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C 2570-1 : 2015
附属書JA
(参考)
直熱形NTCサーミスタの図記号
直熱形NTCサーミスタの図記号を,次に示す。
NTC
NTC
――――― [JIS C 2570-1 pdf 46] ―――――
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C 2570-1 : 2015
C2
2
附属書JB
57
(参考)
0-
1 : 2
JISと対応国際規格との対比表
015
JIS C 2570-1:2015 直熱形NTCサーミスタ−第1部 : 品目別通則 IEC 60539-1:2008,Directly heated negative temperature coefficient thermistors−Part 1:
Generic specification
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの
国際 評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 番号 の評価
2.2.28 電力軽減曲線の用語の定 2.2.28 JISとほぼ同じ 追加 IECへの提案を先取りした。
図2の用語“TR”,“T1”などを明確に
義 した。
2.2.31 周囲温度25 ℃における 2.2.31 JISとほぼ同じ 変更 IECの図の誤りと思われる。修正
図3 b)の,最大電流軽減曲線のT3から
最大電流の用語の定義 の提案を検討する。
T4までを曲線とした。また,用語“TR”,
“T1”などを明確にした。
2.2.33 熱放散定数の用語の定義 2.2.33 JISとほぼ同じ 追加 一般的な事例を追加した。 分かりやすくした。
2.3 推奨値及び耐候性カテゴ 2.3 推奨値 変更 明確にすることで分かりやすくし
規定の内容が,推奨値と耐候性カテゴ
リ た。IECへ提案する。
リの両方が記載されており,標題のタ
イトルを変更した。
2.3.0A 推奨値 − − 追加 推奨値に関する記載のある箇所を独 明確にすることで分かりやすくし
立させ,2.3.0A推奨値を追加した。 た。IECへ提案する。
2.4.1 NTCサーミスタの表示に 2.4.1 JISとほぼ同じ 変更 表示場所がある場合だけ表示すると 小形が進み表示ができなくなる場
おける一般事項 明確にした。 合があるためIECへ提案する。
2.4.2 表面実装形などの小形の 2.4.2 JISとほぼ同じ 追加 標題を追加した。 IECへの提案を先取りした。
NTCサーミスタの場合
3 − 3 品質評価手順 変更 対応国際規格の箇条3の内容を,附属対応国際規格の品質認証制度
書Qに規定として移動した。 (IECQ)を用いる場合に適用する
ことを明記した。
4.1 試験及び測定手順の一般 4.1 JISとほぼ同じ 追加 対応国際規格の箇条4において細分 IECへの提案を先取りした。
事項 箇条に標題のない箇所があったため
標題を追加した。
――――― [JIS C 2570-1 pdf 47] ―――――
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(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの
国際 評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 番号 の評価
4.4.1 取付けの一般事項 4.4.1 JISとほぼ同じ 変更 文章構成の変更及び内容を追加した IECへの提案を先取りした。
追加 (以下,同様の変更をした。)。 規格使用者の利便性を考慮し,追
加。技術的差異はない(以下,同
様の変更をした。)。
4.8.1 絶縁抵抗値の一般事項 4.8.1 JISとほぼ同じ 変更 2006年版で参考としていた内容を本 IECへの提案を先取りした。
追加 文へ追加した。 規格使用者の利便性を考慮し,追
項番のずれを修正した。 加。技術的差異はない。
4.8.2 b) 測定方法2 4.8.2 JISとほぼ同じ 削除 食塩水に関する記載を削除した。 食塩水を用いることはほぼないた
め,削除した。併せて,IECに修
正の提案を検討する。
図6及び図7 変更 図6及び図7では,それぞれの測定方 IECの例図の誤りと思われる。
法の例図を修正した。 IECに修正の提案を検討する。技
術的差異はない。
4.19 − 4.19 バンプに関する要求 削除 4.19で引用されているJIS C
4.20に統合したため,4.19の規定内容
事項 を削除した。 60068-2-29が廃止されたため,こ
の規格でも4.20と統合した。
4.22 二液槽温度急変 4.22 JISとほぼ同じ 変更 二液槽温度急変を採用した。 用語の変更であり技術的差異はな
い。
4.23.2 低温試験及び高温試験に 4.23.2 JISとほぼ同じ 変更 対応国際規格で引用している試験Aa 技術的差異はないが,試験番号が
4.24.2 ついて 4.24.2 を試験Abに,試験Baを試験Bbに, 変更されているため,IECに修正
試験Bcを試験Bdにそれぞれ変更し の提案を検討する。
た。
4.27 固着性 4.27 JISとほぼ同じ 変更 表面実装形NTCサーミスタに限定し 他の形状に適用しないようにし
た。 た。
4.28 耐プリント板曲げ性 4.28 JISとほぼ同じ 変更 4.27と同じ 4.27と同じ
4.28.4 耐プリント板曲げ性の最 4.28.1 JISとほぼ同じ 変更 ゼロ負荷抵抗の測定方法について注 規格使用者の利便性を考慮し,追
C2
終検査及び要求事項 加。技術的差異はない。
記として追加した。また,対応国際規
5
格の4.28.1は2か所あり,明らかに誤対応国際規格の誤記訂正。IECに
70-
記であるため修正した。 修正の提案を検討する。
1 : 2015
2
――――― [JIS C 2570-1 pdf 48] ―――――
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C 2570-1 : 2015
C2
2
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの
国際 評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
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規格
-
1
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
: 2
番号
及び題名 番号 の評価
01
附属書A IEC電子部品品質認証制 附属 JISとほぼ同じ 変更 規定を参考とした。 この規格としてIEC 60410を引用
5
(参考) 度(IECQ)などに用いる 書A しないため,規定を参考とした。
場合のIEC 60410の抜取 (規定)
計画及び手順の説明
附属書B − 附属 電子機器用コンデン 削除 対応国際規格の附属書Bは,この規格IEC/TC 40を引用しているが,こ
(規定) 書B サ及び抵抗器のため の規格では引用しないため,本文
では不用のため不採用とし,本文を削
(規定) の個別規格を用意す 除した。 を削除した。
るための規則
附属書Q IEC電子部品品質認証制 − − 追加 対応国際規格の附属書Bの代わりに IECへの提案を先取りした。
(規定) 度(IECQ)に用いる場合 附属書Qを追加した。
の品質評価手順
附属書JA 直熱形NTCサーミスタ − − 追加 我が国で使用している図記号を追加 我が国で使用している図記号を追
(参考) の図記号 した。 加した。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60539-1:2008,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 削除 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD 国際規格を修正している。
JIS C 2570-1:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60539-1:2008(MOD)
JIS C 2570-1:2015の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 2570-1:2015の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称