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C 3216-2 : 2019
べる。導体の端部の円弧が,平面部分と接する部分を測定し,これを面取り寸法として記録する。また,
形状,表面の粗さ及びとがりを観察し,記録する。
3.2.4 両側絶縁厚さ
3.2.4.1 一般事項
両側絶縁厚さは,仕上がり寸法と導体寸法との差で表す。
3.2.4.2 丸線
測定は,3.2.1.1及び3.2.5.1によって行う。仕上がり外径と導体径との差を両側絶縁厚さとして記録する。
3.2.4.3 平角線
測定は,3.2.1.2及び3.2.5.2によって行う。仕上がり幅と導体幅との差を幅の両側絶縁厚さとして記録す
る。また,仕上がり厚さと導体厚さとの差を厚さの両側絶縁厚さとして記録する。
3.2.5 仕上がり寸法
3.2.5.1 丸線
3.2.5.1.1 公称導体径0.200 mm以下
直線状の試験片をとり,1 mずつ3か所測定して記録し,平均値を求める。この平均値を仕上がり外径
として記録する。
3.2.5.1.2 公称導体径0.200 mmを超える
直線状の試験片をとり,長さ方向に1 m離れた2か所について,試験片の導体軸に垂直な同一平面上の
等しい角度で3か所測定して記録し,平均値を求める。この平均値を仕上がり外径として記録する。
3.2.5.2 平角線
線の幅及び厚さ寸法の測定は,直線状の試験片の互いに100 mm以上離れた3か所で,1回ずつ行う。
ただし,試験片の寸法がマイクロメータのスピンドル径よりも大きい場合は,試験片の平面の中央及び端
部の両方を測定する。それらの測定値が異なる場合は,大きい方の測定値だけを記録する。
それぞれ3か所の測定値を記録し,平均値を求める。それぞれの平均値を仕上がり幅及び仕上がり厚さ
として記録する。
3.2.5.3 より線
仕上がり外径は,マンドレルに巻いた層の幅を巻き付け回数で除して求める。より線を平方ミリメート
ル単位で表した合計公称断面積の65倍のニュートン単位で表した張力で図1のマンドレルに緊密に巻き
付ける。層の幅は,仕上がり外径0.5 mm以下の場合は10 mm以上,仕上がり外径が0.5 mmを超える場合
は20 mm以上として,0.5 mmの精度で1回測定する。この測定値を0.01 mmで丸めた値を仕上がり外径
として記録する。
注記 この方法は実用上の有効な値であって,正確な仕上がり外径ではない。
3.2.6 エナメル丸線の両側融着層厚さ
エナメル丸線の両側融着層厚さは,仕上がり外径の平均値と,融着層を取り除いた仕上がり外径の平均
値との差で表す。外径の測定は,3.2.5.1による。ただし,融着層を取り除いた仕上がり外径は,下層皮膜
にきずを付けることなく,溶剤その他の適切な薬品を用いるか又は同等な方法で融着層を取り除いた後,
測定する。これらの平均値の差を両側融着層厚さとして記録する。
――――― [JIS C 3216-2 pdf 6] ―――――
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C 3216-2 : 2019
附属書A
(参考)
標準的な巻線の寸法測定における測定圧力
表A.1は,標準的な巻線の寸法の測定範囲について,表1cによって適用する“測定圧力”と“単位面積
当たりの測定圧力”との関係を参考に示す。表の測定範囲を超えた場合,次の式で計算することができる。
p=F/A
ここに, p : 単位面積当たりの測定圧力(N/mm2)
F : 測定圧力(N)
A : 測定面積(mm2)
表A.1−測定圧力,単位面積当たりの測定圧力,アンビルの直径及び平角線測定面積の関係
測定圧力 単位面積当たりの測定圧力(N/mm2)
N アンビルの直径
mm
5 6 6.5 7 8
測定面積
mm2
19.63 28.26 33.17 38.47 50.24
1 0.05 0.04 0.03 0.03 0.02
2 0.10 0.07 0.06 0.05 0.04
3 0.15 0.11 0.09 0.08 0.06
4 0.20 0.14 0.12 0.10 0.08
5 0.25 0.18 0.15 0.13 0.10
6 0.31 0.21 0.18 0.16 0.12
7 0.36 0.25 0.21 0.18 0.14
8 0.41 0.28 0.24 0.21 0.16
9 0.46 0.32 0.27 0.23 0.18
10 0.51 0.35 0.30 0.26 0.20
11 0.56 0.39 0.33 0.29 0.22
12 0.61 0.42 0.36 0.31 0.24
13 0.66 0.46 0.39 0.34 0.26
14 0.71 0.50 0.42 0.36 0.28
15 0.76 0.53 0.45 0.39 0.30
16 0.82 0.57 0.48 0.42 0.32
17 0.87 0.60 0.51 0.44 0.34
18 0.92 0.64 0.54 0.47 0.36
19 0.97 0.67 0.57 0.49 0.38
20 1.02 0.71 0.60 0.52 0.40
21 1.07 0.74 0.63 0.55 0.42
22 1.12 0.78 0.66 0.57 0.44
23 1.17 0.81 0.69 0.60 0.46
24 1.22 0.85 0.72 0.62 0.48
25 1.27 0.88 0.75 0.65 0.50
26 1.32 0.92 0.78 0.68 0.52
27 1.38 0.96 0.81 0.70 0.54
28 1.43 0.99 0.84 0.73 0.56
――――― [JIS C 3216-2 pdf 7] ―――――
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C 3216-2 : 2019
表A.1−測定圧力,単位面積当たりの測定圧力,アンビルの直径及び平角線測定面積の関係(続き)
測定圧力 単位面積当たりの測定圧力(N/mm2)
N アンビルの直径
mm
5 6 6.5 7 8
測定面積
mm2
19.63 28.26 33.17 38.47 50.24
29 1.48 1.03 0.87 0.75 0.58
30 1.53 1.06 0.90 0.78 0.60
31 1.58 1.10 0.93 0.81 0.62
32 1.63 1.13 0.96 0.83 0.64
33 1.68 1.17 0.99 0.86 0.66
34 1.73 1.20 1.03 0.88 0.68
35 1.78 1.24 1.06 0.91 0.70
36 1.83 1.27 1.09 0.94 0.72
37 1.89 1.31 1.12 0.96 0.74
38 1.94 1.34 1.15 0.99 0.76
39 1.99 1.38 1.18 1.01 0.78
40 2.04 1.42 1.21 1.04 0.80
――――― [JIS C 3216-2 pdf 8] ―――――
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C 3216-2 : 2019
附属書JA
(規定)
代替試験方法
この附属書は,本体の対応する箇条を補足するものであり,本体で規定する試験方法に対し,置き換え
て適用が可能な試験方法について規定する。
注記 この附属書で規定する試験方法は,旧規格(JIS C 3216-2:2011)をIEC 60851-2に整合させる
に当たり,この内容によって大きな変更となり市場の混乱が予想される事項について,完全整
合化に向けた経過措置として,廃止したJIS C 3003:1999及びJIS C 3006:1999に従った試験方
法を代替試験方法として併記したものである。現時点市場でのコンセンサスが十分であるとは
言えないため,この規格にも併記する。
JA.1 寸法
寸法測定は,最小目盛1/1 000の測定器具を用いて行う。ただし,横巻銅線及び横巻アルミニウム線の
場合には,JIS B 7502に規定するマイクロメータ(測定圧力は3.95.9 N)を用いてもよい。仕上がり外
径又は仕上がり寸法,導体径又は導体寸法,及び皮膜の厚さの測定は,次によって行う。
a) 丸線 仕上がり外径は,長さ約15 cmの試験片をとり,導体軸に垂直な同一平面のほぼ等しい角度で
直径を3か所測定し,これらの測定値の平均値で表す。次に,導体径は,仕上がり外径を測った箇所
の皮膜を,導体にきずを付けない方法で取り除いた後,仕上がり外径と同じ方法で測定し,その平均
値で表す。また,皮膜厚さは,仕上がり外径と導体径との差の1/2で表す。
b) 平角線 仕上がり厚さ及び仕上がり幅(仕上がり寸法)は,長さ約30 cmの試験片をとり,約10 cm
間隔で寸法を3か所測定し,それぞれの測定値の平均値で表す。次に,導体厚さ及び導体幅は,仕上
がり寸法を求めた箇所の皮膜を,導体にきずを付けない方法で除いた後,仕上がり寸法と同じ方法で
測定し,それぞれの測定値の平均値で表す。また,厚さ方向及び幅方向の皮膜厚さは,それぞれ,仕
上がり厚さと導体厚さとの差の1/2及び仕上がり幅と導体幅との差の1/2で表す。
参考文献 JIS C 3003:1999 エナメル線試験方法
JIS C 3006:1999 横巻線試験方法
――――― [JIS C 3216-2 pdf 9] ―――――
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C 3216-2 : 2019
C3
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附属書JB
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(参考)
6-
2 : 2
JISと対応国際規格との対比表
019
JIS C 3216-2:2019 巻線試験方法−第2部 : 寸法 IEC 60851-2:2015,Winding wires−Test methods−Part 2: Determination of dimensions
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの
国際 評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 番号 の評価
2A 一般事項 試験の一般事項につ − − 選択 受渡当事者間の合意があればJA.1の 国内の対応国際規格(IEC規格)
いて規定 方法でもよいとした。 への対応状況を勘案し,経過処置
としてJIS C 3003:1999の5.2(B
法)を追加し選択できるようにし
た。
附属書JA 寸法について規定 − − 追加 国内で従来から普及している測定方 国内の対応国際規格(IEC規格)
(規定) 法を追加した。 への対応状況を勘案し,経過処置
JA.1 寸法 ・ マイクロメータ測定圧が異なる。としてJIS C 3003:1999の5.2(B
・ 適用サイズによって導体径測定 法)を追加した。
方法が異なる。
・ 仕上がり外径測定箇所が異なる。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60851-2:2015,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 選択 国際規格の規定内容とは異なる規定内容を追加し,それらのいずれかを選択するとしている。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD 国際規格を修正している。
JIS C 3216-2:2019の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60851-2:2015(MOD)
JIS C 3216-2:2019の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 3216-2:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB7502:2016
- マイクロメータ
- JISC3216-1:2011
- 巻線試験方法―第1部:全般事項
- JISC3216-5:2019
- 巻線試験方法―第5部:電気的特性