図に示すとおりとす
      る。
 例7 フローティング部分Cがあるときの経路
        空間距離は,距離D1+D2とする。沿面距離も,
      D1+D2とする。
                    沿面距離
                                                絶縁物
                    空間距離

――――― [JIS C 1010-31 pdf 67] ―――――

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                                          附属書D
                                          (規定)
                     プローブワイヤへのルーチンスパーク試験
D.1 一般
  プローブワイヤへのスパーク試験は,D.2のスパーク試験手順及びD.3のルーチンスパーク試験方法に
従って,プローブワイヤの100 %に対して,製造業者がルーチン試験として実施する。
D.2 スパーク試験手順
  直流用又は交流用のスパーク試験器は,電圧源,電極,電圧計,欠陥を信号として検知しカウントする
ためのシステム,及び適切な電気的接続を内蔵するものとする。
  これらのスパーク試験器の電圧源は,漏えい(洩)電流が正常状態にある全ての場合において,次の試
験電圧を維持するものとする。
a)   Dタイプのプローブアセンブリで用いられるワイヤの種別に応じた交流電圧試験に対して規定す
    る正弦波又はほぼ正弦波の実効値電圧
b)   Dタイプのプローブアセンブリで用いられるワイヤの種別に応じた直流電圧試験に対して規定す
    る電圧。直流電源出力電流容量は,5 mAとする。どのようなリプルも1 %以下とする。試験品の欠陥
    を検知した場合,直流試験電圧は,検知後5 ms以内に規定レベルまで回復するものとするが,電圧の
    完全な回復に要する時間に,電極を介しての試験品の移動が610 mm以下の場合には適用しない。
  直流電源の一つの端子,変圧器のコア,交流電源の二次側巻線の一端は,確実に接地接続する。電圧源
は,二つ以上の電極に接続しない。
  スパーク試験器の電極は,リンク若しくはビーズのチェーンタイプであるか,又は評価及び承認された
実績がある他のタイプの電極とする。電極は,全長にわたり,試験を行うプローブワイヤの表面と密に接
触させる。
  金属製の電極箱の底面は,U字状又はV字状とし,チェーンは,電極箱の深さよりも幾分長くし,電極
箱のU字状又はV字状の溝の幅は,試験を行う最大プローブワイヤの直径よりも広く(一般的には40 mm)
する。
  ビーズチェーン電極の場合,チェーンの電線軸方向及び横方向の間隔,並びに各ビーズの直径は,表D.1
(図D.1も参照)による。各チェーンのビーズ間の垂直の間隔は,ビーズの直径以下とする。
                               表D.1−ビーズチェーンの最大の間隔
                                                                                 単位 mm
         ビーズの直径a)      電線軸方向の間隔a)                横方向の間隔a)
                                                 千鳥状配列のチェーン  格子状配列のチェーン
              5.0                   13                   13                    10
                                     b)                   b)                    b)
               2.5
      注a) 絶縁された導体又は組立て初期の導体類の外側表面以上の面積で,チェーンが接触していることが
           調査によって明らかな場合,他の直径及び間隔としてもよい。
        b) チェーンは,揺れることによって,電線軸の方向及び横方向で互いに接触するものとする。

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C 1010-31 : 2019
                  a) 格子状配列のチェーン       b) 千鳥状配列のチェーン
              A : ワイヤの中心       L : 電線軸方向の間隔
              T : 横方向の間隔
                          図D.1−ビーズチェーンの配置(該当する場合)
  電極には,電極及び関連活電部分からの感電に対して操作者を保護するため,接地した金属遮蔽又は同
等の保護手段を設ける。
  常時,実際の試験電位を指示するために,電圧計を回路内に接続する。
  試験機器には,欠陥検知器,欠陥カウンタ及び生じる各欠陥を信号で伝える手段を含める。欠陥を検知
したとき,欠陥カウンタの指示器を手動でリセットするまで,指示器に表示された欠陥信号の数を保持す
るものとする。
  欠陥検知器は,絶縁の電圧破壊を検知するものとする。絶縁破壊は,試験中の電極と接地導体との間で
アークすることによって特徴付けられる。ここでの絶縁破壊は,電極と接地導体との間に印加する試験電
圧が25 %以上減少することと定義する。試験機器の出力電流は,5 mA以下とする。
  欠陥検知器は,短時間幅の入力パルスに対して,欠陥表示回路を確実に動作させる,大きさ及び時間の
出力パルスに変換するトリガ回路で構成する。
  欠陥カウンタは,順次数値的に増加する値として欠陥数を累積し,累計を表示するものとする。欠陥カ
ウンタは,試験品の速度とカウンタ応答時間との任意の組合せにおいて,610 mm以内の距離で欠陥をカ
ウントできる応答速度とする。欠陥部分間の距離は,次のように計算する。
                        D=S×t
                      ここに,         D :  欠陥部分間の距離(m)
                                       S :  試験品の速度(m/s)
                                        t :  カウンタの応答時間(s)
  リンク又はビーズのチェーン電極を用いる直流電圧試験の場合,プローブワイヤの表面は,125 mm±25
mmの距離にわたって,チェーンと密に接触させる。
  リンク又はビーズのチェーン電極を用いる交流電圧試験の場合,電極の長さは規定しないが,電極を介

――――― [JIS C 1010-31 pdf 69] ―――――

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してプローブワイヤが移動する速度は,電極と接触している試験品上のあらゆる箇所で,交流供給電圧の
正と負とで合計18ピーク(交流供給電圧の全9サイクルに相当)以上を保持する。試験品の最高速度V
は,交流電圧試験に対し,次の式による。
                        V=(F×L)/150
                      ここに,         V :  速度(m/min)
                                       F :  周波数(Hz)
                                       L :  電極の長さ(mm)
  便宜上,七つの周波数についての式を,表D.2に示す。
         表D.2−リンク又はビーズのチェーン電極の電極長さLに基づくワイヤの最大速度の式
               公称供給源周波数F(Hz)            電極の長さL(mm)で表した速度V(m/min)
                         50                                        0.333L
                         60                                        0.400L
                         100                                       0.667L
                         400                                       2.67L
                        1 000                                      6.67L
                        3 000                                     20.0L
                        4 000                                     26.7L
  スパーク試験中,試験する導体は接地する。分配リールからの導体が裸の場合,その導体を分配リール
で接地するか,絶縁工程に先立ち,裸の導体との継続的接触が維持され,その導体を接地連続性のための
試験を必要としない別の箇所で接地するか,又は巻取りリールで接地する。導体が分配リールから絶縁さ
れている場合は,分配リールと巻取りリールとで,それぞれ接地する。接地は,スパーク試験器の保護接
地端子に接続する。
D.3 ルーチンスパーク試験方法
  成形された絶縁材料以外の単一導体のワイヤに対する試験電位は,ワイヤの電圧定格が300 Vの場合は
1 500 Vとし,ワイヤの電圧定格が600 Vの場合は2 000 Vとする。
  その他の全てのワイヤ及び絶縁体に対する試験電位は,ワイヤの電圧定格が1 000 V以下の場合は,ワ
イヤの電圧定格の10倍又は1 500 Vのうち,高いほうの電位とする。ワイヤの電圧定格が指定されていな
い場合の試験電位は3 000 Vとする。ワイヤの電圧定格が1 000 Vを超える場合の試験電位は,ワイヤの電
圧定格の2倍又は10 000 Vのうち,高いほうの電位とする。試験は,絶縁された導体又は被覆したワイヤ
の絶縁された導体で行う。被覆したワイヤの場合は,絶縁された導体を,全体を被覆又はカバーする前に
試験する。
  スパーク試験は,ワイヤを最終の長さに切る前か,又はワイヤを出荷の長さに切る前のある時点で実施
する。
  試験によって欠陥と判定した部分は切り離すか,又は修復する。修復した箇所の絶縁は,再試験する。

――――― [JIS C 1010-31 pdf 70] ―――――

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