JIS C 2570-1:2015 直熱形ＮＴＣサーミスタ―第１部：品目別通則 | ページ 9

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C 2570-1 : 2015
                                          附属書B
                                          (規定)
 電子機器用コンデンサ及び抵抗器のための個別規格を用意するための規則
  [対応国際規格では,この附属書で,IECのTC40(Technical Committee No.40 電子機器用コンデンサ及
び抵抗器)が個別規格を作成するための規則を規定しているが,この規格では不用のため,不採用とした。]

――――― [JIS C 2570-1 pdf 41] ―――――

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                                          附属書C
                                          (参考)
                 直熱形NTCサーミスタの測定のための取付方法
C.1 表面実装形NTCサーミスタの取付け
  表面実装形NTCサーミスタは,図C.1に示すパターンの1.6 mm±0.19 mm厚のガラス布基材エポキシ
樹脂のプリント配線板に取り付ける。
  はんだ付けのランド寸法D,L及びWは,個別規格に規定する。電極は片面又は両面のどちらでもよい。
                                                                                     単位 mm
  注a) この導体は省略するか又は電極保護として用いてもよい。
                           図C.1−表面実装形NTCサーミスタの取付け

――――― [JIS C 2570-1 pdf 42] ―――――

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C 2570-1 : 2015
                                          附属書Q
                                          (規定)
      IEC電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手順
Q.1 一般事項
  この規格及び関連規格を,IEC電子部品品質認証制度(IECQ)などの総合的な品質評価制度に用いる
場合,Q.4及びQ.5に規定する事項を適用する。
  これらの規格において,設計審査又は形式試験をIEC電子部品品質認証制度(IECQ)などの品質評価
制度に適用しない場合,Q.4.1及びQ.4.2 b)に規定する要求事項を用いてもよい。ただし,試験の全て及び
一部は,試験計画に示す順に実施する。
Q.2 製造の初期工程
  製造の初期工程は,材料の初期混合工程と定義する。
Q.3 構造的に類似なNTCサーミスタ
  次の要求事項を満足するNTCサーミスタは,検査ロットの構成として,構造的に類似なグループに分類
してもよい。
− 本質的に同じ設計,材料,工程及び工法によって,同じ製造業者が同じ場所で生産する。
− 抜取サンプルは,グループ分け品の総ロットから抜き取る。
− 構造的に類似なNTCサーミスタは,同一の個別規格によることが望ましい。構造的類似に関する全て
    の要求事項の詳細は,品質認証試験報告書に記載する。
Q.3.1 電気的試験の場合
  電気的特性が同じNTCサーミスタは,その特性を決定付ける要素が全て類似する場合,グループ化して
もよい。
Q.3.2 環境試験の場合
  封止構造,基本的内部構造及び最終工程が同じNTCサーミスタはグループ化してもよい。
Q.3.3 目視検査(表示を除く。)の場合
  同じ製造工程で製造し,かつ,寸法,封止構造及び外観が同じNTCサーミスタはグループ化してもよい。
  このグループ化は,異なる内部構造のNTCサーミスタのグループ化が望ましい場合,端子強度試験及び
はんだ付け性試験に用いてもよい。
Q.3.4 耐久性試験の場合
  同じ設計を用いて,同じ製造工程で製造したNTCサーミスタである場合,電気的特性だけが異なってい
ても,グループ化してよい。同じグループ内にある形式が,その他の形式に比べて負荷が大きいことが明
らかな場合,この形式の試験結果をグループ内のその他の形式の試験結果としてもよい。
Q.4 品質認証手順
Q.4.1 製造業者は,次の規定を適用する。
a) 品質認証に関するIEC QC 001002-3:2005の3.の一般要求事項
b) 製造の初期工程に関する要求事項(Q.2参照)

――――― [JIS C 2570-1 pdf 43] ―――――

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Q.4.2 Q.4.1に規定する要求事項に加え,次の手順a)又はb)の手順を適用する。
a) 製造業者は,定期的検査のための一つの検査ロット及びロットごとの検査のためにできるだけ短期間
    で抜き取った三つの検査ロットによって,規定する要求事項に適合する試験証明書を作成する。
      抜取サンプルは,IEC 60410(附属書A参照)又はJIS C 5005-2に従って抜き取る。検査は,なみ
    検査を適用する。規定するサンプル数で合格判定数がゼロとなる場合,合格判定数が1個となるよう
    に試料数を増加する。
b) 製造業者は上記a)の手順の代わりとして,品種別通則に規定する定数抜取りの試験計画として,規定
    する要求事項に適合する試験の成績証明書を作成してもよい。
      抜取サンプルとなる試料は,製造工程からの無作為による方法又は国内監督検査機関(National
    Supervising Inspectorate)の認証を受けた方法で抜き取る。
  上記二つの手順におけるサンプル数及び合格判定数は,同水準とする。試験条件及び要求事項は,同じ
とする。
Q.4.3 品質評価制度の一部としての品質認証は,品質確認(Q.5参照)に規定する要求事項に適合するこ
とを定期的に証明する。そうでない場合,この品質認証は,IEC QC 001002-3:2005の3.1.7に規定する品
質認証維持規則によって証明する。
Q.5 品質確認
  品種別通則に関連するブランク個別規格は,品質確認検査の試験計画を規定する。試験計画には,グル
ープ分け,抜取り並びにロットごとの検査及び定期検査の周期を規定する。
  検査水準及び抜取り計画は,IEC 60410又はJIS C 5005-2から選択する。必要がある場合,二つ以上の
試験計画を規定してもよい。
Q.6 出荷ロット成績証明書
  購入者が出荷ロット成績証明書を要求する場合,出荷ロット成績証明書の内容を個別規格に規定する。
Q.7 長期保管後の出荷
  2年間を超えて保管(品種別通則に保管期間の規定がない場合)したNTCサーミスタは,出荷前に,品
種別通則の規定に従って再検査する。製造業者の管理責任者が採用する再検査の手順は,国内監督検査機
関の承認を得る。
Q.8 群B検査完了前の品質認証中の出荷
  全ての群B検査が,IEC 60410又はJIS C 5005-2の緩い検査への移行の条件に適合する場合,製造業者
は,この試験完了前にNTCサーミスタを出荷してもよい。
Q.9 代替試験方法
  詳細については,IEC QC 001002-3:2005の3.2.3.7によるほか,次による。
  判定及び基準について疑義がある場合,規定する方法だけを用いる。
Q.10 検査をしないパラメータ
  個別規格に規定があって,試験の対象になったNTCサーミスタのパラメータだけが,規定範囲内にある

――――― [JIS C 2570-1 pdf 44] ―――――

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C 2570-1 : 2015
とみなす。
  規定しないパラメータは,あるNTCサーミスタと別のNTCサーミスタとの間で一定であるとみなすこ
とができない。
  どのような理由であっても,管理するパラメータを追加する必要がある場合には,新規かつより広範囲
の規格を用いる。
  追加する試験方法は,適切な規定値,抜取検査方式及び検査水準を詳細に規定する。

――――― [JIS C 2570-1 pdf 45] ―――――

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