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C 2323-2 : 2015
6.3 測定結果
誘電正接及び誘電率の測定結果は,平均値で記録する。ただし,中央値を用いてもよい。
さらに,最大値及び最小値を記録する。
7 引張強さ及び伸び
7.1 測定方法
引張強さ及び伸びの測定は,個別製品規格で特に指定がない限り,JIS P 8113によるほか,7.2による。
特に指定がない限り,3.1に従って調湿した試料から,縦方向及び横方向に沿って切り出した幅15 mm,
長さ約250 mmの試験片を,引張試験機に挟み,破断するまで引っ張る。
さらに,アラミド紙及びマイカを充したアラミド紙の場合には,特に指定がない限り,次の条件によ
る。
− 試験片の幅25.4 mm±0.5 mm又は12.7 mm±0.5 mm,長さ約207 mmの試験片
− つかみ間隔127 mm±1 mm
− 伸張速度50 mm/min±5 mm/min
7.2 引張強さ及び伸び測定の注意事項
引張強さ及び伸び測定の注意事項は,次による。
− 縦方向及び横方向から,それぞれ9枚の試験片を採取し測定する。
− それぞれの方向での測定結果は,9枚の平均値で記録する。ただし,中央値を用いてもよい。
さらに,最大値及び最小値を記録する。
− 引張強さの代わりに,次の式を用いて測定結果を100 m単位に丸めた裂断長(km)で表してもよい。
1 F
L 103
8.9 W b
ここに, L : 裂断長(km)
F : 切断時の力(N)
W : 試験片の坪量(g/m2)
b : 試験片の幅(mm)
8 端部引裂強さ
8.1 一般事項
端部引裂強さの測定は,特に指定がない限り,8.28.4のいずれの方法を用いてもよい。ただし,用い
た方法を明記する。
8.2 A法
8.2.1 試験装置
装置は,JIS P 8113に規定する引張試験機に,あぶみ形端部引裂器具(図1参照)を取り付けたものを
用いる。あぶみ形端部引裂器具は,あぶみ形の枠の先端に浅いV形の切込み(以下,V形切込みという。)
が入った鋼板Aを両端で取り付けた構造とする。
V形切込みが入った鋼板は,あぶみ形の枠から取外しができ,厚さの異なった2種類の鋼板を,厚さの
異なる材料に応じて使い分ける。鋼板の厚さは,1.25 mm±0.05 mm又は2.50 mm±0.05 mmとする。V形
切込みの角度は,150°±1°とする。V形切込みの端面は,その断面が半円形で,滑らかで,かつ,真っ
すぐでなければならない。
――――― [JIS C 2323-2 pdf 6] ―――――
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単位 mm
図1−あぶみ形端部引裂器具
8.2.2 試験片
試料の縦方向及び横方向にそれぞれ9枚の試験片を採る。大きさは,幅15 mm25 mm,長さ250 mm
以上とする。切断に伴う欠け,その他の欠点がある試験片は,使用しない。
試験片の調湿は,特に指定がない限り,3.1による。
8.2.3 手順
あぶみ形の枠に,紙の厚さに応じた厚さの鋼板を取り付ける。厚さ0.75 mm以下の紙には厚さ1.25 mm
――――― [JIS C 2323-2 pdf 7] ―――――
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±0.05 mmの鋼板を,0.75 mmを超える紙には厚さ2.50 mm±0.05 mmの鋼板を用いる。
あぶみ形端部引裂器具の取っ手を,引張試験機の下側つかみ具に固定し,あぶみ形端部引裂器具の垂直
方向の中心線と,上側及び下側つかみ具の中心点を結ぶ線とを一致させる。
さらに,V形切込みの両端がつかみ具の中心線に対して,対称な位置にくるよう調整する。
必要に応じて,あぶみ形端部引裂器具を上側つかみ具に固定してもよい。この場合,あぶみ形端部引裂
器具の質量が追加されるため,引張試験機のゼロ補正をする必要がある。
上側つかみ具の下端が,V形切込みが入った鋼板の約90 mm上になるように,引張試験機の下側つかみ
具を取り付ける。
試験片は,鋼板の下からあぶみ形端部引裂器具に通し,試験片の両端を重ね合わせ,上側つかみ具に固
定する。この操作で試験片の緩みをできるだけ除く。この時点で試験片に引裂力が加わらないよう,注意
する。
最初の力が試験片にできるだけ緩やかに加わるようにし,つかみ具の慣性力によって発生するひずみを
最小にする。
速度は,引裂きが5秒15秒の時間で始まる負荷となるように調整し,引裂きが始まったときの力をニ
ュートン(N)で記録する。
8.2.4 結果
結果は,それぞれの方向について平均値で記録する。ただし,中央値を用いてもよい。端部引裂強さは,
ニュートン(N)で表す。用いた鋼板の厚さ,加圧速度,並びに試験片の幅及び厚さを記録する。
さらに,最大値及び最小値を記録する。
8.3 B法
B法は,JIS K 7128-2によって行う。その際の注意事項は,a) 及びb) による。
a) 試料の縦方向及び横方向にそれぞれ9枚の試験片を採る。
b) 結果は,それぞれの方向について平均値で記録する。ただし,中央値を用いてもよい。
さらに,最大値及び最小値を記録する。
8.4 C法
C法は,JIS K 7128-3によって行う。その際の注意事項は,a) 及びb) による。
a) 試料の縦方向及び横方向にそれぞれ9枚の試験片を採る。
b) 結果は,それぞれの方向について平均値で記録する。ただし,中央値を用いてもよい。
さらに,最大値及び最小値を記録する。
9 熱収縮率
9.0A 一般事項
熱収縮率試験は,試験片の吸脱湿による影響を排除し,高温による試験片の不可逆的な収縮率を測定す
る。
9.1 試験装置
試験装置は,次による。
a) ±0.2 mmの精度で250 mmの長さを測定できる器具とする。
b) 130 ℃300 ℃の設定温度で庫内温度を±5 ℃に制御できるオーブンとする。
9.2 試験片
試験片は,一辺が紙の縦方向に平行及び垂直になるように採取する。
――――― [JIS C 2323-2 pdf 8] ―――――
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採取する試験片は,3枚とし,各辺の寸法が245 mmを超える長方形とする。
縦方向及び横方向を別に測定する場合は,測定方向の一辺が245 mmを超えるものを各3枚採取する。
各試験片には,縦方向を識別できるようにマークを付ける。
9.3 手順
手順は,次による。
a) 全ての試験片は,寸法を計測する前に,特に指定がない限り,3.1に従って調湿し,同雰囲気で平たん
な表面上に置く。
b) 試験片ごとに,縦方向及び/又は横方向の寸法を測定し,記録する。
c) 各試験片は,オーブン内で垂直につるす。このとき,熱暴露中に発生する反りを抑制するために,下
端に軽いおもりを取り付ける。
d) 個別製品規格に規定した温度にオーブンを設定し,昇温させる。
e) オーブンが設定温度に到達したら暴露時間の計測を開始する。
f) 個別製品規格に規定した暴露時間の後,試験片を乾燥剤入りデシケータに入れて室温まで冷却する。
その冷却時間は,4時間とする。
g) 冷却後試験片を箇条3によって再調湿する。
h) 調湿後,b) に従い,各試験片の各方向の寸法を測定する。
i) 収縮率は,試験片ごとに,次の式によって計算する。
L1 L2
S 100 %
L1
ここに, S : 熱収縮率
L1 : 加熱前の寸法(mm)
L2 : 加熱後の寸法(mm)
9.4 試験結果
測定結果は,それぞれの方向で,3枚の平均値で記録する。ただし,中央値を用いてもよい。
さらに,最大値及び最小値を記録する。
乾燥温度を記録する。
10 絶縁破壊の強さ
10.1 試験装置
JIS C 2110-1に従った試験装置を用いる。電極は,JIS C 2110-1の5.2.1.1(異径電極)に規定する直径
25 mmの上部円柱電極と75 mmの下部円柱電極との組合せが望ましい。試験片の寸法が小さすぎるために
これらの電極を使用できない場合,JIS C 2110-1の5.2.2(テープ,フィルム及び幅の狭い材料)に規定す
る直径6 mmの上下円柱電極を用いてもよい。ただし,アラミド紙及びマイカを充したアラミド紙の場
合は,上下とも直径51 mmの円柱電極を用いてもよい。
上下電極は,平行で,くぼみ及び欠点のないものを用いる。
10.2 試験片
全ての試験片は,箇条3によって試験前に調湿する。
各試験片の寸法は,試験片の沿面せん絡を防止するのに十分な大きさとする。
試験片は,9回の試験を行うのに十分な量を,試料から1枚以上採取する。
――――― [JIS C 2323-2 pdf 9] ―――――
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10.3 手順
試験片の厚さは,箇条4に従って測定する。
絶縁破壊試験は,JIS C 2110-1の10.1[短時間(急速昇圧)試験]によって大気中で9回行い,絶縁破
壊電圧を記録する。
絶縁破壊の判定基準は,JIS C 2110-1の箇条11(絶縁破壊の判定基準)に従う。
10.4 結果
絶縁破壊の強さは,それぞれの試験片ごとに絶縁破壊電圧を,試験片の測定厚さで除して求める。
JIS C 2110-1の箇条13(報告)に従って報告する。
測定結果は,平均値で記録する。ただし,中央値を用いてもよい。
さらに,最大値及び最小値を記録する。
絶縁破壊の強さは,ミリメートル当たりのキロボルト(kV/mm)で表す。
使用した各電極の寸法を記録する。
11 水浸液導電率
11.1 試験装置
試験装置は,次による。
− 導電率測定用セルは,セル定数Kが既知のものを用いる。
− 測定装置は,50 Hz30 000 Hzの周波数範囲において,精度5 %で,最小目盛0.001 mSのコンダクタ
ンスを測定できるもの,又は同じ精度で抵抗を測定できるのものとする。
− 抽出用器具は,耐酸性かつ耐アルカリ性のガラス製の250 cm3の広口三角フラスコ及び環流冷却器付
とする。ただし,フラスコは,11.2の導電率が0.2 mS/m以下のものを用いる。
− 試料の測定は,±0.05 gまで計測できる天びんを用いる。
− 水は,25 ℃において,体積抵抗率が0.01 MΩmより大きく,pHが6.207.50の範囲にある蒸留水又
は,イオン交換水を用いる。
11.2 空試験
抽出試験前に水約125 mlをフラスコに注ぎ,煮沸前に還流冷却器をフラスコに取り付け,約60分煮沸
して空試験を行う。この導電率が0.2 mS/m以下の場合は,そのフラスコを用いる。導電率が0.2 mS/mを
超える場合は,新しい水でこのフラスコをもう一度煮沸する。二度目の空試験の導電率も0.2 mS/mを超え
る場合は,別のフラスコを用いる。3個抽出し,それぞれから測定値を求める。
11.3 手順
受理した試料を約10 mm×10 mmの大きさに切り,約20 gの試験片を採る。
試験片5 g±0.5 gを環流冷却器を付けたフラスコ中へはかり採り,水100 cm3を加える。この水を約60
分緩やかに煮沸する。還流冷却器を取り外し,空気から二酸化炭素が吸収されないようにフラスコに栓を
する。そのフラスコの中で室温まで冷却する。
導電率測定用セルは,抽出液で2回洗浄する。抽出液は,洗浄後できる限り速やかに,測定用セルに静
かに入れる。導電率の測定は,23 ℃±0.5 ℃で行う。
この操作を3個のフラスコで行う。
試料の採取,保管,取扱い及び試験の各作業工程において,大気,特に化学実験室の大気及び素手によ
る取扱いによって汚染のないようにする。
――――― [JIS C 2323-2 pdf 10] ―――――
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JIS C 2323-2:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60819-2:2001(MOD)
JIS C 2323-2:2015の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 2323-2:2015の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC2110-1:2016
- 固体電気絶縁材料―絶縁破壊の強さの試験方法―第1部:商用周波数交流電圧印加による試験
- JISC2138:2007
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- 紙及び板紙―厚さ,密度及び比容積の試験方法
- JISP8124:2011
- 紙及び板紙―坪量の測定方法