JIS C 2570-1:2015 直熱形ＮＴＣサーミスタ―第１部：品目別通則 | ページ 2

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                                                                                 C 2570-1 : 2015
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-38:1974,Basic environmental testing procedures−Part 2-38: Tests−
             Test Z/AD: Composite temperature/humidity cyclic test(IDT)
    JIS C 60068-2-45:1995 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗剤溶剤浸せき)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-45:1980,Basic environmental testing procedures−Part 2-45: Tests−
             Test XA and guidance: Immersion in cleaning solvents及びAmendment 1:1993(IDT)
    JIS C 60068-2-52:2000 環境試験方法−電気・電子−塩水噴霧(サイクル)試験方法(塩化ナトリウ
        ム水溶液)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-52:1996,Environmental testing−Part 2-52: Tests−Test Kb: Salt mist,
             cyclic (sodium chloride solution)(IDT)
    JIS C 60068-2-54:2009 環境試験方法−電気・電子−はんだ付け性試験方法(平衡法)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-54:2006,Environmental testing−Part 2-54: Tests−Test Ta:
             Solderability testing of electronic components by the wetting balance method(MOD)
    JIS C 60068-2-58:2006 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の
        耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test
             methods for solderability,resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface
             mounting devices (SMD)(MOD)
    JIS C 60068-2-69:2009 環境試験方法−電気・電子−第2-69部 : 試験−試験Te : 表面実装部品(SMD)
        のはんだ付け性試験方法(平衡法)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-69:2007,Environmental testing−Part 2-69: Tests−Test Te:
             Solderability testing of electronic components for surface mounting devices (SMD)   y the wetting
             balance method(IDT)
    JIS C 60068-2-78:2015 環境試験方法−電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法(試験記
        号 : Cab)
      注記1 対応国際規格 : IEC 60068-2-78:2001,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp
              heat, steady state(MOD)
      注記2 IEC 60068-2-78:2001は,2012年版に改正されており,このIEC規格でJIS化された。
    JIS Z 8203:2000 国際単位系(SI)及びその使い方
      注記 対応国際規格 : ISO 1000,SI units and recommendations for the use of their multiples and of certain
             other units(IDT)
    IEC 60027-1,Letter symbols to be used in electrical technology−Part 1: General
    IEC 60050 (all parts),International Electrotechnical Vocabulary (IEV)
    IEC 60294,Measurement of the dimensions of a cylindrical component with axial terminations
    IEC 60410,Sampling plans and procedures for inspection by attributes
    IEC 60717,Method for the determination of the space required by capacitors and resistors with unidirectional
        terminations
    IEC QC 001002-3:2005,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Rules of
        Procedure−Part 3: Approval procedures

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C 2570-1 : 2015

2 技術データ

2.1 単位,記号及び専門用語

  単位,図記号,文字記号及び専門用語は,次の規格から引用することが望ましい。
− IEC 60027-1
− IEC 60050(規格群)
− JIS C 0617(規格群)
− JIS Z 8203
  上記の規格に規定しない事項が必要となった場合は,上記の規格の原則に従って用いることが望ましい。

2.2 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び関連する用語の定義は,次による。
2.2.1
形式(type)
  同じ技術によって製造したものであり,類似の設計上の特徴をもち,製造業者の一般的な定格の範囲内
にある製品群。
    注記1 試験結果に重大な影響を及ぼさない場合,取付用附属品は形式の定義に含めていない。
    注記2 形式の定格は,次の組合せを含んでいる。
            − 電気的定格
            − 寸法
            − 耐候性カテゴリ
    注記3 形式の定格範囲の限度値は,個別規格に規定することが望ましい。
2.2.2
形状(style)
  ある特定の呼称寸法及び特性をもつ形式内の類似品。
2.2.3
サーミスタ(thermistor)
  素子の温度変化によって,主要機能における電気抵抗が顕著な変化を示す,温度に敏感な半導体抵抗器。
  サーミスタには,負温度係数サーミスタ(NTCサーミスタ)と正温度係数サーミスタ(PTCサーミスタ)
とがある。
2.2.4
負温度係数(NTC)サーミスタ[negative temperature coefficient (NTC)   hermistor]
  温度上昇に伴い抵抗値が減少するサーミスタ。
    注記 一般には,NTCサーミスタという用語が用いられる。
2.2.5
直熱形負温度係数サーミスタ(directly heated negative temperature coefficient thermistor)
  サーミスタを流れる電流,周囲温度,湿度,風速,ガスなどの物理的条件の変化によって抵抗値が変化
するNTCサーミスタ。
    注記 図記号は附属書JAを参照。
2.2.6
傍熱形負温度係数サーミスタ(indirectly heated negative temperature coefficient thermistor)
  サーミスタに密に接してはいるが電気的に絶縁しているヒータの電流変化などに伴い,サーミスタが温

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                                                                                 C 2570-1 : 2015
度変化することによって最初の抵抗値が変化するNTCサーミスタ。
    注記 NTCサーミスタ素子自体に流れる電流,周囲温度,湿度,風速,ガスなどの物理的条件の変化
          によってNTCサーミスタ素子の温度も変化する場合もある。
2.2.7
正温度係数(PTC)サーミスタ(参考)[positive temperature coefficient (PTC)   hermistor]
  温度上昇に伴い抵抗値が上昇するサーミスタ。
2.2.8
ワイヤ端子付きNTCサーミスタ(thermistor with wire terminations)
  ワイヤ端子を備えたNTCサーミスタ。
2.2.9
ワイヤ端子なしNTCサーミスタ(thermistor without wire terminations)
  電気的に接続するために,二つの電極だけを備えたNTCサーミスタ。
2.2.10
絶縁形NTCサーミスタ(insulated thermistor)
  樹脂,ガラス,セラミックなどの材料で被覆され,試験項目で規定する絶縁抵抗値及び耐電圧試験に関
する要求事項を満たすNTCサーミスタ。
2.2.11
非絶縁形NTCサーミスタ(non-insulated thermistor)
  素子表面の被覆材の有無にかかわらず,試験項目で規定する絶縁抵抗値及び耐電圧試験に関する要求事
項を満たしていないNTCサーミスタ。
2.2.12
表面実装形NTCサーミスタ(surface mount thermistor)
  小さな寸法及び端子の種類又は形状が,ハイブリッド回路及びプリント配線板での使用に適したNTC
サーミスタ。
2.2.13
組立形NTCサーミスタ(プローブ)[assembled thermistor (probe)]
  様々な材質の,チューブ,プラスチックケース,金属ケースなどに封入し,ケーブル,コネクタなどと
ともに組み立てたNTCサーミスタ。
2.2.14
検知用NTCサーミスタ(thermistor for sensing)
  温度検知及び温度制御に用いるNTCサーミスタ。
2.2.15
突入電流抑制用NTCサーミスタ(inrush current limiting thermistor)
  電源を入れた直後の突入電流を抑制するNTCサーミスタ。
2.2.16
残留抵抗値(突入電流抑制用NTCサーミスタに適用)(residual resistance)
  最大電流を流して温度が安定したときのNTCサーミスタの直流抵抗値。
2.2.17
最大許容コンデンサ容量(突入電流抑制用NTCサーミスタに適用)(maximum permissible capacitance)
  負荷時にNTCサーミスタに接続することができるコンデンサの最大許容静電容量値。

――――― [JIS C 2570-1 pdf 8] ―――――

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C 2570-1 : 2015
2.2.18
ゼロ負荷抵抗値,RT(zero-power resistance)
  規定する温度において,自己発熱による抵抗値の変化が,測定したときの総合誤差と比較して無視でき
るような条件で測定したNTCサーミスタの直流抵抗値。
2.2.19
定格ゼロ負荷抵抗値(rated zero-power resistance)
  その他の規格に規定がない場合,基準温度25 ℃における公称ゼロ負荷抵抗値。
2.2.20
抵抗−温度特性(resistance-temperature characteristic)
  ゼロ負荷抵抗値とNTCサーミスタ素子の温度との関係。
  抵抗値は,近似的に式(1)によって算出する。
  また,NTCサーミスタの代表的な抵抗−温度特性を,図1に示す。
                                  1 1
                                 B
                             ae   T Ta
                         R  R           (1)
                      ここに,     R :  絶対温度T(K)におけるゼロ負荷抵抗値(Ω)
                                  Ra :  絶対温度Ta(K)におけるゼロ負荷抵抗値(Ω)
                                   B :  B定数(2.2.22参照)
    注記 この算出式は,限定した温度範囲内での抵抗値変動を表すときだけ適用できる。より正確な抵
          抗−温度(R−T)特性曲線を得るためには,抵抗−温度特性の関係を表形式で個別規格に規定
          することが望ましい。
                     注記 温度範囲が広い場合,下方向に僅かに凸の曲線となっている。
                         図1−NTCサーミスタの代表的な抵抗−温度特性
2.2.21
抵抗比(resistance ratio)
  基準温度25 ℃におけるゼロ負荷抵抗値に対する85 ℃において測定したゼロ負荷抵抗値の比。その他の
温度との組合せにおける抵抗比を個別規格に規定してもよい。

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                                                                                 C 2570-1 : 2015
2.2.22
B定数(B-value)
  式(2)又は式(3)のうち,いずれかによって算出することができる抵抗値変化の大きさを表す定数。
                            Ta  Tb  lnRRa
                         B                (2)
                            Tb  Ta     b
                                  Ta  Tb     Ra
                         B   .2303        log     (3)
                                  Tb  Ta     Rb
                      ここに,    B :  B定数(K)
                                 Ra :  温度Ta(K)におけるゼロ負荷抵抗値(Ω)
                                 Rb :  温度Tb(K)におけるゼロ負荷抵抗値(Ω)
                                 Ta :  298.15 K 1)
                                 Tb :  358.15 K 1)
    注記 推奨値以外の温度間でのB定数の測定を個別規格に規定する場合,上記の式のTa及びTb(Ta
              注1) 温度Ta及びTbの推奨値であり,それぞれ+25 ℃及び+85 ℃に等しい。
2.2.23
ゼロ負荷抵抗値温度係数, 愀    zero-power temperature coefficient of resistance)
  規定する温度Tにおける1 K当たりのゼロ負荷抵抗値の変化率を示す係数。その係数は,式(4)によって
算出する。
                              1  dR
                        αT          100  (4)
                             RT  dT
  αTの値は,近似的に式(5)によって算出することができる。
                              B
                        αT   2  100  (5)
                      ここに,   αT :  ゼロ負荷抵抗値温度係数(%/K)
                                 RT :  温度T(K)におけるゼロ負荷値抵抗値(Ω)
                                  B :  B定数(K)
2.2.24
カテゴリ温度範囲(category temperature range)
  設計上,ゼロ負荷の状態でNTCサーミスタを連続して動作することができる,適切なカテゴリでの温度
の上下限で表す周囲温度の範囲。
2.2.25
カテゴリ上限温度,Tmax(upper category temperature)
  設計上,ゼロ負荷の状態でNTCサーミスタを連続して動作することができる最高周囲温度。
2.2.26
カテゴリ下限温度,Tmin(lower category temperature)
  設計上,ゼロ負荷の状態でNTCサーミスタを連続して動作することができる最低周囲温度。
2.2.27
保存温度範囲(storage temperature range)
  無負荷の状態の下でNTCサーミスタを連続して保存することができる周囲温度範囲。

――――― [JIS C 2570-1 pdf 10] ―――――

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