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C 4526-1 : 2013
い。そのときは,試験は,附属書Tに従ってファミリから選択していたサンプルで行ってもよい。附属書
Tは,この目的のためにスイッチファミリにスイッチのタイプをグループ化するための一つの例を示して
いる。その他のグループ化システムもまた,この目的のために使用してもよい。
S.3.3 手順書に記載された期間内に箇条21に従ったグローワイヤ試験及びボールプレッシャー試験並び
に附属書Dに従った保証トラッキング試験が工程内の異なったスイッチ構造と材料を宣言しているサンプ
ルについて行う。しかし,これらの試験は,形式試験と同じ原材料,モールド及び工程が使用されている
ということが確認できれば,適用しなくてもよい。これは,成形業者の確認プログラムの一部となること
がある。これらの試験は,工程試験の一部としてよりは,むしろ受入検査の一部となる場合がある。
――――― [JIS C 4526-1 pdf 131] ―――――
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附属書T
(参考)
スイッチファミリ
T.1
序文
この附属書は,S.3.2に記載された試験に関連して,スイッチファミリにスイッチのタイプをグループ化
するための一つの例を示している。他のグループ化システムがこの目的のために使用されてもよい。この
附属書で使用する“スイッチファミリ”は,構造及び特性が別のものを代表する異なったスイッチタイプ
の単一グループを示す。
T.2 一般
スイッチタイプは,スイッチファミリに最も厳しいケースが,試験が行われる度にその試験によって代
表できるようなときはスイッチファミリにグループ化してもよい。
又は,スイッチファミリが異なった定格のスイッチタイプを含んでいるとき,スイッチは製造量に応じ
選択するのがよく,その選択されたスイッチが最も厳しい定格で毎回試験される方がよい。
スイッチファミリは,次のバリエーションを含む。
− 次のものが使用されるスイッチの異なった電気定格。
− 接点の直径,厚さ又は材料を除いて,同じ固定接点構造。
− 同じ内部接点(固定及び可動)形状
− 同じ極数
− 端子及びアクチュエータなどの異なった外部部分。
− 単方向,双方向及び多方向。
− 通常開路及び通常閉路のスイッチの偏ったタイプ。
− 次の条件下で異なった接点構造 : 接点の直径,厚さ又は材料を除いて,同じ固定接点構造を使用して
いる同じ及び異なった電気定格のスイッチは,同じ内部接点(固定及び可動)形状及び同じ極数とい
う条件で,同じスイッチファミリに含んでもよい。
− 電気定格が同じで,同じ内部接点(固定及び可動)形状のとき単極,2極及び多極。
− 同一構造内で,電気定格,温度及び動作回数の異なった組合せ。
T.3 試験のためのスイッチファミリ内のスイッチの選び方のガイド
T.3.1 単方向/双方向,又は同じファミリ内の偏ったスイッチ : 利用可能なものに基づいて選択する。
T.3.2 同じスイッチファミリ内の異なった極数 : 選択は,製造量に応じてローテーションして行う。
T.3.3 同一構造内にある同じ電気定格の異なった動作回数及び電気,温度及び動作回数の異なった組合
せ : 選択は,各タイプの製造量に関連した割合でローテーションして行う。
T.3.4 同じスイッチファミリで異なった電気定格の同じ接点 : スイッチファミリがいろいろな定格を含ん
でいれば,選択は,各タイプの製造量に関連した割合でローテーションして行う。耐久試験は,選択され
たスイッチタイプで適用できる最も高い電圧の下で,最大VA定格で行うべきである。また,温度試験は
選択されたスイッチタイプに適用できる最も高い電流で行う。
――――― [JIS C 4526-1 pdf 132] ―――――
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C 4526-1 : 2013
T.3.5 同じスイッチファミリ内の異なった接点及び異なった定格
試験用スイッチの選択は,使用される各接点タイプの製造量に応じてローテーションして行う。
耐久試験は,毎回選択された接点タイプごとに適用できる最も高い電圧の下で,最大VA定格で行う。
温度試験は,毎回選択された接点タイプごとに適用できる最も高い電流で行う。
T.3.6 同じスイッチファミリ内で同等の電気定格(すなわち,異なった電圧と電流で同じVA定格)
選択は,製造量に応じてローテーションして行う。T.3.4と同様にスイッチファミリ内の最大定格を考え
る。
――――― [JIS C 4526-1 pdf 133] ―――――
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附属書U
(規定)
スイッチのタブの寸法(新しい設計用には推奨しない寸法)
U.1 スイッチのタブは,図U.1の寸法に適合しなければならない。
U.2 タブは,保持のために任意の動き止めを付けてもよい。丸いくぼみ,四角形のくぼみ,穴などの動
き止めは,図U.1に示すようにタブの中心線に沿って,区域“EF”の中に位置しなければならない。
U.3 裏返接続の防止構造は,図U.1に示すように,タブの中心線に沿った“EF”の範囲内に位置しても
よい。
タブの寸法e)
単位 mm
公称 A B C D E F G H2 I
寸法 (必須) (必須) (必須) (必須) (任意) (任意) (必須) (任意) (任意)
mm 最大 最小 +0.04 +0.1 最大 最大 最小 最小 直径
−0.03 −0.1 最大
2.8×0.5 a) 1.3 7.0 0.5 2.8 3.2 1.7 0.6 1.3 1.0
2.8×0.8 1.3 7.0 0.8 2.8 3.2 1.7 0.6 1.3 1.0
4.8×0.5 a) 1.3 6.2 0.5 4.7 4.3 1.7 0.6 2.8 1.0
4.8×0.8 1.3 6.2 0.8 4.7 4.3 1.7 0.6 2.8 1.0
6.3×0.8 1.3 7.8 0.8 6.3 5.7 2.5 0.6 2.8 1.3
9.5×1.2 1.3 12.0 1.2 9.5 6.5 2.5 0.6 2.8 1.8
注a) 公称寸法2.8×0.5と4.8×0.5とは,新しい設計用には推奨しない。
b) 寸法“B3”及び“H1”は,規定しない。
c) “X”方向の図a) c)に,異なった可能な固定方法の例を示す。
d) タブの端面は,めす(雌)形コネクタとのはめ合いを容易にするため面取りをする。
e) 図U.1の寸法に準拠して製作されたタブは,JIS C 2809に準拠して製作されためす(雌)形コネクタに適
合する。挿入力及び引抜き力については,附属書H参照。
図U.1−平形クイック接続端子のタブ
――――― [JIS C 4526-1 pdf 134] ―――――
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附属書V
(参考)
人の注意が行き届かない機器の異常発生熱に対する
耐熱性の要求事項及び試験1)
注1) EC 60335-1:2001(第4版)に従い,Amendment 1(2004年)及びAmendment 2(2006年)も
含む。
V.1 人の注意が行き届かない機器の異常発生熱に対する耐熱性の要求事項及び試験
人の注意が行き届かない状態で動作する機器については,JIS C 9335-1の30.2.3.1及び30.2.3.2に規定す
る試験を行う。ただし,この試験は,次には適用しない。
− 溶接接続部を保持する部分
− JIS C 9335-1の19.11.1に規定する小電力回路プリント基板の接続部を保持する部分
− プリント基板上のはんだ接続部
− プリント基板上の小さい部品の接続部
及び上記の接続部の3 mm以内にある部分
注記1 小さい部品の例には,電源回路に直接接続されていないダイオード,トランジスタ,抵抗器,
インダクタ,集積回路及びコンデンサがある。
通常動作で0.2 Aを超える電流が流れる接続部を保持する非金属材料の部分,及びそのような接続部か
ら3.0 mm以内の距離にある非金属材料の部分は,850 ℃の試験温度でJIS C 60695-2-11のグローワイヤ試
験を行う。ただし,JIS C 60695-2-12に従った850 ℃以上のグローワイヤ燃焼性指数をもっている材料の
部分には,グローワイヤ試験を行わない。該当部分に対して±0.1 mm以内の厚みのものでグローワイヤ燃
焼性指数が適用しない場合,試験片の厚みは該当部分よりも厚くなく,JIS C 60695-2-12で推奨する最も
近い値を選択しなければならない。
注記2 JIS C 60695-2-12で推奨する厚みは,0.75±0.1 mm,1.5±0.1 mm及び3.0±0.2 mmである。
注記3 スイッチの接点は,接続部と考える。
注記4 グローワイヤの先端は,接続部の近傍部分に押し付ける。
JIS C 9335-1の附属書Eのニードルフレーム試験に適合した小部品,又はJIS C 60695-11-10に従って
V-0若しくはV-1に分類した材料の小部品にはグローワイヤ試験を行わない。分類に使用した試験片は,
機器の該当部分よりも厚くてはならない。
注記5 小部品は,JIS C 60695-4に定義している。
非金属材料が導電接続部の3 mm以内にあるが,異なる材料によって接続部から遮蔽しているところで
は,グローワイヤの先端部を非金属材料に直接押し付けず,間に置かれた遮蔽材に押し付け,該当温度で
JIS C 60695-2-11のグローワイヤ試験を行う。
導電接続部を保持する非金属材料の部分,及びそのような接続部から3 mm以内の距離にある非金属材
料の部分には,JIS C 60695-2-11のグローワイヤ試験を行う。ただし,JIS C 60695-2-13に従ったグローワ
イヤ着火温度が次のレベル以上の材料の部分には,グローワイヤ試験を行わない。
− 通常動作で0.2 Aを超える電流が流れる部分の接続部に対しては,775 ℃以上の場合。
− その他の接続部に対しては,675 ℃以上の場合。
――――― [JIS C 4526-1 pdf 135] ―――――
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JIS C 4526-1:2013の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61058-1:2008(MOD)
JIS C 4526-1:2013の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 4526-1:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC4526-2-1:2016
- 機器用スイッチ―第2-1部:コードスイッチの個別要求事項
- JISC4526-2-4:2005
- 機器用スイッチ―第2-4部:独立形固定スイッチの個別要求事項
- JISC6575:1975
- 電子機器用筒形ヒューズ
- JISH8617:1999
- ニッケルめっき及びニッケル-クロムめっき