この規格ページの目次
10
C 1805-1 : 2001
附属書A(参考) 参考文献
この附属書(参考)は,本体に関連する事柄を補足するもので,規定の一部ではない。
JIS C 0020 : 1995 環境試験方法−電気・電子−低温(耐寒性)試験方法
備考 IEC 60068-2-1 : 1990, Environmental testing−Part 2 : Tests. Tests A : Coldが,この規格と一致して
いる。
JIS C 0021 : 1995 環境試験方法−電気・電子−高温(耐熱性)試験方法
備考 IEC 60068-2-2 : 1974, Environmental testing−Part 2 : Tests. Tests B : Dry heatが,この規格と一致し
ている。
JIS C 0025 : 1988 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
備考 IEC 60068-2-14 : 1984, Environmental testing−Part 2 : Tests. Test N : Change of temperatureからの
引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS C 0040 : 1999 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
備考 IEC 60068-2-6 : 1995, Environmental testing−Part 2 : Tests. Test Fc : Vibration (sinusoidal) が,この
規格と一致している。
JIS C 0043 : 1995 環境試験方法−電気・電子−面落下,角落下及び転倒(主として機器)試験方法
備考 IEC 60068-2-31 : 1969, Environmental testing−Part 2 : Tests. Test Ec : Drop and topple, primarily for
equipment-type specimens及びAmendment 1 (1982) が,この規格と一致している。
JIS C 1000-4-2 : 1999 電磁両立性−第4部 : 試験及び測定技術−第2節 : 静電気放電イミュニティ試験
備考 IEC 61000-4-2 : 1995, Electromagnetic compatibility (EMC) −Part 4 : Testing and measurement
techniques−Section 2 : Electrostatic discharge immunity test. Basic EMC Publicationからの引用事項
は,この規格の該当事項と同等である。
JIS C 1000-4-3 : 1997 電磁両立性−第4部 : 試験及び測定技術 第3節 : 放射無線周波電磁界イミュニテ
ィ試験
備考 IEC 61000-4-3 : 1995, Electromagnetic compatibility (EMC) −Part 4 : Testing and measurement
techniques−Section 3 : Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity testが,この規格と
一致している。
JIS C 1000-4-4 : 1999 電磁両立性−第4部 : 試験及び測定技術−第4節 : 電気的ファストトランジェント
/バーストイミュニティ試験
備考 IEC 61000-4-4 : 1995, Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4 : Testing and measurement
techniques−Section 4 : Electrical fast transient/burst immunity test. Basic EMC Publicationからの引
用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS C 1804 : 1995 工業プロセス計測制御機器の使用環境条件
備考 IEC 60654-1 : 1993, Industrial-process measurement and control equipment−Operating conditions−
Part 1 : Climatic conditionsからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
IEC 60654-2 : 1979, Operating conditions for industrial-process measurement and control equipment. Part 2 : Power,
IEC 60654-3 : 1983, Operating conditions for industrial-process measurement and control equipment. Part 3 :
Mechanical influences
――――― [JIS C 1805-1 pdf 11] ―――――
附属書1(参考) JISと対応する国際規格との対比表
IEC 61298-1 : 1995プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手
JIS C 1805-1 : 2001プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手順−第1部 : 一般的考
察 順−第1部 : 一般的考察
(I) ISの規定 (III) 国際規格の規定
(II) 国際規 (V) ISと国際規格との技術的
(IV) ISと国際規格との技術的差異の
格番号 項目ごとの評価及びその内容 差異の理由及び今後の対策
表示箇所 : 本体,附属書
表示方法 : 点線の下線
項目番号 内容 項目 内容 項目ごと 技術的差異の内容
番号 の評価
1. 適用範囲 プロセス計測制御機器の試IEC 1 JISに同じ IDT −
験実施と報告の方法と手順61298-1
を規定するJIS C 1805全体
に適用する一般原則を規定。
2. 引用規格 JIS B 0155,JIS C 1805-2, 2 IEC 60410,IEC 60902,MOD/ 7.1の修正に伴い,JISを追7.1の修正に伴って追記したJIS
JIS C 1805-4,JIS Z 8203, 追加
IEC 61298-2,IEC 61298- 記している。 は当該箇条の見直しに従う。
JIS Z 9901JIS Z 9903,IEC 4,ISO 31
60410,IEC 60902,IEC
61298-2,IEC 61298-4,ISO
31,JIS Z 8202-0JIS Z
8202-10,JIS Z 8202-12JIS
Z 8202-13
3. 定義 性能表示関連用語ほか 3 JISに同じ IDT −
4. 試験の分類 完全試験,簡略試験 4 JISに同じ IDT −
5. 一般的基準 現実的な動作条件,経済的見 5 JISに同じ IDT −
地,試験の繰返し及び結果の
比較可能性,結果の処理他の
試験による影響の排除
C1 805-
1: 200
1
1
1
――――― [JIS C 1805-1 pdf 12] ―――――
C1
1
(I) ISの規定 (III) 国際規格の規定
(II) 国際規 (V) ISと国際規格との技術的
(IV) ISと国際規格との技術的差異の
2
格番号 項目ごとの評価及びその内容 差異の理由及び今後の対策
805
表示箇所 : 本体,附属書
-
1:
表示方法 : 点線の下線
20
項目番号 内容 項目 内容 項目ごと 技術的差異の内容
01
番号 の評価
6. 試験とサ 試験の環境条件,電源,空 6 JISに同じ IDT −
ンプルの 気源,負荷条件,取付姿勢,
一般的条 外部振動,外部機械的拘束,
件 被試験機器の選択
7. 一般的な 試験の準備,測定装置の選 7. JISに同じ
試験手順 択,入力の品質,タッピン
及び注意 グ,引渡し前校正のチェッ
ク,試験順序,測定の中断
及び測定時間,異常及び故
障,再試験,フィルタなど
の設定,前処理,レンジ下
限値及びスパンの校正調
整,動作条件の設定,入力
/出力の関係,誤差の評価,
記号と単位,試験報告書及
び証拠書類
7.1 試験所 試験実施箇所に要求される 7.1 JISに同じ MOD/ IEC規格では試験所が国家標準機関の認定を受けることを要
条件 ただし,国家標準機関の選択 求している。しかし,現在我が国では認定事業者の数も少な
認定しか認めない。 く,また種類によっては認定の手法・体制が確立していない
ものもあるので,JISにおいては“JIS Z 9901JIS Z 9903(ISO
9000の翻訳規格)のいずれかについて4.11 検査,測定及び
試験装置の管理の要求事項を満足していること”を併記した。
認定制度の充実・確立の状況によってこの箇条を見直す。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : MOD
備考1.項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
− IDT····················· 技術的差異がない。
− MOD/追加············ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
――――― [JIS C 1805-1 pdf 13] ―――――
− MOD/選択············ 国際規格の規定内容と別の選択肢がある。
2.JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
− MOD·················· 国際規格を修正している。
C1 805-
1: 200
1
1
3
――――― [JIS C 1805-1 pdf 14] ―――――
14
C 1805-1 : 2001
JIS C 1805-1(プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手順−
第1部 : 一般的考察)原案作成委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 土 屋 喜 一 早稲田大学理工学部
(幹事) ○ 福 田 達 夫 横河電機株式会社
窪 田 明 通商産業省機械情報産業局
橋 爪 邦 隆 通商産業省工業技術院標準部
橋 本 進 財団法人日本規格協会
梅 田 浩 和 日石三菱株式会社
白 川 公 一 千代田化工建設株式会社
○ 鈴 木 国 夫 千代田化工建設株式会社
近 藤 久 男 株式会社キャトックス
○ 公 江 春 樹 株式会社島津製作所
○ 小野瀬 俊 宏 株式会社日立製作所
○ 鍋 田 栄 一 富士電機インスツルメンツ株式会社
○ 島 方 哲 也 株式会社山武
(事務局) 新 畑 隆 司 社団法人日本電気計測器工業会
○印は,小委員会委員を兼ねる。
JIS C 1805-1:2001の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61298-1:1995(MOD)
JIS C 1805-1:2001の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.040 : 産業オートメーションシステム > 25.040.40 : 工業計測及び制御
JIS C 1805-1:2001の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0155:1997
- 工業プロセス計測制御用語及び定義
- JISC1805-2:2001
- プロセス計測制御機器―性能評価の一般的方法及び手順―第2部:基準状態における試験
- JISC1805-4:2001
- プロセス計測制御機器―性能評価の一般的方法及び手順―第4部:評価報告書の内容
- JISZ8202-0:2000
- 量及び単位―第0部:一般原則
- JISZ8202-1:2000
- 量及び単位―第1部:空間及び時間
- JISZ8202-10:2000
- 量及び単位―第10部:核反応及び電離性放射線
- JISZ8202-12:2000
- 量及び単位―第12部:特性数
- JISZ8202-13:2000
- 量及び単位―第13部:固体物理学
- JISZ8202-2:2000
- 量及び単位―第2部:周期現象及び関連現象
- JISZ8202-3:2000
- 量及び単位―第3部:力学
- JISZ8202-4:2000
- 量及び単位―第4部:熱
- JISZ8202-5:2000
- 量及び単位―第5部:電気及び磁気
- JISZ8202-6:2000
- 量及び単位―第6部:光及び関連する電磁放射
- JISZ8202-7:2000
- 量及び単位―第7部:音
- JISZ8202-8:2000
- 量及び単位―第8部:物理化学及び分子物理学
- JISZ8202-9:2000
- 量及び単位―第9部:原子物理学及び核物理学
- JISZ8203:1964
- 単位記号
- JISZ8203:2000
- 国際単位系(SI)及びその使い方
- JISZ9901:1998
- 品質システム ― 設計,開発,製造,据付け及び付帯サービスにおける品質保証モデル
- JISZ9902:1998
- 品質システム ― 製造,据付け及び付帯サービスにおける品質保証モデル
- JISZ9903:1998
- 品質システム ― 最終検査・試験における品質保証モデル