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C 2134 : 2007 (IEC 60112 : 2003)
する。
11. による測定で,浸食の測定が必要な場合は,最高50滴電圧で測定した5個の試験片について測定す
る。
10. 保証トラッキング指数 (PTI) の測定
10.1 手順
材料又は電気機器の仕様に関するIEC規格,若しくはその他の規格において,保証すること
だけが必要な場合は,規定の単一の電圧で,8. に従って50滴測定を行う。必要な数の試験片が,50滴目
を滴下した後,トラッキング破壊及び持続炎を発生することなく,少なくとも25秒の測定時間に耐えなけ
ればならない。
気中アークによる過電流継電器の作動は,トラッキング破壊とはしない。
備考 望ましい試験片の数は,5個である。
保証電圧は,25 Vの整数倍とする。
10.2 報告
報告には,次の事項を記載する。
a) 測定した材料の仕様及び状態調節の詳細。
b) 試験片の厚さ及びその厚さに達するために要した層数。
c) 本来の表面を測定しなかった場合,試験片表面の性状。
1) 清浄処理の詳細。
2) 機械加工処理の詳細,例えば,研磨など。
3) 測定面の塗料の詳細。
d) 測定前の表面の欠陥に関する状態,例えば,擦りきず,汚損,異物など。
e) 電極及び滴下装置に用いた清浄手順。
f) 測定を実質的に通風のない空間で行わなかった場合には,およその風速に関する報告。
g) 既知の材料特性(異方性)に関する電極の向き。
h) 浸食の程度を測定する必要がない場合,保証トラッキング指数測定の結果を次のように報告する。
規定電圧における合否,及び溶液Bの場合は溶液の種類の表示。測定溶液として溶液Bを用いた場
合は,それを表示するため,文字 “M” を付ける。
例 “PTI 175合格”又は“PTI 175M不合格”
浸食の測定の要求がある場合は,結果を次のように報告する。
規定電圧における合否,溶液Bの場合は溶液の種類,及び最大浸食深さの表示。測定溶液として溶
液Bを用いた場合は,それを表示するため,文字 “M” の表示を付け,更に “‐”(ハイフン)の後に
浸食の最大深さをミリメートル単位で付ける。
例 “PTI 250‐3不合格”又は“PTI 250M‐3合格”
試験片が炎をあげて燃えたために浸食の報告ができない場合は,その旨を報告する。
試験片を貫通して孔があいた場合,その深さ(試験片の厚さ)と共に,孔があいたことを報告する。
測定が気中アークのため無効となった場合は,その旨を報告する。
11. 比較トラッキング指数 (CTI) の測定
11.1 一般
比較トラッキング指数の測定は,5個の試験片が破壊せずに50滴の測定時間に耐える最高電
圧の測定,及び50滴の測定で得られた最高電圧より25 V低い電圧で,試験片が100滴の測定に耐えるか
どうかの測定も必要である。もし,耐えない場合は,100滴の測定に耐える最高電圧を測定する。
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C 2134 : 2007 (IEC 60112 : 2003)
備考1. この規格の旧版においては,100滴耐電圧の測定に先立って,必ず50滴最高耐電圧を測定し
なければならないと規定されていた。
2. 最初に100滴最高耐電圧の測定を行うことによって,測定費用が低減されることが認められ
たので,この規格ではこの手順が望ましい。
11.2 100滴の測定における耐電圧値の測定
8. に規定する基本手順を用い,電圧を選んだ値に設定して,
100滴目を滴下した後に少なくとも25秒経過するまでか,又は100滴目を滴下する前に破壊が生じるまで
測定を行う。
試料の特性が不明なときは,測定開始電圧としては350 Vが望ましい。
試験片上での気中アークの発生が原因で,過電流継電器が動作した場合は,その測定は無効とする。装
置を清浄にした後,8. の規定に従って,新たな試験片又は新たな箇所を用いて,同じ電圧で測定手順を繰
り返す。同様の現象が生じた場合は,適正な破壊が生じるか又は合格するまで,電圧を順次下げて測定を
繰り返す。各測定の詳細を報告する(11.4参照)。
備考1. ある電圧での測定に耐えながら,その次の最高測定電圧で,気中アーク発生へと直ちに移行
する独特な挙動のために,適正な破壊を生じさせることができない幾つかの材料については,
CTIを測定することは不可能である。
試験片表面の過大電流の流れが原因で過電流継電器が動作するか,又は持続炎が発生した場合,試験片
は,その測定電圧で破壊したものとする。8. の規定に従って装置の清浄などを行った後,より低い測定電
圧を用いて,新たな箇所又は新たな試験片で測定を繰り返す。
上記の現象が発生せず,100滴目を滴下した後,過電流継電器が動作することなく,少なくとも25秒経
過した場合は,この測定は有効であり,試験片は合格したとみなす。ある電圧での最初の5個の測定で100
滴目を滴下した後,少なくとも25秒の測定時間中に破壊が起こらない最高電圧が得られるまで,順次電圧
を上昇させて,新たな箇所又は新たな試験片で測定を繰り返す。装置を清浄にした後,8. に規定する手順
に従って,5個の個別の試験片又は一枚の成形板の5か所を使用して測定を行う。
試験片を貫通して孔があいた場合は,孔があいたこと及び孔の深さ(試験片又は積層試験片の厚さ)の
両方に注意しながら結果を記録する。その後上記のとおり測定を続ける。
備考2. 測定中に孔があいた場合,追加的な情報を得るため,8. の規定に従って装置を清浄にするな
どを行った後,より厚い試験片(厚さが10 mm以下)について追加の測定を行う。
試験片の性質が不明な場合は,400 V以上の電圧における測定ごとの電圧上昇幅は50 Vを限度とする。
100滴測定の結果としては,5個の試験片が破壊せずに100滴の測定に耐えた最高電圧を記録する。
引き続いて50滴最高耐電圧の測定を行う。
11.3 50滴における最高耐電圧の測定
新たな箇所又は新たな試験片のいずれかを用いて,100滴測定の
測定値から推測される適切な電圧で測定を繰り返す。50滴目を滴下した後,少なくとも25秒間試験片が
耐えるかどうかを測定する。
試験片上での気中アークの発生が原因で過電流継電器が動作した場合は,その測定は無効とする。装置
を清浄にした後,8. の規定に従って,新たな箇所又は新たな試験片を用いて,同じ電圧で測定手順を繰り
返す。同様の現象が生じた場合は,適正な破壊が生じるか又は合格するまで電圧を順次下げて測定を繰り
返す。各測定の詳細を報告する(11.4参照)。
備考1. ある電圧での測定に耐えながら,その次の最高測定電圧で気中アーク発生へと直ちに移行す
る独特な挙動のため,適正な破壊を生じさせることができない幾つかの材料については,CTI
を測定することは不可能である。
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C 2134 : 2007 (IEC 60112 : 2003)
試験片表面に過大電流が流れて過電流継電器が動作するか,又は持続炎が発生した場合は,その電圧で
試験片は破壊したものとみなす。その後,8. の規定に従って装置を清浄にするなどを行った後,より低い
測定電圧を用いて,新たな箇所又は新たな試験片で測定を繰り返す。
上記の現象が発生せず,50滴目を滴下した後,過電流継電器が動作することなく,少なくとも25秒経
過した場合は,この測定は有効であり,試験片は合格したとみなす。
測定中に試験片を貫通する孔があかなかった場合には,ある電圧での最初の5個の測定で50滴目を滴下
した後,少なくとも25秒までの測定時間中に破壊が起こらない最高電圧が得られるまで,順次電圧を上昇
させて,新たな箇所又は新たな試験片で測定を繰り返す。装置を清浄にした後,8. に規定する手順に従っ
て,5個の試験片又は一枚の成形板の5か所を使用して測定を行う。
試験片を貫通して孔があいた場合は,孔があいたこと及び孔の深さ(試験片又は積層試験片の厚さ)の
両方に注意しながら結果を記録する。その後,上記の測定を続ける。
備考2. 測定中に孔があいた場合,追加的な情報を得るため,8. の規定に従って装置を清浄にするな
どを行った後,より厚い試験片(厚さが10 mm以下)について追加の測定を行う。
試験片の厚さにかかわりなく,孔があいた場合であっても測定結果は有効とみなす。ただし,孔があい
たことを深さ(試験片又は積層試験片の厚さ)と共に報告する。
50滴測定の結果として,5個の試験片が破壊せずに50滴測定時間に耐えた最高電圧を記録する。
11.4 報告
報告には,次の事項を記載する。
a) 測定した材料の仕様及び状態調節の詳細。
b) 試験片の厚さ及びその厚さに達するために要した層数。
c) 本来の表面を測定しなかった場合,試験片表面の性状。
1) 清浄処理の詳細。
2) 機械加工処理の詳細,例えば,研磨など。
3) 測定面の塗料の詳細。
d) 測定前の表面の欠陥に関する状態,例えば,擦りきず,汚損,異物など。
e) 電極及び滴下装置に用いた清浄手順。
f) 測定を実質的に通風のない空間で行わなかった場合は,およその風速に関する報告。
g) 既知の材料特性(異方性)に関連する電極の向き。
h) 浸食の程度を測定する必要がない場合,比較トラッキング指数測定の結果を次のように報告する。
− CTI 5個の一連の測定で得られた50滴測定の最高電圧の値,(5個の一連の測定で得られた100
滴測定の最高電圧の値,ただし,50滴測定の最高電圧の値より25 V以上低い場合),測定溶液と
して溶液Bを用いた場合は,それを表示するため,文字 “M” を付ける。
例 “CTI 175”,“CTI 175 M” 又は “CTI 400 (350) ”
浸食の測定の要求がある場合は,結果を次のように報告する。
− CTI 5個の一連の測定で得られた50滴測定の最高電圧の値,(5個の一連の測定で得られた100
滴測定の最高電圧の値,ただし,50滴測定の最高電圧の値より25 V以上低い場合),測定溶液と
して溶液Bを用いた場合は,それを表示するため,文字 “M” の表示を付け,更に “‐”(ハイフ
ン)の後に浸食の最大深さをミリメートル単位で付ける。
例 “CTI 275‐1.2”,“CTI 375 M‐2.4” 又は “CTI 400 (350) ‐3.4”
何らかの理由(過大な炎など)で浸食の程度を計測できない場合は,その旨を報告する。
試験片を貫通して孔があいた場合は,孔があいたことを,その深さ(試験片又は積層試験片の厚さ)と
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C 2134 : 2007 (IEC 60112 : 2003)
共に報告する。
気中アーク発生が原因で,測定が無効になった場合は,その旨を報告する。
――――― [JIS C 2134 pdf 14] ―――――
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C 2134 : 2007 (IEC 60112 : 2003)
附属書A(参考)個別製品規格で考慮すべき要因
この附属書は,本体に関連する事柄を補足するもので,規定の一部ではない。
この規格で規定している方法をそのまま用いてもよいが,個別製品規格の中で選択肢を設けてもよい幾
つかの項目がある。
1. 表面が粗い試験片の表面を機械加工,例えば,研磨して平らにしてよいか否か(本体の5. 参照)。
2. 試験片の表面の状態(本体の6.2参照) : 清浄(済)か否か。
3. 清浄にするために許容された処理の内容(本体の6.2参照)。
4. 用いる電解液の種類(溶液A又は溶液B,本体の7.3参照)。
5. 測定と測定との間に装置を清浄にする方法に関して,何らかの特別な指示が必要か否か(本体の8. 参
照)。
6. 材料に異方性がある場合,特に規定がない限り,通常低い値が得られる方向の結果を報告する(本体
の8.1参照)。
7. 保証測定で用いる試験片の数。通常は5個であるが,別の数を選んでもよい(本体の10.2参照)。
8. 必要な保証測定電圧(本体の10.2参照)。
9. 保証測定に,最低100滴測定電圧を必要条件として含めるのがよいか否か。
10. 浸食深さの測定が必要か否か,必要な場合には,規定すべき限界値(本体の9. 参照)。
11. 特定のニーズのため,許容できる炎の基準が,意図した用途に適していないか否か。適していない場
合は,代替測定方法を開発するか又は使用することが望ましい。
――――― [JIS C 2134 pdf 15] ―――――
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JIS C 2134:2007の引用国際規格 ISO 一覧
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JIS C 2134:2007の国際規格 ICS 分類一覧
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