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C 2550-1 : 2011
さらに,二つのチャンネルの位相特性とその周波数特性を確認することが望ましい。これらの特性は,コ
ンピュータでの補正計算に用いることができる。いずれの場合においても,校正用サンプルを用いて校正
する方法では不十分である。なぜなら,校正用サンプルによる校正はその材料と測定条件の組合せにおい
てだけ有効であるためである。
――――― [JIS C 2550-1 pdf 21] ―――――
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C 2550-1 : 2011
附属書JA
(参考)
試験片の切断方法及び試験機器仕様
JA.1 試験片の切断方法
試験片は,特に指定がなければ図JA.1 a) d)のように,鋼板の特性を代表するように,半分は圧延方向
に平行(縦目)に,半分は圧延方向に直角(横目)に採取するのがよい。その材料について,特に規定が
ある場合には又は受渡当事者間の協定によって,圧延方向に平行な試験片だけを使用するときには,図
JA.1 e) g)のように採取する。その他の特殊な方法によったときには,試験成績書に切断方法を明記する。
図JA.1−試験片の切断方法
JA.2 試験機器仕様
JA.2.1 商用周波用エプスタイン試験器仕様
試験器の仕様は,表JA.1のようにするのがよい。図JA.2にその例を示す。
――――― [JIS C 2550-1 pdf 22] ―――――
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C 2550-1 : 2011
表JA.1−商用周波用エプスタイン試験器仕様
項目 仕様
コイル巻枠 内断面 幅32 mm,高さ6 mm(推奨)
材質 非磁性の絶縁体
長さ 各コイルとも190 mm以上巻ける長さ
一次コイル 4個の枠にそれぞれ均一に巻き,巻数は,通常各175ターンとする。
二次コイル 4個の枠の一次コイルの内側に均一に巻き,巻数は通常各175ターンとする。
組立 4個のコイルが正方形磁路を形成する試験片の各辺を囲むように組み立てる。
単位 mm
図JA.2−商用周波用エプスタイン試験器の例
JA.2.2 空隙補償用の相互誘導器
空隙補償用の相互誘導器は,試験器に適合するものを用い,その仕様は表JA.2のようにするのがよい。
――――― [JIS C 2550-1 pdf 23] ―――――
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C 2550-1 : 2011
表JA.2−空隙補償用の相互誘導器仕様
項目 仕様
管状巻枠 寸法 直径55 mm×長さ25 mm
つば板寸法 120 mm×120 mm
材質 非磁性の絶縁体
一次コイル 励磁に必要な巻数(約40ターン)
二次コイル 試験器に試験片がない場合の二次誘起電圧を打ち消すのに必要な巻数を一次
コイルの外側に巻く。
設置位置 正方形に組み立てられた試験器の中央に,その軸が試験器の面に直角になる
ように置く。
JA.2.3 電流波高値検出用相互誘導器
相互誘導器は,測定する磁界の強さHの大きさによって,1 A形及び10 A形を用い,その仕様は,表
JA.3及び図JA.3のようにするのがよい。
表JA.3−電流波高値検出用相互誘導器仕様
項目 1 A形 10 A形
管状巻枠 1 外形100 mm,内径80 mm,長さ120 mm 外形100 mm,内径80 mm,長さ40 mm
つば板 2 厚さ8 mm,直径210 mm 厚さ8 mm,直径210 mm
内側一次コイル JIS C 3104の4号平角銅線2.4 mm×3.5 mm JIS C 3104の4号平角銅線3 mm×4 mmを絶
3 を絶縁して用いる。30ターン×4層。 縁して用いる。8ターン×2層。
二次コイル 4 絶縁銅線0.4 mm,8 640ターン。 絶縁銅線0.4 mm,3 200ターン。
外側一次コイル JIS C 3104の4号平角銅線2.4 mm×3.5 mm JIS C 3104の4号平角銅線3 mm×4 mmを絶
5 を絶縁して用いる。30ターン×4層。 縁して用いる。8ターン×2層。
電気的特性 一次インダクタンス 約5 mH 一次インダクタンス 約0.14 mH
一次抵抗 約0.24 Ω 一次抵抗 約0.04 Ω
二次インダクタンス 約7.4 H 二次インダクタンス 約1.7 H
二次抵抗 約660 Ω 二次抵抗 約230 Ω
相互インダクタンス 約180 mH 相互インダクタンス 約13 mH
一次・二次コイル間の 一次・二次コイル間の
絶縁抵抗 100 MΩ以上 絶縁抵抗 100 MΩ以上
単位 mm
図JA.3−電流波高値検出用相互誘導器
参考文献 JIS C 3104 平角銅線
――――― [JIS C 2550-1 pdf 24] ―――――
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C 2550-1 : 2011
C2
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附属書JB
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(参考)
0-
1 : 2
JISと対応国際規格との対比表
011
IEC 60404-2:2008 Magnetic materials−Part 2: Methods of measurement of the
JIS C 2550-1:2011 電磁鋼帯試験方法−第1部 : エプスタイン試験器による電磁
鋼帯の磁気特性の測定方法 magnetic properties of electrical steel strip and sheet by means of an Epstein frame
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ご(V) JISと国際規格との技術的差
国際 との評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 番号 の評価
3 用語及び この規格で使用されている 規定なし 追加 JISではIEC 60050-221の用語の IEC規格での磁気分極Jに対応す
定義 用語の定義について規定。 定義を追加した。 る用語としてJISでは我が国で一
般的である磁束密度Bを用いた
が,実質的に等しい。これ以外は
IEC 60050-221と整合している。
4.2 試験片 試験片は12枚以上,実効質 3.2 規定なし 追加 JISでは試験片枚数の最小値及び 精度上好ましい試験片枚数を示し
量は約0.5 kgを推奨する。 推奨値を追加した。 た。
各厚さに対する推奨枚数を
表1に示す。
4.3 エプス 推奨する総巻数を700ター 3.3 推奨する総巻数を700 削除 JISでは推奨総巻数1 000ターン 国内では総巻数1 000ターンは一
タイン試験 ンとしている。 ターン又は1 000ター を削除した。 般に使用されていない。
器 ンとしている。
4.6.1 平均 精度を“±0.5 %以内の精 3.6.1 変更
精度を“±0.2 %又はそ JISでは精度を±0.5 %以内と変更市販測定器の精度の状況から判断
値形交流電 度”としている。 れ以内の精度”として した。 して,IEC規格の精度に合わせる
圧計 いる。 ことは難しい。
4.6.2 実効 精度を“±0.5 %以内の精 3.6.2 変更
精度を“±0.2 %又はそ JISでは精度を±0.5 %以内と変更市販測定器の精度の状況から判断
値交流電圧 度”としている。 れ以内の精度”として した。 して,IEC規格の精度に合わせる
計 いる。 ことは難しい。
4.6.3 波高 精度を“±2.5 %以内の精 3.6.3 変更
精度を“±0.5 %又はそ JISでは精度を±2.5 %以内と変更市販測定器の精度の状況から判断
値電圧計 度”としている。 れ以内の精度”として した。 して,IEC規格の精度に合わせる
いる。 ことは難しい。
4.7 交流電 規定なし 追加 JISでは交流電流測定に関わる記 内容の変更はない。
流測定 述をまとめた項目を追加した。
――――― [JIS C 2550-1 pdf 25] ―――――
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JIS C 2550-1:2011の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60404-2:2008(MOD)
JIS C 2550-1:2011の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.220 : 電気学.磁気学.電気的及び磁気的測定 > 17.220.20 : 電気的及び磁気的量の測定
JIS C 2550-1:2011の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC2550-3:2019
- 電磁鋼帯試験方法―第3部:中間周波磁気特性の測定方法
- JISC2550-5:2020
- 電磁鋼帯試験方法―第5部:電磁鋼帯の抵抗率,密度及び占積率の測定方法
- JISC2552:2014
- 無方向性電磁鋼帯
- JISC2553:2019
- 方向性電磁鋼帯